一、WBJS8000G異頻介質損(sun)耗測試儀(yi)概述

介損測(ce)(ce)量是絕緣試驗中很基(ji)(ji)本(ben)(ben)的(de)方法(fa)，可以有效地發現電器(qi)設備絕緣的(de)整體受潮劣化變質，以及局部(bu)缺陷等。在電工制(zhi)造、電氣(qi)設備安裝、交(jiao)接和預防性試驗中都廣泛應用。變壓器(qi)、互感(gan)器(qi)、電抗器(qi)、電容器(qi)以及套管、避雷器(qi)等介損的(de)測(ce)(ce)量是衡量其(qi)絕緣性能的(de)*基(ji)(ji)本(ben)(ben)方法(fa)。LYJS9000F變頻介質損耗測(ce)試儀突破了傳(chuan)統的(de)電(dian)橋測(ce)量方(fang)式，采(cai)用變頻電(dian)源技術(shu)，利用單(dan)片(pian)機、和現代化(hua)電(dian)子技術(shu)進行自(zi)動(dong)頻率變換、模/數(shu)轉(zhuan)換和數(shu)據運算；達到抗干擾能力強、測試速(su)度快、精度高、全自動數(shu)字化、操作簡便(bian)；電源采用(yong)大(da)功率開關電源，輸出(chu)45Hz和(he)55Hz純正弦(xian)波，自動加壓，可(ke)提供*高10千伏的電壓；自動濾除50Hz干擾(rao)，適用于變電(dian)站(zhan)等(deng)電(dian)磁干擾(rao)大(da)的現場測試。廣泛適用于電(dian)力(li)行業中(zhong)變壓(ya)器(qi)、互感器(qi)、套管、電(dian)容器(qi)、避雷器(qi)等(deng)設(she)備的介(jie)損測量。

二、WBJS8000G異頻(pin)介質損耗測試儀(yi)**措施

1、使(shi)用本儀器前一定要認(ren)真閱(yue)讀本手冊。

2、儀器的(de)操作者應具(ju)備一般電氣設(she)備或儀器的(de)使用常識。

3、本儀器戶內(nei)外(wai)均可(ke)使(shi)(shi)用(yong)，但(dan)應避開雨淋、腐蝕氣(qi)體、塵埃(ai)過濃、高(gao)溫、陽光直射(she)等場(chang)所(suo)使(shi)(shi)用(yong)。

儀表應避免劇烈振動。

5、對儀(yi)器的維修(xiu)、護理和(he)調整(zheng)應由專業人員進行(xing)。

6、在(zai)任何接線之前必須用接地電纜把儀器接地端子與大地可(ke)靠連接起來。

7、由于測(ce)試(shi)設備產生高(gao)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)，所以測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)必(bi)須完全嚴格遵(zun)守**操(cao)作(zuo)規程，防(fang)止(zhi)他(ta)人(ren)接觸高(gao)壓(ya)(ya)(ya)部件和電(dian)(dian)路(lu)。直接從事測(ce)試(shi)的人(ren)員(yuan)必(bi)須完全了解高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試(shi)線(xian)路(lu)，及儀器操(cao)作(zuo)要點。非(fei)從事測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)必(bi)須遠(yuan)離高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試(shi)區，測(ce)試(shi)區必(bi)須用柵(zha)欄(lan)或繩索、警視牌(pai)等清(qing)楚表示出來(lai)。

8、儀器的調整維修和(he)維護，必須(xu)在不加電情況下進行，如果(guo)必須(xu)加電，則操(cao)作(zuo)者必須(xu)非(fei)常熟(shu)悉本儀器高(gao)壓危險(xian)部件(jian)。

9、保(bao)險管損壞(huai)時，必須確(que)保(bao)更換同樣(yang)的(de)保(bao)險，禁止更換不同型號保(bao)險或將保(bao)險直(zhi)接短(duan)路使用。

儀器出現(xian)故(gu)障時(shi)，關(guan)閉電源開關(guan)，等待一分鐘之后再檢查(cha)。

三、WBJS8000G異頻(pin)介質(zhi)損耗測試儀可測(ce)試參數

儀器可測量下(xia)列參數(shu)并(bing)數(shu)字顯(xian)示：

被測試品的電容量值CX，以pF或nF為(wei)單位(wei)，1nF=1000pF。

被(bei)測試品的介質損耗值tgδ，以%顯示。

四(si)、WBJS8000G異(yi)頻介質損耗測試儀性能(neng)特點(dian)

