**章 WBXC-1000蓄電池內阻測試裝置簡介

1. 說明

本手冊為WBXC-1000蓄電池內阻測試儀的使用(yong)指南，請在操作使用(yong)測試儀前(qian)仔(zi)細閱讀本手冊。

2. WBXC-1000蓄電(dian)池內阻測試(shi)裝置主機部件

2. 1  USB接口：用來通過U盤上傳測試數(shu)據和下載參(can)數(shu)；

2. 2  測試接(jie)(jie)口：連接(jie)(jie)測試夾具；

2. 3  充電(dian)接口：連接充電(dian)器；

2. 4  LCD：320*240彩色TFT液(ye)晶屏；

2. 5  鍵盤：共7個按鍵。定義如表一。

3. WBXC-1000蓄電池內阻測(ce)試裝(zhuang)置(zhi)主(zhu)要功能特點

可(ke)對蓄(xu)電(dian)池電(dian)壓(ya)、內阻(zu)、容(rong)量(liang)進(jin)行測試；

可以作(zuo)為電壓表使(shi)用,測試電(dian)池電(dian)壓；

可對(dui)不同電壓等級的蓄(xu)電池進行自動切(qie)換；

可對蓄電池進行容量測算；

測(ce)試數據同步存儲；

對判別結果(guo)進行聲音(yin)提示；

電池充(chong)電狀態(tai)指示；

本(ben)機電(dian)池電(dian)壓實時顯(xian)示；

無操作自動待機(ji)；

測(ce)試(shi)數(shu)據記(ji)錄存儲；

通過u盤和(he)分析(xi)軟件系統進行(xing)數據交換。

4. WBXC-1000蓄電池(chi)內阻測試裝置技(ji)術指標(biao)

**章(zhang) WBXC-1000蓄(xu)電池內阻測試裝置內阻(zu)測試說明  

電(dian)(dian)池內部阻(zu)(zu)抗，也稱為內阻(zu)(zu)，是(shi)一項影響電(dian)(dian)池性能的(de)關鍵指標。測試電(dian)(dian)池內阻(zu)(zu)以(yi)判(pan)斷(duan)電(dian)(dian)池供電(dian)(dian)能力已經是(shi)業內的(de)共識(shi)。影響電(dian)(dian)池內阻(zu)(zu)的(de)因素有(you)：電(dian)(dian)池尺(chi)寸(cun)、工作時間、結構、狀況、溫度和充電(dian)(dian)狀態。

對于一個充滿電(dian)的電(dian)池，當(dang)(dang)電(dian)池放電(dian)時(shi)，其內(nei)阻(zu)(zu)逐(zhu)步緩(huan)慢(man)增(zeng)(zeng)大(da)；當(dang)(dang)電(dian)池放電(dian)達到一定程度后，內(nei)阻(zu)(zu)的變化量才急速增(zeng)(zeng)大(da)；當(dang)(dang)電(dian)池放完電(dian)后，其電(dian)阻(zu)(zu)比完全充電(dian)狀態(tai)時(shi)大(da)2~5倍。

電池溫度(du)也(ye)影響(xiang)內(nei)阻的測(ce)量(liang)，但只在冰點以下才比較明顯(xian)。在32℉以下，溫(wen)度對內阻的影響很大(da)，在(zai)-20℉時的(de)(de)內阻是原來的(de)(de)兩倍。這就是為何在冬季電池(chi)的(de)(de)能量要小很多。

電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)的使(shi)用時(shi)間也會影響其內(nei)阻(zu)。電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)使(shi)用時(shi)間越長，隨(sui)著鹽化增(zeng)加(jia)內(nei)阻(zu)越大(da)。內(nei)阻(zu)增(zeng)加(jia)的多少與電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)的使(shi)用和維護(hu)方法有關。電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)的整體狀況（例如機械裝置失(shi)效(xiao)(xiao)）也會影響電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)的內(nei)阻(zu)。某些失(shi)效(xiao)(xiao)模式會使(shi)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)內(nei)阻(zu)增(zeng)加(jia)。

