異頻介質損耗測試儀面向老客戶返廠免費標定、校準一、概述

介損(sun)測(ce)量是絕緣試驗中很基本的方(fang)(fang)法(fa)，可以有效地發現電(dian)器(qi)設備絕緣的整體(ti)受潮(chao)劣化變質(zhi)，以及(ji)(ji)局(ju)部(bu)缺陷等。在(zai)電(dian)工制造(zao)、電(dian)氣(qi)設備安裝、交(jiao)接(jie)和(he)預防(fang)性試驗中都廣泛應用。變壓器(qi)、互感(gan)器(qi)、電(dian)抗器(qi)、電(dian)容器(qi)以及(ji)(ji)套(tao)管、避雷器(qi)等介損(sun)的測(ce)量是衡(heng)量其絕緣性能的*基本方(fang)(fang)法(fa)。變(bian)頻(pin)介質損耗測試儀突破了傳(chuan)統的電橋測量方式(shi)，采用變(bian)頻(pin)電源技術(shu)，利(li)用單片機、和現(xian)代化電子(zi)技術(shu)進行自動頻(pin)率變(bian)換、模/數(shu)(shu)(shu)轉(zhuan)換和數(shu)(shu)(shu)據運算；達(da)到抗干擾能(neng)力強、測試速度快、精度高、全自動數(shu)(shu)(shu)字化、操作(zuo)簡(jian)便；電(dian)源(yuan)采用(yong)大功率開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)，輸出(chu)45Hz和55Hz純(chun)正(zheng)弦波，自動加壓，可提供*高(gao)10千伏(fu)的電(dian)壓；自動濾除50Hz干擾，適用于變電(dian)站等(deng)電(dian)磁干擾大的(de)現(xian)場測試。廣泛(fan)適用于電(dian)力行業中(zhong)變壓(ya)器(qi)、互感(gan)器(qi)、套管(guan)、電(dian)容器(qi)、避雷(lei)器(qi)等(deng)設備的(de)介損測量。

異頻介質損耗測試儀面向老客戶返廠免費標定、校準二、**措施

1、使用本(ben)儀(yi)器前一定要認真閱讀本(ben)手冊。

2、儀器的操作者應具備一般電氣設備或儀器的使(shi)用常識(shi)。

3、本儀(yi)器(qi)戶(hu)內外均(jun)可使用(yong)，但應避開雨(yu)淋、腐蝕氣體、塵埃過濃、高(gao)溫、陽光(guang)直射(she)等場所使用(yong)。

儀(yi)表應避(bi)免劇(ju)烈振(zhen)動。

5、對儀(yi)器的維修、護理和調(diao)整應由專(zhuan)業人員進行。

6、在任何接線之前必須用(yong)接地(di)電纜(lan)把儀器(qi)接地(di)端子與大地(di)可靠連(lian)接起來。

7、由于測(ce)(ce)試設備產生高電(dian)壓(ya)，所以測(ce)(ce)試人員(yuan)(yuan)必(bi)須(xu)完全嚴格遵守**操(cao)作規程，防(fang)止他人接觸高壓(ya)部件(jian)和電(dian)路。直接從事(shi)測(ce)(ce)試的(de)人員(yuan)(yuan)必(bi)須(xu)完全了解高壓(ya)測(ce)(ce)試線路，及(ji)儀器操(cao)作要(yao)點。非從事(shi)測(ce)(ce)試人員(yuan)(yuan)必(bi)須(xu)遠離高壓(ya)測(ce)(ce)試區(qu)，測(ce)(ce)試區(qu)必(bi)須(xu)用(yong)柵(zha)欄或繩(sheng)索、警視牌(pai)等清楚表示出來。

8、儀器的調整(zheng)維修和維護，必須(xu)在不加電(dian)情況下進(jin)行，如果必須(xu)加電(dian)，則操作者必須(xu)非(fei)常(chang)熟悉本儀器高壓危險部(bu)件。

9、保(bao)(bao)險管損壞時，必須確保(bao)(bao)更(geng)換同樣的保(bao)(bao)險，禁止更(geng)換不(bu)同型號保(bao)(bao)險或(huo)將保(bao)(bao)險直接(jie)短(duan)路使用。

