智能局部放電檢測儀動力不斷、潛力源源**章 局放理論(lun)概(gai)述

在開始我(wo)們(men)的實驗以前(qian)，我(wo)們(men)首先應(ying)該(gai)對(dui)局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)有(you)(you)個(ge)初步的了(le)解，為什(shen)(shen)么要測量局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)？局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)有(you)(you)什(shen)(shen)么危害？怎樣準確(que)測量局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)？有(you)(you)了(le)上述理論基礎可以幫(bang)助我(wo)們(men)理解測量過程中的正確(que)操作。

一、局(ju)部放(fang)電的定義及(ji)產生原因

在電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場作用下，絕緣(yuan)(yuan)系統中只有(you)部(bu)(bu)分(fen)區域(yu)發生(sheng)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，但(dan)尚(shang)未擊穿，（即在施加電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓的(de)(de)(de)導(dao)體(ti)(ti)(ti)之(zhi)間沒(mei)有(you)擊穿）。這種現象(xiang)稱(cheng)之(zhi)為(wei)局部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。局部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)可(ke)能(neng)發生(sheng)在導(dao)體(ti)(ti)(ti)邊(bian)上(shang)，也可(ke)能(neng)發生(sheng)在絕緣(yuan)(yuan)體(ti)(ti)(ti)的(de)(de)(de)表面(mian)上(shang)和內部(bu)(bu)，發生(sheng)在表面(mian)的(de)(de)(de)稱(cheng)為(wei)表面(mian)局部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。發生(sheng)在內部(bu)(bu)的(de)(de)(de)稱(cheng)為(wei)內部(bu)(bu)局部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。而(er)對(dui)于被(bei)氣體(ti)(ti)(ti)包圍的(de)(de)(de)導(dao)體(ti)(ti)(ti)附(fu)近發生(sheng)的(de)(de)(de)局部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，稱(cheng)之(zhi)為(wei)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)暈。由此 總結一(yi)下局部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)的(de)(de)(de)定義，指部(bu)(bu)分(fen)的(de)(de)(de)橋接導(dao)體(ti)(ti)(ti)間絕緣(yuan)(yuan)的(de)(de)(de)一(yi)種電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)氣放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，局部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)產生(sheng)原(yuan)因主要有(you)以下幾種：

電場不均勻。

電介質不均勻。

制(zhi)造過程的氣泡或雜(za)質。*經常發生(sheng)放電的原因是(shi)絕緣體內(nei)部或表面存在氣泡；其次是(shi)有些設備的運行過程中(zhong)會(hui)發生(sheng)熱脹冷縮,不同(tong)(tong)材料特別是導體(ti)與介(jie)質的(de)膨脹系數(shu)不同(tong)(tong)，也會逐漸出現裂縫；再有(you)一些是在(zai)運行過程中(zhong)(zhong)有(you)機(ji)高(gao)分(fen)子的(de)老化(hua)，分(fen)解出各種揮(hui)發物，在(zai)高(gao)場強的(de)作用下，電(dian)荷不斷(duan)地由(you)導體(ti)進入介(jie)質中(zhong)(zhong)， 在(zai)注入點(dian)上就(jiu)會使介(jie)質氣化(hua)。

智能局部放電檢測儀動力不斷、潛力源源二 、局部放電(dian)(dian)的(de)模擬電(dian)(dian)路及放電(dian)(dian)過程簡介

介質內部含(han)有氣泡，在交流電壓下產(chan)生的內部放電特性可由圖(tu)1—1的模擬電路(a b c等(deng)值電路)予以表(biao)示；其中Cc是(shi)模擬介質中產生(sheng)放(fang)電間隙(如氣泡)的(de)電容；Cb代(dai)表與Cc串聯部分介質的合成(cheng)電容(rong)；Ca表示其余(yu)部分介質的電(dian)容。

I——介質有缺陷(氣(qi)泡)的部份(虛線表示(shi))

II——介質無缺陷部份(fen)

圖1—1  表示具有內(nei)部放電(dian)的(de)模擬電(dian)路

圖1—1中以并聯有(you)—對火花(hua)間隙(xi)的電(dian)容Cc來模(mo)擬(ni)產生局部放電的內部氣泡。圖1—2表示了(le)在(zai)交流電壓(ya)下局(ju)部放(fang)電的發生(sheng)過程。

U(t)一一外(wai)施交(jiao)流(liu)電壓

Uc(t)一一氣泡不擊(ji)穿時在氣泡上的電(dian)壓

Uc’(t)一一有局(ju)部放電時氣泡上的實(shi)際電壓(ya)

Vc一一氣泡的擊穿(chuan)電壓

Y r一(yi)(yi)一(yi)(yi)氣泡的殘余電壓(ya)   

Us—局部放(fang)電起(qi)始電壓(瞬時值)

Ur一(yi)一(yi)與(yu)氣泡殘余(yu)電壓v r對(dui)應的外施電(dian)壓

Ir一一氣泡中的放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)