1、儀器(qi)采用復數電流法，測(ce)量電容(rong)、介質損耗(hao)及(ji)其它參數。測(ce)試(shi)結果精度高，便于實(shi)現自動化測(ce)量。

2、儀器(qi)采用了變(bian)頻技術來消除現場50Hz工頻干擾，即使(shi)在(zai)強(qiang)電磁(ci)干擾的(de)環境(jing)下也(ye)能測得可(ke)靠的(de)數據。

3、儀器采用大屏幕(mu)液晶(jing)顯示(shi)器，測試過(guo)程通過(guo)漢字菜(cai)單提示(shi)既直觀又便于操作(zuo)。

4、儀器操作(zuo)簡便，測量(liang)過程由微(wei)處(chu)理器控制，只要選擇好合適的測量(liang)方式，數據的測量(liang)就可在(zai)微(wei)處(chu)理器控制下自(zi)動完成。

5、一體化機型，內(nei)附標準(zhun)電容和(he)高壓(ya)電源，便于現(xian)(xian)場測試，減少現(xian)(xian)場接線。

6、儀器測(ce)(ce)(ce)量準確(que)度(du)高，可(ke)滿足油(you)介損測(ce)(ce)(ce)量要(yao)求，因此只需配備標(biao)準油(you)杯，和(he)專用測(ce)(ce)(ce)試線(xian)即可(ke)實現(xian)油(you)介損測(ce)(ce)(ce)量。

7、設CVT測試功(gong)能，可(ke)實現CVT的自(zi)激法(fa)測試，無需(xu)外置附(fu)件，只需(xu)一次測量，C1,C2的電容和介損全部測(ce)出。

8、反(fan)接線測(ce)試采用ivddv技術,消(xiao)除了(le)以往反接線(xian)數據(ju)不穩定的現(xian)象。

9、具有反接線低壓屏蔽功(gong)能(neng)，在(zai)220kV CVT 母線接(jie)地情(qing)況下，對(dui)C11 可進行(xing)不拆(chai)線10kV 反接線介損測量

10、具有(you)測量高(gao)電(dian)壓(ya)介損(sun)功能，能夠(gou)使用高(gao)壓(ya)變壓(ya)器或串聯諧(xie)振(zhen)進行超(chao)過10kV電壓的介損試驗。

12、接(jie)地保(bao)(bao)護功能，當儀器不(bu)接(jie)地線或接(jie)地**時，儀器不(bu)進(jin)入正(zheng)常程序，不(bu)輸出高壓。過流保(bao)(bao)護功能，在試品(pin)短路或擊穿時儀器不(bu)受損壞。

13、觸電保護(hu)功能，當儀器操作人員不小心(xin)觸電時候，儀器會立(li)即切斷高壓，保障試驗人員的**.

五、WBJS8000G異頻介質損耗測試儀技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗干擾(rao)指標：  變頻(pin)抗(kang)干擾，在200%干擾下仍能達到(dao)上述準確度

電(dian)容量范圍(wei)：  內施高壓(ya)：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范(fan)圍：     不限，分辨率(lv)0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗(yan)電流范圍：10μA～1A

內施(shi)高壓(ya)：    設(she)定電(dian)壓范圍(wei)：0.5～10kV

*大輸(shu)出電流：200mA

升(sheng)降壓方(fang)式：連續平滑(hua)調節

試驗頻(pin)率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自(zi)動雙(shuang)變頻

頻率(lv)精度：±0.01Hz

外(wai)施高壓：正接線時(shi)*大(da)試驗電流1A，工頻或(huo)變(bian)頻40-70Hz

反接線(xian)時*大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法(fa)低壓(ya)輸出：輸出電(dian)壓(ya)3～50V，輸(shu)出電流3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀(du)數×1%     變(bian)比(bi)測量(liang)范圍：10～99999

相(xiang)位測量(liang)精(jing)度：±0.1°           相(xiang)位測量(liang)范圍(wei)：0～359.9°

測量時間：    約40s，與測量方式(shi)有(you)關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或(huo)發電機(ji)供電