儀器(qi)出現故障(zhang)時(shi)，關閉(bi)電源開關，等(deng)待一分鐘(zhong)之(zhi)后再檢查。

異頻介質損耗測試儀面向老客戶返廠免費標定、校準三、可測試參數

儀器可測(ce)量下列參(can)數并數字顯示：

被測試品的電容量(liang)值CX，以pF或nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被(bei)測(ce)試品的介(jie)質損耗值tgδ，以%顯示。

異頻介質損耗測試儀面向老客戶返廠免費標定、校準四、性能特(te)點(dian)

1、儀器采用復數(shu)電流法(fa)，測(ce)量電容、介質損耗及其(qi)它參數(shu)。測(ce)試(shi)結果精度高，便于(yu)實現自動化測(ce)量。

2、儀器采用了變(bian)頻技術(shu)來消(xiao)除現場50Hz工(gong)頻干擾，即(ji)使在強電(dian)磁干擾的(de)環(huan)境下也能測得可靠的(de)數據。

3、儀(yi)器(qi)采用大屏幕液晶(jing)顯示器(qi)，測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)通過(guo)漢字(zi)菜單提示既直觀(guan)又便于(yu)操作。

4、儀器操(cao)作簡便，測(ce)量過(guo)程由微處理器控(kong)制(zhi)，只要選擇(ze)好合適的測(ce)量方(fang)式(shi)，數據的測(ce)量就可在微處理器控(kong)制(zhi)下(xia)自(zi)動完成。

5、一體(ti)化機型，內附標準電容和高壓電源，便于現場測試(shi)，減少(shao)現場接線。

6、儀(yi)器(qi)測(ce)量準確度高，可滿足油介(jie)損(sun)測(ce)量要求，因(yin)此只需配備標準油杯(bei)，和專用(yong)測(ce)試(shi)線(xian)即可實現(xian)油介(jie)損(sun)測(ce)量。

7、設CVT測試功(gong)能，可實現CVT的自激法測(ce)試，無需外置附(fu)件(jian)，只需一次測(ce)量，C1,C2的電(dian)容和介損全(quan)部(bu)測出。

8、反接線測試采用ivddv技術,消(xiao)除了以(yi)往反(fan)接線(xian)數據不穩定的現象。

9、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母線接地(di)情況下，對C11 可(ke)進行不拆(chai)線10kV 反接線介損測量

10、具有測量(liang)高電壓(ya)(ya)介損(sun)功(gong)能(neng)，能(neng)夠使(shi)用高壓(ya)(ya)變壓(ya)(ya)器或(huo)串聯諧振進行超過10kV電(dian)壓的介損試驗。

12、接地(di)保護功能，當儀(yi)器(qi)不接地(di)線或接地(di)**時(shi)，儀(yi)器(qi)不進(jin)入(ru)正常程序，不輸出(chu)高壓(ya)。過流保護功能，在試品短(duan)路或擊穿(chuan)時(shi)儀(yi)器(qi)不受損壞。

13、觸電保(bao)護功能，當儀器操作人員(yuan)不小心觸電時(shi)候，儀器會立即(ji)切斷高壓(ya)，保(bao)障(zhang)試驗人員(yuan)的**.

異頻介質損耗測試儀面向老客戶返廠免費標定、校準五、技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀(du)數×1%+0.00040）

抗干擾指(zhi)標：  變頻抗干(gan)擾，在200%干擾(rao)下(xia)仍能達到(dao)上述準確(que)度

電(dian)容量范圍：  內施(shi)高壓(ya)：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍：     不限(xian)，分辨率0.001%，電容、電感(gan)、電阻(zu)三種試品自(zi)動識別。

試驗電流范圍：10μA～1A

內施高壓(ya)：    設(she)定(ding)電壓范(fan)圍：0.5～10kV

*大輸出(chu)電流：200mA

升降壓(ya)方(fang)式(shi)：連(lian)續平(ping)滑調節

試(shi)驗頻率(lv)： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻(pin)率精度(du)：±0.01Hz

外(wai)施高壓：正接(jie)線時*大(da)試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反(fan)接線時*大試(shi)驗(yan)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低(di)壓輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀數×1%     變比測量范圍(wei)：10～99999

相位(wei)測量精度：±0.1°           相位(wei)測量范(fan)圍：0～359.9°

測量時間：    約40s，與(yu)測量(liang)方式有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發電機(ji)供(gong)電

