超高(gao)頻局部放(fang)電巡檢儀概述一、產品(pin)概述(shu)
是測量(liang)、分(fen)析電(dian)力設(she)備絕緣性能以及對局部(bu)放(fang)電(dian)源(yuan)定(ding)位的專用儀器;本系統(tong)采用現(xian)代電(dian)子和計算機(ji)綜(zong)合技術,實現(xian)信(xin)號放(fang)大(模(mo)擬(ni)、電(dian)子、數字)、濾波、數據采集、數據處(chu)理、圖形顯示、試驗報告自動生成,從而完(wan)成局部(bu)放(fang)電(dian)的測量(liang),分(fen)析與定(ding)位。
本儀器攜帶方便、測量快(kuai)速,抗干擾能力強,便于現(xian)場(chang)使用。其(qi)配(pei)置(zhi)的軟件(jian)主要包括局(ju)部放電巡檢(jian)以及局(ju)部放電定位兩部分。其(qi)中(zhong)局(ju)部放電巡檢(jian)配(pei)置(zhi)的軟件(jian)具(ju)有時(shi)域圖形、2D、3D統計(ji)(ji)圖譜(pu)、報(bao)警歷史、歷史*大、脈沖計(ji)(ji)數等功能,此外還(huan)可(ke)(ke)以詳查分析(xi)(xi)(xi)某(mou)個相(xiang)位波(bo)(bo)形(xing),窗口隨意放(fang)(fang)(fang)大和(he)(he)縮小,對該段數據進行頻譜(pu)分析(xi)(xi)(xi),分析(xi)(xi)(xi)放(fang)(fang)(fang)電波(bo)(bo)形(xing)的(de)頻譜(pu)含量(liang),使放(fang)(fang)(fang)電波(bo)(bo)形(xing)之間更具(ju)可(ke)(ke)比性(xing),全方位統計(ji)(ji)分析(xi)(xi)(xi)試驗(yan)數據,減(jian)少(shao)試驗(yan)中非穩定(ding)性(xing)因素(su)對試驗(yan)結果的(de)影(ying)響(xiang),采用自動(dong)或手動(dong)記錄保(bao)存(cun)試驗(yan)數據和(he)(he)瞬態放(fang)(fang)(fang)電波(bo)(bo)形(xing),可(ke)(ke)對后期(qi)數據分析(xi)(xi)(xi)提(ti)供參考。局(ju)部(bu)放(fang)(fang)(fang)電定(ding)位配置的(de)軟件(jian)通過電信號和(he)(he)聲信號的(de)時間差對局(ju)部(bu)放(fang)(fang)(fang)電源進行精準的(de)定(ding)位,有助于及時發現故(gu)障隱患,提(ti)高局(ju)部(bu)放(fang)(fang)(fang)電活動(dong)測量(liang)的(de)實效(xiao)性(xing)。
超高頻局部放(fang)電巡檢(jian)儀(yi)概(gai)述二、引用標準
高壓開關設備(bei)和控制設備(bei)標準的共用技術要求 DL/T 593
3.6kV~~40.5kV 交流(liu)金屬封(feng)閉開關設備(bei)和(he)控制設備(bei) DL/T 404
3.6kV~~40.5kV 交(jiao)流金屬封閉開(kai)關(guan)設(she)備和控制設(she)備 GB 3906
局(ju)部放(fang)電(dian)測(ce)量GB/T 7354
電(dian)力設備局部放電(dian)現場測量導(dao)則 DL/T 417
高電壓試(shi)驗(yan)技術(shu) 第1部(bu)分:一般試(shi)驗(yan)要求 GB/T 16927.1
高(gao)電(dian)壓試驗技(ji)術 第(di)2部(bu)分(fen):測(ce)量系統 GB/T 16927.2
高電壓試驗技術(shu) 第(di)3 部(bu)分: 現場試驗的定義及要求 GB/T 16927.3
超高頻局部放電巡(xun)檢儀概述三、技(ji)術參數(shu)
技術參數表
技術特性
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通道數
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2個電信(xin)號接口,一個外同步接口
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采樣率(lv)
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0.5M、1M、2.5M、5M、10M、20M可選
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采樣精度(du)
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12bit
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量程切換(huan)
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60dB、40dB、20dB、0dB、-20dB共5檔
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頻帶范圍
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20k-100kHz、80k-200kHz、40k-300kHz
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本(ben)量程非線(xian)性誤(wu)差
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5%