計(ji)算(suan)機接口：  標準RS232接口(kou)

打印機：         煒煌A7熱敏微型打印機

環(huan)境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形(xing)尺寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、WBJS8000G異頻介(jie)質損耗測(ce)試儀測量方式及原(yuan)理

按被測(ce)(ce)試品(pin)是否接(jie)地分(fen)兩種測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式，即正接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式和反(fan)接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式。兩種測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式的(de)原理(li)如圖一所示：

在高壓電(dian)(dian)源的10kV側(ce)，高壓分兩(liang)路，一路給(gei)機(ji)內標準(zhun)電(dian)(dian)容(rong)CN，此電(dian)(dian)容(rong)介損非常(chang)小(xiao)，可(ke)以(yi)認為介損為零，即為純容(rong)性電(dian)(dian)流，此電(dian)(dian)流ICN 可(ke)做為容(rong)性電(dian)(dian)流基準(zhun)。在Cx試(shi)(shi)品一側(ce)，試(shi)(shi)品電(dian)(dian)流Icx通過采(cai)樣電(dian)(dian)阻(zu)R采(cai)入機(ji)內，此Icx可(ke)分解(jie)成水(shui)平(ping)分量(liang)和垂直分量(liang)見(jian)圖二所示，通過計(ji)算水(shui)平(ping)分量(liang)與垂直分量(liang)的比值即可(ke)得到(dao)tgδ值。

在(zai)圖一（a）中Cx為非(fei)接(jie)(jie)地(di)(di)試(shi)(shi)品(pin)，試(shi)(shi)品(pin)電(dian)(dian)流(liu)Icx從試(shi)(shi)品(pin)末端(duan)進入采樣電(dian)(dian)阻(zu)R，得(de)到全(quan)電(dian)(dian)流(liu)值，在(zai)圖一（b）中Cx為接(jie)(jie)地(di)(di)試(shi)(shi)品(pin)，機內Cx端(duan)直接(jie)(jie)接(jie)(jie)地(di)(di)，電(dian)(dian)流(liu)Icx從試(shi)(shi)品(pin)高壓端(duan)到機內采樣電(dian)(dian)阻(zu)取得(de)全(quan)電(dian)(dian)流(liu)值。

七、WBJS8000G異(yi)頻介質損耗測試儀常見設備的接(jie)線方法

1．儀器引出端子說(shuo)明：

HV ——  儀器(qi)的測量引線高壓端(duan)（帶危(wei)險電壓） 。

CX ——  正接(jie)線時試品電(dian)流輸入端。

——  儀器的接地端，使用時與(yu)大地可靠相接

2.參(can)考接線

2.1正接(jie)線、內標準電容、內高壓（常(chang)規正接(jie)線）：

2.2反接(jie)線、內標準電容、內高(gao)壓（常規(gui)反接(jie)線）

2.3正接線、外標準電(dian)容、內高(gao)壓(ya)：

2.4反接線、外(wai)標準(zhun)電容(rong)、內高壓(ya)：

2.5正接線、內標準(zhun)電容、外(wai)高(gao)壓(ya)：

2.6反(fan)接線(xian)、內(nei)標準電容、外高壓(ya)：

2.7正接線(xian)、外(wai)標準電容(rong)、外(wai)高壓（高電壓介損）：

2.8反接線、外標準(zhun)電容、外高(gao)壓：

2.9  CVT自激法測量：

CVT自激法可按下圖接(jie)(jie)線。如(ru)果(guo)C1是單(dan)節電容(rong)，母(mu)線不能接(jie)(jie)地；如(ru)果(guo)C1是多節電容(rong)，母(mu)線可接(jie)(jie)地，C11和C12可用常規正反接(jie)(jie)線測量，C13和C2用自激法測量。

CVT自(zi)激法測(ce)量中，儀器先測(ce)量C1，然(ran)后自(zi)動倒線測(ce)量C2，并自(zi)動校準分(fen)壓影響。

應注意(yi)，高壓線(xian)應懸空不(bu)能接觸地(di)面，否則其對地(di)附加(jia)介損(sun)會引起誤差，可用細電纜連接高壓插座(zuo)與CVT試品并吊起(qi)。強烈建議(yi)使用高(gao)壓插座使用的高(gao)壓線用黑色(se)Cx線。

