**章(zhang) WBXC-1000蓄電池內阻測試機簡介

1. 說明

本手冊為WBXC-1000蓄(xu)電(dian)池內阻測試儀的使用(yong)(yong)指(zhi)南，請(qing)在(zai)操作(zuo)使用(yong)(yong)測試儀前(qian)仔細(xi)閱讀本手冊。

2. WBXC-1000蓄(xu)電池內(nei)阻(zu)測(ce)試機(ji)主機部件

2. 1  USB接口(kou)：用來通過U盤上傳測試數(shu)據和下載參數(shu)；

2. 2  測(ce)(ce)試接口：連接測(ce)(ce)試夾具；

2. 3  充(chong)電接口：連接充(chong)電器；

2. 4  LCD：320*240彩色(se)TFT液晶屏(ping)；

2. 5  鍵盤：共7個(ge)按鍵(jian)。定義如表一。

3. WBXC-1000蓄(xu)電(dian)池內阻(zu)測試機主要功能特點(dian)

可(ke)對蓄電池電壓(ya)、內阻、容量進(jin)行測試(shi)；

可以作為電壓表使用,測試電(dian)池電(dian)壓；

可對不同電(dian)壓(ya)等級(ji)的(de)蓄電(dian)池進行自動切換(huan)；

可對蓄電(dian)池進行(xing)容量測算；

測試數據同步存儲；

對判(pan)別結果進行聲音提示；

電(dian)池充(chong)電(dian)狀(zhuang)態指示；

本機電池電壓實時顯示；

無操作自動待機；

測(ce)試數據記(ji)錄存儲；

通過(guo)u盤和(he)分析(xi)軟件(jian)系統進行數據(ju)交換。

4. WBXC-1000蓄(xu)電(dian)池內(nei)阻測(ce)試機(ji)技術指標

**章 WBXC-1000蓄電池內阻測試機內阻測試(shi)說明  

電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)內部阻(zu)抗(kang)，也稱為內阻(zu)，是(shi)一(yi)項影響電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性能(neng)的(de)關鍵指標。測試電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)內阻(zu)以判斷電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)供(gong)電(dian)(dian)(dian)能(neng)力已(yi)經是(shi)業內的(de)共識(shi)。影響電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)內阻(zu)的(de)因素(su)有：電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)尺寸、工作時間、結構、狀況、溫度和充電(dian)(dian)(dian)狀態。

對于(yu)一個充(chong)(chong)滿電(dian)(dian)的(de)電(dian)(dian)池(chi)，當電(dian)(dian)池(chi)放電(dian)(dian)時，其內阻逐步緩(huan)慢(man)增大；當電(dian)(dian)池(chi)放電(dian)(dian)達(da)到一定程度后，內阻的(de)變化量(liang)才急速增大；當電(dian)(dian)池(chi)放完電(dian)(dian)后，其電(dian)(dian)阻比(bi)完全充(chong)(chong)電(dian)(dian)狀態時大2~5倍。

電(dian)池溫度也影響內(nei)阻的測量(liang)，但只(zhi)在冰點以(yi)下才(cai)比較明顯。在32℉以下，溫度對內(nei)阻的影(ying)響很大，在-20℉時的內阻是原來的兩倍(bei)。這就是為何(he)在冬季電池的能(neng)量要(yao)小(xiao)很多。

電(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)使用時(shi)間也會(hui)(hui)影(ying)響其內(nei)阻(zu)。電(dian)(dian)池(chi)使用時(shi)間越(yue)長，隨著鹽化(hua)增加(jia)內(nei)阻(zu)越(yue)大。內(nei)阻(zu)增加(jia)的(de)(de)多少與電(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)使用和(he)維護方法有關。電(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)整(zheng)體狀況(kuang)（例如機械裝置失(shi)效）也會(hui)(hui)影(ying)響電(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)內(nei)阻(zu)。某些(xie)失(shi)效模(mo)式會(hui)(hui)使電(dian)(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)增加(jia)。

