智能局放儀不以惡小而為之、不以善小而不為**章 局放理論概述

在開始我們的(de)實驗以前，我們首(shou)先應該對(dui)局(ju)部放電(dian)有個初(chu)步的(de)了(le)(le)解，為什么(me)要(yao)測(ce)量局(ju)部放電(dian)？局(ju)部放電(dian)有什么(me)危害？怎樣準(zhun)確(que)測(ce)量局(ju)部放電(dian)？有了(le)(le)上述(shu)理(li)論(lun)基礎可以幫助我們理(li)解測(ce)量過程中的(de)正確(que)操作。

一(yi)、局部(bu)放電的定義及產生原因

在(zai)(zai)電場作用(yong)下(xia)(xia)，絕(jue)緣(yuan)系統(tong)中只有(you)(you)部(bu)(bu)(bu)分區(qu)域(yu)發(fa)生(sheng)放(fang)(fang)(fang)(fang)電，但尚未(wei)擊穿，（即在(zai)(zai)施加(jia)電壓的(de)(de)導體(ti)(ti)(ti)之(zhi)間沒有(you)(you)擊穿）。這種現象稱之(zhi)為局部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)(fang)電。局部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)(fang)電可能(neng)發(fa)生(sheng)在(zai)(zai)導體(ti)(ti)(ti)邊上，也可能(neng)發(fa)生(sheng)在(zai)(zai)絕(jue)緣(yuan)體(ti)(ti)(ti)的(de)(de)表(biao)面(mian)上和內部(bu)(bu)(bu)，發(fa)生(sheng)在(zai)(zai)表(biao)面(mian)的(de)(de)稱為表(biao)面(mian)局部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)(fang)電。發(fa)生(sheng)在(zai)(zai)內部(bu)(bu)(bu)的(de)(de)稱為內部(bu)(bu)(bu)局部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)(fang)電。而對于被氣(qi)體(ti)(ti)(ti)包圍的(de)(de)導體(ti)(ti)(ti)附近發(fa)生(sheng)的(de)(de)局部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)(fang)電，稱之(zhi)為電暈。由(you)此 總結(jie)一下(xia)(xia)局部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)(fang)電的(de)(de)定義，指部(bu)(bu)(bu)分的(de)(de)橋(qiao)接導體(ti)(ti)(ti)間絕(jue)緣(yuan)的(de)(de)一種電氣(qi)放(fang)(fang)(fang)(fang)電，局部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)(fang)電產生(sheng)原因主要(yao)有(you)(you)以(yi)下(xia)(xia)幾種：

電場不(bu)均勻。

電介質不(bu)均(jun)勻。

制(zhi)造過(guo)程的(de)氣(qi)泡(pao)或雜(za)質。*經常發生(sheng)放(fang)電的(de)原因是(shi)絕(jue)緣體內部(bu)或表面(mian)存在氣(qi)泡(pao)；其次是(shi)有(you)些設(she)備的(de)運(yun)行(xing)過(guo)程中會發生(sheng)熱(re)脹冷縮,不(bu)同(tong)材(cai)料特別(bie)是導體與介質(zhi)(zhi)的膨脹系數不(bu)同(tong)，也(ye)會逐漸出現裂縫；再有(you)一些是在運(yun)行過程中有(you)機(ji)高分子的老化，分解出各種揮發物(wu)，在高場強(qiang)的作用(yong)下，電荷不(bu)斷(duan)地由導體進入介質(zhi)(zhi)中， 在注入點上就會使介質(zhi)(zhi)氣化。

智能局放儀不以惡小而為之、不以善小而不為二 、局部(bu)放電(dian)的模擬電(dian)路(lu)及放電(dian)過程簡介

介質(zhi)內(nei)部含有氣泡，在交流電(dian)壓下產生的內(nei)部放電(dian)特性(xing)可由圖1—1的模(mo)擬電(dian)路(a b c等值電(dian)路(lu))予以(yi)表示；其中Cc是模擬介(jie)質中(zhong)產生放電間(jian)隙(如(ru)氣泡)的電容(rong)；Cb代表(biao)與Cc串聯部分介質(zhi)的合成電容；Ca表示其余(yu)部分介質的(de)電容。

I——介質有缺陷(氣泡)的部份(虛線表示)

II——介(jie)質無缺陷部份

圖1—1  表示具有內部放電的(de)模(mo)擬(ni)電路(lu)

圖1—1中(zhong)以并聯有—對火花間(jian)隙的電容Cc來模擬產生局(ju)部放(fang)電的內部氣泡。圖1—2表(biao)示了在交(jiao)流電壓下局部放電的發生過程。

U(t)一(yi)(yi)一(yi)(yi)外施交(jiao)流電壓

Uc(t)一一氣泡不(bu)擊穿時在(zai)氣泡上的電壓(ya)

Uc’(t)一一有局部放電時(shi)氣(qi)泡(pao)上的實際電壓

Vc一一氣泡的(de)擊穿(chuan)電壓(ya)

Y r一(yi)一(yi)氣泡(pao)的(de)殘余電壓   

Us—局(ju)部放電(dian)起始電(dian)壓(瞬(shun)時值)

Ur一一與氣泡殘余電壓(ya)v r對應的外施電壓(ya)

