一、WBJS8000G多變頻(pin)介質損耗(hao)測(ce)試儀(yi)概述

介損(sun)測量是絕(jue)緣試驗(yan)中(zhong)很基本的(de)(de)方法(fa)，可以(yi)有效(xiao)地發現電(dian)器(qi)(qi)設備絕(jue)緣的(de)(de)整體受潮(chao)劣(lie)化變質(zhi)，以(yi)及(ji)局部缺陷等。在電(dian)工制(zhi)造、電(dian)氣設備安(an)裝(zhuang)、交接和預防性(xing)(xing)試驗(yan)中(zhong)都(dou)廣(guang)泛應(ying)用(yong)。變壓器(qi)(qi)、互(hu)感器(qi)(qi)、電(dian)抗器(qi)(qi)、電(dian)容器(qi)(qi)以(yi)及(ji)套管、避雷器(qi)(qi)等介損(sun)的(de)(de)測量是衡量其絕(jue)緣性(xing)(xing)能的(de)(de)*基本方法(fa)。LYJS9000F變(bian)頻介質損耗測試儀突破了傳統的電橋(qiao)測量(liang)方式(shi)，采用變(bian)頻電源技(ji)術(shu)，利用單(dan)片(pian)機、和(he)現代化電子技(ji)術(shu)進(jin)行自(zi)動頻率變(bian)換、模(mo)/數轉換和(he)數據運算；達到(dao)抗干擾能力強、測試速度快、精(jing)度高(gao)、全自動數字(zi)化(hua)、操作簡便；電(dian)源采(cai)用大功率開關電(dian)源，輸(shu)出(chu)45Hz和55Hz純(chun)正弦波，自(zi)動加(jia)壓，可(ke)提供*高10千伏的電壓(ya)；自動(dong)濾除50Hz干(gan)擾，適用于(yu)變電(dian)站等(deng)電(dian)磁干(gan)擾大的現場測(ce)試。廣泛(fan)適用于(yu)電(dian)力行(xing)業中變壓(ya)器(qi)(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)(qi)、套(tao)管(guan)、電(dian)容器(qi)(qi)(qi)、避雷器(qi)(qi)(qi)等(deng)設備的介損測(ce)量。

二、WBJS8000G多變頻介質損耗測試儀**措施

1、使用本儀器前一定(ding)要認真閱讀本手冊。

2、儀器的操作者應具(ju)備一(yi)般電氣設備或儀器的使用常識。

3、本儀器戶內(nei)外均(jun)可使(shi)用，但應避開(kai)雨淋、腐蝕氣(qi)體、塵埃過濃、高溫(wen)、陽光直(zhi)射(she)等(deng)場所使(shi)用。

儀表應避免劇烈振(zhen)動。

5、對(dui)儀器的維修、護理(li)和調整(zheng)應(ying)由專業(ye)人員進行。

6、在任何接線之前必須用接地電纜把(ba)儀器(qi)接地端子(zi)與大地可靠連接起來。

7、由(you)于測試設備(bei)產生高電壓(ya)，所(suo)以測試人(ren)(ren)(ren)員必(bi)須(xu)完全(quan)嚴格遵守**操作規(gui)程，防止他(ta)人(ren)(ren)(ren)接(jie)觸高壓(ya)部件和電路。直接(jie)從事測試的人(ren)(ren)(ren)員必(bi)須(xu)完全(quan)了解高壓(ya)測試線路，及儀器操作要點。非(fei)從事測試人(ren)(ren)(ren)員必(bi)須(xu)遠(yuan)離高壓(ya)測試區，測試區必(bi)須(xu)用柵欄(lan)或(huo)繩索、警視牌等(deng)清楚(chu)表示出來(lai)。

8、儀器的調整維修和維護，必(bi)須在(zai)不加(jia)電情況下(xia)進行(xing)，如果必(bi)須加(jia)電，則操作者必(bi)須非常熟悉本(ben)儀器高壓危險部件。

9、保(bao)險管損壞(huai)時(shi)，必(bi)須確保(bao)更(geng)換同樣的保(bao)險，禁止更(geng)換不同型號(hao)保(bao)險或將保(bao)險直接短路使用。

儀器出現故(gu)障時，關閉電源開關，等待一分鐘之后(hou)再(zai)檢查。

三、WBJS8000G多(duo)變頻介(jie)質損耗(hao)測試儀可測(ce)試參數

儀器可測量下列參數并(bing)數字顯示：

被測試品的電容量值CX，以(yi)pF或nF為單位(wei)，1nF=1000pF。

被測試品的介(jie)質損耗值tgδ，以%顯(xian)示。

四(si)、WBJS8000G多變(bian)頻介質損耗測試儀性能特(te)點

1、儀(yi)器采用復數(shu)電(dian)流法，測(ce)量(liang)電(dian)容、介質損耗及其(qi)它參數(shu)。測(ce)試結果精度高，便于實現自動化測(ce)量(liang)。

