三回路直(zhi)流電阻測試(shi)儀需要注意什么一、主要特點(dian)

一次將高、低壓(ya)(ya)電流電位測(ce)試線(xian)(xian)全部接到變壓(ya)(ya)器上，測(ce)試過程中不用再倒測(ce)試線(xian)(xian)；

對(dui)于星型接法的(de)繞組測試(shi)，儀器可以(yi)采(cai)取(qu)三相同時測試(shi)的(de)方式測試(shi)A0、B0、C0相(xiang)的電阻，節(jie)省測試(shi)時(shi)間；

三相五柱低(di)壓內(nei)部角(jiao)接(jie)的變(bian)壓器(qi)低(di)壓測(ce)(ce)試(shi)時，儀器(qi)內(nei)部采(cai)用(yong)自(zi)動助磁的方法，比直接(jie)用(yong)大電流測(ce)(ce)試(shi)速(su)度快；

顯(xian)示、打印變壓(ya)器的(de)高中低壓(ya)繞組的(de)全部測試數據，并(bing)自(zi)動計算出三相不平衡度(du)(du)，還可以打印折算到額定(ding)溫度(du)(du)下的(de)阻值；

三(san)相測試(shi)時先測試(shi)A0的數據，再三(san)相(xiang)(xiang)同(tong)(tong)時測(ce)試，解決了三(san)相(xiang)(xiang)同(tong)(tong)時測(ce)試中(zhong)性點(dian)引出線電(dian)阻不能測(ce)試的問題，測(ce)試數據更接近單相(xiang)(xiang)測(ce)試值；

具有(you)完善(shan)的反(fan)電(dian)勢保護功(gong)能；

儀器內部可(ke)以長久存儲測試數據(ju)200條(tiao)（可擴展），還可以使用優盤存(cun)儲數據方便用戶導入電(dian)腦處理；

儀器具有(you)適用溫度(du)寬，精度(du)高，防(fang)震，抗干(gan)擾，攜帶方(fang)便等特(te)點(dian)。

三回路(lu)直流電阻測試儀(yi)需要(yao)注(zhu)意什么(me)二、主要技術指標及使用(yong)條件

1、技術(shu)指標(biao)

1）測試(shi)電流(liu)：

三相測試：5A＋5A   1A＋1A  二檔

分相測試：10A，5A，1A      三檔

2）測(ce)試范圍(wei)：

10A：  1.000mΩ ~1Ω     5A+5A      10mΩ ~1Ω

5A：   10.00mΩ ~4Ω ;   1A+1A      100mΩ ~5Ω

1A：   100.0mΩ ~20Ω    

3）*高分(fen)辨率(lv)：0.1uΩ

4）準確度(du)： ±（讀數×0.2%+2字）

5）外型尺寸：430mm×320mm×230mm

6）重(zhong)量： 12kg

2、使(shi)用條件

1）環(huan)境(jing)溫度： －10℃  ～ 50℃   環境濕度(du)： ≤ 85％RH

2）工(gong)作電源： AC220V ± 10%

3）電源頻率： （50±1）Hz

三回(hui)路(lu)直流電阻測試儀需要注意(yi)什(shen)么(me)三、面板功能介紹

面板示意圖(tu)(tu)（圖(tu)(tu)一）

液 晶(jing) 屏：顯(xian)示實時時鐘(zhong)，操(cao)作菜單、測(ce)試數(shu)據(ju)以及簡(jian)易操(cao)作說明

按鍵：采用“↑”、“↓”、“←”、“→”、“確認”、“返(fan)回”六鍵控制儀器(qi)所有(you)功能(neng)操作（另：配有(you)“復位”鍵，即在任何時候任何界面，可按此(ci)鍵使儀器(qi)恢復到開(kai)機上(shang)電(dian)狀態）

基本功(gong)能：“←”、“→”鍵移動光標（測試過程中(zhong)可(ke)修(xiu)改分接位），“↑”、“↓”鍵修(xiu)改數(shu)值(zhi)，“確認”鍵(jian)執行所選(xuan)操(cao)作，“返回(hui)”鍵(jian)回(hui)到上一頁。

電(dian)源(yuan)開關(guan)： AC220V電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)

接(jie)地端子：

接(jie)線端子（高(gao)壓(ya)）：接(jie)被測(ce)變(bian)壓(ya)器的(de)高(gao)壓(ya)側(ce)或中壓(ya)側(ce)

接(jie)線端子(zi)（低(di)壓(ya)）：接(jie)被測變壓(ya)器的低(di)壓(ya)