Ir一(yi)一(yi)氣(qi)泡中的(de)放電電流

電(dian)極(ji)間(jian)總電(dian)容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電極間施加交流電壓 u(t)時，氣泡(pao)電容Cc上對(dui)應的電壓為Uc(t)。如圖2—1所示，此時的Uc(t)所(suo)代表的是(shi)氣泡理想狀態下的電壓（既氣泡不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施電壓U(t)上升時，氣泡(pao)上電壓(ya)Uc(t)也(ye)上升，當U(t)上升到Us時，氣泡(pao)上(shang)電壓Uc達到氣(qi)泡擊穿電壓,氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)擊穿，產生大量的(de)正、負離(li)子，在電(dian)場(chang)作用下(xia)各自遷移到氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)上下(xia)壁，形成空(kong)間電(dian)菏，建(jian)立反電(dian)場(chang)，削弱了氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)內(nei)的(de)總電(dian)場(chang)強度(du)，使放電(dian)熄滅，氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)又恢復絕緣性能。這樣的(de)一次放電(dian)持續時間是極短(duan)暫的(de)，對一般(ban)的(de)空(kong)氣(qi)(qi)氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)來(lai)說(shuo)，大約(yue)只有幾個毫微秒(10的負8次方(fang)到10的負9次方秒)。所以電壓(ya)Uc(t)幾乎瞬間地從Vc降(jiang)到(dao)Vr，Vr是殘(can)余電壓(ya)；而氣泡上(shang)電壓(ya)Uc‘(t)將(jiang)隨U(t)的增大(da)而繼續(xu)由Vr升(sheng)高到Vc時，氣泡再—次擊穿，發生又(you)—次局部放電，但此(ci)時相應的外施電壓比Us小，為(Us-Ur)，這(zhe)是因為氣泡上有殘余(yu)電壓Vr的內電場(chang)作用的結(jie)果。Vr是與氣泡殘余電(dian)壓Yr相應的外施電壓，如此反復上述過程，即外施電壓每增(zeng)加(Us-Ur)，就產生一次局部放電．直(zhi)到(dao)前—次放電熄(xi)滅后(hou)，Uc’(t)上(shang)升到峰值時共增量(liang)不足以達Vc(相當于外施電壓的增(zeng)量Δ比(Us-Ur)小)為止。

此后，隨(sui)著外施電壓U(t)經過峰值Um后減(jian)小(xiao)，外(wai)施電壓(ya)(ya)在氣(qi)泡(pao)中建立(li)反方(fang)向(xiang)電場(chang)，由于(yu)氣(qi)泡(pao)中殘存的內(nei)電場(chang)電壓(ya)(ya)方(fang)向(xiang)與外(wai)電場(chang)方(fang)向(xiang)相反，故外(wai)施電壓(ya)(ya)須經(jing)(Us+Ur))的電壓(ya)(ya)(ya)變化，才能(neng)使(shi)氣泡上的電壓(ya)(ya)(ya)達(da)到擊(ji)穿(chuan)電壓(ya)(ya)(ya)Vc，(假定正、負方(fang)向擊穿電(dian)壓Vc相等)，產生一次局部放(fang)(fang)電(dian)。放(fang)(fang)電(dian)很快熄滅，氣泡(pao)中(zhong)電(dian)壓瞬時降到殘(can)余電(dian)壓Vr(也(ye)假定正、負(fu)方向相同)。外施電壓繼續下降，當再下降(Us-Ur)時，氣泡電壓(ya)就(jiu)又達到Vc從而又產生一次局(ju)部放電。如此重復上述過(guo)程，直到外施電壓升到反向蜂值(zhi)一Um的增量Δ不足(zu)以達到(Us-Ur)為(wei)止。外施電壓經過一Um峰值后，氣(qi)泡上(shang)的外電(dian)場(chang)方向又(you)(you)變(bian)為正方向，與(yu)氣(qi)泡殘余(yu)電(dian)壓(ya)方向相(xiang)反，故(gu)外施(shi)電(dian)壓(ya)又(you)(you)須上(shang)升(sheng)(Us+Ur)產(chan)生第—次放電(dian)，熄滅(mie)后(hou)，每經過Us—Ur的電(dian)壓(ya)上升就產生一次放電(dian)，重復前(qian)面所介紹的過程。如(ru)圖1—2所示。

由(you)以上局部放(fang)電過程分析，同時根據(ju)局部放(fang)電的(de)特點（同種試品，同樣的(de)環(huan)境下，電壓(ya)(ya)越高(gao)局部放(fang)電量(liang)(liang)越大）可以知道(dao)：一(yi)般情況下，同一(yi)試品在一(yi)、三(san)象限的(de)局部放(fang)電量(liang)(liang)大于(yu)二(er)、四(si)象限的(de)局部放(fang)電量(liang)(liang)。那是(shi)因為(wei)(wei)它(ta)們是(shi)電壓(ya)(ya)的(de)上升沿。（第三(san)象限是(shi)電壓(ya)(ya)負的(de)上升沿）。這就是(shi)我們測量(liang)(liang)中為(wei)(wei)什么(me)把時間窗(chuang)刻意擺(bai)在一(yi)、三(san)象限的(de)原(yuan)因。

智能局放儀不以惡小而為之、不以善小而不為三、局部(bu)放電(dian)的測量原理：

智能局放儀不以惡小而為之、不以善小而不為四、局部放電的表征參數

局(ju)部放(fang)電是比較(jiao)復雜的物理(li)現象，必須通過多(duo)種表征參(can)(can)數才能**的描繪其狀態，同(tong)(tong)時局(ju)部放(fang)電對絕(jue)緣(yuan)破壞的機理(li)也是很復雜的，也需(xu)要通過不(bu)同(tong)(tong)的參(can)(can)數來評定它對絕(jue)緣(yuan)的損害，目前我們只關心兩個基(ji)本(ben)參(can)(can)數。

視在(zai)放電(dian)電(dian)荷(he)——在絕緣體中發生局部放(fang)電時，絕緣體上施加電壓的兩端出現(xian)的脈動(dong)電荷稱之(zhi)為視(shi)在放(fang)電電荷，單位用皮庫（pc）表示，通常以穩定(ding)出現的(de)*大視在放電(dian)電(dian)荷作為該試品(pin)的(de)放電(dian)量。

放電重(zhong)復率——在(zai)測量時間內(nei)每秒中出現(xian)的放電(dian)次(ci)數的平均值稱(cheng)為放電(dian)重復率，單位為次(ci)/秒(miao)，放電重復率越(yue)高，對(dui)絕緣的損害越(yue)大。

