**章 WBXC-1000內阻分析(xi)儀簡(jian)介(jie)

1. 說(shuo)明

本(ben)手冊為WBXC-1000蓄(xu)電(dian)池內阻(zu)測(ce)試(shi)儀的使用(yong)指(zhi)南，請在操作使用(yong)測(ce)試(shi)儀前仔細閱讀本手冊。

2. WBXC-1000內阻分析儀主機部(bu)件

2. 1  USB接(jie)口：用(yong)來(lai)通過U盤上傳測試數(shu)據和下載參數(shu)；

2. 2  測試接(jie)口：連(lian)接(jie)測試夾具；

2. 3  充電(dian)接(jie)口：連接(jie)充電(dian)器；

2. 4  LCD：320*240彩色TFT液晶屏；

2. 5  鍵盤：共7個按鍵(jian)。定義如表一。

3. WBXC-1000內阻分析儀主要功能特點(dian)

可對蓄電(dian)池電(dian)壓、內阻、容量進行(xing)測(ce)試；

可(ke)以作為電壓表使用,測試電池電壓；

可對不同電(dian)壓等(deng)級(ji)的蓄電(dian)池進行自動切換(huan)；

可(ke)對蓄(xu)電池進行容量(liang)測算；

測(ce)試數據(ju)同步存儲；

對判別結果進(jin)行聲音(yin)提示；

電(dian)池(chi)充電(dian)狀態指示(shi)；

本機電池電壓實時顯示；

無(wu)操作自動待機；

測試數據記錄存儲；

通(tong)過u盤(pan)和分析軟件系統進行數據交換。

4. WBXC-1000內阻分析儀(yi)技(ji)術指標

**章 WBXC-1000內阻分(fen)析儀內阻(zu)測試說(shuo)明  

電(dian)池(chi)(chi)內部阻(zu)抗，也稱為內阻(zu)，是一項影(ying)響(xiang)電(dian)池(chi)(chi)性能的關鍵(jian)指標。測試電(dian)池(chi)(chi)內阻(zu)以(yi)判斷電(dian)池(chi)(chi)供電(dian)能力已經是業內的共(gong)識。影(ying)響(xiang)電(dian)池(chi)(chi)內阻(zu)的因(yin)素有：電(dian)池(chi)(chi)尺寸、工作時間、結(jie)構、狀況、溫度和充電(dian)狀態。

對于(yu)一個(ge)充滿(man)電(dian)的電(dian)池(chi)，當(dang)電(dian)池(chi)放(fang)(fang)電(dian)時，其內阻逐步緩慢增大；當(dang)電(dian)池(chi)放(fang)(fang)電(dian)達到一定程度后，內阻的變化量才急速增大；當(dang)電(dian)池(chi)放(fang)(fang)完電(dian)后，其電(dian)阻比完全充電(dian)狀(zhuang)態時大2~5倍。

電(dian)池溫度也(ye)影響內阻的測(ce)量，但只在冰點以下才比(bi)較(jiao)明顯。在32℉以下，溫度(du)對(dui)內阻(zu)的影響很大，在-20℉時的內(nei)阻是原來的兩倍。這(zhe)就是為何(he)在(zai)冬季(ji)電池的能量要小很多。

電池(chi)的(de)使(shi)用(yong)時間(jian)也會影響(xiang)其內(nei)阻(zu)。電池(chi)使(shi)用(yong)時間(jian)越(yue)長，隨著鹽化增(zeng)加(jia)內(nei)阻(zu)越(yue)大(da)。內(nei)阻(zu)增(zeng)加(jia)的(de)多少與電池(chi)的(de)使(shi)用(yong)和(he)維護(hu)方法有(you)關。電池(chi)的(de)整(zheng)體(ti)狀況（例如機械裝(zhuang)置失(shi)(shi)效）也會影響(xiang)電池(chi)的(de)內(nei)阻(zu)。某些失(shi)(shi)效模式(shi)會使(shi)電池(chi)內(nei)阻(zu)增(zeng)加(jia)。