打印(yin)機：打印(yin)測試數據

USB：優盤接(jie)口

RS232：廠家升級用

三(san)回路直流電阻測試儀需要注意什么四、接線

1、用電源線把儀器(qi)與外部AC 220 電源連(lian)接(jie)，用(yong)接(jie)地線將(jiang)接(jie)地端子與大(da)地連(lian)接(jie)。

2、兩繞組變(bian)壓(ya)(ya)器測試(shi)(shi)時依次將高(gao)壓(ya)(ya)測試(shi)(shi)線（較長的(de)）的(de)四個(ge)測試(shi)(shi)鉗（黃綠紅黑）分別接到高(gao)壓(ya)(ya)側的(de)A、B、C、O套管上，如果(guo)只有A、B、C三(san)個套管(guan)，可以將(jiang)黑色測(ce)試鉗懸空；測(ce)試線另一端(duan)與儀器的接線端(duan)子(zi)對應連接。將(jiang)低壓測(ce)試線（較短的）的三(san)個測(ce)試鉗（黃綠紅）分別接到低壓側(ce)的a、b、c、套管上，測(ce)試線(xian)另一端與儀(yi)器的接(jie)線(xian)端子對應連(lian)接(jie)。

注：整個測試過程不用倒線。

3、三(san)繞組變壓器可以將高低壓繞組測試(shi)完后(hou)，將高壓測試(shi)線（較(jiao)長的）的四個(ge)測試(shi)鉗倒(dao)接(jie)到(dao)中壓側測試(shi)即可。

4、單(dan)相(xiang)變壓(ya)器使用將高壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)（較長的(de)）中黃色(se)和(he)綠色(se)的(de)測(ce)試(shi)鉗接(jie)(jie)到單(dan)相(xiang)變壓(ya)器的(de)高壓(ya)側(ce)，低壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)（較短的(de)）中黃色(se)和(he)綠色(se)的(de)測(ce)試(shi)鉗接(jie)(jie)到單(dan)相(xiang)變壓(ya)器的(de)低壓(ya)側(ce)，測(ce)試(shi)線(xian)另一端與(yu)儀器的(de)接(jie)(jie)線(xian)端子對應連接(jie)(jie)。

5、儀器配套的專用(yong)測試線已經將電流、電壓(ya)線設(she)計(ji)到同(tong)一鉗口上，接(jie)線簡單(dan)方便。

三回路直流電阻(zu)測試(shi)儀需要(yao)注意什(shen)么五、使用說明

1、儀器開機(ji)顯示畫(hua)面（如圖二）

系統初始化完畢后，儀器自動進入主菜(cai)單(dan)界面

2、主(zhu)菜單（如圖三）

在此界面下(xia)，“←”、“→”、“↑”、“↓”均可移動光標，棕色(se)變大菜單為選中狀(zhuang)態，按“確認”鍵進入所(suo)選菜單。

3、直阻(zu)測試菜單（如圖四）

3.1參數(shu)設置界面

用 “←”、“→”移動光標（光標可循環移動，以便用戶(hu)快速(su)選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵修(xiu)改(gai)參(can)數(shu)，按“確認”鍵保存當前(qian)參(can)數(shu)并進(jin)入下(xia)一界(jie)(jie)面，按“返回”鍵將返回上一界(jie)(jie)面。

3.2、三相變壓器測試(shi)

如(ru)在圖四(si)中“變壓器相數”設置(zhi)為3，儀器(qi)將進行三相變壓器(qi)的測量。

測量高(gao)壓或中(zhong)壓繞(rao)組時儀(yi)器將顯示(shi)圖(tu)五界面(mian)，測量低壓繞(rao)組時將顯示(shi)圖(tu)六界面(mian)，供用(yong)戶選(xuan)擇測試方案。

3.2.1測試方(fang)案選擇

兩界(jie)面中，用 “↑”“↓”“←”、“→”移(yi)動(dong)(dong)光(guang)標（光(guang)標可循環移(yi)動(dong)(dong)，以便用戶快速(su)選擇），棕色底色菜單為選中狀態，按“確認”鍵(jian)進入測量界(jie)面，如按返回(hui)鍵(jian)將(jiang)返回(hui)上一界(jie)面。

兩界面(mian)中，用(yong) “↑”“↓”“←”、“→”移(yi)動(dong)光(guang)標(biao)（光(guang)標(biao)可循環移(yi)動(dong)，以便用(yong)戶快速選(xuan)(xuan)擇），棕色(se)底色(se)菜單為選(xuan)(xuan)中狀態，按(an)“確認”鍵進入(ru)測量界面(mian)，如按(an)返回鍵將返回上(shang)一界面(mian)。