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顯示
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顯示屏
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7” TFT真彩(cai)色觸摸液晶顯示屏(ping)
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分辨率
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800×480
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存儲
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物理存儲
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256MB DDR2,為運行內存(cun)
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SD卡存儲(chu)
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標配16G卡(ka),可升級(ji)為32G,用于存(cun)儲試驗記錄及試驗數據
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接(jie)口
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RS232
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用于與PC機同步(bu)傳輸接口(kou)
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USB
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可外接(jie)鼠標鍵盤,以(yi)及外接(jie)移動存(cun)儲(chu)設(she)備(bei)
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電源模式
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電池供電(16.8V鋰電池)+外置電源(18V)可連續(xu)提供8小時供電
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電(dian)信號接口
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2路BNC接口(前(qian)后面板各兩個),用于信號輸入
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SMA接口
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外同步接口
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SD卡插槽
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可插入*大支持32G的SD卡(ka)
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網(wang)口
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可擴展(zhan)
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接地鈕(niu)
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外部接地用
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通(tong)用說明
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CPU
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主頻533MHz
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系統
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WINCE6.0
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使用環(huan)境溫度
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-20℃至45℃
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存(cun)儲環境溫度
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-20℃至60℃
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尺(chi)寸
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長×寬×高:249mm × 216mm× 167mm