由于(yu)不同廠家(jia)在生產電池時，工(gong)藝(yi)、配(pei)方的(de)不同，造成(cheng)同樣容(rong)量的(de)電池內(nei)阻(zu)(zu)有所差異，對電池好壞的(de)判斷不應完全拘(ju)泥于(yu)電池內(nei)阻(zu)(zu)的(de)**值，還應參考電池內(nei)阻(zu)(zu)的(de)變化(hua)趨勢。當電池內(nei)阻(zu)(zu)超過初始(shi)內(nei)阻(zu)(zu)的(de)1.25倍時(shi)，電(dian)池就已經不(bu)能(neng)通(tong)過測(ce)試，當電(dian)池內阻(zu)變(bian)化到初始內阻(zu)的2倍(bei)后(hou)，電(dian)池(chi)結構容量就(jiu)不足(zu)80%。

本內(nei)阻(zu)(zu)儀的(de)(de)(de)采用(yong)瞬間放電(dian)法對電(dian)池(chi)(chi)進行內(nei)阻(zu)(zu)測量。對蓄電(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)(de)實(shi)際工(gong)作(zuo)情況(kuang)進行分(fen)析研(yan)究可(ke)以發現(xian)，蓄電(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)(de)端(duan)口對外電(dian)路呈現(xian)阻(zu)(zu)抗(kang)特(te)性。在實(shi)際的(de)(de)(de)使用(yong)中，蓄電(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)(de)電(dian)極，連接線(xian)等構成的(de)(de)(de)電(dian)感，由于使用(yong)頻(pin)率低，引(yin)線(xian)短，電(dian)感很微弱，一般在分(fen)析和研(yan)究中不予考慮。

一般我們都將蓄電(dian)(dian)池的(de)電(dian)(dian)阻(zu)分(fen)為(wei)金(jin)屬(shu)電(dian)(dian)阻(zu)，也(ye)即是(shi)歐姆(mu)電(dian)(dian)阻(zu)；電(dian)(dian)化(hua)(hua)學電(dian)(dian)阻(zu)，包括(kuo)電(dian)(dian)化(hua)(hua)學反(fan)應電(dian)(dian)阻(zu)和粒子濃差極化(hua)(hua)電(dian)(dian)阻(zu)。關于容抗部(bu)分(fen)，法拉第電(dian)(dian)容因為(wei)其恒壓(ya)特性，可(ke)以將其等效為(wei)一個電(dian)(dian)壓(ya)源。另外，將其他容抗都等效變化(hua)(hua)為(wei)多個電(dian)(dian)容并聯(lian)形式，則電(dian)(dian)池的(de)等效模型可(ke)以簡化(hua)(hua)如圖1所示。

Rm為金(jin)(jin)屬電(dian)(dian)阻，這部分(fen)(fen)(fen)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻只(zhi)是隨著金(jin)(jin)屬的(de)(de)(de)腐蝕(shi)、蠕變(bian)(bian)、硫化(hua)等(deng)因(yin)素而緩慢地變(bian)(bian)化(hua)著。電(dian)(dian)化(hua)學(xue)電(dian)(dian)阻Re則是隨著容(rong)(rong)量(liang)的(de)(de)(de)狀態(tai)而時(shi)(shi)刻發生著變(bian)(bian)化(hua)的(de)(de)(de)，但是這部分(fen)(fen)(fen)的(de)(de)(de)變(bian)(bian)化(hua)又為并(bing)聯著的(de)(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)(rong)的(de)(de)(de)容(rong)(rong)抗(kang)變(bian)(bian)化(hua)所掩蓋著。在交流(liu)(liu)(liu)情(qing)況下，由(you)(you)于電(dian)(dian)容(rong)(rong) C 比較大，大部分(fen)(fen)(fen)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)流(liu)(liu)(liu)經電(dian)(dian)容(rong)(rong)，而 Re上分(fen)(fen)(fen)流(liu)(liu)(liu)較少，此時(shi)(shi)檢測(ce)到的(de)(de)(de)實際上是由(you)(you)Rm和C串聯的(de)(de)(de)阻抗(kang)，而 Re被忽(hu)略了。為了避開(kai)C的(de)(de)(de)分(fen)(fen)(fen)流(liu)(liu)(liu)，直(zhi)接由(you)(you)電(dian)(dian)池產生一個瞬時(shi)(shi)的(de)(de)(de)大放電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，然后測(ce)出電(dian)(dian)池極柱上電(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)瞬間變(bian)(bian)化(hua)，如圖2所示(shi)，通過(guo)負(fu)載接通時(shi)(shi)的(de)(de)(de)瞬間電(dian)(dian)壓(ya)降和斷開(kai)負(fu)載時(shi)(shi)的(de)(de)(de)瞬間電(dian)(dian)壓(ya)恢復(fu)可以推導出相應的(de)(de)(de)內阻。