3.2.2 測(ce)試過程

1） 高(gao)、中壓單相測(ce)試

如在(zai)圖五中選(xuan)擇“單相測(ce)試……”，儀器將進入圖七界面

用(yong) “←”、“→”移動光標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選(xuan)擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)(jian)修改參(can)數（分接位與測試電流為可修改項），按“確(que)認(ren)”鍵(jian)(jian)即可開始測試儀器(qi)將(jiang)進入圖(tu)八(ba)～圖(tu)十界(jie)面，如(ru)按返(fan)回鍵(jian)(jian)將(jiang)返(fan)回上一界(jie)面。

充(chong)電完成后，界面(mian)底部提示進入(ru)第2狀態“2、測試(shi)中(zhong)”，第2狀態后將進入(ru)第三狀態“3、實時(shi)測(ce)量”如圖(tu)十

“←”、“→”鍵可(ke)修改(gai)分接位置(zhi)，用“↑”、“↓”移動光(guang)標（光(guang)標可(ke)循環移動，以(yi)便用戶快速(su)選擇），按確認(ren)鍵執行所選操(cao)作(zuo)。等(deng)測(ce)試數據(ju)穩(wen)定后，按“打(da)印(yin)”則屏(ping)幕顯示的(de)測(ce)量值及先前設(she)置(zhi)的(de)參數將(jiang)(jiang)一同打(da)印(yin)，如按保(bao)存，屏(ping)幕將(jiang)(jiang)彈出保(bao)存窗口提示選擇存儲器（如圖十(shi)一）

用“↑”、“↓”移動(dong)光標(biao)，按確認(ren)鍵(jian)保(bao)(bao)存，保(bao)(bao)存任(ren)務(wu)完成后儀器自(zi)動(dong)回(hui)到(dao)測試(shi)界面，也可不(bu)保(bao)(bao)存，按返回(hui)鍵(jian)即可回(hui)到(dao)測試(shi)界面。

如果(guo)是有載調(diao)壓繞組(zu)，可(ke)(ke)(ke)以調(diao)到下(xia)一(yi)分接(jie)位(wei)(wei)，屏幕數據(ju)(ju)自(zi)動跟蹤測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)，“←”、“→”改(gai)變屏幕的(de)分接(jie)位(wei)(wei)置(zhi)，測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)數據(ju)(ju)穩定后，按(an)“保存(cun)(cun)”數據(ju)(ju)就可(ke)(ke)(ke)以保存(cun)(cun)到設置(zhi)的(de)分接(jie)位(wei)(wei)置(zhi)了。如果(guo)對(dui)屏幕顯(xian)示(shi)數據(ju)(ju)有疑(yi)問，可(ke)(ke)(ke)以按(an)“重(zhong)復測(ce)(ce)(ce)(ce)”，儀器將重(zhong)新測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)流(liu)(liu)(liu)電(dian)壓信號，計(ji)算(suan)阻值。一(yi)組(zu)數據(ju)(ju)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)完畢后，按(an)“停止測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)”，屏幕提示(shi)“正在(zai)放電(dian)”，并(bing)顯(xian)示(shi)放電(dian)電(dian)流(liu)(liu)(liu)。放電(dian)結束后，屏幕重(zhong)新回到圖七開始測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)界面(mian)，可(ke)(ke)(ke)以更改(gai)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)流(liu)(liu)(liu)或(huo)分接(jie)位(wei)(wei)置(zhi)（測(ce)(ce)(ce)(ce)量低壓繞組(zu)時也可(ke)(ke)(ke)修改(gai)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)相）繼續測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)或(huo)返回上一(yi)界面(mian)選擇其它(ta)項目進行測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。

2）高、中壓三(san)相(xiang)測試

如在圖(tu)(tu)五(wu)中選擇(ze)“三相測試……”，儀器將進(jin)入(ru)圖(tu)(tu)十二界面

用(yong) “←”、“→”移動光(guang)標（光(guang)標可循(xun)環移動，以便用(yong)戶快(kuai)速選(xuan)擇），“↑”、“↓”鍵修(xiu)改(gai)參數(shu)（分接位與測試電流為可修(xiu)改(gai)項），按“確認”鍵即可開(kai)始測試，如按返(fan)回鍵將返(fan)回上一界面。

三相(xiang)測(ce)試過程，儀器將(jiang)先對(dui)AO相加電(dian)，測量出(chu)AO相電阻(zu)值，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)如圖十三(san)

儀器(qi)自動判斷(duan)阻值(zhi)穩(wen)定(ding)后(hou)(hou)（也可手動判斷(duan)，點擊(ji)“繼續下一步”即(ji)可放(fang)(fang)電(dian)(dian)，放(fang)(fang)電(dian)(dian)完成后(hou)(hou)切換到三相(xiang)充(chong)電(dian)(dian)），開始放(fang)(fang)電(dian)(dian)，放(fang)(fang)電(dian)(dian)完成后(hou)(hou)自動切換到三相(xiang)充(chong)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流，待電(dian)(dian)流穩(wen)定(ding)后(hou)(hou)自動計算三相(xiang)阻值(zhi)（帶中性點）如（圖(tu)十四～圖(tu)十五）。