計算機(ji)接口：  標準RS232接(jie)口

打印機：         煒(wei)煌A7熱敏微型打印機

環境溫(wen)度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外(wai)形(xing)尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、測量方式及原(yuan)理

按被(bei)測(ce)(ce)試品(pin)是否接(jie)地(di)分兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式，即正(zheng)接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式和反接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式。兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式的原理(li)如圖一(yi)所(suo)示：

在(zai)高壓電(dian)源的10kV側(ce)，高壓分(fen)兩路，一(yi)路給機(ji)內(nei)標準電(dian)容(rong)CN，此(ci)電(dian)容(rong)介損非常小，可以(yi)認為介損為零(ling)，即為純容(rong)性電(dian)流(liu)(liu)，此(ci)電(dian)流(liu)(liu)ICN 可做為容(rong)性電(dian)流(liu)(liu)基(ji)準。在(zai)Cx試品一(yi)側(ce)，試品電(dian)流(liu)(liu)Icx通過采(cai)樣電(dian)阻R采(cai)入機(ji)內(nei)，此(ci)Icx可分(fen)解成水(shui)平分(fen)量(liang)和(he)垂直分(fen)量(liang)見圖(tu)二所(suo)示，通過計算水(shui)平分(fen)量(liang)與垂直分(fen)量(liang)的比值(zhi)即可得到(dao)tgδ值(zhi)。

在圖一（a）中(zhong)Cx為非(fei)接地(di)試(shi)品，試(shi)品電(dian)流Icx從試(shi)品末端進入(ru)采(cai)樣電(dian)阻R，得到全電(dian)流值，在圖一（b）中(zhong)Cx為接地(di)試(shi)品，機(ji)內Cx端直接接地(di)，電(dian)流Icx從試(shi)品高壓(ya)端到機(ji)內采(cai)樣電(dian)阻取(qu)得全電(dian)流值。

七、常見設備的接線方法

1．儀(yi)器引出(chu)端子(zi)說(shuo)明：

HV ——  儀(yi)器的(de)測量引線(xian)高(gao)壓端（帶(dai)危險電(dian)壓） 。

CX ——  正接線時試品(pin)電流(liu)輸(shu)入端。

——  儀(yi)器的(de)接地端，使(shi)用時與大(da)地可靠(kao)相接

2.參考接線

2.1正接(jie)(jie)線(xian)、內標準電容、內高壓(ya)（常規正接(jie)(jie)線(xian)）：

2.2反接線、內標準電容、內高壓（常規反接線）

2.3正接線、外標準(zhun)電容、內(nei)高壓：

2.4反(fan)接線、外標(biao)準電容、內高壓：

2.5正接線、內標準電(dian)容(rong)、外高(gao)壓：

2.6反接線、內標準電容、外高壓(ya)：

2.7正接線、外標準電容、外高壓(ya)（高電壓(ya)介損）：

2.8反接線(xian)、外標準電容、外高壓：

2.9  CVT自(zi)激法(fa)測(ce)量：

CVT自(zi)激法(fa)可(ke)按下(xia)圖接線(xian)。如(ru)果(guo)C1是單節(jie)電容(rong)，母線(xian)不(bu)能接地(di)；如(ru)果(guo)C1是多節(jie)電容(rong)，母線(xian)可(ke)接地(di)，C11和C12可(ke)用(yong)常規(gui)正(zheng)反接線(xian)測(ce)量(liang)，C13和C2用(yong)自(zi)激法(fa)測(ce)量(liang)。

CVT自(zi)激法測量中，儀器先測量C1，然后(hou)自(zi)動倒(dao)線(xian)測量C2，并自(zi)動校(xiao)準分壓(ya)影響(xiang)。

應注意，高壓(ya)線應懸空不能接觸地面，否則其(qi)對地附加介(jie)損會引起(qi)誤差，可用細電纜連接高壓(ya)插座(zuo)與CVT試品并(bing)吊起。強烈(lie)建議使用(yong)(yong)高壓(ya)插座(zuo)使用(yong)(yong)的(de)高壓(ya)線用(yong)(yong)黑(hei)色(se)Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀器高壓線的芯(xin)線紅夾子(zi)接CVT的上(shang)端，母線拆地。CVT下端(duan)接(jie)地，低(di)壓線紅黑夾(jia)子接(jie)二次繞(rao)組，注意:如(ru)果測試角度(du)接(jie)近180度(du)，應將紅黑夾(jia)子(zi)顛倒。