由于(yu)不同廠家在生產電(dian)(dian)池(chi)(chi)時，工藝、配方的(de)(de)不同，造成同樣(yang)容量的(de)(de)電(dian)(dian)池(chi)(chi)內阻有所差(cha)異，對電(dian)(dian)池(chi)(chi)好壞的(de)(de)判斷(duan)不應(ying)完全拘泥于(yu)電(dian)(dian)池(chi)(chi)內阻的(de)(de)**值，還(huan)應(ying)參考電(dian)(dian)池(chi)(chi)內阻的(de)(de)變化趨(qu)勢。當(dang)電(dian)(dian)池(chi)(chi)內阻超(chao)過(guo)初始內阻的(de)(de)1.25倍時，電池就已(yi)經不能(neng)通過測試，當電池內阻(zu)變化到初始內阻(zu)的2倍后，電池結構容量就(jiu)不足80%。

本內阻儀的采用(yong)瞬間(jian)放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)法對(dui)(dui)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)進行(xing)內阻測量。對(dui)(dui)蓄電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的實際(ji)工作情況進行(xing)分(fen)析研究可以發現，蓄電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的端(duan)口對(dui)(dui)外(wai)電(dian)(dian)(dian)(dian)路呈現阻抗特性。在實際(ji)的使(shi)用(yong)中，蓄電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的電(dian)(dian)(dian)(dian)極，連接線(xian)等構成的電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)，由(you)于(yu)使(shi)用(yong)頻率低，引線(xian)短(duan)，電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)很微弱，一般在分(fen)析和研究中不(bu)予考慮(lv)。

一(yi)般我們(men)都(dou)將蓄(xu)電(dian)(dian)池的電(dian)(dian)阻(zu)分(fen)為(wei)金(jin)屬(shu)電(dian)(dian)阻(zu)，也即是歐姆(mu)電(dian)(dian)阻(zu)；電(dian)(dian)化(hua)學電(dian)(dian)阻(zu)，包括電(dian)(dian)化(hua)學反應電(dian)(dian)阻(zu)和粒(li)子濃差極化(hua)電(dian)(dian)阻(zu)。關于(yu)容抗部分(fen)，法拉第(di)電(dian)(dian)容因為(wei)其(qi)恒壓特性，可以將其(qi)等效(xiao)(xiao)為(wei)一(yi)個電(dian)(dian)壓源。另外，將其(qi)他容抗都(dou)等效(xiao)(xiao)變(bian)化(hua)為(wei)多個電(dian)(dian)容并聯形式，則(ze)電(dian)(dian)池的等效(xiao)(xiao)模型可以簡化(hua)如(ru)圖(tu)1所(suo)示。

Rm為金屬(shu)(shu)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)，這部(bu)分(fen)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)只是(shi)隨著(zhu)(zhu)金屬(shu)(shu)的(de)(de)腐蝕、蠕變(bian)、硫化(hua)等因素而(er)緩慢地變(bian)化(hua)著(zhu)(zhu)。電(dian)(dian)(dian)化(hua)學電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)Re則是(shi)隨著(zhu)(zhu)容(rong)量的(de)(de)狀(zhuang)態(tai)而(er)時(shi)(shi)刻發生著(zhu)(zhu)變(bian)化(hua)的(de)(de)，但(dan)是(shi)這部(bu)分(fen)的(de)(de)變(bian)化(hua)又(you)為并聯著(zhu)(zhu)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)容(rong)的(de)(de)容(rong)抗變(bian)化(hua)所(suo)掩蓋著(zhu)(zhu)。在交流(liu)情況下(xia)，由于電(dian)(dian)(dian)容(rong) C 比較大(da)，大(da)部(bu)分(fen)電(dian)(dian)(dian)流(liu)流(liu)經電(dian)(dian)(dian)容(rong)，而(er) Re上(shang)分(fen)流(liu)較少，此時(shi)(shi)檢測到的(de)(de)實際上(shang)是(shi)由Rm和(he)C串聯的(de)(de)阻(zu)(zu)抗，而(er) Re被(bei)忽略了(le)。為了(le)避開C的(de)(de)分(fen)流(liu)，直接由電(dian)(dian)(dian)池產生一個瞬(shun)(shun)時(shi)(shi)的(de)(de)大(da)放電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)流(liu)，然(ran)后測出(chu)(chu)電(dian)(dian)(dian)池極柱上(shang)電(dian)(dian)(dian)壓的(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)變(bian)化(hua)，如圖2所(suo)示，通(tong)過(guo)負(fu)載接通(tong)時(shi)(shi)的(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)電(dian)(dian)(dian)壓降和(he)斷開負(fu)載時(shi)(shi)的(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)電(dian)(dian)(dian)壓恢復可以推導出(chu)(chu)相(xiang)應的(de)(de)內阻(zu)(zu)。

