蓄電池內阻測量儀電池問題第1章 簡介

1. 說明

本手(shou)冊為(wei)WBXC-1000蓄電池內阻測試儀的使用指南，請在操(cao)作(zuo)使用測試儀前仔細閱讀本手冊。

蓄電池內阻測量儀電池問題2. 主機部件

2. 1  USB接口：用來(lai)通過(guo)U盤上傳測試數據和下載參數；

2. 2  測試(shi)(shi)接口：連接測試(shi)(shi)夾具；

2. 3  充電接口：連接充電器；

2. 4  LCD：320*240彩色TFT液(ye)晶屏(ping)；

2. 5  鍵盤：共7個(ge)按(an)鍵(jian)。定義如表一。

蓄電池內阻測量儀電池問題3. 主要功(gong)能特點

可對蓄電池電壓(ya)、內阻、容量進行(xing)測試；

可以作為(wei)電壓表使(shi)用,測試(shi)電池電壓；

可(ke)對不(bu)同(tong)電(dian)壓等(deng)級的蓄電(dian)池進行自動切換；

可對蓄電(dian)池進行容量(liang)測算(suan)；

測試數據同步(bu)存儲(chu)；

對判別結果進(jin)行聲音提示；

電池充(chong)電狀態指示；

本機電池電壓實時顯示(shi)；

無操作自動待機；

測(ce)試數據記(ji)錄存(cun)儲；

通過(guo)u盤和分析軟件(jian)系統進行數據交換。

蓄電池內阻測量儀電池問題4. 技術指(zhi)標

蓄電池內阻測量儀電池問題第2章 內阻測(ce)試說明(ming)  

電(dian)(dian)池內(nei)(nei)(nei)部阻(zu)抗，也稱為內(nei)(nei)(nei)阻(zu)，是(shi)一項影(ying)響(xiang)電(dian)(dian)池性能的(de)關鍵指標。測試電(dian)(dian)池內(nei)(nei)(nei)阻(zu)以(yi)判(pan)斷電(dian)(dian)池供電(dian)(dian)能力已(yi)經是(shi)業(ye)內(nei)(nei)(nei)的(de)共識。影(ying)響(xiang)電(dian)(dian)池內(nei)(nei)(nei)阻(zu)的(de)因(yin)素(su)有：電(dian)(dian)池尺(chi)寸(cun)、工作時間、結(jie)構(gou)、狀(zhuang)(zhuang)況、溫度(du)和充電(dian)(dian)狀(zhuang)(zhuang)態。

對于一個充滿(man)電(dian)(dian)的電(dian)(dian)池(chi)，當(dang)電(dian)(dian)池(chi)放電(dian)(dian)時，其內阻逐步(bu)緩慢增(zeng)大；當(dang)電(dian)(dian)池(chi)放電(dian)(dian)達(da)到一定程(cheng)度后，內阻的變化量才急速增(zeng)大；當(dang)電(dian)(dian)池(chi)放完電(dian)(dian)后，其電(dian)(dian)阻比完全(quan)充電(dian)(dian)狀態時大2~5倍。

電池溫度也影響內阻的測(ce)量(liang)，但只在(zai)冰點以下才比較明(ming)顯。在(zai)32℉以下，溫(wen)度對內阻的影響很大(da)，在-20℉時的內阻是原來的兩倍。這就是為何在冬季電池的能量要小(xiao)很多。

電(dian)(dian)(dian)池的使用時間也會(hui)影(ying)響(xiang)其(qi)內阻(zu)(zu)。電(dian)(dian)(dian)池使用時間越(yue)長(chang)，隨著鹽化增(zeng)加內阻(zu)(zu)越(yue)大。內阻(zu)(zu)增(zeng)加的多少與電(dian)(dian)(dian)池的使用和維護方法有關。電(dian)(dian)(dian)池的整體狀況（例如機(ji)械裝置(zhi)失(shi)效(xiao)）也會(hui)影(ying)響(xiang)電(dian)(dian)(dian)池的內阻(zu)(zu)。某些失(shi)效(xiao)模(mo)式會(hui)使電(dian)(dian)(dian)池內阻(zu)(zu)增(zeng)加。

由于不(bu)同廠(chang)家在生產電(dian)池(chi)(chi)時，工藝、配方的(de)(de)(de)不(bu)同，造(zao)成(cheng)同樣容(rong)量(liang)的(de)(de)(de)電(dian)池(chi)(chi)內(nei)阻有所差異，對(dui)電(dian)池(chi)(chi)好(hao)壞的(de)(de)(de)判斷(duan)不(bu)應完全(quan)拘泥于電(dian)池(chi)(chi)內(nei)阻的(de)(de)(de)值，還應參(can)考(kao)電(dian)池(chi)(chi)內(nei)阻的(de)(de)(de)變化趨勢。當(dang)電(dian)池(chi)(chi)內(nei)阻超過(guo)初始(shi)內(nei)阻的(de)(de)(de)1.25倍時(shi)，電池就已經(jing)不能通過測(ce)試(shi)，當電池內阻(zu)變化到初(chu)始內阻(zu)的2倍后(hou)，電(dian)池結構(gou)容量就(jiu)不足80%。

本(ben)內(nei)阻(zu)儀的(de)(de)采(cai)用(yong)瞬間放電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)法(fa)對電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)進行內(nei)阻(zu)測量。對蓄(xu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)實際(ji)工作情況(kuang)進行分析研究可(ke)以發現，蓄(xu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)端口對外電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路呈(cheng)現阻(zu)抗特性。在實際(ji)的(de)(de)使用(yong)中(zhong)(zhong)，蓄(xu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)極，連接線等構成的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感，由于使用(yong)頻率低，引線短(duan)，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感很(hen)微(wei)弱(ruo)，一般在分析和研究中(zhong)(zhong)不予考慮。