2、儀器采(cai)用了變頻技(ji)術來消除現場50Hz工頻干擾，即使在(zai)強電磁干擾的(de)環境(jing)下也能測得可靠的(de)數據。

3、儀器(qi)采用(yong)大(da)屏(ping)幕液(ye)晶(jing)顯(xian)示器(qi)，測試(shi)過(guo)(guo)程(cheng)通過(guo)(guo)漢(han)字菜單(dan)提示既直觀又便于操作。

4、儀器(qi)操作簡便(bian)，測量過程由微處理器(qi)控制，只(zhi)要選擇(ze)好合(he)適的測量方式，數據的測量就可(ke)在微處理器(qi)控制下自動(dong)完成。

5、一(yi)體化機(ji)型，內附標準電(dian)容(rong)和高(gao)壓電(dian)源，便(bian)于(yu)現場測試，減少現場接線。

6、儀器(qi)測量準(zhun)確度高，可滿足油(you)介(jie)損測量要(yao)求，因此只需配備標準(zhun)油(you)杯，和專用測試(shi)線即可實現油(you)介(jie)損測量。

7、設CVT測試功能(neng)，可實現CVT的自激(ji)法測試，無需(xu)外置(zhi)附件，只需(xu)一次測量(liang)，C1,C2的(de)電容和介損全部(bu)測(ce)出。

8、反接線測(ce)試(shi)采用ivddv技術,消(xiao)除了以往反接線數據不(bu)穩(wen)定的現象。

9、具有(you)反接線低壓屏蔽功(gong)能，在(zai)220kV CVT 母線接地情況(kuang)下(xia)，對(dui)C11 可(ke)進(jin)行不拆線(xian)10kV 反接線介損(sun)測量(liang)

10、具有(you)測量(liang)高(gao)電壓(ya)介損功能，能夠使用高(gao)壓(ya)變(bian)壓(ya)器或串(chuan)聯諧振進(jin)行超過(guo)10kV電壓的介損試(shi)驗。

12、接地(di)保護功(gong)能(neng)，當(dang)儀(yi)器不接地(di)線(xian)或接地(di)**時(shi)，儀(yi)器不進入(ru)正(zheng)常程(cheng)序，不輸出高壓。過流保護功(gong)能(neng)，在試品短路(lu)或擊穿時(shi)儀(yi)器不受損壞(huai)。

13、觸(chu)電(dian)保護(hu)功能(neng)，當(dang)儀器(qi)操作人員(yuan)不小心觸(chu)電(dian)時候，儀器(qi)會立即切斷高(gao)壓，保障試驗人員(yuan)的(de)**.

五、WBJS8000G多變頻(pin)介(jie)質損(sun)耗測(ce)試儀技術(shu)指標(biao)

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾(rao)指標：  變(bian)頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到(dao)上述準確度

電容量范(fan)圍：  內(nei)施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位有效(xiao)數字

tgδ范圍：     不(bu)限，分辨(bian)率0.001%，電容、電感、電阻三(san)種試品自動識別。

試驗(yan)電流范圍(wei)：10μA～1A

內施高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大(da)輸出電流(liu)：200mA

升(sheng)降(jiang)壓(ya)方式：連續平(ping)滑調節(jie)

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精度(du)：±0.01Hz

外(wai)施高壓：正接線時(shi)*大(da)試驗電(dian)流1A，工頻或(huo)變頻40-70Hz

反(fan)接線時*大試驗電流(liu)10kV/1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

CVT自(zi)激(ji)法低壓輸出(chu)：輸出(chu)電壓3～50V，輸出電流(liu)3～30A

CVT變比測量：

變(bian)比測量精度(du)：±讀數(shu)×1%     變比測(ce)量范圍(wei)：10～99999

相位測量精(jing)度：±0.1°    ;       相位測量范圍：0～359.9°

測(ce)量(liang)時(shi)間(jian)：    約(yue)40s，與測量方式(shi)有關

輸入(ru)電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)(dian)或發(fa)電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)

計算機接口：  標(biao)準RS232接(jie)口

打印機：         煒煌A7熱敏微(wei)型(xing)打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相(xiang)對濕度：    <90%

外形尺寸(cun)：460×360×350mm

儀器重(zhong)量：28kg

六、WBJS8000G多(duo)變(bian)頻介質損耗(hao)測(ce)試儀測量方式及原理

按被測(ce)試品是否接(jie)(jie)地分兩種測(ce)量(liang)方式，即(ji)正接(jie)(jie)線測(ce)量(liang)方式和反接(jie)(jie)線測(ce)量(liang)方式。兩種測(ce)量(liang)方式的原理如圖(tu)一(yi)所示：

在高壓電(dian)(dian)源(yuan)的(de)10kV側，高壓分兩路，一(yi)路給機內標準(zhun)電(dian)(dian)容CN，此電(dian)(dian)容介損非常小，可以認為介損為零，即為純容性電(dian)(dian)流(liu)，此電(dian)(dian)流(liu)ICN 可做為容性電(dian)(dian)流(liu)基準(zhun)。在Cx試品一(yi)側，試品電(dian)(dian)流(liu)Icx通過(guo)采(cai)樣(yang)電(dian)(dian)阻R采(cai)入機內，此Icx可分解(jie)成水平(ping)分量(liang)和垂直分量(liang)見圖(tu)二所示，通過(guo)計算水平(ping)分量(liang)與垂直分量(liang)的(de)比值即可得到tgδ值。