電極間總電容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電極間施加交流電壓 u(t)時(shi)，氣(qi)泡電容Cc上對應的電壓為Uc(t)。如圖(tu)2—1所示(shi)，此時的Uc(t)所代表的(de)是氣泡(pao)(pao)理(li)想狀態下的(de)電壓(ya)（既氣泡(pao)(pao)不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施(shi)電(dian)壓(ya)U(t)上(shang)(shang)升時，氣泡(pao)上(shang)(shang)電(dian)壓Uc(t)也上升，當U(t)上升到(dao)Us時，氣泡上電壓(ya)Uc達到(dao)氣泡擊穿電壓,氣泡擊穿，產生大量(liang)的(de)正、負離子，在電場(chang)(chang)作用下各(ge)自遷移(yi)到氣泡上下壁，形成空間電菏，建立反電場(chang)(chang)，削弱了氣泡內的(de)總(zong)電場(chang)(chang)強度(du)，使放電熄滅，氣泡又恢復絕緣性能。這(zhe)樣的(de)一次放電持續時間是極(ji)短暫的(de)，對一般的(de)空氣氣泡來說，大約(yue)只有幾個(ge)毫微秒(10的負(fu)8次方到10的負9次方秒)。所以電壓(ya)Uc(t)幾乎(hu)瞬(shun)間(jian)地從Vc降到Vr，Vr是殘余電(dian)壓；而氣泡上電(dian)壓Uc‘(t)將隨(sui)U(t)的增大而繼續由(you)Vr升高(gao)到Vc時，氣泡再(zai)—次擊(ji)穿，發生又—次(ci)局部放(fang)電，但(dan)此時相應的外施電壓比Us小(xiao)，為(Us-Ur)，這是(shi)因為氣泡上有殘余電(dian)壓Vr的內電場作(zuo)用的結(jie)果(guo)。Vr是與氣泡殘余電壓Yr相應的外施電(dian)壓，如此反復上述過程，即(ji)外施電(dian)壓每增加(Us-Ur)，就產生一次局(ju)部(bu)放電(dian)．直到前(qian)—次(ci)放電熄滅后，Uc’(t)上升到峰值時共(gong)增量不(bu)足以達Vc(相當(dang)于外(wai)施(shi)電(dian)壓的增量Δ比(bi)(Us-Ur)小(xiao))為止(zhi)。

此(ci)后，隨著外施電(dian)壓(ya)U(t)經過(guo)峰值Um后減小，外(wai)施(shi)電(dian)壓在氣泡中建(jian)立反方(fang)向(xiang)電(dian)場，由于氣泡中殘(can)存的內電(dian)場電(dian)壓方(fang)向(xiang)與(yu)外(wai)電(dian)場方(fang)向(xiang)相反，故外(wai)施(shi)電(dian)壓須經(Us+Ur))的電(dian)壓變化，才能(neng)使氣泡上(shang)的電(dian)壓達(da)到擊穿電(dian)壓Vc，(假定正、負方向擊穿(chuan)電壓(ya)Vc相(xiang)等(deng))，產生一次局部放電。放電很(hen)快熄滅，氣泡中電壓(ya)瞬時降到殘余(yu)電壓(ya)Vr(也假定正、負方向相同)。外施電(dian)壓(ya)繼(ji)續下降，當再(zai)下降(Us-Ur)時(shi)，氣(qi)泡電(dian)壓(ya)就又(you)達到Vc從(cong)而又(you)產生一次(ci)局部放電(dian)(dian)。如此(ci)重復(fu)上述過程，直到外施電(dian)(dian)壓升到反(fan)向蜂值一Um的(de)增量Δ不(bu)足以(yi)達(da)到(dao)(Us-Ur)為止。外施電(dian)壓經過一Um峰值(zhi)后，氣泡上的外(wai)電(dian)(dian)場方向(xiang)又(you)變(bian)為正方向(xiang)，與氣泡殘余電(dian)(dian)壓(ya)方向(xiang)相反，故外(wai)施電(dian)(dian)壓(ya)又(you)須上升(Us+Ur)產生第—次(ci)放電，熄滅后，每經過Us—Ur的(de)電(dian)壓上(shang)升就產生一(yi)次放電(dian)，重復前面所介紹(shao)的(de)過(guo)程。如圖1—2所示(shi)。

由以(yi)上(shang)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)過程分析(xi)，同(tong)時(shi)根據局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)的(de)(de)特點（同(tong)種試(shi)品(pin)，同(tong)樣(yang)的(de)(de)環境下(xia)，電(dian)(dian)壓越(yue)高局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)量(liang)(liang)越(yue)大(da)）可以(yi)知道：一般情況下(xia)，同(tong)一試(shi)品(pin)在(zai)一、三(san)(san)象(xiang)(xiang)限的(de)(de)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)量(liang)(liang)大(da)于二、四(si)象(xiang)(xiang)限的(de)(de)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)量(liang)(liang)。那(nei)是因為(wei)(wei)它(ta)們是電(dian)(dian)壓的(de)(de)上(shang)升沿。（第(di)三(san)(san)象(xiang)(xiang)限是電(dian)(dian)壓負的(de)(de)上(shang)升沿）。這(zhe)就是我們測量(liang)(liang)中為(wei)(wei)什(shen)么把(ba)時(shi)間窗刻意擺在(zai)一、三(san)(san)象(xiang)(xiang)限的(de)(de)原因。

智能局部放電檢測儀動力不斷、潛力源源三、局部放電的(de)測(ce)量原理：

智能局部放電檢測儀動力不斷、潛力源源四、局部放電的(de)表征參數(shu)

局部放(fang)電是比較(jiao)復雜(za)的物(wu)理(li)現象，必須通過多種(zhong)表征參(can)數(shu)才能**的描繪其狀態，同(tong)時局部放(fang)電對(dui)絕緣(yuan)破壞(huai)的機理(li)也是很(hen)復雜(za)的，也需要(yao)通過不同(tong)的參(can)數(shu)來評定(ding)它對(dui)絕緣(yuan)的損害，目前我們只(zhi)關(guan)心兩個基本參(can)數(shu)。

視在放電電荷——在絕(jue)緣體中發生局部放電(dian)(dian)時，絕(jue)緣體上(shang)施加電(dian)(dian)壓(ya)的(de)兩端出現的(de)脈(mo)動電(dian)(dian)荷稱之為視在放電(dian)(dian)電(dian)(dian)荷，單位用皮(pi)庫(ku)（pc）表(biao)示，通常(chang)以(yi)穩定出現的*大(da)視在放(fang)電電荷作為(wei)該試品(pin)的放(fang)電量。

放電(dian)重復率(lv)——在測量時間(jian)內每秒中出現的放電次數的平均值稱為放電重復(fu)率(lv)，單位為次/秒，放電重復率越高(gao)，對絕緣的損害越大。