3.附加功(gong)能

3.1光標在 電(dian)壓(ya)：10kV上(shang)面時(shi)候，按“確認”鍵在儀器屏幕的左(zuo)下(xia)角會出現圖(tu)標，代表(biao)(biao)測試結(jie)束(shu)自動打(da)印(yin)(yin)。如果(guo)再按確認(ren)鍵，圖(tu)標消失(shi)，代表(biao)(biao)測試結(jie)束(shu)必須手(shou)動才(cai)能打(da)印(yin)(yin)。

3.2光標(biao)在 反接(jie) 上面時候，在反接(jie)線(xian)，內(nei)Cn，內Un，情況下(xia)，按確認鍵(jian)在儀器(qi)屏幕右下(xia)角會出現圖標(biao)(biao)，代(dai)表(biao)(biao)反接線(xian)低(di)壓(ya)屏(ping)蔽測試。如(ru)果再(zai)按確認鍵，圖標(biao)(biao)消失，代(dai)表(biao)(biao)取(qu)消反接線(xian)低(di)壓(ya)屏(ping)蔽。

反接(jie)線低壓屏(ping)蔽(bi)功能，一次接(jie)線可同時測出C1和(he)C2的電容量(liang)和介損(sun)

在反(fan)接線(xian)、內標準(zhun)和內高壓(ya)方式，光標移到“反接”處，按“確認(ren)”右下角顯示(shi)“M”。

打開(kai)反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)低壓屏(ping)蔽(bi)，可在上(shang)端(duan)電容(rong)(rong)C1不(bu)(bu)拆(chai)母線(xian)(xian)(xian)(xian)的情況下(xia)(xia)，對其進行不(bu)(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)介損測量。如(ru)下(xia)(xia)圖所示：母線(xian)(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)(xian)，C1上(shang)端(duan)不(bu)(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C1下(xia)(xia)端(duan)接(jie)(jie)高壓線(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)接(jie)(jie)Cx芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)。儀器采用反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)/10kV/M測量方式，可同時測出C11和(he)下(xia)(xia)端(duan)屏(ping)蔽(bi)部分的電容(rong)(rong)量和(he)介損值。

3.3光標(biao)在(zai) 正接 上面時候，按(an)確(que)認鍵則測試打(da)印機，換紙。

3.4光(guang)標在 啟動(dong) 上面時(shi)候，按減小(xiao)鍵則代表取出存儲的數據。

3.5測試完畢，如果按減小(xiao)鍵，則代表存儲(chu)測試的(de)數據

八、功能簡介

儀(yi)器(qi)面板(ban)見圖九(jiu)所示：

打印機(ji)——打印測量數(shu)據。

顯示器——128×64點陣液晶(jing)顯示器，顯示菜單和各種(zhong)提示信息(xi)及測量結果。

  鍵——選(xuan)擇菜單項，被選(xuan)中(zhong)項反白字體(ti)顯(xian)示。

▲  鍵——修改菜單內(nei)容，采用循環(huan)滾動(dong)方式。

▼ 鍵——修改(gai)菜單內容，采(cai)用(yong)循環滾動方(fang)式。

確認鍵——在“測試”選(xuan)項(xiang)上按此鍵進入測試狀態。

電源(yuan)開關(guan)——整機電源(yuan)的開啟和關(guan)閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電(dian)源輸(shu)入口(kou)，帶保險倉。

9．自激法(fa)電流輸(shu)出端——測量CVT的專用端子。

10．地(di)——為接(jie)地(di)線(xian)接(jie)線(xian)端子。

11．CX插座——是試品信號(hao)的測量輸入端(duan)，正接線時由專用(yong)低壓(ya)電纜(lan)連接，此電纜(lan)單層屏蔽帶特制(zhi)鱷魚夾(jia)，長8m，接(jie)試品(pin)低端。反接(jie)線時此(ci)端空置。

12．CN插座——是外標準(zhun)電(dian)容信號的測量輸入端，使(shi)用內標準(zhun)時此端空置。

13．HV插座——高壓引出端子，由高壓電纜(lan)連接，接試(shi)品高壓端。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口，用(yong)來連接電腦，上(shang)傳數(shu)據。