2.10 CVT變比測試(shi)

儀器高壓(ya)線的(de)芯(xin)線紅(hong)夾子(zi)接CVT的上(shang)端，母線(xian)拆地(di)。CVT下端接地，低壓線紅黑夾子接二次繞(rao)組，注意(yi):如果測(ce)試角度接近180度，應(ying)將紅黑(hei)夾子顛倒。

3.附(fu)加功能

3.1光標在 電壓：10kV上面時候，按“確認”鍵在儀器屏幕的左下角會出現圖標，代表測(ce)試(shi)結(jie)束(shu)自動打(da)(da)印。如果再(zai)按確認鍵，圖標消失，代表測(ce)試(shi)結(jie)束(shu)必須手(shou)動才能(neng)打(da)(da)印。

3.2光標(biao)在 反接(jie) 上(shang)面(mian)時(shi)候，在反接(jie)線，內Cn，內(nei)Un，情況下，按確認鍵在儀器(qi)屏幕(mu)右(you)下角會出現圖標(biao)，代表(biao)反(fan)接線低壓(ya)屏蔽測試。如果(guo)再按確認鍵，圖標(biao)消失，代表(biao)取(qu)消反(fan)接線低壓(ya)屏蔽。

反接(jie)線低壓屏蔽(bi)功能(neng)，一次接(jie)線可同時測(ce)出(chu)C1和C2的(de)電容量和介(jie)損

在反(fan)接線、內(nei)標準和內(nei)高壓方式(shi)，光標移(yi)到“反接”處，按“確認”右(you)下角(jiao)顯(xian)示“M”。

打開反(fan)接(jie)(jie)線(xian)低(di)壓屏蔽(bi)，可在上(shang)端電(dian)(dian)容(rong)C1不拆(chai)母(mu)線(xian)的情況下(xia)，對其進行(xing)不拆(chai)線(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)介損測(ce)量。如下(xia)圖所示：母(mu)線(xian)掛地(di)線(xian)，C1上(shang)端不拆(chai)線(xian)，C1下(xia)端接(jie)(jie)高(gao)壓線(xian)芯(xin)線(xian)，C2末端接(jie)(jie)Cx芯(xin)線(xian)。儀器采用反(fan)接(jie)(jie)線(xian)/10kV/M測(ce)量方式(shi)，可同時測(ce)出C11和下(xia)端屏蔽(bi)部(bu)分的電(dian)(dian)容(rong)量和介損值。

3.3光(guang)標在 正接 上面(mian)時候(hou)，按確認(ren)鍵(jian)則測(ce)試(shi)打(da)印(yin)機，換(huan)紙。

3.4光標在 啟動 上面時候，按(an)減小鍵則代表取(qu)出存儲的數據(ju)。

3.5測試完畢，如果按減小鍵，則代表存儲測試的數(shu)據

八、WBJS8000G異(yi)頻介質損耗測試(shi)儀功能簡介(jie)

儀器面(mian)板見圖九(jiu)所示：

打(da)印(yin)機——打(da)印(yin)測量數據。

顯示器(qi)——128×64點陣(zhen)液晶顯(xian)示器，顯(xian)示菜單和各種(zhong)提(ti)示信息(xi)及(ji)測量結果。

  鍵——選擇菜單項，被選中項反白字體顯示。

▲  鍵(jian)——修改菜單內容，采(cai)用(yong)循(xun)環(huan)滾動方式。

▼ 鍵——修(xiu)改菜(cai)單內容，采用循(xun)環滾動(dong)方式。

確認鍵——在(zai)“測(ce)試”選(xuan)項上按此鍵進(jin)入測(ce)試狀態。

電(dian)源開(kai)關——整機(ji)電(dian)源的開(kai)啟和關閉。

電源座——交(jiao)流220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保險倉。

9．自激(ji)法(fa)電流輸(shu)出端——測量CVT的專用端子。

10．地——為接地線接線端子(zi)。

11．CX插(cha)座——是試品信號的測量(liang)輸入端，正(zheng)接線時由(you)專用低壓電纜連接，此電纜單層(ceng)屏蔽帶特制(zhi)鱷魚夾(jia)，長8m，接試(shi)品低(di)端。反接線(xian)時(shi)此端空置。