**章  局放(fang)測試(shi)的試(shi)驗(yan)系統接線。

在(zai)了解了局(ju)部(bu)放電(dian)的(de)(de)基本理論之后(hou)，在(zai)本章我(wo)們(men)(men)的(de)(de)重點轉向實際操(cao)作，我(wo)們(men)(men)先(xian)介紹局(ju)部(bu)放電(dian)測試(shi)中常(chang)用的(de)(de)三種接法，隨后(hou)我(wo)們(men)(men)再介紹整(zheng)個系(xi)統的(de)(de)接線電(dian)路，*后(hou)我(wo)們(men)(men)再分別(bie)介紹幾種典型的(de)(de)試(shi)品的(de)(de)試(shi)驗線路。

一、局放電測試電路的(de)三種基本接法及優缺點。

（1）   標準(zhun)試驗電路，又稱并聯法。適合于必須接地的(de)試品。其缺點(dian)是高壓引線對(dui)地雜散電容并聯(lian)在 CX上，會降低測試靈(ling)敏度(du)。

（2）接法的串聯法，其要求試品低壓端(duan)對地浮置。其(qi)優(you)點是變壓器入(ru)口(kou)電(dian)容、高壓線對地(di)雜散(san)電(dian)容與耦合電(dian)容CK并聯(lian)，有利于提高試(shi)驗靈敏度。缺點是試(shi)樣損壞時(shi)會損壞輸入(ru)單元。

（3）平(ping)衡法(fa)試(shi)驗(yan)電路：要求兩(liang)個試(shi)品相接近，至少電容(rong)量為同一數量級其優(you)點是(shi)外干擾強烈的情(qing)況下(xia)，可取得較好抑制干擾的效果，并可消除(chu)變壓(ya)器雜散(san)電容(rong)的影響，而且可做大(da)電容(rong)試(shi)驗(yan)。缺點是(shi)須要兩(liang)個相似的試(shi)品，且當產生放電時，需設法(fa)判別是(shi)哪(na)個試(shi)品放電。

值得提出的是：由于現場(chang)試驗(yan)條(tiao)件的限制(zhi)（找到兩個相似的試品(pin)且要(yao)保證一個試品(pin)無放電不太容(rong)易），所以(yi)在現場(chang)平衡法比較難實現，另(ling)外，由于采(cai)(cai)用串聯(lian)法(fa)(fa)時(shi)，如果試品擊穿，將會對(dui)設備(bei)造(zao)成(cheng)比較大的損(sun)害，所以出于對(dui)設備(bei)保護的想(xiang)法(fa)(fa)，在(zai)現(xian)場試驗時(shi)一般采(cai)(cai)用并聯(lian)法(fa)(fa)。

智能局部放電檢測儀動力不斷、潛力源源二、采用并(bing)聯法的整個系統的接線原理圖(tu)。

該系(xi)統采用脈沖電(dian)(dian)流法檢(jian)測(ce)(ce)高壓試(shi)(shi)品的(de)局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)量(liang)，由(you)控(kong)制(zhi)(zhi)臺(tai)控(kong)制(zhi)(zhi)調壓器(qi)和(he)變壓器(qi)在試(shi)(shi)品的(de)高壓端產生測(ce)(ce)試(shi)(shi)局放(fang)(fang)所需的(de)預(yu)加電(dian)(dian)壓和(he)測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)壓，通過無局放(fang)(fang)藕合電(dian)(dian)容器(qi)和(he)檢(jian)測(ce)(ce)阻抗將局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)信(xin)號(hao)取(qu)出并送至局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)檢(jian)測(ce)(ce)儀顯示(shi)并判(pan)斷和(he)測(ce)(ce)量(liang)。系(xi)統中的(de)高壓電(dian)(dian)阻為(wei)了防止在測(ce)(ce)試(shi)(shi)過程中試(shi)(shi)品擊穿而損(sun)壞其他(ta)設備，兩個電(dian)(dian)源濾波器(qi)是(shi)將電(dian)(dian)源的(de)干(gan)擾和(he)整(zheng)個測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統分開，降低整(zheng)個測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統的(de)背景干(gan)擾。

根(gen)據上述原(yuan)理(li)圖(tu)可以(yi)看出，局部放(fang)電(dian)(dian)測試(shi)的靈敏度(du)和(he)準(zhun)確度(du)和(he)整個系(xi)統密切相(xiang)關(guan)，要想順利(li)和(he)準(zhun)確的進行局部放(fang)電(dian)(dian)測試(shi)，就必須將整個系(xi)統考(kao)濾(lv)周到，包括系(xi)統的參(can)數選取和(he)連接(jie)方式。另外，在現場試(shi)驗(yan)時，由于是(shi)驗(yan)證性試(shi)驗(yan)，高壓限流電(dian)(dian)阻(zu)可以(yi)省掉。

三、幾種典型試(shi)品的接線原理圖。

（1）電流互感(gan)器(qi)的(de)局放(fang)測試接線原理圖

（2）電壓互感器的(de)局放測試接線原理(li)圖

A．工頻加壓方式接線原(yuan)理圖

為了防止(zhi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感器在(zai)工頻(pin)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)下產生大的(de)(de)勵磁電(dian)(dian)(dian)流(liu)而損壞，高壓(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感器一般采取自激勵的(de)(de)加(jia)壓(ya)(ya)方式。在(zai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感器的(de)(de)低壓(ya)(ya)側加(jia)一倍頻(pin)電(dian)(dian)(dian)源，在(zai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感器的(de)(de)高壓(ya)(ya)端感應出高壓(ya)(ya)來進行局部放電(dian)(dian)(dian)實(shi)驗。這就是通常所說(shuo)的(de)(de)三(san)倍頻(pin)實(shi)驗。其接(jie)線原理圖如下：

(3)高壓(ya)電容器(qi).絕緣子的局放測(ce)試接線(xian)原理圖

(4) 發電機(ji)的(de)局放測試接(jie)線(xian)原理圖

（5）變壓器的局部放電測試接線原(yuan)理圖

我們僅(jin)僅(jin)是(shi)在原理性(xing)的(de)(de)總結(jie)了幾種典型試(shi)品的(de)(de)接線(xian)原理圖，至于各(ge)種試(shi)品的(de)(de)加壓方式和加壓值的(de)(de)多(duo)少，我們在做試(shi)驗的(de)(de)時侯要嚴格(ge)遵(zun)守每(mei)種試(shi)品的(de)(de)出廠檢驗標準或交接檢驗標準。