**章  局放測試的(de)試驗系統接線。

在(zai)了解了局(ju)部放電(dian)(dian)的(de)(de)基本理論(lun)之后，在(zai)本章我(wo)們(men)的(de)(de)重點轉向實際操(cao)作，我(wo)們(men)先介紹局(ju)部放電(dian)(dian)測試(shi)中常(chang)用的(de)(de)三種(zhong)接法，隨后我(wo)們(men)再(zai)介紹整(zheng)個系統的(de)(de)接線電(dian)(dian)路，*后我(wo)們(men)再(zai)分別介紹幾種(zhong)典型的(de)(de)試(shi)品(pin)的(de)(de)試(shi)驗線路。

一、局放電測試電路(lu)的三種基本接法及優缺點(dian)。

（1）   標準試驗電路，又稱并聯法。適(shi)合于必(bi)須接地的(de)試品(pin)。其缺點是高壓引線(xian)對地雜散電容并聯在(zai) CX上，會降低測試靈敏度。

（2）接法的串聯法，其(qi)要(yao)求試品低壓端對(dui)地浮(fu)置。其優點是(shi)變壓器入口電容(rong)、高壓線對地雜散電容(rong)與耦合電容(rong)CK并聯，有利(li)于提高試(shi)驗靈敏度。缺點是(shi)試(shi)樣(yang)損(sun)壞(huai)時(shi)會損(sun)壞(huai)輸入單(dan)元(yuan)。

（3）平衡(heng)法試(shi)(shi)驗電(dian)(dian)路：要求兩(liang)個試(shi)(shi)品相接近(jin)，至少(shao)電(dian)(dian)容(rong)量為同一數量級其優(you)點是(shi)外干擾(rao)(rao)強(qiang)烈(lie)的情況下(xia)，可取得較(jiao)好抑制干擾(rao)(rao)的效果，并可消除變壓(ya)器雜散電(dian)(dian)容(rong)的影響(xiang)，而且(qie)可做大電(dian)(dian)容(rong)試(shi)(shi)驗。缺點是(shi)須要兩(liang)個相似(si)的試(shi)(shi)品，且(qie)當產生放電(dian)(dian)時，需設法判別是(shi)哪個試(shi)(shi)品放電(dian)(dian)。

值得提出的(de)是：由于現場試驗條件的(de)限制（找到(dao)兩個(ge)相(xiang)似的(de)試品(pin)且要保證(zheng)一個(ge)試品(pin)無放電不太容易），所(suo)以(yi)在現場平(ping)衡法比較難實現，另外，由于(yu)(yu)采(cai)用串聯法時(shi)，如(ru)果(guo)試品擊穿，將會對設備(bei)造成比較大的損害(hai)，所以出于(yu)(yu)對設備(bei)保護的想法，在現場試驗時(shi)一般采(cai)用并聯法。

智能局放儀不以惡小而為之、不以善小而不為二、采用(yong)并聯法的整(zheng)個系統的接線原理圖。

該(gai)系(xi)統(tong)采用(yong)脈(mo)沖電(dian)(dian)(dian)(dian)流法檢(jian)測(ce)高壓(ya)試(shi)品(pin)的(de)局(ju)(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)量(liang)，由控制臺控制調壓(ya)器(qi)和(he)(he)變壓(ya)器(qi)在試(shi)品(pin)的(de)高壓(ya)端產生(sheng)測(ce)試(shi)局(ju)(ju)放(fang)(fang)所需的(de)預(yu)加電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)和(he)(he)測(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)，通過無局(ju)(ju)放(fang)(fang)藕合電(dian)(dian)(dian)(dian)容器(qi)和(he)(he)檢(jian)測(ce)阻抗(kang)將局(ju)(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)信號取出(chu)并送至局(ju)(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)測(ce)儀顯示并判斷和(he)(he)測(ce)量(liang)。系(xi)統(tong)中的(de)高壓(ya)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻為了防止在測(ce)試(shi)過程中試(shi)品(pin)擊穿而損壞其他(ta)設備，兩(liang)個電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)濾波器(qi)是將電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)的(de)干擾和(he)(he)整個測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)分開，降(jiang)低整個測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)的(de)背景干擾。

根據上述原(yuan)理圖可(ke)以看(kan)出，局部放(fang)(fang)電(dian)測試(shi)(shi)的(de)靈敏度(du)和準確度(du)和整(zheng)個系統密切相關(guan)，要想順利和準確的(de)進行局部放(fang)(fang)電(dian)測試(shi)(shi)，就必(bi)須將整(zheng)個系統考濾周到，包括系統的(de)參數選取和連(lian)接方式(shi)。另外，在現(xian)場試(shi)(shi)驗時，由于(yu)是(shi)驗證性試(shi)(shi)驗，高(gao)壓限流電(dian)阻可(ke)以省掉。

三、幾種典型試品的接線原理(li)圖。

（1）電(dian)流互(hu)感器的局(ju)放測試接線原理圖

（2）電壓互感器的局放測試接線原理圖

A．工(gong)頻加壓方式接線(xian)原理(li)圖

為了防止電壓互感(gan)(gan)器(qi)(qi)在(zai)工頻(pin)電壓下產生大(da)的勵(li)磁電流而損(sun)壞，高(gao)壓電壓互感(gan)(gan)器(qi)(qi)一般(ban)采取(qu)自激勵(li)的加壓方(fang)式。在(zai)電壓互感(gan)(gan)器(qi)(qi)的低壓側(ce)加一倍(bei)(bei)頻(pin)電源，在(zai)電壓互感(gan)(gan)器(qi)(qi)的高(gao)壓端感(gan)(gan)應出高(gao)壓來進行(xing)局部放電實驗。這就是通常所說(shuo)的三倍(bei)(bei)頻(pin)實驗。其(qi)接線原(yuan)理(li)圖如下：

(3)高壓電容器.絕緣子的局放測試(shi)接線原(yuan)理(li)圖

(4) 發電機的(de)局放測試接(jie)線原理圖(tu)

（5）變壓(ya)器的局部(bu)放(fang)電(dian)測試接線原(yuan)理圖(tu)