由于(yu)不(bu)同廠家在生(sheng)產(chan)電(dian)(dian)池(chi)時，工(gong)藝、配方的(de)不(bu)同，造成同樣(yang)容量(liang)的(de)電(dian)(dian)池(chi)內阻(zu)有所差異(yi)，對電(dian)(dian)池(chi)好(hao)壞的(de)判斷不(bu)應(ying)完(wan)全拘(ju)泥于(yu)電(dian)(dian)池(chi)內阻(zu)的(de)**值，還應(ying)參(can)考電(dian)(dian)池(chi)內阻(zu)的(de)變化趨(qu)勢。當電(dian)(dian)池(chi)內阻(zu)超過初始內阻(zu)的(de)1.25倍時(shi)，電池就已經不能通過(guo)測試，當電池內阻變化到初始內阻的2倍后(hou)，電池(chi)結構容量(liang)就不足(zu)80%。

本內阻儀的(de)(de)采(cai)用(yong)瞬間放電(dian)法對(dui)電(dian)池進行內阻測量。對(dui)蓄(xu)電(dian)池的(de)(de)實際工作(zuo)情況進行分析研究可以發現，蓄(xu)電(dian)池的(de)(de)端口對(dui)外電(dian)路(lu)呈現阻抗特(te)性(xing)。在實際的(de)(de)使(shi)用(yong)中(zhong)，蓄(xu)電(dian)池的(de)(de)電(dian)極，連接線等構成的(de)(de)電(dian)感(gan)，由于使(shi)用(yong)頻率(lv)低(di)，引(yin)線短，電(dian)感(gan)很微弱，一般在分析和(he)研究中(zhong)不予考(kao)慮(lv)。

一般(ban)我們都將(jiang)蓄電(dian)池的電(dian)阻分為(wei)金屬電(dian)阻，也即是歐姆電(dian)阻；電(dian)化學電(dian)阻，包括電(dian)化學反應電(dian)阻和粒子濃差極化電(dian)阻。關于容(rong)抗部(bu)分，法(fa)拉第電(dian)容(rong)因為(wei)其(qi)恒壓(ya)特(te)性，可(ke)以將(jiang)其(qi)等(deng)(deng)效(xiao)為(wei)一個(ge)電(dian)壓(ya)源。另外，將(jiang)其(qi)他容(rong)抗都等(deng)(deng)效(xiao)變化為(wei)多個(ge)電(dian)容(rong)并聯形式，則電(dian)池的等(deng)(deng)效(xiao)模(mo)型可(ke)以簡化如圖(tu)1所示(shi)。

Rm為(wei)(wei)金屬(shu)電(dian)阻(zu)(zu)，這部分的(de)(de)(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)只是(shi)隨著金屬(shu)的(de)(de)(de)(de)腐蝕(shi)、蠕變(bian)(bian)、硫(liu)化(hua)等因素而緩慢地(di)變(bian)(bian)化(hua)著。電(dian)化(hua)學電(dian)阻(zu)(zu)Re則是(shi)隨著容量的(de)(de)(de)(de)狀態而時(shi)刻發生著變(bian)(bian)化(hua)的(de)(de)(de)(de)，但(dan)是(shi)這部分的(de)(de)(de)(de)變(bian)(bian)化(hua)又為(wei)(wei)并聯著的(de)(de)(de)(de)電(dian)容的(de)(de)(de)(de)容抗變(bian)(bian)化(hua)所掩蓋著。在(zai)交流(liu)(liu)情況下，由(you)于電(dian)容 C 比較大，大部分電(dian)流(liu)(liu)流(liu)(liu)經電(dian)容，而 Re上分流(liu)(liu)較少，此時(shi)檢測到的(de)(de)(de)(de)實(shi)際上是(shi)由(you)Rm和C串聯的(de)(de)(de)(de)阻(zu)(zu)抗，而 Re被忽略了。為(wei)(wei)了避開C的(de)(de)(de)(de)分流(liu)(liu)，直接由(you)電(dian)池產生一(yi)個瞬時(shi)的(de)(de)(de)(de)大放電(dian)電(dian)流(liu)(liu)，然(ran)后測出電(dian)池極柱上電(dian)壓的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)變(bian)(bian)化(hua)，如圖2所示(shi)，通(tong)過(guo)負載(zai)接通(tong)時(shi)的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)電(dian)壓降和斷開負載(zai)時(shi)的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)電(dian)壓恢復可(ke)以推導出相(xiang)應的(de)(de)(de)(de)內阻(zu)(zu)。