在瞬間直(zhi)流情況下，蓄電(dian)池的(de)等效模(mo)型(xing)可以認為是一個電(dian)壓源和內阻串聯 (戴維(wei)南等效模(mo)型(xing) )所構(gou)成，如圖3所示。

ΔU=RinternalI從而有Rinternal=ΔU/I

從理(li)論上說，在這里ΔU 有兩個，一個是(shi)(shi)給(gei)試驗電(dian)(dian)(dian)路加上負載的瞬間，電(dian)(dian)(dian)池電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)跌落值(zhi)，另(ling)外一個就是(shi)(shi)斷開負載的瞬間，電(dian)(dian)(dian)池電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)的恢(hui)復(fu)值(zhi)。但(dan)是(shi)(shi)，由(you)于實驗過程中(zhong)，在(zai)合閘瞬間，電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)和電(dian)(dian)(dian)流都容易引入很大的沖擊，導致較大的誤(wu)差，所以(yi)這里統一采用電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)的恢(hui)復(fu)值(zhi)，而(er)此時電(dian)(dian)(dian)流也基本上達到了穩態。

本內阻(zu)(zu)儀可以測量(liang)電壓、內阻(zu)(zu)，估(gu)算出電池剩(sheng)余(yu)容(rong)量(liang)。

第三章 使用方(fang)法                                            

1. 準備

將(jiang)測(ce)試線和內阻儀通過插頭連接起來。

本機電(dian)池應該充滿(man)電(dian)。

2. 目視檢查

使用測試(shi)儀測試(shi)前應對被測電池進行如下檢查：

待測電池盒是(shi)否破裂。

待測電池單(dan)元蓋是否破裂。

待測電池(chi)盒(he)與電池(chi)單元蓋的密封情(qing)況。

待測電(dian)池接頭或接線柱是否被腐蝕。

待測(ce)電池(chi)壓板(ban)是否過松或過緊而(er)使電池(chi)內部(bu)破裂。

待測電(dian)池上部(bu)污垢或導(dao)電(dian)酸。

電纜或導線磨損、斷(duan)裂或損壞。

待(dai)測電池接頭(tou)被腐蝕或過松。

3. 注意事項

使用本內阻儀(yi)進行測試時(shi)，應觀察所有(you)設備制造商的注意事項和警告。

測(ce)試前應仔細檢查所有測(ce)試引線的連接。

確認(ren)測試夾(jia)牢靠連接在(zai)電池的接線柱上(shang)。

確(que)認正(zheng)(zheng)極和負極正(zheng)(zheng)確(que)連接(jie)在(zai)電池的接(jie)線(xian)柱上。

如果極(ji)性接(jie)反或未連(lian)接(jie)，電壓將顯示(shi)為零。

電(dian)池夾必須與電(dian)池連(lian)接(jie)(jie)牢(lao)固。否則(ze)將(jiang)出現錯誤診(zhen)斷。對(dui)于接(jie)(jie)線柱在(zai)側面的(de)電(dian)池，將(jiang)測試夾夾在(zai)圓形(xing)電(dian)纜(lan)的(de)接(jie)(jie)線端，而不是(shi)方形(xing)電(dian)纜(lan)的(de)接(jie)(jie)線端。為了(le)確保連(lian)接(jie)(jie)牢(lao)固，必要(yao)時可拆下(xia)電(dian)池夾螺栓(shuan)，并(bing)用一個側面轉接(jie)(jie)接(jie)(jie)頭代(dai)替。安(an)裝前檢查接(jie)(jie)線柱間隙是(shi)否足夠。