我們僅僅是在(zai)原理性(xing)的(de)總(zong)結(jie)了幾種(zhong)典(dian)型試(shi)(shi)品(pin)的(de)接(jie)線(xian)原理圖(tu)，至于各種(zhong)試(shi)(shi)品(pin)的(de)加(jia)壓方式和(he)加(jia)壓值(zhi)的(de)多少，我們在(zai)做試(shi)(shi)驗(yan)的(de)時侯要嚴格(ge)遵守(shou)每種(zhong)試(shi)(shi)品(pin)的(de)出廠檢(jian)驗(yan)標準或(huo)交接(jie)檢(jian)驗(yan)標準。

第(di)三章  概述

WBTCD-9308智能局(ju)部放(fang)電檢測儀(yi)是我(wo)公司*新(xin)推向市場的(de)新(xin)一代數字(zi)智能儀(yi)器，該儀(yi)器在原有(you)產品WBJF-2010、JF-2020局(ju)放(fang)儀(yi)的(de)基(ji)礎(chu)上采(cai)用(yong)嵌入(ru)式ARM系統作為中(zhong)央處理單(dan)元，控制12位(wei)分辨率(lv)的(de)高速模數轉換芯片(pian)進行數據(ju)采(cai)集，將采(cai)集到的(de)數據(ju)存放(fang)在雙端口RAM中(zhong)。實現從(cong)模擬(ni)到數字(zi)的(de)跨越。使(shi)用(yong)26萬色(se)高分辨率(lv)TFT-LCD數字(zi)液晶顯示(shi)模組實時(shi)顯示(shi)放(fang)電脈沖波形，配備VGA接(jie)口，可外接(jie)顯示(shi)器。與傳統的(de)模擬(ni)式示(shi)波管顯示(shi)局(ju)部放(fang)電檢測儀(yi)相比有(you)以下特點：

1.彩色顯示器，雙色顯示波(bo)形，更清晰直觀；

2.可鎖(suo)定(ding)波形，更方便仔細查(cha)看(kan)放電波形細節(jie)；

3.自動測(ce)量并(bing)顯示試驗(yan)電源時基頻率，無需手動切換；

4.配備(bei)VGA接(jie)口，可外接(jie)大(da)尺寸顯示器；

5.與(yu)示(shi)波(bo)管相(xiang)比(bi)壽命更長。

6.具有(you)波(bo)形鎖(suo)定、打印試驗報告功(gong)能

本儀器檢測靈敏度高，試樣電(dian)容(rong)覆蓋范圍(wei)大，適用試品范圍(wei)廣，輸(shu)入(ru)單元(yuan)（檢測阻(zu)抗）配備齊全，頻帶(dai)組合多（九種(zhong)）。儀器經(jing)適當定標后能直(zhi)讀(du)放電(dian)脈沖的放電(dian)量。

本(ben)儀器是電力部(bu)門(men)、制造廠家(jia)和(he)科研單(dan)位等廣泛使用的局(ju)部(bu)放電測試儀器。

第四(si)章  主要(yao)技術指標：

1．可(ke)測試品的(de)電(dian)容范圍： 6PF—250uF。

2．檢測靈敏度（見表一）：

表一

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任(ren)選(xuan)。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器增益調(diao)節：

粗調(diao)六檔(dang)，檔(dang)間增(zeng)益(yi)20±1dB；細調(diao)范(fan)圍≥20dB。每檔(dang)之(zhi)間數(shu)據(ju)為(wei)10倍關系：如(ru)第三(san)檔(dang)檢(jian)測(ce)(ce)數(shu)據(ju)為(wei)98，則**檔(dang)顯示數(shu)據(ju)為(wei)9.8，如(ru)在第三(san)檔(dang)檢(jian)測(ce)(ce)數(shu)據(ju)超(chao)過120，則應調(diao)至**檔(dang)來檢(jian)測(ce)(ce)數(shu)據(ju)，所得數(shu)據(ju)應乘以10才為(wei)實際(ji)測(ce)(ce)量值。

5、時(shi)間(jian)窗：

（1）窗寬：可調范圍(wei)15°-175°；

（2）窗(chuang)(chuang)位置：每一窗(chuang)(chuang)可旋轉(zhuan)0°- 180°；

（3）兩個時(shi)(shi)間窗可分別開或同時(shi)(shi)開。

6、放電量(liang)表(biao)：

0-100誤(wu)差<±3％（以滿(man)度計）。

7、橢圓時基：

（1）頻(pin)率(lv)：50HZ、或(huo)外部電源同步（任意頻(pin)率(lv)）

（2）橢圓旋轉：以(yi)30°為一檔，可作360°旋轉。

（3）顯示方式：橢圓—直(zhi)線。

8、試(shi)驗電壓表：

精度(du)：優(you)于±3％（以滿度(du)計）。

9、體積(ji)： 320×480×190（寬×深×高(gao)）mm³。

10、重(zhong)量：約15Kg。

三、系統工作(zuo)原理：

本機的局部放電(dian)(dian)測試原理是高頻脈沖電(dian)(dian)流測量法(fa)（ERA法(fa)）。

試品Ca在試驗電(dian)壓下產(chan)生(sheng)局部放(fang)電(dian)時，放(fang)電(dian)脈沖(chong)信(xin)號(hao)經藕合(he)電(dian)容Ca送入輸(shu)入單元，由輸(shu)入單元拾取(qu)到脈沖(chong)信(xin)號(hao)，經低噪聲(sheng)前置放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)放(fang)大(da)(da)(da)，濾(lv)波放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)選擇所需頻(pin)帶(dai)及主放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)放(fang)大(da)(da)(da)（達到所需幅值與(yu)產(chan)生(sheng)零標(biao)志脈沖(chong)）后，在示波屏的橢(tuo)圓掃描(miao)基線(xian)上產(chan)生(sheng)可見的放(fang)電(dian)脈沖(chong)，同時也送至脈沖(chong)峰值表(biao)顯示其峰值。