九、儀器操作步(bu)驟

1．測(ce)量前準備：

1）用(yong)接地(di)(di)線一(yi)端(duan)接儀(yi)器(qi)的接地(di)(di)柱，另一(yi)端(duan)接可靠(kao)的大(da)地(di)(di)，保證儀(yi)器(qi)外殼處在(zai)地(di)(di)電位上(shang)。

2）正接線時：將高壓(ya)電纜插頭插入后門HV插座中，將另一端(duan)的(de)紅色(se)大(da)鉗(qian)子夾到被(bei)測試品(pin)的(de)**引線上(shang)，黑(hei)色(se)小鉗(qian)子懸空或(huo)夾在紅色(se)大(da)鉗(qian)子上(shang)。將CX低壓電(dian)纜插入CX插座中，另一端的紅(hong)色夾(jia)子夾(jia)試品的低端，黑色夾(jia)子懸空(kong)或接屏蔽裝(zhuang)置。

3）反接線時：將高壓電(dian)纜插頭插入后(hou)門HV插(cha)座中，將另一端的紅(hong)色大鉗子夾到被測試(shi)品(pin)的**引(yin)線上，紅(hong)色小鉗子懸(xuan)空或(huo)接屏蔽裝(zhuang)置。Cx插座不用。

2．打開電源開關(guan)，儀器進行自檢，若自檢良好(hao)，液晶屏顯示(shi)中(zhong)文主菜單(dan)如

圖十所示(shi)。

3．菜單選(xuan)擇：

按(an)鍵可移動(dong)光標至(zhi)各菜單項(xiang)，并循環指(zhi)示。被選中(zhong)項(xiang)反白字體顯示。選擇鍵的流程見圖十一(yi)所示。

在光(guang)標當(dang)前所(suo)示(shi)項(xiang)目，按(an)▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行(xing)該項(xiang)菜單的變更，并循(xun)環指示(shi)，流(liu)程見圖十二所(suo)示(shi)。

將菜單變更至與測試(shi)要(yao)求相對應后即可按選(xuan)擇鍵(jian)進(jin)行下個項目的選(xuan)擇。

4、 頻(pin)(pin)率：光標在頻(pin)(pin)率上，按(an)↑↓鍵選擇定(ding)頻(pin)(pin)和變頻(pin)(pin)：

光標(biao)在定頻(pin)上：按住“啟停”鍵1s以上切換到(dao)全(quan)頻率選擇，按↑↓鍵循環顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設置不能抗干擾，在試驗(yan)室內測量或校驗(yan)時選用(yong)50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測(ce)量，研(yan)究不同(tong)頻率下介(jie)損(sun)的變(bian)化時(shi)選用。

光標在變頻上：按住“啟停(ting)”鍵1s以上切(qie)換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯示(shi)5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為(wei)45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下(xia)測量。

“6-Hz”：為(wei)55/65Hz自動變頻，適合60Hz電網工(gong)頻干擾(rao)下(xia)測量。

“4-Hz”：為(wei)47.5/52.5Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電網(wang)工頻干(gan)擾(rao)下測量。

5、測(ce)試(shi)：當光標在 測(ce)試(shi) 項目上時，按(an)確(que)認(ren)鍵大約3秒鐘開始測試(shi)。測試(shi)過程(cheng)(cheng)中顯(xian)示的畫面如圖十三（正(zheng)接線，變頻(pin)）所示，當下面的進程(cheng)(cheng)到(dao)100%時候測(ce)(ce)(ce)試完畢，然后顯示(shi)測(ce)(ce)(ce)量(liang)結果見圖十(shi)四所(suo)示(shi)，此時光標(biao)指示(shi)打(da)印機圖標(biao)，按確認鍵打(da)印報告。測(ce)(ce)(ce)量(liang)結果的意義如(ru)下：

tgδ： 試品的損(sun)耗因數(shu)tgδ值

CX： 測量(liang)的電容值

V：施加電壓值

I：試品(pin)流(liu)過的電流(liu)

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束后，關閉電(dian)源開關，測試完(wan)畢(bi)。