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重(zhong)量(liang)
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4.7kg
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超(chao)高頻(pin)局部放電(dian)巡檢儀(yi)概述四、產品結構
表4-1 后面(mian)板接口說明表
超高頻局部(bu)放電巡檢儀(yi)概(gai)述五、巡檢(jian)系統基本操作
1.1 初次(ci)啟動系統軟件增加一個(ge)新的(de)巡檢試驗檔案
用戶可以根(gen)據(ju)自(zi)己的需求,利用系(xi)統軟件(jian),為每次試驗建(jian)立試驗檔案,填寫檢(jian)(jian)測說明信息,保存檢(jian)(jian)測數據(ju),以便將(jiang)檢(jian)(jian)測數據(ju)與檢(jian)(jian)測信息對應起來。
當(dang)軟(ruan)件第1次啟動時(shi),系統(tong)會出(chu)現“試(shi)(shi)驗(yan)設置(zhi)”對(dui)話框(kuang),提(ti)醒用戶填寫(xie)試(shi)(shi)驗(yan)信息,同時(shi)可以對(dui)試(shi)(shi)驗(yan)列表(biao)進行查看和刪除某個試(shi)(shi)驗(yan),當(dang)單擊(ji)試(shi)(shi)驗(yan)列表(biao)中某個試(shi)(shi)驗(yan)時(shi),試(shi)(shi)驗(yan)信息區將顯示對(dui)應試(shi)(shi)驗(yan)信息。
如果(guo)你(ni)點擊取消按鈕,不建立(li)自(zi)己的試(shi)驗檔(dang)案,系(xi)統軟件也(ye)可以快速(su)建立(li)默認數據庫(ku)quik_test.db3,保證完(wan)成試驗數據(ju)的(de)存儲(chu)。
軟件會在SD卡中建立存儲(chu)目錄(lu)以(yi)保存數據,例如:
試驗名稱為:WBPD
則檢(jian)測數據存(cun)儲路徑為:Storage Card\ 試驗管理(li)\WBPD\
所有的檢測原(yuan)始(shi)數(shu)據都以(yi)二(er)進制方式保(bao)存(cun)以(yi)節省存(cun)儲空間,所有的記錄數(shu)據都存(cun)儲在SQLite數據(ju)庫中,以(yi)備生成報(bao)告使用。
利用本系統進行檢測(ce)數據都(dou)存儲(chu)在(zai)SD卡中,SD卡*大支持32G,可以導出到PC機(ji)進(jin)行備份(fen)。歷史數據可以(yi)被加(jia)載入系統進(jin)行追蹤(zong)分析。
試(shi)驗設置對話框(kuang):
當上述(shu)參數均設(she)置完(wan)畢(bi)后,點擊確定進行試驗。
“試驗檔案”對話框在停止運行(xing)狀態下可以打開,只(zhi)需點擊圖5-2中(zhong)文件按鈕控件即可。
5.2 系統軟(ruan)件主窗口
5.3 系(xi)統(tong)狀態參數
當系統(tong)軟件啟動之(zhi)后,狀(zhuang)態欄就會(hui)顯(xian)示當前系統(tong)狀(zhuang)態,如記錄存儲狀(zhuang)況(kuang)(kuang)、系統(tong)時(shi)間(jian)、運行(xing)狀(zhuang)況(kuang)(kuang)、觸發方式以及(ji)設(she)備電池電量。
記錄(lu)存儲狀態:提示(shi)當前存儲的是波形(xing)記錄(lu)還(huan)是統(tong)計(ji)記錄(lu),同時提示(shi)當前存儲總(zong)條數。
系統時間:顯(xian)示當前系統日(ri)期及時間。
觸發(fa)模式:提(ti)示當前觸發(fa)方式,從而保證系統根據(ju)觸發(fa)方式正確的使用。
電池電量(liang):提(ti)示當前電池剩余(yu)電量(liang),當剩余(yu)電量(liang)小于5%時(shi),系統會發出嘀嘀嘀嘀報警聲,提示用(yong)戶(hu)應(ying)連接(jie)適配(pei)器充電,或保存(cun)數據(ju)關閉系統,防(fang)止因電池沒電關機(ji)導致試驗數據(ju)丟失。
5.4 系統設(she)置—儀器參數(shu)配置
“系統設(she)(she)置(zhi)”對話框包含了對采樣、顯示、記錄以(yi)及增益調節的(de)設(she)(she)置(zhi)如圖5-5所示(shi)。
采樣
采樣頻率:0.5M、1M、2.5M、5M、10M、20M可選(xuan)。
觸(chu)發方式:軟件自動、外部(bu)觸(chu)發和軟件同步三種方式。
同步頻率(lv):系統工(gong)作頻率(lv)(50Hz,60Hz)
顯示
顯示方式(shi):波形顯示模式(shi)下,可選擇直(zhi)線、正(zheng)弦和橢圓三種(zhong)方式(shi)來顯示時(shi)域波形。
記錄
自(zi)動記錄:為(wei)開(kai)啟自動(dong)記(ji)錄,為禁(jin)止自動記錄。
時間間隔:自(zi)動(dong)記錄開啟后,記錄的間隔,單位為s
增(zeng)益(yi)調節
自動調節:為開啟自動增益,為禁(jin)止自(zi)動增益。
上閾(yu):采樣滿度百分(fen)比,當高于此(ci)閾(yu)值時(shi)達(da)到設定次數后向放大倍數低的(de)檔(dang)位切(qie)換。
下閾:采樣滿度百分比,當低于此閾值時達到設(she)定次數后(hou)向放大倍數高(gao)的檔位(wei)切(qie)換。
次(ci)數(shu):采樣周期個數(shu)。
關于(yu)…
顯示公司信息(xi)和軟件(jian)版本信息(xi)。