在瞬間直流情(qing)況下(xia)，蓄(xu)電池(chi)的等效模型(xing)可以認(ren)為是(shi)一個電壓源和內(nei)阻串聯(lian) (戴維南(nan)等效模型(xing) )所構成，如圖3所示。

ΔU=RinternalI從而有Rinternal=ΔU/I

從理(li)論上說，在這(zhe)里ΔU 有兩個，一個是(shi)(shi)(shi)給試驗(yan)電(dian)路加上負載的(de)瞬間，電(dian)池(chi)電(dian)壓(ya)(ya)跌落值(zhi)，另外(wai)一個就是(shi)(shi)(shi)斷(duan)開負載的(de)瞬間，電(dian)池(chi)電(dian)壓(ya)(ya)的(de)恢(hui)復(fu)值(zhi)。但是(shi)(shi)(shi)，由(you)于實驗(yan)過程中，在合閘瞬間，電(dian)壓(ya)(ya)和電(dian)流都容易引(yin)入(ru)很大(da)的(de)沖擊(ji)，導致(zhi)較大(da)的(de)誤差，所(suo)以這里統一采用電(dian)壓(ya)(ya)的(de)恢(hui)復(fu)值(zhi)，而此時電(dian)流也基本上達到了(le)穩態。

本內(nei)阻(zu)儀(yi)可以測量(liang)(liang)電(dian)壓、內(nei)阻(zu)，估算出電(dian)池剩余(yu)容(rong)量(liang)(liang)。

第三章 使用方(fang)法                                            

1. 準備(bei)

將(jiang)測(ce)試線和(he)內阻(zu)儀通過插頭連接起來。

本機電(dian)池應該充(chong)滿電(dian)。

2. 目視檢查

使用(yong)測(ce)試儀測(ce)試前應(ying)對被測(ce)電池進行如下檢查：

待測電(dian)池盒是否破裂(lie)。

待測電(dian)池單元蓋是否破裂。

待測電池(chi)盒與電池(chi)單(dan)元蓋的密封情況(kuang)。

待測電池接頭或接線柱是(shi)否被(bei)腐蝕。

待測電(dian)池(chi)壓板是否過松或過緊而使電(dian)池(chi)內部破裂。

待測電(dian)池上部(bu)污垢或導(dao)電(dian)酸。

電纜(lan)或(huo)導(dao)線磨損、斷裂或(huo)損壞。

待測電池接(jie)頭被腐蝕或(huo)過(guo)松(song)。

3. 注意事項(xiang)

使用本內阻儀進行測試時，應(ying)觀(guan)察所有設備制造商(shang)的注意事項和警告。

測試前應仔細檢(jian)查(cha)所(suo)有測試引線的連接(jie)。

確認測試夾(jia)牢靠連接(jie)在電池的接(jie)線柱上(shang)。

確認正極(ji)和負(fu)極(ji)正確連接(jie)在電池的接(jie)線柱上(shang)。

如果極性接(jie)反或(huo)未連接(jie)，電壓將顯示為零(ling)。

電池夾(jia)(jia)必須與電池連接(jie)牢固。否則將(jiang)出現錯誤診斷(duan)。對于接(jie)線(xian)柱在側面的(de)(de)電池，將(jiang)測試夾(jia)(jia)夾(jia)(jia)在圓形電纜的(de)(de)接(jie)線(xian)端(duan)(duan)，而不是方形電纜的(de)(de)接(jie)線(xian)端(duan)(duan)。為了確保連接(jie)牢固，必要時可拆下電池夾(jia)(jia)螺栓，并(bing)用一個(ge)側面轉接(jie)接(jie)頭代替。安裝前檢(jian)查接(jie)線(xian)柱間隙是否足夠。

4. 電池測試(shi)