12．CN插座——是外標準電容信號的測量輸入端(duan)，使用(yong)內標準時此(ci)端(duan)空置(zhi)。

13．HV插座——高(gao)壓引出(chu)端子，由高(gao)壓電纜連接，接試品高(gao)壓端。輸出(chu)10kv高壓(ya)。

14．RS-232接口(kou)，用來連(lian)接電腦，上傳(chuan)數據。

九(jiu)、儀器操(cao)作步驟

1．測量(liang)前準備(bei)：

1）用接(jie)地(di)線(xian)一端(duan)接(jie)儀器的接(jie)地(di)柱，另(ling)一端(duan)接(jie)可(ke)靠(kao)的大(da)地(di)，保(bao)證儀器外(wai)殼處在地(di)電位(wei)上。

2）正接(jie)線時：將高(gao)壓電纜(lan)插頭插入后門HV插座中，將另(ling)一端的紅(hong)色大鉗(qian)子夾到被測試品的**引線上，黑(hei)色小鉗(qian)子懸空或夾在紅(hong)色大鉗(qian)子上。將CX低壓(ya)電(dian)纜插入CX插(cha)座中，另一端的(de)紅色(se)夾(jia)(jia)子夾(jia)(jia)試品的(de)低端，黑(hei)色(se)夾(jia)(jia)子懸(xuan)空或接(jie)屏蔽裝置。

3）反接線時：將高(gao)壓電纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座中，將另一端的紅(hong)色大(da)鉗子(zi)(zi)夾到被(bei)測(ce)試(shi)品的**引線上(shang)，紅(hong)色小鉗子(zi)(zi)懸(xuan)空或(huo)接屏蔽裝置。Cx插(cha)座不用。

2．打開電源開關(guan)，儀器進行自檢，若(ruo)自檢良好，液晶(jing)屏(ping)顯示中文(wen)主菜單如(ru)

圖十所示(shi)。

3．菜(cai)單選擇：

按鍵可移動光標(biao)至各(ge)菜(cai)單項，并循(xun)環指示。被選(xuan)中項反白字體(ti)顯示。選(xuan)擇鍵的流程見圖十一所示。

在光標當前所(suo)示項(xiang)目(mu)，按▼ ▲鍵鍵可進(jin)行(xing)該項(xiang)菜(cai)單的變(bian)更，并循環指示，流程見圖十二所(suo)示。

將菜單變更至與測(ce)試要(yao)求相對應后即可(ke)按(an)選擇(ze)鍵進(jin)行下個項(xiang)目的選擇(ze)。

4、 頻(pin)率：光標在頻(pin)率上，按↑↓鍵(jian)選擇定頻(pin)和變(bian)頻(pin)：

光標在定頻上(shang)：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選(xuan)擇，按↑↓鍵循(xun)環顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此設置不(bu)能(neng)抗干擾，在(zai)試驗(yan)室內測量(liang)或校驗(yan)時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量，研(yan)究(jiu)不同頻率(lv)下介(jie)損的變化時選用。

光標在變(bian)頻(pin)上(shang)：按住“啟(qi)停”鍵1s以上切換到全頻率選擇(ze)，按↑↓鍵循(xun)環顯(xian)示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動(dong)變頻，適合50Hz電網工頻干擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動(dong)變頻，適合(he)60Hz電網工頻干(gan)擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動(dong)變頻，適合50Hz電網工(gong)頻干擾下測(ce)量。

5、測試：當(dang)光(guang)標在 測試 項目上(shang)時(shi)，按確認(ren)鍵大約(yue)3秒鐘開始測試。測試過程中顯(xian)示的畫面如圖(tu)十三(san)（正接線，變頻）所示，當下(xia)面的進(jin)程到(dao)100%時候測(ce)試完畢(bi)，然后顯(xian)示測(ce)量結果見圖(tu)(tu)十(shi)四所示，此時光標(biao)指示打印機圖(tu)(tu)標(biao)，按確(que)認鍵打印報告(gao)。測(ce)量結果的(de)意義(yi)如下：

tgδ： 試品的損耗因數tgδ值(zhi)