十、現場(chang)試驗注意(yi)事項

如果使(shi)用中出現測試數據(ju)明(ming)顯不合(he)理，請從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現場測量使(shi)用搭鉤連接試(shi)品(pin)時，搭鉤務必與(yu)試(shi)品(pin)接觸(chu)良(liang)好，否則接觸(chu)點放電會引起(qi)數(shu)據嚴重波動！尤其是引流(liu)線(xian)氧化層太厚(hou)，或(huo)風(feng)吹線(xian)擺動，易(yi)造(zao)成(cheng)接觸(chu)**。

2、接(jie)地接(jie)觸**

接地(di)**會引(yin)起(qi)儀(yi)器(qi)保護(hu)或數據嚴重波動(dong)。應刮凈接地(di)點上的油漆(qi)和銹蝕，務必保證0電阻(zu)接地！

3、直接測量CVT或末端屏蔽法測(ce)量電磁(ci)式(shi)PT

直接測量CVT的下節耦合電容會出現負(fu)介損，應改用自激法。

用末端屏蔽(bi)法測(ce)量(liang)電磁式PT時，由(you)于受潮引(yin)起“T形網絡干擾”出(chu)現負(fu)介損，吹(chui)干下面(mian)三裙瓷套和接線端(duan)子盤即(ji)可。也可改用(yong)常規法或末端(duan)加壓法測(ce)量。

4、空氣濕度(du)過大

空氣濕度(du)大使介損測量值異常(chang)增(zeng)大（或(huo)減小甚至為負(fu)）且不穩(wen)定，必要時(shi)可加(jia)屏蔽環(huan)。因人為加(jia)屏蔽環(huan)改變了試品電場分布，此法(fa)有爭(zheng)議，可參照有關規程。

5、發電(dian)機(ji)供電(dian)

發電(dian)機供電(dian)時輸入頻(pin)(pin)率不(bu)穩定，可(ke)采用定頻(pin)(pin)50Hz模(mo)式(shi)工作。

6、測(ce)試(shi)線

由于長期使用(yong)，易(yi)造成測試線(xian)(xian)隱性斷(duan)路，或芯線(xian)(xian)和屏蔽短(duan)路，或插頭接(jie)觸**，用(yong)戶應經常維護測試線(xian)(xian)；

測試標準電(dian)容(rong)試品時，應使(shi)用全屏蔽插頭連接(jie)，以消(xiao)除附加雜散電(dian)容(rong)影響(xiang)，否則不能反映(ying)出(chu)儀器精(jing)度；

自激(ji)法測量(liang)CVT時(shi)，非專用的高壓線應吊起(qi)懸(xuan)空，否則對地附加雜散電容和介損(sun)會引起(qi)測(ce)量誤差。

7、工作模式選擇

接好線(xian)后(hou)請選擇正確的測(ce)量工作模式(shi)（正、反和CVT），不可選錯(cuo)。特(te)別(bie)是干擾(rao)環(huan)境下(xia)應選用(yong)變頻(pin)抗干擾(rao)模式。

8、試驗方法(fa)影(ying)響

由于介損測量受試驗方法(fa)影響較大(da)，應(ying)區分是(shi)試驗方法(fa)誤差還是(shi)儀器誤差。出(chu)現問(wen)題時可(ke)首先(xian)檢(jian)查接線(xian)，然后(hou)檢(jian)查是(shi)否為儀器故障(zhang)。

9、儀器故(gu)障

用萬(wan)用表測量一下測試線(xian)是否斷路(lu)，或芯(xin)線(xian)和屏(ping)蔽是否短(duan)路(lu)；輸入電(dian)源220V過高或過低；接地是(shi)否良好。

用正(zheng)(zheng)、反(fan)接線測一(yi)下(xia)標準電容(rong)器或已知容(rong)量和介損的電容(rong)試品，如果(guo)結果(guo)正(zheng)(zheng)確，即可判斷儀器沒(mei)有問題(ti)；

拔下所有測試導線，進行空試升壓，若不(bu)能正常工作(zuo)，儀器(qi)可能有故障。

啟動CVT測(ce)量后測(ce)量低壓輸出，應出現(xian)2～5V電壓，否則儀器(qi)有(you)故(gu)障。

十一(yi)、 儀器檢定(ding)