時(shi)間窗單元控(kong)制(zhi)試驗電壓每(mei)一周期(qi)內脈沖峰(feng)值的工作(zuo)時(shi)間，并在(zai)這段時(shi)間內將示(shi)波屏的相應(ying)顯示(shi)區加亮(liang)，用(yong)它可以排除固(gu)定相位的干(gan)擾(rao)。

試驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)表經電(dian)(dian)容分壓(ya)(ya)器(qi)產生(sheng)試驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)過零(ling)標(biao)(biao)志訊號(hao)，在示(shi)波屏上顯示(shi)零(ling)標(biao)(biao)脈沖，橢圓(yuan)時基(ji)上兩個零(ling)標(biao)(biao)脈沖，通過時間窗的寬(kuan)窄調節可確定試驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)的相位，試驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)大小(xiao)由數字電(dian)(dian)壓(ya)(ya)表指示(shi)。

整個系統(tong)的(de)工作(zuo)原(yuan)理可參看方框圖（圖一）。

四、結構說明

本儀(yi)(yi)器為(wei)標準機箱結構，儀(yi)(yi)器分前面(mian)板及(ji)后面(mian)板兩部分，各調節元件的位置(zhi)及(ji)位置(zhi)和功能見下(xia)圖說明。

1、4：長按改變門窗的(de)位置

2、3：長按改變(bian)門窗的寬度

5：時(shi)鐘設置按鈕

6：按(an)9號鍵鎖定后再按(an)此鍵，即(ji)可打印試驗報告

7：分壓(ya)比設(she)置按(an)鈕

8：門(men)開關，重復按(an)可選(xuan)擇左右門(men)

9：波形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯示方式按鈕

12：取消(xiao)按(an)鈕

A、B、C通道選擇(ze)旋(xuan)鈕與(yu)后面板A、B、C測量通道相對應

備注： 如需數據導出，步驟如下：

（1）在電腦上(shang)安(an)裝好(hao)RS232通用串口線驅(qu)動(dong)(dong)。（驅(qu)動(dong)(dong)盤(pan)里(li)有安(an)裝介紹）及局(ju)放(fang)試驗報告編輯器軟件。

（2）將串(chuan)口(kou)線和局(ju)放儀后面的數據接(jie)口(kou)連(lian)接(jie)好。   

（3）將需要保存(cun)的波形鎖定然后(hou)點擊 局放試驗(yan)報告編(bian)輯(ji)器(qi)

（4）點(dian)擊(ji)Start鍵生(sheng)成鎖定后的數據，然(ran)后點(dian)擊(ji)測試報告如下(xia)圖所示：

（5）點(dian)擊測(ce)試報告(gao)后則(ze)會出現局放試驗報告(gao)編輯(ji)器(qi)可(ke)以根據需(xu)要填寫上面的內(nei)容。

（6）填寫(xie)好表格后點擊生成報(bao)告數據會以Word文(wen)檔的形式出(chu)現，再將(jiang)數據保(bao)存至電腦，如(ru)下(xia)圖(tu)所示(shi)：

第(di)五章  操(cao)作說明

1、試驗準備：將機(ji)器后面板的(de)三(san)個開關都置于“關”的(de)狀態(tai)

（1）檢查(cha)試驗場地(di)(di)的接(jie)(jie)地(di)(di)情況，將本儀器后部的接(jie)(jie)地(di)(di)螺栓用粗銅(tong)線（*好用編制銅(tong)帶）與試驗場地(di)(di)的接(jie)(jie)地(di)(di)妥善相(xiang)接(jie)(jie)，輸(shu)入單元的接(jie)(jie)地(di)(di)短(duan)路(lu)片也(ye)要妥善接(jie)(jie)地(di)(di)。

（2）根椐試品電容(rong)Ca，藕合電容(rong)Ck的大小，選取合適序號的輸入單元(yuan)(yuan)（表一），表一中調(diao)諧電容(rong)量是指從輸入單元(yuan)(yuan)初級繞組兩端看到(dao)的電容(rong)（按Cx和(he)Ck的串聯值粗略估算）。

輸入單元應盡量(liang)靠近(jin)被測試品，輸入單元插(cha)(cha)座(zuo)(zuo)經(jing)8米長電(dian)纜(lan)與后面板上(shang)輸入插(cha)(cha)座(zuo)(zuo)相接。

（3）試品接入(ru)輸入(ru)單元的方(fang)法(fa)主要有(you)以下(xia)幾種(zhong)：

圖(tu)中：Ca——試(shi)品(pin)    Ck——藕合電容    Z——阻(zu)塞(sai)阻(zu)抗(kang)  R3、C3、R4、C4——橋式接法中平衡調(diao)節阻(zu)抗(kang)。

（4）在高(gao)壓(ya)端接(jie)上電(dian)壓(ya)表電(dian)阻(zu)或電(dian)容(rong)分壓(ya)器(qi)，其輸(shu)出經測量電(dian)纜接(jie)到(dao)后面板(ban)試驗(yan)電(dian)壓(ya)輸(shu)入插座(zuo)30。

（5）在未加試驗電壓的(de)情況下，將JF-2006校正脈沖發生器的(de)輸出接試品(pin)兩端。

2、使用步驟

（1）開機準備：將(jiang)時(shi)基顯示方式(shi)置于“橢圓”。

（2）放電(dian)量的校正(zheng)：按圖接(jie)好線(xian)后，在未加試驗電(dian)壓之前(qian)用(yong)LJF-2006校正(zheng)脈沖發生器予以校正(zheng)。

注意：方波測量(liang)(liang)盒應盡量(liang)(liang)靠(kao)近試品的高壓端(duan)。紅端(duan)子引線接高壓端(duan)。

然后(hou)調節(jie)放(fang)大(da)器增益(yi)調節(jie)，使該注入脈沖高度適當（示波屏上高度2cm以(yi)下），使數(shu)字表(biao)讀(du)數(shu)值與注入的已知(zhi)電量相符(fu)。調定后(hou)放(fang)大(da)器細調旋鈕的位置不能(neng)再改變(bian)，需保持與校正時(shi)相同。