第三章  概(gai)述

WBTCD-9308智(zhi)能(neng)局部(bu)放(fang)電檢測儀(yi)是我公司(si)*新(xin)推向市場的新(xin)一代數字智(zhi)能(neng)儀(yi)器，該儀(yi)器在原(yuan)有產(chan)品WBJF-2010、JF-2020局放(fang)儀(yi)的基(ji)礎上采用嵌(qian)入式(shi)ARM系統(tong)作為中央處理單(dan)元(yuan)，控制12位(wei)分辨率的高速模(mo)數轉換芯(xin)片進(jin)行數據采集，將采集到(dao)的數據存(cun)放(fang)在雙(shuang)端口(kou)RAM中。實現從模(mo)擬到(dao)數字的跨越。使用26萬色高分辨率TFT-LCD數字液晶顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)模(mo)組(zu)實時顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)放(fang)電脈(mo)沖波形，配備VGA接(jie)口(kou)，可外(wai)接(jie)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)器。與傳統(tong)的模(mo)擬式(shi)示(shi)(shi)(shi)波管顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)局部(bu)放(fang)電檢測儀(yi)相比有以下特點：

1.彩色(se)顯(xian)示器，雙色(se)顯(xian)示波形，更清晰直觀；

2.可鎖定波形，更方便(bian)仔細查(cha)看放電(dian)波形細節；

3.自動(dong)測量并(bing)顯(xian)示試驗(yan)電源(yuan)時基(ji)頻率，無需手動(dong)切換；

4.配備VGA接口，可外接大尺寸顯示器；

5.與示波管(guan)相比壽命更長。

6.具有(you)波形鎖定、打印試(shi)驗報(bao)告功能

本儀(yi)器檢(jian)測(ce)靈敏度高，試樣電(dian)容覆(fu)蓋范(fan)圍(wei)大，適(shi)用試品范(fan)圍(wei)廣，輸入單元(yuan)（檢(jian)測(ce)阻抗）配備齊全，頻帶(dai)組合(he)多（九種）。儀(yi)器經適(shi)當定標(biao)后能直讀放電(dian)脈(mo)沖的放電(dian)量。

本儀(yi)器是電(dian)力部門、制造廠家和科(ke)研單位等廣泛使用的局部放電(dian)測試儀(yi)器。

第四(si)章(zhang)  主要技(ji)術指標：

1．可測試品的電容范圍： 6PF—250uF。

2．檢(jian)測靈(ling)敏度（見表(biao)一）：

表(biao)一

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選(xuan)。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選(xuan)。

4、放(fang)大器(qi)增益調節：

粗(cu)調六(liu)檔(dang)(dang)(dang)，檔(dang)(dang)(dang)間增益20±1dB；細調范圍≥20dB。每檔(dang)(dang)(dang)之間數(shu)據為(wei)10倍(bei)關系：如第三檔(dang)(dang)(dang)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)數(shu)據為(wei)98，則**檔(dang)(dang)(dang)顯示數(shu)據為(wei)9.8，如在第三檔(dang)(dang)(dang)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)數(shu)據超(chao)過120，則應(ying)調至**檔(dang)(dang)(dang)來(lai)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)數(shu)據，所(suo)得數(shu)據應(ying)乘以10才為(wei)實際測(ce)(ce)量值。

5、時(shi)間窗：

（1）窗(chuang)寬：可調范圍15°-175°；

（2）窗位(wei)置(zhi)：每一窗可旋轉0°- 180°；

（3）兩(liang)個(ge)時(shi)(shi)間窗可分(fen)別(bie)開或同時(shi)(shi)開。

6、放電量表：

0-100誤差<±3％（以滿度計）。

7、橢圓時基：

（1）頻率：50HZ、或外(wai)部電(dian)源同步（任(ren)意頻率）

（2）橢圓旋轉：以30°為一檔，可(ke)作360°旋轉。

（3）顯(xian)示方式(shi)：橢圓(yuan)—直線。

8、試(shi)驗電壓表：

精(jing)度(du)：優于±3％（以滿(man)度(du)計）。

9、體積： 320×480×190（寬×深×高）mm³。

10、重量：約15Kg。

三、系統工作原(yuan)理：

本機的局部放電測(ce)試原理是高(gao)頻脈沖(chong)電流測(ce)量法（ERA法）。

試品Ca在試驗電壓(ya)下產(chan)(chan)生(sheng)局(ju)部放(fang)(fang)電時(shi)(shi)，放(fang)(fang)電脈沖信號經藕合(he)電容Ca送(song)入(ru)(ru)輸入(ru)(ru)單元，由輸入(ru)(ru)單元拾取(qu)到脈沖信號，經低噪(zao)聲前置放(fang)(fang)大(da)(da)器放(fang)(fang)大(da)(da)，濾波放(fang)(fang)大(da)(da)器選擇(ze)所(suo)需頻帶及主放(fang)(fang)大(da)(da)器放(fang)(fang)大(da)(da)（達到所(suo)需幅值(zhi)與產(chan)(chan)生(sheng)零(ling)標志(zhi)脈沖）后(hou)，在示波屏的(de)橢圓掃(sao)描基線上(shang)產(chan)(chan)生(sheng)可(ke)見的(de)放(fang)(fang)電脈沖，同時(shi)(shi)也送(song)至脈沖峰(feng)(feng)值(zhi)表顯示其峰(feng)(feng)值(zhi)。

時(shi)間窗單元控制試驗電壓每一周期內脈沖峰值的(de)工作時(shi)間，并(bing)在這段時(shi)間內將示波屏的(de)相(xiang)應顯示區(qu)加亮，用它可以排除固(gu)定相(xiang)位(wei)的(de)干擾。