4. 電池測試

按下鍵1秒(miao)鐘,即可打開測試儀電源(yuan)。自動進入【電池(chi)測試】界面。

在【電(dian)池(chi)測(ce)(ce)試】界面下，按Enter鍵進行電(dian)池(chi)測(ce)(ce)試，按左右鍵進行菜單(dan)切換，序號(hao)表示(shi)當(dang)前(qian)保(bao)存(cun)的(de)(de)序號(hao)值(zhi)；右上角的(de)(de)圖標(biao)顯(xian)(xian)示(shi)內部鋰電(dian)池(chi)電(dian)量(liang)；電(dian)壓顯(xian)(xian)示(shi)被測(ce)(ce)電(dian)池(chi)電(dian)壓值(zhi)；內阻為(wei)被測(ce)(ce)電(dian)池(chi)內阻數(shu)值(zhi)（單(dan)位(wei)mΩ）；容量(liang)為(wei)被測(ce)(ce)電(dian)池(chi)剩余容量(liang)百分比(bi)；溫度是當(dang)前(qian)環境溫度；型(xing)號(hao)為(wei)所(suo)測(ce)(ce)電(dian)池(chi)安時數(shu)，通過上下鍵選擇，當(dang)“型(xing)號(hao)”變為(wei)“基值(zhi)”時，此時表示(shi)根據電(dian)池(chi)的(de)(de)基值(zhi)（蓄電(dian)池(chi)滿(man)容量(liang)內阻值(zhi)）進行測(ce)(ce)量(liang)，用戶可在“系統設(she)(she)置”菜單(dan)中的(de)(de)“基值(zhi)設(she)(she)定”設(she)(she)定電(dian)池(chi)的(de)(de)基值(zhi)。

說明：鍵(jian)即為電(dian)源(yuan)(yuan)開(kai)(kai)關鍵(jian),電(dian)源(yuan)(yuan)關閉(bi)時(shi)按下可打開(kai)(kai)電(dian)源(yuan)(yuan),電(dian)源(yuan)(yuan)關閉(bi)狀態下按鍵(jian)可打開(kai)(kai)電(dian)源(yuan)(yuan),每次按下時(shi)間(jian)需持續1秒以上方為有效。

5. 歷史(shi)記錄

在【電(dian)池測(ce)試】界面(mian)下按←、→ 鍵(jian)進入【歷(li)史記錄(lu)】界面(mian)。

歷史記錄顯示從*新保存值開始排列，按↑↓鍵進行翻頁操作

6. 系統設置

在【電池測試】或者(zhe)【歷史記錄】界面下(xia)按←、→ 鍵(jian)進入【參數系統】界面，按Enter鍵清楚(chu)所有保存(cun)的(de)數據(ju)！

其中，【基(ji)值(zhi)設(she)(she)定】設(she)(she)定蓄電(dian)池(chi)滿(man)容量內(nei)阻值(zhi)，例如某(mou)品牌2V 300Ah蓄電(dian)池(chi)滿(man)容量內(nei)阻值(zhi)為650微歐，該值(zhi)由蓄電(dian)池(chi)廠(chang)家提(ti)供；【時(shi)間(jian)設(she)(she)置(zhi)】設(she)(she)置(zhi)系統日期(qi)和時(shi)間(jian)；【數據處理】數據保(bao)存至U盤及本(ben)機數據**，寫入(ru)U盤時(shi)保(bao)存為NZY_V20.TXT文件；【出廠(chang)設(she)(she)置(zhi)】由廠(chang)家設(she)(she)置(zhi)，客戶(hu)一般不需(xu)要進行設(she)(she)置(zhi)。

7. 提(ti)示音(yin)說明

開機(ji)是蜂鳴器發(fa)出短促的“嘟(du)”聲(sheng)。

在【電池(chi)測試】界面下按Enter鍵進行電(dian)池(chi)測(ce)試，測(ce)試開始與結束時蜂鳴器發出(chu)短促的“嘟(du)”聲(sheng)。

當內(nei)(nei)部(bu)溫度高于一定值時內(nei)(nei)阻儀需要進行散熱冷卻(que)，蜂鳴器發出連續的“嘟-嘟”聲(sheng)(sheng)，此(ci)時(shi)電(dian)池(chi)測試被禁用，等(deng)待冷卻以(yi)后蜂(feng)鳴器發(fa)出短促的“嘟”聲(sheng)(sheng)，此(ci)時(shi)可繼續進(jin)行電(dian)池(chi)測試。

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