校(xiao)正(zheng)完成后(hou)必須去掉校(xiao)正(zheng)方波發生器與(yu)試(shi)驗回路的連(lian)接。

（3）測試(shi)操(cao)作：

第六(liu)章  抗干(gan)擾措施(shi)和局部放(fang)電(dian)圖譜簡(jian)介

對于局部放電實(shi)驗我(wo)們*怕(pa)的就是干擾，下面簡單介紹一下實(shi)驗中可能遇到的干擾以及抗干擾的方法：

測量的干擾分類

干擾有(you)(you)來(lai)自電網的(de)(de)和(he)(he)來(lai)自空間的(de)(de)。按表(biao)現形式分(fen)又(you)分(fen)為固定的(de)(de)和(he)(he)移(yi)動的(de)(de)。主要的(de)(de)干擾源有(you)(you)以(yi)下一(yi)些：

①懸(xuan)浮電位物(wu)體放電，通過對地雜散電容耦合(he)

②外部**電暈

③可控硅(gui)元件在鄰近運行

④繼電器，接觸器，輝光(guang)管等物品

⑤接(jie)觸**

⑥無線電干(gan)擾

⑦熒光燈干擾

⑧電(dian)動機干(gan)擾

⑨中高頻工業設備(bei)

（二）抗(kang)干擾方法

采用帶調(diao)壓(ya)器，隔離變壓(ya)器和(he)濾波(bo)器的控制電源

設置屏蔽室，可只屏蔽試驗回路部分

可靠的單(dan)點(dian)接(jie)(jie)地(di)(di)，將試驗回(hui)路系統(tong)設(she)計成(cheng)單(dan)點(dian)接(jie)(jie)地(di)(di)結構，接(jie)(jie)地(di)(di)電阻要小，接(jie)(jie)地(di)(di)點(dian)要與一般試驗室的地(di)(di)網及電力網中線分開。

采用(yong)高壓濾波(bo)器(qi)

用平(ping)衡法(fa)或橋式試驗電(dian)路

利用時(shi)間窗，使(shi)固定相位干擾處于亮窗之外(wai)

采用較(jiao)窄(zhai)頻帶，或用頻帶躲開干(gan)擾大的頻率范(fan)圍

在高壓端加裝高壓屏蔽罩或半導體橡膠帽(mao)以防電暈干擾

試驗電(dian)路遠(yuan)離周圍物體(ti)，尤(you)其是(shi)懸(xuan)浮的金屬(shu)固體(ti)！

（三）初做實驗(yan)者對波形(xing)辨認還是有(you)一(yi)定困難(nan)的，下面就簡單介紹一(yi)     放(fang)電類型(xing)和干擾的初步辯認：

1． 典(dian)型的內部氣(qi)泡放電(dian)的波形特點：(圖 5—01)

A．放電(dian)主要顯示在試驗電(dian)壓(ya)由零升到峰值的兩個橢圓象(xiang)限(xian)內。

B．在起始電壓Ui時，放電(dian)通常發生在(zai)峰值附(fu)近，試(shi)驗電(dian)壓超過(guo)Ui時(shi)，放電向零(ling)相位延伸。

C．兩個(ge)相(xiang)反(fan)半周上放(fang)電次數和幅值(zhi)大致相(xiang)同（*大相(xiang)差(cha)至3：1）。

D．放電波形可辯。

E．q與試(shi)驗電壓關(guan)系(xi)不大，但放電重復(fu)率n隨(sui)試驗電壓(ya)上(shang)升而加大(da)。

F．局部放電起始電壓Ui和熄滅電壓(ya)Ue基本相(xiang)等。

G．放(fang)電量q與時間關(guan)系不大。

H．如果(guo)放(fang)電量隨(sui)試驗(yan)電壓上升而增(zeng)大，并且(qie)放(fang)電波形變得模糊不可(ke)(ke)分辨，則往往是(shi)介質內含(han)有多種大小氣(qi)泡，或是(shi)介質表面放(fang)電。如果(guo)除(chu)了上述情況，而且(qie)放(fang)電幅值隨(sui)加壓時間而迅速增(zeng)長(chang)（可(ke)(ke)達100倍或更(geng)多），則往(wang)往(wang)是(shi)絕(jue)緣(yuan)液體中的氣(qi)泡(pao)放(fang)電，典型例子是(shi)油浸紙(zhi)電容器的放(fang)電。

2． 金屬與介質間氣泡的(de)放電波形(xing)特點：&nbsp;              

正半(ban)周(zhou)有(you)許多幅值(zhi)小的放電，負半(ban)周(zhou)有(you)很少(shao)幅值(zhi)大(da)的放電。幅值(zhi)相差可達10﹕1，其他同上。

典型例子(zi)：絕緣與導體粘附**的聚乙烯電纜(lan)的放電。q與試驗電壓(ya)關系不大。（圖 5—02）

如果隨試驗電(dian)壓升高(gao)，放(fang)電(dian)幅(fu)值也增大，而(er)且放(fang)電(dian)波形(xing)變得(de)模糊，則往往是含(han)有不(bu)同大小多個氣(qi)泡，或(huo)是外露的(de)金(jin)屬與介質表面(mian)之(zhi)間出現的(de)表面(mian)放(fang)電(dian)。（圖 5—03）

（四(si)）下面介紹一些主要視為干擾或(huo)非(fei)正常放電的情況：

（1）懸浮電位物體放電波形特點：

在電壓峰(feng)值(zhi)(zhi)前的(de)正負(fu)半周兩個象限里出現幅值(zhi)(zhi)。脈沖數(shu)和位置均相同，成對出現。放(fang)電可移動，但它們間的(de)相互間隔(ge)不(bu)變(bian)(bian)，電壓升高時(shi)(shi)，根數(shu)增加，間隔(ge)縮小，但幅值(zhi)(zhi)不(bu)變(bian)(bian)。有時(shi)(shi)電壓升到一定值(zhi)(zhi)時(shi)(shi)會(hui)消(xiao)失，但降至(zhi)此值(zhi)(zhi)又重新出現。