試(shi)驗電壓(ya)(ya)(ya)表(biao)經電容(rong)分壓(ya)(ya)(ya)器產生試(shi)驗電壓(ya)(ya)(ya)過零(ling)標(biao)志(zhi)訊號(hao)，在(zai)示(shi)波屏上顯示(shi)零(ling)標(biao)脈沖，橢圓時基上兩個零(ling)標(biao)脈沖，通(tong)過時間窗的寬窄調節可確定試(shi)驗電壓(ya)(ya)(ya)的相位，試(shi)驗電壓(ya)(ya)(ya)大小(xiao)由數(shu)字電壓(ya)(ya)(ya)表(biao)指示(shi)。

整(zheng)個系統的(de)工作原理(li)可參看方框圖（圖一(yi)）。

四、結構說明

本(ben)儀(yi)器為標準機箱(xiang)結構，儀(yi)器分前面板及(ji)后(hou)面板兩部(bu)分，各調(diao)節元件的位(wei)置及(ji)位(wei)置和功能見下圖說明。

1、4：長按改變(bian)門窗的(de)位(wei)置

2、3：長按改變門窗的(de)寬度(du)

5：時鐘設置按鈕

6：按(an)9號(hao)鍵鎖定后再按(an)此鍵，即(ji)可(ke)打(da)印試驗報告

7：分壓比設置按(an)鈕

8：門(men)開關，重復(fu)按(an)可選擇左右門(men)

9：波形鎖定按(an)鍵(jian)

10：橢(tuo)圓旋轉(zhuan)按鈕

11：顯示方(fang)式(shi)按(an)鈕

12：取(qu)消(xiao)按鈕

A、B、C通道(dao)選擇旋鈕與后面板A、B、C測(ce)量通道(dao)相對應(ying)

備注(zhu)： 如(ru)需數據(ju)導出，步驟如(ru)下：

（1）在電腦(nao)上安裝(zhuang)好(hao)RS232通(tong)用串(chuan)口線驅動(dong)。（驅動(dong)盤(pan)里(li)有安裝(zhuang)介紹(shao)）及局放試驗報(bao)告編輯器(qi)軟件。

（2）將串口線和局放儀后面的數據接(jie)口連接(jie)好。   

（3）將(jiang)需要(yao)保存的波(bo)形鎖定(ding)然后點擊 局放試(shi)驗報告編輯(ji)器

（4）點擊(ji)(ji)Start鍵生(sheng)成鎖定后的數據，然后點擊(ji)(ji)測試報告如下圖(tu)所示：

（5）點擊測試(shi)報告后則會(hui)出現局(ju)放試(shi)驗報告編(bian)輯器可以根據需要填(tian)寫上(shang)面的內容。

（6）填寫好(hao)表格后點擊生(sheng)成報告數據會以Word文檔(dang)的形式出現，再將數據保存至電腦(nao)，如下圖所示：

第五章  操作說明

1、試驗準備(bei)：將機(ji)器(qi)后(hou)面板的(de)(de)三個開關都置于“關”的(de)(de)狀態

（1）檢查試驗場地(di)(di)的接(jie)地(di)(di)情況，將(jiang)本儀(yi)器(qi)后部的接(jie)地(di)(di)螺栓用粗銅(tong)(tong)線(xian)（*好(hao)用編制銅(tong)(tong)帶）與試驗場地(di)(di)的接(jie)地(di)(di)妥善相接(jie)，輸入單元(yuan)的接(jie)地(di)(di)短路片也(ye)要妥善接(jie)地(di)(di)。

（2）根椐(ju)試品電容(rong)(rong)Ca，藕(ou)合電容(rong)(rong)Ck的(de)大小，選取(qu)合適序號的(de)輸入單(dan)元（表一），表一中調(diao)諧電容(rong)(rong)量是指從輸入單(dan)元初級(ji)繞組兩(liang)端看到(dao)的(de)電容(rong)(rong)（按(an)Cx和(he)Ck的(de)串聯值粗略估算）。

輸入單(dan)元應盡量(liang)靠近(jin)被測(ce)試品，輸入單(dan)元插座(zuo)經(jing)8米長電(dian)纜(lan)與后面板上輸入插座(zuo)相(xiang)接。

（3）試(shi)品接入(ru)輸(shu)入(ru)單(dan)元(yuan)的方法主要(yao)有以下幾種(zhong)：

圖中(zhong)：Ca——試品    Ck——藕合電(dian)容(rong)    Z——阻塞阻抗  R3、C3、R4、C4——橋式接法中(zhong)平(ping)衡調節阻抗。

（4）在高壓(ya)端接(jie)上電壓(ya)表(biao)電阻或電容(rong)分(fen)壓(ya)器，其輸出經(jing)測量電纜(lan)接(jie)到后(hou)面(mian)板試驗電壓(ya)輸入插座30。

（5）在(zai)未加試(shi)驗電壓的(de)情況下，將JF-2006校正(zheng)脈沖發生器的(de)輸出接試(shi)品兩端。

2、使用(yong)步驟(zou)

（1）開機準備(bei)：將(jiang)時基(ji)顯示方式置于“橢圓”。

（2）放電量(liang)的校正：按(an)圖接好(hao)線后，在(zai)未加試驗電壓(ya)之前用LJF-2006校正脈沖發生(sheng)器(qi)予以校正。

注意：方波測量盒應盡量靠近試(shi)品的高壓(ya)(ya)端。紅端子引(yin)線接高壓(ya)(ya)端。

然后(hou)調(diao)(diao)節(jie)放(fang)大(da)器增益調(diao)(diao)節(jie)，使該注入(ru)脈(mo)沖高(gao)度適當（示(shi)波屏上高(gao)度2cm以(yi)下），使數(shu)字表讀數(shu)值與注入(ru)的已(yi)知(zhi)電量相(xiang)符。調(diao)(diao)定后(hou)放(fang)大(da)器細調(diao)(diao)旋(xuan)鈕(niu)的位置不(bu)能再改變，需(xu)保(bao)持與校正時相(xiang)同。