按下鍵(jian)1秒鐘(zhong),即可打(da)開測試儀電(dian)源。自動進(jin)入【電(dian)池測試】界面。

在【電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)(ce)試】界(jie)面下(xia)，按Enter鍵進(jin)行電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)(ce)試，按左右(you)鍵進(jin)行菜(cai)單(dan)切換，序號表示(shi)當前(qian)保存的序號值(zhi)；右(you)上角的圖標顯示(shi)內(nei)部鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)電(dian)(dian)量(liang)(liang)；電(dian)(dian)壓顯示(shi)被測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)電(dian)(dian)壓值(zhi)；內(nei)阻為被測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)內(nei)阻數(shu)值(zhi)（單(dan)位mΩ）；容(rong)量(liang)(liang)為被測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)剩余容(rong)量(liang)(liang)百分比(bi)；溫(wen)度是當前(qian)環境溫(wen)度；型號為所測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)安時數(shu)，通(tong)過上下(xia)鍵選擇，當“型號”變為“基(ji)值(zhi)”時，此(ci)時表示(shi)根(gen)據電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)的基(ji)值(zhi)（蓄電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)滿(man)容(rong)量(liang)(liang)內(nei)阻值(zhi)）進(jin)行測(ce)(ce)量(liang)(liang)，用戶可(ke)在“系(xi)統設置(zhi)”菜(cai)單(dan)中(zhong)的“基(ji)值(zhi)設定”設定電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)的基(ji)值(zhi)。

說明：鍵(jian)即為電(dian)(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)鍵(jian),電(dian)(dian)源(yuan)關(guan)閉時按(an)下可打開(kai)電(dian)(dian)源(yuan),電(dian)(dian)源(yuan)關(guan)閉狀(zhuang)態(tai)下按(an)鍵(jian)可打開(kai)電(dian)(dian)源(yuan),每次按(an)下時間需(xu)持續(xu)1秒以上方為有效(xiao)。

5. 歷史記錄

在(zai)【電池測試】界面下按(an)←、→ 鍵進入【歷史記錄】界面。

歷史記錄顯(xian)示從*新保存(cun)值(zhi)開始排列，按↑↓鍵(jian)進行翻頁(ye)操作

6. 系統設(she)置

在(zai)【電池測試】或者【歷(li)史記錄】界面下按(an)←、→ 鍵進入【參數(shu)系統】界面，按(an)Enter鍵清楚所有(you)保(bao)存的數(shu)據！

其(qi)中，【基值(zhi)(zhi)設(she)(she)定】設(she)(she)定蓄(xu)(xu)電(dian)池滿容量(liang)內阻(zu)值(zhi)(zhi)，例如(ru)某品牌(pai)2V 300Ah蓄(xu)(xu)電(dian)池滿容量(liang)內阻(zu)值(zhi)(zhi)為(wei)650微(wei)歐，該值(zhi)(zhi)由蓄(xu)(xu)電(dian)池廠(chang)家(jia)提(ti)供；【時(shi)間(jian)設(she)(she)置】設(she)(she)置系統日(ri)期和(he)時(shi)間(jian)；【數據處理】數據保(bao)存至U盤(pan)及本機數據**，寫(xie)入(ru)U盤(pan)時(shi)保(bao)存為(wei)NZY_V20.TXT文件；【出廠(chang)設(she)(she)置】由廠(chang)家(jia)設(she)(she)置，客戶(hu)一般不(bu)需要進行設(she)(she)置。

7. 提示音說明

開機(ji)是蜂(feng)鳴器發出(chu)短促(cu)的“嘟”聲。

在【電池(chi)測試】界面下按(an)Enter鍵(jian)進行電池(chi)測試，測試開始與結(jie)束時蜂(feng)鳴器(qi)發出短促的“嘟”聲。

當(dang)內部(bu)溫(wen)度高(gao)于一定值時內阻儀需要進行散熱冷卻，蜂鳴(ming)器發出(chu)連續的“嘟-嘟(du)”聲，此時(shi)電(dian)池(chi)測試被禁用，等待冷卻以后蜂鳴器發出短促(cu)的“嘟(du)”聲，此時(shi)可繼續進行(xing)電(dian)池(chi)測試。

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