原因(yin)：金屬間(jian)的(de)間(jian)隙(xi)(xi)產生的(de)放(fang)電，間(jian)隙(xi)(xi)可能(neng)是地面上兩(liang)個獨立的(de)金屬體間(jian)（通過雜(za)散電容耦合）也可能(neng)在樣品內，例如屏蔽松散。

（2）外部**電(dian)(dian)暈放(fang)電(dian)(dian)波形特點：

起始放電僅出現在(zai)試驗電壓的一個半周(zhou)上，并(bing)對稱(cheng)地(di)分布(bu)在(zai)峰值兩側。試驗電壓升高時，放電脈沖(chong)數(shu)急劇增加，但幅值不變，并(bing)向兩側伸展。

原因(yin)：空(kong)氣中高(gao)壓**或邊(bian)緣放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)。如果放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)出現在(zai)負半周，表示**處于高(gao)壓，如果放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)出現在(zai)正半周則**處于地電(dian)(dian)(dian)位。

（3）液體介質中的(de)**電暈(yun)放電波(bo)形特點(dian)：

放電(dian)(dian)出(chu)現在(zai)兩個(ge)半周上，對稱(cheng)地分布在(zai)峰(feng)值(zhi)兩側。每一(yi)組(zu)放電(dian)(dian)均為(wei)等(deng)(deng)間(jian)隔(ge)，但一(yi)組(zu)幅值(zhi)較大的(de)放電(dian)(dian)先出(chu)現，隨試驗電(dian)(dian)壓(ya)升高而幅值(zhi)增大，不一(yi)定等(deng)(deng)幅值(zhi)；一(yi)組(zu)幅值(zhi)小的(de)放電(dian)(dian)幅值(zhi)相(xiang)等(deng)(deng)，并(bing)且不隨電(dian)(dian)壓(ya)變化。

原因：絕(jue)緣液體中**或邊緣放(fang)電(dian)。如(ru)一組大的放(fang)電(dian)出(chu)現(xian)在正(zheng)半周，則(ze)**處(chu)于高壓；如(ru)出(chu)現(xian)在負半周，則(ze)**地電(dian)位。

（4）接觸(chu)**的干擾(rao)圖形。

波形特點(dian)：對稱(cheng)地分布在實(shi)驗電(dian)壓(ya)零(ling)點(dian)兩側(ce)，幅(fu)值(zhi)大(da)致不變，但在實(shi)驗電(dian)壓(ya)峰值(zhi)附(fu)近下(xia)降為(wei)零(ling)。波形粗糙不清(qing)晰，低(di)電(dian)壓(ya)下(xia)即(ji)出(chu)現(xian)。電(dian)壓(ya)升(sheng)高時(shi)，幅(fu)值(zhi)緩慢增加，有時(shi)在電(dian)壓(ya)達到(dao)一定值(zhi)后會完(wan)全消失。

原因：實驗回路中(zhong)金屬與(yu)金屬**接觸的連(lian)接點(dian)；塑料電纜屏(ping)蔽(bi)層半(ban)導體粒子的**接觸；電容器鋁(lv)箔的插接片等（可將電容器充電然后短路來消除）。       ;        

（5）可控硅元件的(de)干擾圖形(xing)。

波形(xing)特點(dian)：位(wei)置固定，每(mei)只元件(jian)產生一個獨立訊號。電路接通，電磁耦合效應增(zeng)強時訊號幅值增(zeng)加，試驗調壓時，該脈沖訊號會發生高頻波形(xing)展寬，從而占(zhan)位(wei)增(zeng)加。

原因：鄰(lin)近有(you)可控硅元(yuan)件在運行。

（6）繼電器、接(jie)觸(chu)器、輝(hui)光管等動(dong)作的(de)干擾。

波(bo)形(xing)特點：分布不規則或間斷出現(xian)，同試驗電壓(ya)無(wu)關。

原因：熱(re)繼電器、接觸器和(he)各種火(huo)花試驗器及有火(huo)花放電的記錄器動(dong)作時產生(sheng)。

（7）熒光燈的干擾圖形。

波(bo)形特(te)點：欄柵(zha)狀，幅(fu)值(zhi)大致相同的脈沖，伴有正負半波(bo)對稱(cheng)出現的兩簇脈沖組。

原因：熒光燈照明(ming)                                                              ;             &nbsp;         

（8）無線(xian)電干擾的干擾圖形。

波形特點(dian)：幅(fu)值有(you)調制的高頻正弦波，同試驗電(dian)壓無關。

原因：無(wu)線(xian)電話、廣播話筒(tong)、載波通訊等(deng)。

（9）電(dian)動機干擾的(de)干擾圖形（圖5—12）

波(bo)形特點：放電波(bo)形沿橢圓基線均勻分(fen)布(bu)，每(mei)個單(dan)個訊(xun)號呈“山”字形。

原(yuan)因：帶換向器的電(dian)動機，如電(dian)扇(shan)、電(dian)吹風運轉時(shi)的干(gan)擾。

（10）中(zhong)高頻工業設備的干(gan)擾圖(tu)形。

波形特點：連續(xu)發生，僅(jin)出現在電(dian)源波形的半周內。

原因：感應加(jia)熱裝置和頻率接(jie)近(jin)檢(jian)測頻率的超聲波發生器等。

（11）鐵芯磁飽和諧波(bo)的干擾(rao)圖(tu)(tu)形（圖(tu)(tu)5—14）

波(bo)形(xing)特(te)點：較低(di)頻率的諧波(bo)振(zhen)蕩，出現在兩個半周上(shang)，幅值隨試驗電(dian)壓(ya)升高而(er)增大，不加電(dian)壓(ya)時消失，有重(zhong)現性(xing)。