校(xiao)正完成后(hou)必須(xu)去(qu)掉校(xiao)正方波(bo)發生器與試驗回路的連(lian)接(jie)。

（3）測試操作：

第六(liu)章  抗干擾(rao)措施(shi)和局部放電圖(tu)譜簡介

對于局(ju)部放(fang)電實驗我們*怕的(de)就是(shi)干擾，下(xia)面簡單(dan)介紹一下(xia)實驗中可能遇到的(de)干擾以及抗干擾的(de)方法：

測(ce)量的(de)干(gan)擾(rao)分類

干(gan)擾(rao)有來(lai)自電網的(de)和來(lai)自空間的(de)。按表現形式分(fen)又分(fen)為固定的(de)和移動的(de)。主要的(de)干(gan)擾(rao)源有以(yi)下(xia)一些：

①懸浮(fu)電(dian)位物體放電(dian)，通過對地雜散電(dian)容耦(ou)合

②外部**電(dian)暈

③可控硅元(yuan)件在鄰(lin)近運行

④繼電器，接觸器，輝光管等(deng)物品

⑤接觸**

⑥無線電干(gan)擾

⑦熒光(guang)燈干擾

⑧電動機干擾(rao)

⑨中(zhong)高頻工業設備

（二）抗干擾方法

采用帶調壓器，隔離(li)變壓器和濾波器的控制電(dian)源

設置(zhi)屏(ping)蔽(bi)室，可只屏(ping)蔽(bi)試驗回路部(bu)分

可靠(kao)的(de)單點(dian)接地，將試驗回路系統設計成單點(dian)接地結構(gou)，接地電阻要(yao)小(xiao)，接地點(dian)要(yao)與一般試驗室的(de)地網及電力網中線分開(kai)。

采用高壓濾波(bo)器

用平衡法或橋(qiao)式試驗電路

利(li)用(yong)時間窗，使固定(ding)相位干擾(rao)處(chu)于亮窗之(zhi)外

采用較窄頻帶，或用頻帶躲開干(gan)擾大的頻率(lv)范圍(wei)

在高壓端加裝高壓屏蔽罩(zhao)或半導體橡膠帽以防電(dian)暈干擾

試驗電(dian)路遠離(li)周圍物體(ti)，尤其是懸浮的金(jin)屬固體(ti)！

（三）初做實(shi)驗者(zhe)對波(bo)形(xing)辨認(ren)還是有一(yi)定(ding)困難的，下(xia)面就簡(jian)單(dan)介(jie)紹一(yi)     放電類型和干擾的初步辯(bian)認：

1． 典(dian)型的(de)內部氣泡(pao)放電的(de)波(bo)形特點：(圖 5—01)

A．放電(dian)主要顯(xian)示在試(shi)驗電(dian)壓由零升到峰值(zhi)的兩(liang)個橢圓象限內。

B．在起始(shi)電壓Ui時，放電通常發生在峰值附近，試驗電壓超(chao)過(guo)Ui時，放(fang)電(dian)向零相位延(yan)伸。

C．兩(liang)個相反半(ban)周上放電(dian)次(ci)數和幅值大致相同（*大相差至(zhi)3：1）。

D．放電(dian)波形可辯。

E．q與試驗電壓關(guan)系(xi)不大(da)，但放電重復率n隨試驗電壓(ya)上升而加(jia)大。

F．局部放電(dian)起始電(dian)壓Ui和熄滅(mie)電壓Ue基本相等。

G．放電量(liang)q與(yu)時間關(guan)系不大。

H．如(ru)果(guo)放(fang)電量隨(sui)試(shi)驗電壓(ya)上(shang)升而(er)增大，并且放(fang)電波形變得模糊(hu)不可(ke)分(fen)辨，則往往是介(jie)質(zhi)內含有多種(zhong)大小氣泡，或是介(jie)質(zhi)表(biao)面(mian)放(fang)電。如(ru)果(guo)除了上(shang)述情況(kuang)，而(er)且放(fang)電幅值隨(sui)加(jia)壓(ya)時間而(er)迅速增長（可(ke)達100倍或(huo)更多），則(ze)往往是絕緣液(ye)體中的(de)氣(qi)泡放電(dian)，典型例(li)子是油(you)浸紙電(dian)容器(qi)的(de)放電(dian)。

2． 金屬(shu)與(yu)介質間氣泡的(de)放電波形特(te)點：&nbsp;              

正半周有(you)許多幅(fu)值小的(de)放(fang)電，負半周有(you)很(hen)少幅(fu)值大(da)的(de)放(fang)電。幅(fu)值相(xiang)差可達10﹕1，其他同上。

典型例子：絕緣與導(dao)體粘附**的(de)聚乙(yi)烯(xi)電(dian)纜(lan)的(de)放電(dian)。q與試驗電(dian)壓關系不大。（圖 5—02）

如果隨試(shi)驗電(dian)壓升高(gao)，放(fang)電(dian)幅(fu)值(zhi)也增大，而且放(fang)電(dian)波(bo)形(xing)變得模糊，則往(wang)往(wang)是含有不同大小多(duo)個氣泡(pao)，或是外露的(de)金(jin)屬與介(jie)質(zhi)表(biao)面(mian)之間(jian)出現的(de)表(biao)面(mian)放(fang)電(dian)。（圖 5—03）

（四(si)）下面(mian)介紹(shao)一些主要視為(wei)干擾(rao)或非正常放(fang)電的情況(kuang)：

（1）懸浮電位物體放電波(bo)形特點：

在電(dian)(dian)壓(ya)峰值(zhi)(zhi)(zhi)前的正(zheng)負半周(zhou)兩個象(xiang)限里出(chu)現幅值(zhi)(zhi)(zhi)。脈沖數和位(wei)置均相同，成對出(chu)現。放電(dian)(dian)可移(yi)動，但它們間的相互間隔不變，電(dian)(dian)壓(ya)升高(gao)時(shi)，根(gen)數增加，間隔縮小(xiao)，但幅值(zhi)(zhi)(zhi)不變。有(you)時(shi)電(dian)(dian)壓(ya)升到一定值(zhi)(zhi)(zhi)時(shi)會消失(shi)，但降至此值(zhi)(zhi)(zhi)又(you)重新(xin)出(chu)現。

