開關(guan)特性測(ce)試儀的(de)功能多樣，有測(ce)(ce)試(shi)(shi)時間短、所(suo)得(de)參(can)(can)數(shu)**的(de)特(te)(te)點，在(zai)新設備啟用(yong)前，可(ke)使用(yong)開(kai)關(guan)特(te)(te)性(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)進(jin)行(xing)(xing)參(can)(can)數(shu)運行(xing)(xing)判斷，同樣，開(kai)關(guan)特(te)(te)性(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)還(huan)可(ke)對舊(jiu)設備維護，通過調整(zheng)其電(dian)壓(ya)狀(zhuang)況(kuang)，保證設備參(can)(can)數(shu)恒定，那么(me)，開(kai)關(guan)特(te)(te)性(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)除了(le)對設備電(dian)壓(ya)進(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)外(wai)，還(huan)有哪些測(ce)(ce)試(shi)(shi)項目(mu)呢？

1．分(fen)閘(zha)時(shi)間、合閘(zha)時(shi)間
分閘與合閘時(shi)(shi)間(jian)測(ce)試是開關特性(xing)測(ce)試儀的(de)的(de)一項重要(yao)測(ce)試內容，主要(yao)檢測(ce)設(she)備的(de)12個(ge)（特殊(shu)設(she)備13個(ge)或多個(ge)）斷口的(de)分閘時(shi)(shi)間(jian)與合閘時(shi)(shi)間(jian)，目的(de)在(zai)于判斷設(she)備的(de)機械靈敏度。

2.重(zhong)合(he)閘時間(jian)
這也是開關特性(xing)測(ce)試儀(yi)的(de)測(ce)試內容之一(yi)，一(yi)般情況下，為保證參數(shu)(shu)的(de)準確性(xing)，測(ce)試儀(yi)會多(duo)次進行重(zhong)合(he)閘實驗(yan)，*后根據重(zhong)合(he)閘時間的(de)函數(shu)(shu)變化，取算術平均數(shu)(shu)。

3.不(bu)同期性測試
開關特(te)性測(ce)(ce)(ce)試儀檢測(ce)(ce)(ce)閘口的(de)不(bu)同期性是為判斷(duan)(duan)設(she)(she)備的(de)誤差區(qu)間，此項測(ce)(ce)(ce)試是根據測(ce)(ce)(ce)試儀的(de)后臺大(da)數(shu)據庫進(jin)行比對，若出現(xian)異常，會立即報(bao)警，不(bu)同期測(ce)(ce)(ce)試后，需(xu)要(yao)對設(she)(she)備進(jin)行停機、斷(duan)(duan)電(dian)處理(li)，避(bi)免因測(ce)(ce)(ce)試導致設(she)(she)備損壞。

4.跳閘（關機）時間
跳(tiao)閘(zha)時(shi)(shi)常關(guan)系到(dao)設備**，開關(guan)特(te)性(xing)測(ce)試儀通過在不(bu)同電(dian)(dian)路(lu)情況下對(dui)設備的(de)跳(tiao)閘(zha)時(shi)(shi)間進行測(ce)定，其中(zhong)，短路(lu)與(yu)電(dian)(dian)泄露是重點測(ce)試內容，跳(tiao)閘(zha)時(shi)(shi)間多采用毫秒(miao)計數(shu)，依(yi)據開關(guan)特(te)性(xing)測(ce)試儀的(de)后(hou)臺參(can)數(shu)，與(yu)設備跳(tiao)閘(zha)時(shi)(shi)間進行對(dui)比(bi)。*后(hou)得(de)出正確參(can)數(shu)。

以上是開關特性測(ce)試(shi)儀的四種基本測(ce)試(shi)項(xiang)目，現(xian)代開(kai)關特性(xing)測(ce)試(shi)儀一般(ban)采(cai)取智能(neng)化測(ce)定的(de)方式，根據所(suo)測(ce)設備的(de)不(bu)同(tong)，植入與之匹配的(de)智能(neng)芯片，在(zai)測(ce)試(shi)后，開(kai)關特性(xing)測(ce)試(shi)儀可將測(ce)試(shi)結果長時(shi)間(jian)保(bao)留，為后期設備維(wei)護提供(gong)技術參考。