在瞬(shun)間直(zhi)流情況下，蓄電池的等效模型可以認為是一個電壓源和內阻串(chuan)聯 (戴維南等效模型 )所構成，如圖3所示。

ΔU=RinternalI從而有(you)Rinternal=ΔU/I

從理論(lun)上說(shuo)，在(zai)這里ΔU 有兩個(ge)，一(yi)個(ge)是給試驗(yan)電(dian)路加上(shang)負(fu)載的(de)瞬間(jian)，電(dian)池(chi)電(dian)壓跌(die)落值，另外(wai)一(yi)個(ge)就(jiu)是斷開(kai)負(fu)載的(de)瞬間(jian)，電(dian)池(chi)電(dian)壓的(de)恢復(fu)值。但是，由于實驗(yan)過程中，在合閘瞬間(jian)，電(dian)壓和電(dian)流都容易(yi)引入很(hen)大的(de)沖擊，導致較大的(de)誤差，所以這(zhe)里統一(yi)采用(yong)電(dian)壓的(de)恢復(fu)值，而(er)此時電(dian)流也基本(ben)上(shang)達到(dao)了穩(wen)態。

本內阻儀可(ke)以測量電(dian)壓、內阻，估算出電(dian)池(chi)剩余容量。

第三章 使(shi)用(yong)方(fang)法(fa)                                            

1. 準備

將測試線和內(nei)阻儀(yi)通過(guo)插頭連接起來(lai)。

本機電池(chi)應該充滿電。

2. 目視檢查

使用測(ce)試(shi)儀測(ce)試(shi)前應對(dui)被(bei)測(ce)電池進行(xing)如(ru)下(xia)檢查：

待測電池盒是否破(po)裂。

待測(ce)電(dian)池單元蓋(gai)是否破裂。

待測電池(chi)盒(he)與電池(chi)單元蓋(gai)的密封(feng)情(qing)況。

待測電池接頭或接線柱是否被腐蝕。

待測電池壓板是(shi)否過(guo)松或(huo)過(guo)緊而使電池內(nei)部破裂(lie)。

待測電池上部污垢或(huo)導電酸。

電(dian)纜或導(dao)線磨損、斷裂或損壞(huai)。

待測電池接(jie)頭被腐蝕(shi)或過松。

3. 注(zhu)意事項

使用本(ben)內阻儀進行(xing)測試(shi)時，應觀察所有(you)設備制(zhi)造(zao)商的注意事項(xiang)和警告。

測(ce)試前(qian)應仔細檢查所有測(ce)試引線的(de)連接。

確認測試夾(jia)牢靠(kao)連接(jie)在電池的接(jie)線柱(zhu)上。

確認正極(ji)和負(fu)極(ji)正確連(lian)接(jie)在電(dian)池的接(jie)線柱上。

如果極(ji)性接反或未連(lian)接，電壓將顯示為零(ling)。

電池(chi)夾(jia)(jia)必須與電池(chi)連(lian)接(jie)(jie)牢固(gu)(gu)。否則(ze)將出現錯誤(wu)診斷。對于接(jie)(jie)線(xian)(xian)柱在(zai)側面(mian)的電池(chi)，將測試夾(jia)(jia)夾(jia)(jia)在(zai)圓形電纜的接(jie)(jie)線(xian)(xian)端(duan)，而(er)不是方形電纜的接(jie)(jie)線(xian)(xian)端(duan)。為了(le)確保連(lian)接(jie)(jie)牢固(gu)(gu)，必要時可拆下電池(chi)夾(jia)(jia)螺栓，并用一(yi)個側面(mian)轉接(jie)(jie)接(jie)(jie)頭代(dai)替。安裝(zhuang)前檢查接(jie)(jie)線(xian)(xian)柱間隙(xi)是否足(zu)夠(gou)。