原因：金屬間(jian)的(de)間(jian)隙產(chan)生的(de)放(fang)電(dian)，間(jian)隙可能是地面上兩個獨立的(de)金屬體間(jian)（通過雜散(san)電(dian)容(rong)耦合）也(ye)可能在樣(yang)品(pin)內(nei)，例如屏(ping)蔽(bi)松散(san)。

（2）外部**電暈放電波(bo)形特(te)點(dian)：

起始放(fang)電(dian)僅(jin)出(chu)現在試(shi)驗電(dian)壓(ya)(ya)的一(yi)個半周上，并(bing)對稱地分布在峰(feng)值(zhi)兩側。試(shi)驗電(dian)壓(ya)(ya)升(sheng)高時，放(fang)電(dian)脈沖數急劇增加，但幅值(zhi)不變(bian)，并(bing)向兩側伸展。

原因：空氣中高(gao)壓**或邊緣(yuan)放(fang)電。如(ru)果放(fang)電出現(xian)在負半(ban)(ban)周，表示**處于(yu)高(gao)壓，如(ru)果放(fang)電出現(xian)在正半(ban)(ban)周則**處于(yu)地(di)電位。

（3）液體(ti)介質(zhi)中(zhong)的**電(dian)暈放電(dian)波形(xing)特點：

放電(dian)(dian)出(chu)(chu)現(xian)在兩(liang)個半周(zhou)上，對稱地分布在峰值兩(liang)側。每一(yi)組放電(dian)(dian)均為等(deng)間隔，但一(yi)組幅值較大的(de)放電(dian)(dian)先出(chu)(chu)現(xian)，隨試(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)升高而幅值增(zeng)大，不(bu)一(yi)定等(deng)幅值；一(yi)組幅值小的(de)放電(dian)(dian)幅值相等(deng)，并且不(bu)隨電(dian)(dian)壓(ya)變化。

原因：絕緣液體中**或邊緣放電。如(ru)一組大的放電出現在正半(ban)(ban)周(zhou)，則(ze)**處(chu)于(yu)高壓(ya)；如(ru)出現在負半(ban)(ban)周(zhou)，則(ze)**地電位。

（4）接觸**的(de)干擾圖形。

波形特(te)點(dian)：對稱地分布(bu)在(zai)實驗(yan)電壓(ya)(ya)零點(dian)兩側，幅(fu)值(zhi)(zhi)大(da)致不(bu)變(bian)，但在(zai)實驗(yan)電壓(ya)(ya)峰(feng)值(zhi)(zhi)附近下降為(wei)零。波形粗糙(cao)不(bu)清(qing)晰，低電壓(ya)(ya)下即出現。電壓(ya)(ya)升高(gao)時，幅(fu)值(zhi)(zhi)緩慢增加，有時在(zai)電壓(ya)(ya)達到一定值(zhi)(zhi)后會(hui)完(wan)全消失。

原因：實驗回路中金屬(shu)與金屬(shu)**接(jie)觸的(de)連接(jie)點(dian)；塑料電纜屏蔽層半導體粒子的(de)**接(jie)觸；電容器(qi)鋁箔的(de)插(cha)接(jie)片等（可將電(dian)容器充電(dian)然后短路來消除(chu)）。               

（5）可(ke)控硅元件(jian)的(de)干擾圖形。

波(bo)(bo)形(xing)特點(dian)：位置固定，每只(zhi)元件產生一個獨立訊號。電(dian)路接通，電(dian)磁耦(ou)合效應(ying)增強時訊號幅值(zhi)增加(jia)，試(shi)驗(yan)調壓時，該脈沖(chong)訊號會發生高頻波(bo)(bo)形(xing)展寬，從而占(zhan)位增加(jia)。

原因：鄰近(jin)有可(ke)控硅元件在運(yun)行。

（6）繼電器、接觸器、輝光管(guan)等動作的干擾。

波(bo)形(xing)特點(dian)：分布不(bu)規則或間斷(duan)出(chu)現，同試驗電壓無關。

原(yuan)因：熱繼電(dian)器(qi)、接觸器(qi)和各(ge)種火(huo)花(hua)試驗器(qi)及(ji)有火(huo)花(hua)放電(dian)的記錄器(qi)動作時產生(sheng)。

（7）熒(ying)光燈的干(gan)擾(rao)圖形。

波(bo)形(xing)特(te)點：欄柵(zha)狀(zhuang)，幅值大致(zhi)相同的脈沖，伴(ban)有正(zheng)負半波(bo)對稱(cheng)出現的兩(liang)簇脈沖組。

原因：熒(ying)光燈照明    &nbsp;     &nbsp;                                                                          

（8）無(wu)線電干擾的(de)干擾圖(tu)形。

波(bo)形特點：幅值有(you)調制的高頻正弦波(bo)，同(tong)試驗電壓(ya)無關。

原(yuan)因(yin)：無線電話、廣播話筒、載波(bo)通(tong)訊等(deng)。

（9）電(dian)動機干(gan)擾(rao)的干(gan)擾(rao)圖形（圖5—12）

波形(xing)特點：放電(dian)波形(xing)沿橢圓基(ji)線均勻(yun)分布，每個單個訊號呈“山”字形(xing)。

原因：帶換(huan)向(xiang)器的電(dian)動機，如(ru)電(dian)扇(shan)、電(dian)吹風運(yun)轉時的干擾。

（10）中(zhong)高頻(pin)工業設備的干擾圖(tu)形。

波(bo)形特(te)點：連續發生(sheng)，僅(jin)出現在電源波(bo)形的半(ban)周內。

原(yuan)因：感應加熱裝(zhuang)置和頻率(lv)接近(jin)檢測頻率(lv)的超(chao)聲波發生器等。

（11）鐵芯(xin)磁飽和諧(xie)波的干(gan)擾圖形（圖5—14）

波形特點：較低頻率(lv)的諧(xie)波振蕩，出現在兩個半周上，幅值(zhi)隨試(shi)驗電(dian)壓(ya)升高而增(zeng)大，不加電(dian)壓(ya)時(shi)消失(shi)，有(you)重現性。