對于系統(tong)的(de)兩個(ge)檢測通道,其參(can)數配置(zhi)可以分(fen)別設置(zhi)。進(jin)入“系統(tong)設置(zhi)”對話框,如圖(tu)5-7對(dui)CH1和CH2分別進行(xing)設置(zhi)。
對每個通道有(you)下(xia)列參數:
配置
傳(chuan)感器(qi):選擇(ze)合適的傳(chuan)感器(qi)類型,具體通道對應(ying)的傳(chuan)感器(qi)類型根據需要出(chu)廠配置。
供(gong)電(dian):通道BNC口(kou)可對外輸出12V直流電壓(ya)。開—為輸出電壓,關(guan)—為(wei)不輸(shu)出(chu)電壓。
校準
帶寬:可選帶寬為20k-100kHz、40k-300kHz、3M低通,如(ru)上(shang)選擇(ze)傳(chuan)感(gan)器(qi)后,帶(dai)(dai)寬(kuan)會自動切換到該傳(chuan)感(gan)器(qi)出(chu)廠默認的*優(you)帶(dai)(dai)寬(kuan),當用(yong)戶需(xu)要選擇(ze)其他帶(dai)(dai)寬(kuan)時,可手動切換,進(jin)行試驗。當系統重啟后,傳(chuan)感(gan)器(qi)對應帶(dai)(dai)寬(kuan)將(jiang)恢復至出(chu)廠默認帶(dai)(dai)寬(kuan)。
量(liang)值:輸入校(xiao)準時傳感器對(dui)應(ying)的校(xiao)準值。
校準:該按鈕對當前選(xuan)中傳感器和(he)選(xuan)中頻帶進行校準,對于HFCT無需輸入口令即可(ke)進行現場校(xiao)準,而TEV和(he)UA現(xian)場不能校(xiao)準,在(zai)設備出廠時,需(xu)要輸入口(kou)令(ling)進行(xing)出廠校(xiao)準,目的是(shi)避(bi)免用(yong)戶(hu)自行(xing)對UHF、TEV和UA校準,影響設備準確度。
用戶名:administrator
密碼:0
對于傳感器選擇不同頻帶(dai),都應進行(xing)校準,校準后會提示已(yi)校準信息。
報警
預(yu)警閾值(zhi)(zhi):輸(shu)入當(dang)前傳感(gan)器(qi)預(yu)警閾值(zhi)(zhi),當(dang)測(ce)得局(ju)放(fang)幅值(zhi)(zhi)小于該值(zhi)(zhi)時為綠色(se)正常(chang)信(xin)號(hao)。
報警(jing)閾值:輸(shu)入(ru)當前傳感器報警(jing)閾值,當測得局(ju)放幅值大于等于預警(jing)閾值且(qie)小于報警(jing)閾值時(shi)為黃(huang)色(se)預警(jing)信號,當大于等于報警(jing)閾值時(shi)為紅色(se)報警(jing)信號。
1.1 檢(jian)測(ce)通道(dao)顯示(shi)模式—波形(xing)圖
點擊圖5-9中(zhong) “顯示模式”按鈕,切換到波(bo)形圖模式。
概述
運行電力(li)設備中,在電場作用下,只(zhi)有部(bu)分區域發生放電(dian),而沒有(you)貫穿施加電(dian)壓的導體(ti)之間,即尚未擊(ji)穿,這種(zhong)現象稱為局部放電。局部放電是由于局部電場(chang)畸(ji)變、局部場(chang)強(qiang)集中,從而(er)導致絕緣介質(zhi)局(ju)部(bu)范圍內的氣(qi)體放電(dian)或(huo)擊穿(chuan)所造成(cheng)的。局(ju)部(bu)放電(dian)對電(dian)氣(qi)設備(bei)絕緣會產生嚴重(zhong)的危(wei)害,主要表(biao)現在由于放電(dian)產生的局(ju)部(bu)發熱、帶電(dian)粒子的撞(zhuang)擊、化學活性生成物以(yi)及(ji)射線等因素對絕緣(yuan)材料的損害(hai)。局(ju)部(bu)放電(dian)是一(yi)種脈沖放電(dian),它會在電(dian)力設備內(nei)部和(he)周(zhou)圍空間產生(sheng)一(yi)系(xi)列的光(guang)、聲、電(dian)氣(qi)和(he)機械的振動(dong)等物理現象和(he)化(hua)學變化(hua)。這些伴隨局部放電(dian)而產生(sheng)的各種物理和(he)化(hua)學變化(hua)可以為監測(ce)電(dian)力設備內(nei)部絕緣狀態提供檢(jian)測(ce)信號
。
局部放電(dian)巡檢儀(yi),采(cai)用了(le)特(te)高頻(UHF)及超聲(sheng)波(AE)檢(jian)測技術,可有(you)效(xiao)地解(jie)決現場干擾環境下(xia)局部放(fang)電信號的檢(jian)測靈(ling)敏度問題,適用于在運(yun)行條件下(xia)對GIS、開關柜、SF6罐式斷路器(qi)(qi)、電纜終端以及油浸(jin)式變壓(ya)器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)等(deng)設(she)備進行局(ju)部放電缺陷巡檢及定(ding)位,也(ye)可用(yong)于GIS設(she)備交流耐壓試(shi)驗或老練條件下的局部放電檢測(ce)。
其有效性得到CIGRE聯合工作(zuo)組的一致認同。已被廣泛(fan)應用于高壓電力設備的局部放電在線監測或(huo)巡檢工作(zuo)。
局部(bu)放電(dian)巡(xun)檢儀(yi),借鑒和學習(xi)了英國DMS、德國LDIC、挪(nuo)威(wei)AIA及荷蘭(lan)KEMA等國(guo)際知(zhi)名(ming)產(chan)品的(de)經驗,創造(zao)性的(de)把UHF和AE檢測技(ji)(ji)術融為一體,使(shi)得這兩種不同檢測方法的技(ji)(ji)術優(you)勢得到充分體現。