原(yuan)因：試驗系統各種鐵芯設備（試驗變(bian)壓(ya)器、濾波電(dian)抗器、隔(ge)離變(bian)壓(ya)器等）磁飽和(he)產生的諧(xie)振(zhen)。                    &nbsp;            

（12）電(dian)極(ji)在(zai)電(dian)場方向機械移動(dong)的干(gan)擾(rao)圖形。

波形特點：僅在(zai)試(shi)驗(yan)電壓的(de)半周（正或負）上(shang)出現的(de)與峰(feng)值對稱的(de)兩個放電響(xiang)應，幅值相(xiang)等(deng)，而脈沖方向相(xiang)反，起始電壓時兩個脈沖在(zai)峰(feng)值處(chu)靠得很近，電壓升高時逐(zhu)漸分開(kai)，并可能(neng)產生(sheng)新的(de)脈沖訊號對。

原因：電(dian)極(ji)的部分（尤其是(shi)金屬箔電(dian)極(ji)）在電(dian)場作用下(xia)運動。&nbsp;                         

（14）漏(lou)電痕(hen)跡和樹枝放電

波(bo)形(xing)(xing)特點：放電訊號波(bo)形(xing)(xing)與一般典型圖象均不(bu)符合，波(bo)形(xing)(xing)不(bu)規(gui)則不(bu)確定。

原因(yin)：玷污了的絕(jue)緣上(shang)漏(lou)電或絕(jue)緣局部過熱而致的碳化痕跡(ji)或樹(shu)枝通(tong)道。

在放電(dian)(dian)(dian)(dian)測試中必須(xu)保(bao)證測試回(hui)路(lu)中其它元件（試驗變壓(ya)器、阻塞線圈、耦(ou)合(he)電(dian)(dian)(dian)(dian)容器、電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)表電(dian)(dian)(dian)(dian)阻等(deng)）均不放電(dian)(dian)(dian)(dian)，常用的辦法(fa)是用與試品(pin)電(dian)(dian)(dian)(dian)容數量級相同的無(wu)放電(dian)(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)(dian)容或絕緣結構取代試品(pin)試驗，看看有無(wu)放電(dian)(dian)(dian)(dian)。

了(le)解了(le)各種放(fang)電(dian)類型(xing)的波形特征，來源(yuan)以及識別干(gan)擾后(hou)就可按具體情(qing)況采(cai)取(qu)措施排除干(gan)擾和正確地進行(xing)放(fang)電(dian)測量了(le)。

第七章     局部放電測試(shi)當中應(ying)該注意的問(wen)題

實(shi)驗前，試品(pin)的絕緣表(biao)面（尤其是(shi)高壓(ya)端）應作清潔化(hua)處理(li)

2、   各連接點(dian)(dian)應(ying)接觸良好，尤其(qi)是(shi)高(gao)壓端不要留下(xia)尖銳(rui)的接點(dian)(dian)，高(gao)壓導線應(ying)盡可能(neng)粗以防電暈，可用蛇皮管。

輸入單元要(yao)(yao)盡量(liang)靠近試品，而且接地要(yao)(yao)可靠，接地線*好用(yong)

編織銅(tong)帶。主(zhu)機也須接地(di)，以保(bao)證**。

試(shi)驗(yan)(yan)回路盡可能緊(jin)湊。即高壓(ya)連線盡可能短，試(shi)驗(yan)(yan)回路所圍面 

積盡可(ke)能小。

在進(jin)行110KV及(ji)以(yi)上等級的局(ju)放試驗時，試品(pin)周圍的懸(xuan)浮(fu)金屬

物體應妥善接地。

考慮(lv)到油浸式試(shi)品局(ju)部放電存在(zai)滯后效應，因(yin)此在(zai)局(ju)放試(shi)驗(yan)前

幾(ji)小時(shi)，不要對試(shi)品施加(jia)超(chao)過局部放電試(shi)驗(yan)電壓(ya)(ya)的高(gao)電壓(ya)(ya)。

第八章  附件

1、專用測(ce)量電纜線6米       ;  2根

2、電源線                     1根

3、1.0A保險絲 ;                4根

4、使用說(shuo)明(ming)書           &nbsp;     1份

WBJF-2020校正脈沖(chong)發生器使用(yong)說明

用途(tu)與適(shi)用范圍：

WBJF-2020校(xiao)正(zheng)脈沖發生器是一(yi)個小型的(de)廉價的(de)電池供電的(de)局部放電校(xiao)正(zheng)器，它適(shi)用(yong)(yong)于需要攜帶和使用(yong)(yong)靈活的(de)場合。

主要規格及(ji)技術(shu)參數：

輸出電荷量(liang)：5PC  50PC  100PC  500PC

上升時間：<100ns

衰減時間(jian)：>100us

極性：正、負極性

重復頻率：1KHz

頻率變化：>±100Hz

尺寸(cun)：160×120×50mm

重量：0.5Kg

電池：6F22  9V

操作與作用(yong)：

首先打開WBJF-2020校正(zheng)脈沖發生(sheng)器后蓋(gai)(gai)板，裝入電(dian)池，蓋(gai)(gai)好(hao)蓋(gai)(gai)板。將(jiang)輸出紅(hong)黑(hei)兩個端(duan)(duan)子接(jie)上(shang)導(dao)線(xian)，紅(hong)端(duan)(duan)子上(shang)的(de)(de)導(dao)線(xian)盡(jin)量且靠(kao)近試品的(de)(de)高(gao)壓端(duan)(duan)，黑(hei)端(duan)(duan)導(dao)線(xian)接(jie)試品和(he)低壓端(duan)(duan)，將(jiang)校正(zheng)電(dian)量開關置于合(he)適的(de)(de)位(wei)置，即可校正(zheng)，頻率可在1KHz附近調節，面板(ban)上(shang)電壓表指示機內電源的情況，一般(ban)指示8V以上(shang)才能(neng)保證工(gong)作(zuo)，低于8V則(ze)需(xu)調換電池。

校(xiao)正后切記將校(xiao)正脈沖(chong)發(fa)生(sheng)器(qi)取下！