原因：試驗系統各種鐵芯設備(bei)（試驗變(bian)壓器(qi)、濾波電抗器(qi)、隔離變(bian)壓器(qi)等）磁飽(bao)和產生的(de)諧振。                      &nbsp;          

（12）電極在電場(chang)方向機械(xie)移動的干擾圖形。

波形特點：僅在試驗(yan)電(dian)壓的半周(zhou)（正(zheng)或負）上出現的與峰值(zhi)(zhi)對(dui)稱的兩個放電(dian)響應，幅值(zhi)(zhi)相等，而脈沖方向相反，起始(shi)電(dian)壓時兩個脈沖在峰值(zhi)(zhi)處靠(kao)得很近，電(dian)壓升高時逐漸(jian)分開，并可能產生(sheng)新的脈沖訊(xun)號(hao)對(dui)。

原因：電(dian)極(ji)(ji)的部(bu)分（尤其是金(jin)屬(shu)箔電(dian)極(ji)(ji)）在電(dian)場作(zuo)用下運動。    ;                &nbsp;     

（14）漏電痕跡(ji)和樹枝放電

波形(xing)(xing)特點：放電(dian)訊號波形(xing)(xing)與一般典型圖象(xiang)均不(bu)符合，波形(xing)(xing)不(bu)規則不(bu)確定。

原因(yin)：玷污(wu)了(le)的(de)絕緣(yuan)上漏電或絕緣(yuan)局部過熱(re)而致的(de)碳化痕跡或樹枝通(tong)道。

在放(fang)(fang)電(dian)(dian)測試(shi)中(zhong)必須保證測試(shi)回(hui)路中(zhong)其(qi)它元件（試(shi)驗(yan)變(bian)壓器、阻(zu)塞線圈(quan)、耦(ou)合電(dian)(dian)容(rong)(rong)器、電(dian)(dian)壓表電(dian)(dian)阻(zu)等）均(jun)不放(fang)(fang)電(dian)(dian)，常用的(de)辦法是用與試(shi)品電(dian)(dian)容(rong)(rong)數量級相(xiang)同的(de)無(wu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)容(rong)(rong)或絕緣結構取(qu)代(dai)試(shi)品試(shi)驗(yan)，看看有無(wu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)。

了(le)解(jie)了(le)各(ge)種放(fang)電類型的波形特征，來源(yuan)以及識別(bie)干擾(rao)后就可按具體情況采取措施(shi)排除干擾(rao)和正確地進(jin)行放(fang)電測(ce)量了(le)。

第七章     局部放電測試當中(zhong)應(ying)該(gai)注意的問題(ti)

實驗前(qian)，試品(pin)的絕(jue)緣表面(mian)（尤其是高(gao)壓端）應作清(qing)潔化處(chu)理(li)

2、   各連接點應接觸(chu)良好，尤其是高壓端不要留(liu)下尖銳的接點，高壓導(dao)線應盡可能粗(cu)以防電暈(yun)，可用蛇皮管。

輸(shu)入單元(yuan)要盡量靠(kao)近試品，而且(qie)接地(di)(di)要可靠(kao)，接地(di)(di)線*好用

編織(zhi)銅(tong)帶(dai)。主機也(ye)須接地，以保證**。

試(shi)驗(yan)回路盡(jin)可能緊湊。即高壓連(lian)線盡(jin)可能短，試(shi)驗(yan)回路所圍面 

積盡可能小(xiao)。

在(zai)進行110KV及(ji)以上等級的局放試(shi)驗時，試(shi)品周圍的懸浮金屬

物(wu)體應妥(tuo)善接地。

考慮到油(you)浸(jin)式試(shi)品(pin)局部(bu)放(fang)電(dian)存(cun)在滯后效(xiao)應(ying)，因此在局放(fang)試(shi)驗前

幾小(xiao)時(shi)，不(bu)要(yao)對試品施加(jia)超(chao)過局部(bu)放(fang)電試驗電壓(ya)的(de)高(gao)電壓(ya)。

第八章  附件

1、專用測量(liang)電纜線6米       ;  2根

2、電源線    &nbsp;                1根

3、1.0A保險(xian)絲  &nbsp;              4根

4、使(shi)用說(shuo)明書               ;&nbsp; 1份(fen)

WBJF-2020校正脈沖發生器(qi)使(shi)用(yong)說明

用(yong)途與適(shi)用(yong)范圍：

WBJF-2020校正脈沖發(fa)生器是一個小型(xing)的(de)(de)廉價的(de)(de)電池供電的(de)(de)局部放電校正器，它(ta)適(shi)用于需(xu)要攜帶和使用靈活的(de)(de)場合。

主(zhu)要規格及技術參數：

輸出電(dian)荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升時間：<100ns

衰減(jian)時(shi)間：>100us

極性(xing)：正(zheng)、負極性(xing)

重復(fu)頻(pin)率：1KHz

頻(pin)率變(bian)化：>±100Hz

尺(chi)寸：160×120×50mm

重(zhong)量：0.5Kg

電池：6F22  9V

操(cao)作與作用：

首先打(da)開WBJF-2020校正脈(mo)沖發生器后蓋板(ban)，裝入電池(chi)，蓋好蓋板(ban)。將(jiang)輸出紅黑(hei)兩個端(duan)子接(jie)上導線(xian)，紅端(duan)子上的導線(xian)盡(jin)量(liang)且(qie)靠近試(shi)品的高壓(ya)端(duan)，黑(hei)端(duan)導線(xian)接(jie)試(shi)品和低(di)壓(ya)端(duan)，將(jiang)校正電量(liang)開關置于合適(shi)的位置，即可(ke)校正，頻率可(ke)在1KHz附近調節，面板(ban)上(shang)電壓表指示機(ji)內電源的情況，一(yi)般(ban)指示8V以上才(cai)能保證工作，低于(yu)8V則需調換電池。

校正后切記將校正脈(mo)沖發生器(qi)取(qu)下！