一般(ban)我們都將蓄電(dian)池的(de)電(dian)阻分為(wei)(wei)金(jin)屬(shu)電(dian)阻，也即是歐姆電(dian)阻；電(dian)化(hua)學電(dian)阻，包(bao)括(kuo)電(dian)化(hua)學反(fan)應電(dian)阻和粒子濃差極化(hua)電(dian)阻。關于容(rong)抗部分，法拉第(di)電(dian)容(rong)因為(wei)(wei)其(qi)恒壓特性(xing)，可(ke)以將其(qi)等(deng)(deng)效為(wei)(wei)一個電(dian)壓源(yuan)。另外，將其(qi)他容(rong)抗都等(deng)(deng)效變(bian)化(hua)為(wei)(wei)多個電(dian)容(rong)并(bing)聯(lian)形(xing)式，則電(dian)池的(de)等(deng)(deng)效模型可(ke)以簡化(hua)如圖1所示。

Rm為(wei)金屬電(dian)(dian)阻(zu)，這部分的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)只是(shi)隨著(zhu)(zhu)(zhu)金屬的(de)(de)(de)(de)腐蝕、蠕(ru)變(bian)(bian)、硫化(hua)等因素而(er)(er)緩慢地變(bian)(bian)化(hua)著(zhu)(zhu)(zhu)。電(dian)(dian)化(hua)學電(dian)(dian)阻(zu)Re則是(shi)隨著(zhu)(zhu)(zhu)容(rong)(rong)量的(de)(de)(de)(de)狀態而(er)(er)時(shi)(shi)刻發生著(zhu)(zhu)(zhu)變(bian)(bian)化(hua)的(de)(de)(de)(de)，但(dan)是(shi)這部分的(de)(de)(de)(de)變(bian)(bian)化(hua)又為(wei)并聯(lian)著(zhu)(zhu)(zhu)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)(rong)的(de)(de)(de)(de)容(rong)(rong)抗變(bian)(bian)化(hua)所掩蓋著(zhu)(zhu)(zhu)。在交流(liu)情況下，由(you)于電(dian)(dian)容(rong)(rong) C 比較大(da)，大(da)部分電(dian)(dian)流(liu)流(liu)經電(dian)(dian)容(rong)(rong)，而(er)(er) Re上(shang)(shang)分流(liu)較少，此時(shi)(shi)檢測到的(de)(de)(de)(de)實(shi)際上(shang)(shang)是(shi)由(you)Rm和(he)(he)C串聯(lian)的(de)(de)(de)(de)阻(zu)抗，而(er)(er) Re被忽略了(le)。為(wei)了(le)避(bi)開(kai)C的(de)(de)(de)(de)分流(liu)，直接由(you)電(dian)(dian)池產生一個瞬時(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)大(da)放電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)，然后測出電(dian)(dian)池極柱上(shang)(shang)電(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)(jian)變(bian)(bian)化(hua)，如圖2所示(shi)，通(tong)過(guo)負(fu)載(zai)接通(tong)時(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)(jian)電(dian)(dian)壓(ya)降和(he)(he)斷開(kai)負(fu)載(zai)時(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)(jian)電(dian)(dian)壓(ya)恢復(fu)可(ke)以推導出相應的(de)(de)(de)(de)內阻(zu)。

在(zai)瞬間(jian)直(zhi)流情況下，蓄電(dian)池的等(deng)效模型可以認(ren)為(wei)是一(yi)個電(dian)壓源和(he)內阻串聯 (戴維南等(deng)效模型 )所(suo)構成(cheng)，如圖(tu)3所(suo)示。

ΔU=RinternalI從而有Rinternal=ΔU/I

從理論上說，在這里(li)ΔU 有兩個，一個是(shi)給試驗電(dian)(dian)路加上負載的(de)瞬(shun)間，電(dian)(dian)池電(dian)(dian)壓(ya)(ya)跌落值，另外一個就是(shi)斷開負載的(de)瞬(shun)間，電(dian)(dian)池電(dian)(dian)壓(ya)(ya)的(de)恢復(fu)值。但(dan)是(shi)，由于實驗過程中，在(zai)合閘瞬(shun)間，電(dian)(dian)壓(ya)(ya)和電(dian)(dian)流都容易引入很大的(de)沖擊，導致較(jiao)大的(de)誤差(cha)，所以這里統一采(cai)用電(dian)(dian)壓(ya)(ya)的(de)恢復(fu)值，而此時電(dian)(dian)流也(ye)基本上達到了(le)穩態。

本(ben)內(nei)阻(zu)儀可(ke)以測量(liang)電壓、內(nei)阻(zu)，估算出(chu)電池(chi)剩余容量(liang)。

電池問題(ti)

電極腐蝕更為迅速 :VRLA電(dian)池(chi)中由于(yu)電(dian)解(jie)液比重更大而且浮充電(dian)流大。

電池變干 :電(dian)極腐蝕也會消耗氧氣從(cong)而使電(dian)池變干(gan)。

電池熔毀或爆炸 :VRLA電池(chi)的(de)冷卻比開口(kou)式電池(chi)更為重要。

困刀LA內部接(jie)線柱、同極的連(lian)接(jie)片以(yi)及(ji)電極接(jie)頭的腐(fu)蝕而斷裂的現象也比開口式電池更常發生(sheng)

所有這些，都會導致容量損失。