充電完(wan)成后(hou)，界面底部提示進入第(di)2狀態“2、測(ce)試中”，第2狀態(tai)完成(cheng)后將(jiang)進入實時測(ce)量狀態(tai)如圖十五

“←”、“→”鍵(jian)可修改(gai)分(fen)接位置(zhi)，用(yong)“↑”、“↓”移動(dong)光標(biao)（光標(biao)可循環(huan)移動(dong)，以便用(yong)戶(hu)快速(su)選(xuan)擇），按(an)確認鍵(jian)執行所選(xuan)操作。等測試(shi)數(shu)據(ju)穩(wen)定(ding)后，按(an)“打印(yin)”則屏幕顯(xian)示(shi)的測量值(zhi)及(ji)先前設置(zhi)的參數(shu)將一同打印(yin)，如按(an)保(bao)(bao)存(cun)，屏幕將彈(dan)出保(bao)(bao)存(cun)窗口(kou)提(ti)示(shi)選(xuan)擇存(cun)儲器（請參照單相測試(shi)保(bao)(bao)存(cun)方法）。

如果(guo)是(shi)有(you)(you)載調(diao)(diao)壓繞(rao)組，可(ke)以(yi)(yi)調(diao)(diao)到(dao)下(xia)一(yi)分接(jie)位(wei)，屏幕數據(ju)自動(dong)跟蹤測(ce)試，“←”、“→”改(gai)變屏幕的(de)(de)分接(jie)位(wei)置(zhi)，測(ce)試數據(ju)穩定后(hou)，按“保存”將數據(ju)保存到(dao)顯(xian)示(shi)分接(jie)位(wei)置(zhi)的(de)(de)值。調(diao)(diao)整有(you)(you)載分接(jie)開關，調(diao)(diao)到(dao)下(xia)一(yi)個分接(jie)，儀(yi)器(qi)跟蹤測(ce)試阻值并(bing)顯(xian)示(shi)出來。也可(ke)以(yi)(yi)按“重復測(ce)”重新(xin)采集電壓電流(liu)信(xin)號(hao)，進行(xing)計算。按“←”、“→”鍵(jian)調(diao)(diao)整儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)的(de)(de)分接(jie)位(wei)置(zhi)，等數據(ju)穩定后(hou)，按“保存”將數據(ju)保存到(dao)顯(xian)示(shi)分接(jie)位(wei)置(zhi)的(de)(de)值。一(yi)直測(ce)完(wan)所(suo)有(you)(you)分接(jie)，然后(hou)選(xuan)擇“停(ting)止測(ce)試”按鈕，按“確認(ren)”鍵(jian)開始放電，等放電結束，儀(yi)器(qi)回到(dao)圖十二測(ce)試界面，可(ke)以(yi)(yi)更改(gai)測(ce)試電流(liu)繼續測(ce)試或返回上(shang)一(yi)界面選(xuan)擇其它項目進行(xing)測(ce)試。

3）低壓繞組(zu)測(ce)試

如在圖(tu)六(liu)中選擇(ze)“四點法測試(shi)”儀器將進入圖(tu)十(shi)六(liu)界(jie)面

用(yong) “←”、“→”移動(dong)(dong)光標（光標可循環移動(dong)(dong)，以(yi)便用(yong)戶快速選(xuan)擇(ze)），“↑”、“↓”鍵修改參數（分接位、測試電(dian)流與測試相為可修改項），按(an)“確認”鍵即可開始測試，如按(an)返回鍵將(jiang)返回上(shang)一界面。

低壓繞組具體測試、打印(yin)和保存過程(cheng)請參照高、中壓單相測試過程(cheng)。

注(zhu)意事項

為了確保儀器的(de)工作**可靠，請注意以下幾點(dian):

1、對無(wu)載(zai)調壓繞組(zu)，不(bu)允(yun)許(xu)在測試過程中或未放完(wan)電時(shi)切(qie)換無(wu)載(zai)分接開關。

2、對(dui)感抗(kang)性(xing)測試對(dui)象，在沒有放完電(蜂(feng)鳴器鳴響時)的(de)情況下(xia)，不(bu)允許拆除測試線。

3、測試過(guo)程中遇到外部AC220V突然斷電，儀器將(jiang)開始(shi)自動(dong)放(fang)電，此時不允許立即拆除測試線，5分鐘(zhong)后方可拆除測試(shi)線。

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