1、用標準損耗器(qi)檢定

用(yong)(yong)帶插頭的屏蔽電(dian)纜連接標準損(sun)耗器。如果不能(neng)保證(zheng)標準損(sun)耗器的精度，應(ying)使用(yong)(yong)比對法(fa)檢定，建議用(yong)(yong)2801電橋或其它精密電橋作比對(dui)標(biao)準。儀(yi)器應選用“內標準”和“RC串聯試(shi)品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用(yong)QSJ3檢定：使用帶(dai)插頭的屏(ping)蔽(bi)電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可(ke)置入(ru)適當值。

3、抗干擾能力(li)

設置一個回路(lu)向儀器(qi)注(zhu)入(ru)定量的干擾(rao)電流。

注意(yi)：

1）應考(kao)慮到(dao)該回路可能成(cheng)為試品的一(yi)部分。

2）儀(yi)器啟(qi)動后會使220V供電電路(lu)帶(dai)有測量頻(pin)率(lv)分量，如果該(gai)頻(pin)率(lv)分量又通過(guo)干(gan)擾(rao)電流進(jin)入儀(yi)器，則(ze)無法檢(jian)驗儀(yi)器的抗干(gan)擾(rao)能(neng)力。

3）不建議(yi)用(yong)臨近(jin)高壓導體施加干擾，因為這(zhe)樣(yang)很(hen)容易(yi)產生(sheng)近(jin)距離**放電，這(zhe)種放電電阻是非(fei)線(xian)性的，容易(yi)產生(sheng)同頻干擾。

十二(er)、變頻測(ce)量討論(lun)

1、變頻測(ce)量(liang)

干擾(rao)十分嚴(yan)重(zhong)時，變頻測量(liang)能得到準確可靠的結果。例如用55Hz測(ce)量時(shi)，測(ce)量系(xi)統只允(yun)許(xu)55Hz信號通(tong)過，50Hz干擾信號被(bei)有效(xiao)抑制，原因在于測(ce)量系統很容易區別不同頻率，由下述簡單計算(suan)可以(yi)說(shuo)明選頻測(ce)量的(de)效(xiao)果：

兩個頻率相(xiang)差1倍的(de)(de)正弦波疊加到一起，高頻的(de)(de)是干(gan)擾，幅度為低(di)頻的(de)(de)10倍：

這剛好(hao)是(shi)低(di)頻部分的(de)相位和幅度，干擾被抑制。實(shi)際波形的(de)測(ce)量點多達數萬，計算(suan)量很大，結果反映了波形的(de)整(zheng)體特(te)征。

2、頻率和介損的關系

介(jie)損(sun)有RC串(chuan)聯和并聯兩種(zhong)理(li)想模型：串(chuan)聯模型tgδ=2πfRC，并聯(lian)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻(pin)率f成正(zheng)比和反比。如圖所示(shi)，f對完(wan)全正比和完(wan)全反(fan)比兩種模型(xing)影響較大(da)。但實際電容(rong)器是(shi)多種模型(xing)交織的(de)混合模型(xing)，此時(shi)f的影響就小。

3、自動變頻與50Hz等(deng)效(xiao)

儀器采(cai)用(yong)自動變(bian)頻(pin)在干擾(rao)頻(pin)率(lv)50Hz兩側（45Hz和(he)55Hz）各測一(yi)個點，然后推算50Hz頻(pin)(pin)(pin)率(lv)下數據(ju)。除多個元件電路(lu)的(de)(de)低(di)頻(pin)(pin)(pin)諧振外，單個試品中的(de)(de)介(jie)(jie)質(zhi)不可能在低(di)頻(pin)(pin)(pin)引起能量吸收峰(feng)，工頻(pin)(pin)(pin)附近介(jie)(jie)損(sun)總是隨頻(pin)(pin)(pin)率(lv)單調(diao)變化的(de)(de)。因此這(zhe)種測量方(fang)法不會帶來明顯誤差(cha)。實際上，平均(jun)前的(de)(de)兩(liang)個介(jie)(jie)損(sun)值已(yi)十分接近，即使不平均(jun)也完全有參考價(jia)值。目前，變頻(pin)(pin)(pin)介(jie)(jie)損(sun)儀(yi)已(yi)成為(wei)介(jie)(jie)損(sun)測量的(de)(de)常規儀(yi)器，其優異的(de)(de)抗干擾(rao)能力和準(zhun)確度已(yi)經得到認可。

十三、儀器的(de)裝箱清單(dan)