CX： 測(ce)量的電容(rong)值

V：施加電壓(ya)值

I：試品流過的(de)電流

F1,F2 : 試驗(yan)頻率

打(da)印結束后(hou)，關閉電源(yuan)開關，測試完畢。

十、現場(chang)試驗注意事項

如果使用(yong)中出現測(ce)試數(shu)據明顯不(bu)合(he)理，請從以下方面查找原(yuan)因(yin)：

1、搭鉤接觸**

現場測量(liang)使(shi)用搭鉤連(lian)接試品(pin)(pin)時，搭鉤務必與試品(pin)(pin)接觸良好，否則接觸點(dian)放(fang)電會(hui)引(yin)起(qi)數據嚴重波動(dong)！尤其是引(yin)流線(xian)氧化(hua)層太(tai)厚，或風吹線(xian)擺(bai)動(dong)，易造成接觸**。

2、接地接觸(chu)**

接(jie)地**會引(yin)起儀器保護或數據嚴重波動。應刮凈接(jie)地點上的(de)油(you)漆和(he)銹(xiu)蝕，務必保證0電阻接地(di)！

3、直(zhi)接測量CVT或末端屏蔽法測量電磁(ci)式PT

直接測量(liang)CVT的下節耦合電容會出現負介(jie)損，應改用自激法(fa)。

用末端屏蔽(bi)法(fa)測量電磁式PT時，由于受潮引起“T形網絡干擾(rao)”出現負介損，吹(chui)干下(xia)面三裙瓷(ci)套和接線端(duan)子盤即可(ke)。也可(ke)改用常規(gui)法(fa)或末(mo)端(duan)加(jia)壓法(fa)測量。

4、空氣(qi)濕度(du)過大(da)

空(kong)氣濕度大使介損測量值異常增大（或減小甚至為負）且(qie)不(bu)穩定，必(bi)要時可加屏(ping)(ping)蔽(bi)環(huan)。因人為加屏(ping)(ping)蔽(bi)環(huan)改變了試品(pin)電場分布，此法有(you)爭議，可參照有(you)關規程。

5、發電(dian)(dian)機(ji)供電(dian)(dian)

發電機(ji)供電時輸入頻(pin)率不穩(wen)定(ding)，可采用定(ding)頻(pin)50Hz模(mo)式工作。

6、測(ce)試線

由于長期使用，易造成測試線隱性(xing)斷(duan)路，或(huo)芯線和屏蔽短(duan)路，或(huo)插(cha)頭(tou)接觸**，用戶應經常維(wei)護測試線；

測(ce)試標準電容(rong)試品時(shi)，應使用全屏蔽插頭連(lian)接，以消除附加雜散電容(rong)影響，否則不能反映出儀器精度；

自激法測(ce)量(liang)CVT時，非專用的高壓線(xian)應(ying)吊起懸(xuan)空(kong)，否則對地附加雜散電容和介損會(hui)引(yin)起測量誤差。

7、工作模式選擇

接(jie)好(hao)線后請選擇正確的測量工(gong)作(zuo)模式（正、反和CVT），不可選錯。特別是(shi)干(gan)擾環(huan)境下應(ying)選用變頻抗干(gan)擾模(mo)式。

8、試驗方(fang)法影響

由于介損(sun)測量(liang)受試(shi)驗方法(fa)影響較大，應區分是(shi)試(shi)驗方法(fa)誤差還是(shi)儀(yi)器誤差。出現(xian)問題時可(ke)首先檢查接線，然后檢查是(shi)否為儀(yi)器故障。

9、儀器故障

用萬用表測(ce)量一(yi)下測(ce)試線是(shi)否斷路，或芯線和屏蔽(bi)是(shi)否短路；輸入電(dian)源220V過(guo)高或過(guo)低；接(jie)地是否良好。

用正、反接(jie)線測一下標準(zhun)電容(rong)器或已知容(rong)量和介(jie)損的(de)電容(rong)試品，如果(guo)結果(guo)正確，即(ji)可判斷儀器沒有問題；