4. 電池測試

按下鍵1秒鐘,即(ji)可打開測試儀電(dian)源(yuan)。自動進入【電(dian)池測試】界面。

在【電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測(ce)(ce)試】界面(mian)下，按(an)(an)Enter鍵(jian)進行(xing)(xing)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測(ce)(ce)試，按(an)(an)左右鍵(jian)進行(xing)(xing)菜單切換，序號(hao)(hao)表示(shi)當(dang)前(qian)(qian)保(bao)存的(de)(de)序號(hao)(hao)值(zhi)(zhi)；右上角的(de)(de)圖標顯(xian)(xian)示(shi)內(nei)(nei)部鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)電(dian)(dian)量(liang)(liang)；電(dian)(dian)壓(ya)(ya)顯(xian)(xian)示(shi)被測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)值(zhi)(zhi)；內(nei)(nei)阻(zu)為被測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)內(nei)(nei)阻(zu)數值(zhi)(zhi)（單位mΩ）；容(rong)量(liang)(liang)為被測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)剩余(yu)容(rong)量(liang)(liang)百分比；溫(wen)度(du)是當(dang)前(qian)(qian)環(huan)境溫(wen)度(du)；型號(hao)(hao)為所測(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)安時(shi)數，通過(guo)上下鍵(jian)選擇，當(dang)“型號(hao)(hao)”變為“基值(zhi)(zhi)”時(shi)，此(ci)時(shi)表示(shi)根據電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)的(de)(de)基值(zhi)(zhi)（蓄電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)滿容(rong)量(liang)(liang)內(nei)(nei)阻(zu)值(zhi)(zhi)）進行(xing)(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，用戶可在“系統設置(zhi)”菜單中的(de)(de)“基值(zhi)(zhi)設定”設定電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)的(de)(de)基值(zhi)(zhi)。

說(shuo)明：鍵即為電源(yuan)(yuan)開關(guan)鍵,電源(yuan)(yuan)關(guan)閉時(shi)按下可打開電源(yuan)(yuan),電源(yuan)(yuan)關(guan)閉狀態下按鍵可打開電源(yuan)(yuan),每次按下時(shi)間需持續1秒以上方為有效(xiao)。

5. 歷(li)史記錄(lu)

在(zai)【電(dian)池測(ce)試】界面(mian)下按←、→ 鍵(jian)進入(ru)【歷史記錄】界面(mian)。

歷史記錄顯示(shi)從*新保存值(zhi)開始(shi)排列，按(an)↑↓鍵進行翻頁(ye)操作

6. 系統設置(zhi)

在【電池測試】或者【歷(li)史記錄】界(jie)面下按(an)←、→ 鍵進入【參(can)數系統】界(jie)面，按(an)Enter鍵清楚(chu)所有保存的數(shu)據(ju)！

其中，【基值(zhi)(zhi)設(she)(she)(she)定】設(she)(she)(she)定蓄(xu)電池(chi)滿容量(liang)內(nei)阻(zu)值(zhi)(zhi)，例如(ru)某品牌2V 300Ah蓄(xu)電池(chi)滿容量(liang)內(nei)阻(zu)值(zhi)(zhi)為(wei)650微(wei)歐，該值(zhi)(zhi)由蓄(xu)電池(chi)廠家提(ti)供；【時間設(she)(she)(she)置(zhi)】設(she)(she)(she)置(zhi)系(xi)統日期和時間；【數據處理(li)】數據保(bao)存(cun)至U盤及本機數據**，寫入U盤時保(bao)存(cun)為(wei)NZY_V20.TXT文(wen)件(jian)；【出廠設(she)(she)(she)置(zhi)】由廠家設(she)(she)(she)置(zhi)，客戶一般不(bu)需要(yao)進行設(she)(she)(she)置(zhi)。

7. 提示音(yin)說明

開(kai)機是蜂鳴(ming)器發出短促(cu)的“嘟”聲。

在【電(dian)池測試】界面下按Enter鍵進(jin)行(xing)電池測試，測試開始與結束時(shi)蜂(feng)鳴器發出(chu)短促的“嘟(du)”聲(sheng)。

當內部溫度高(gao)于一定值時內阻儀需要(yao)進行散熱(re)冷卻，蜂鳴器(qi)發出連續的“嘟-嘟”聲(sheng)，此時電池測試被禁(jin)用，等待冷卻(que)以后蜂鳴器發出(chu)短促(cu)的“嘟”聲(sheng)，此時可(ke)繼(ji)續(xu)進行電池測試。

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