拔下所(suo)有測試導線，進行空試升壓，若(ruo)不能正常工(gong)作，儀器(qi)可(ke)能有故障。

啟(qi)動(dong)CVT測(ce)量后測(ce)量低(di)壓(ya)輸出，應出現2～5V電壓(ya)，否(fou)則儀器有故障。

十一、 儀器檢定

1、用標準(zhun)損耗器檢定

用帶(dai)插頭的屏(ping)蔽電纜(lan)連接標準(zhun)損耗(hao)器(qi)。如(ru)果不能(neng)保證標準(zhun)損耗(hao)器(qi)的精度，應(ying)使用比對法檢定，建議用2801電橋(qiao)或其它精密電橋(qiao)作(zuo)比對標準。儀(yi)器應(ying)選用“內標準”和(he)“RC串(chuan)聯試(shi)品”，可選擇工頻(pin) 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭的屏蔽電纜(lan)連接QSJ3，選擇“正接/ 外(wai)Cn / 外Un式(shi)測量，電流(liu)比為Cx∶Cn，Cn可(ke)置入適(shi)當值。

3、抗干擾能力

設置一個回路向儀器注(zhu)入定量的(de)干擾電流。

注意：

1）應考慮到該回路可能(neng)成為試品的一部分。

2）儀器啟動后(hou)會使220V供電電路(lu)帶(dai)有測(ce)量頻(pin)率分量，如果該(gai)頻(pin)率分量又通過(guo)干擾(rao)電流進入(ru)儀(yi)器，則無法檢(jian)驗儀(yi)器的(de)抗干擾(rao)能力。

3）不(bu)建議用臨近高壓(ya)導(dao)體施(shi)加(jia)干擾，因為這(zhe)樣很(hen)容(rong)易產生近距離**放電，這(zhe)種放電電阻(zu)是非線性的，容(rong)易產生同頻干擾。

十二、變頻(pin)測量討(tao)論(lun)

1、變頻測量

干擾十分嚴重(zhong)時，變頻測量能(neng)得到準(zhun)確可靠的結果。例如用(yong)55Hz測(ce)量(liang)時，測(ce)量(liang)系統只允許(xu)55Hz信號通過，50Hz干擾信號(hao)被有效抑制，原因(yin)在于(yu)測(ce)量(liang)系統很容易區別不同頻(pin)率，由下述(shu)簡單計算(suan)可以說明選(xuan)頻(pin)測(ce)量(liang)的效果(guo)：

兩(liang)個頻率相差1倍的(de)(de)正弦波疊(die)加到一(yi)起，高頻的(de)(de)是干(gan)擾(rao)，幅度為低頻的(de)(de)10倍：

這剛好是低頻(pin)部分的相位和幅度，干擾被(bei)抑制。實際(ji)波形(xing)的測量點多達數萬(wan)，計算量很(hen)大，結果反映(ying)了波形(xing)的整體特征。

2、頻率和介損的關系

介損有RC串(chuan)聯和并聯兩種理想模(mo)(mo)型(xing)：串(chuan)聯模(mo)(mo)型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別(bie)隨頻率(lv)f成(cheng)正比和反比。如(ru)圖所示，f對完全正比和完全反(fan)比兩種模(mo)型影響較大。但(dan)實際電容器是多種模(mo)型交(jiao)織的混合(he)模(mo)型，此時f的影響(xiang)就(jiu)小(xiao)。

3、自(zi)動變(bian)頻與50Hz等效

儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)自動變頻(pin)在干(gan)擾頻(pin)率50Hz兩(liang)側（45Hz和55Hz）各測一個(ge)點，然(ran)后推(tui)算50Hz頻(pin)(pin)率(lv)下數據。除多個(ge)元(yuan)件(jian)電路的(de)低頻(pin)(pin)諧振(zhen)外(wai)，單(dan)個(ge)試品中的(de)介(jie)(jie)質不可(ke)能(neng)在低頻(pin)(pin)引起能(neng)量(liang)吸收(shou)峰，工頻(pin)(pin)附(fu)近介(jie)(jie)損總是隨頻(pin)(pin)率(lv)單(dan)調(diao)變化的(de)。因此這種(zhong)測量(liang)方法不會(hui)帶(dai)來明顯(xian)誤差。實(shi)際上，平均前的(de)兩個(ge)介(jie)(jie)損值(zhi)已十分接近，即(ji)使不平均也完全有參(can)考價值(zhi)。目前，變頻(pin)(pin)介(jie)(jie)損儀(yi)(yi)已成為介(jie)(jie)損測量(liang)的(de)常規儀(yi)(yi)器，其優異的(de)抗干擾能(neng)力(li)和準確度(du)已經得到認(ren)可(ke)。

十三、儀器的裝箱清單

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