在圖一(yi)（a）中Cx為(wei)非接(jie)地試品，試品電流Icx從(cong)試品末端進入(ru)采樣(yang)電阻(zu)R，得(de)到全電流值，在圖一(yi)（b）中Cx為(wei)接(jie)地試品，機內(nei)Cx端直(zhi)接(jie)接(jie)地，電流Icx從(cong)試品高壓端到機內(nei)采樣(yang)電阻(zu)取(qu)得(de)全電流值。

七、WBJS8000G多變頻介質損耗測試(shi)儀常見(jian)設備(bei)的(de)接線方法

1．儀器(qi)引出端子說明：

HV ——  儀器的測量引線高壓(ya)端（帶(dai)危(wei)險電壓(ya)） 。

CX ——  正接線(xian)時(shi)試品(pin)電流輸(shu)入端(duan)。

——  儀(yi)器的接地(di)端，使(shi)用時與(yu)大地(di)可靠相接

2.參(can)考接線(xian)

2.1正(zheng)接(jie)線、內標準(zhun)電容、內高壓(ya)（常(chang)規(gui)正(zheng)接(jie)線）：

2.2反接線、內(nei)標準電容、內(nei)高(gao)壓（常(chang)規反接線）

2.3正接線、外標準電(dian)容(rong)、內高壓(ya)：

2.4反接(jie)線、外標準電容、內高壓：

2.5正接線(xian)、內標準電(dian)容(rong)、外(wai)高壓：

2.6反接線(xian)、內標(biao)準(zhun)電容、外高壓：

2.7正(zheng)接線、外(wai)標準電容、外(wai)高(gao)壓(ya)（高(gao)電壓(ya)介損）：

2.8反接線、外(wai)標準電容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自激(ji)法測(ce)量：

CVT自激法可按下(xia)圖接線(xian)。如果C1是單節(jie)電容，母線(xian)不能接地；如果C1是多節(jie)電容，母線(xian)可接地，C11和C12可用常(chang)規正反接線(xian)測量，C13和C2用自激法測量。

CVT自(zi)激法測(ce)量(liang)中，儀器先測(ce)量(liang)C1，然后自(zi)動(dong)倒(dao)線測(ce)量(liang)C2，并自(zi)動(dong)校準(zhun)分壓(ya)影(ying)響。

應注意，高壓線應懸空不能接觸地(di)面，否則其對地(di)附加(jia)介損會(hui)引起誤(wu)差，可用細電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。強烈建議(yi)使用(yong)高壓插座使用(yong)的(de)高壓線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試(shi)

儀器高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端，母線拆地(di)。CVT下端接地，低壓線(xian)紅黑夾子(zi)接二次繞組，注意:如(ru)果測試(shi)角(jiao)度接(jie)近180度，應(ying)將紅黑夾子顛(dian)倒。

3.附加功能

3.1光標在 電(dian)壓：10kV上(shang)面時候(hou)，按“確認”鍵(jian)在儀器(qi)屏幕(mu)的左(zuo)下角會出(chu)現(xian)圖標，代表(biao)(biao)測試(shi)(shi)結束自(zi)動打(da)(da)印。如果再按確認鍵，圖標消失，代表(biao)(biao)測試(shi)(shi)結束必須(xu)手動才(cai)能打(da)(da)印。

3.2光標在 反接 上面(mian)時(shi)候，在反接線，內(nei)Cn，內Un，情況下，按確(que)認鍵(jian)在儀(yi)器(qi)屏(ping)幕右下角(jiao)會出現圖標(biao)，代(dai)表反接線低(di)壓屏蔽(bi)測(ce)試。如果再按確認鍵，圖標(biao)消(xiao)失，代(dai)表取消(xiao)反接線低(di)壓屏蔽(bi)。

反接線(xian)低壓屏蔽功(gong)能，一次接線(xian)可(ke)同時測出(chu)C1和(he)C2的電(dian)容(rong)量和介損

在反接線、內標準和內高壓(ya)方式，光標移到“反接”處，按“確認”右下角顯(xian)示(shi)“M”。

打(da)開反接(jie)線(xian)低壓屏蔽，可在(zai)上端(duan)電(dian)容(rong)C1不拆(chai)母線(xian)的(de)情(qing)況下(xia)，對其進行不拆(chai)線(xian)10kV反接(jie)線(xian)介(jie)損測量。如下(xia)圖所示：母線(xian)掛(gua)地線(xian)，C1上端(duan)不拆(chai)線(xian)，C1下(xia)端(duan)接(jie)高壓線(xian)芯(xin)線(xian)，C2末端(duan)接(jie)Cx芯(xin)線(xian)。儀器采用反接(jie)線(xian)/10kV/M測量方式，可同時測出(chu)C11和下(xia)端(duan)屏蔽部分的(de)電(dian)容(rong)量和介(jie)損值。

3.3光(guang)標在 正接 上面時(shi)候，按確認鍵則測試打印機，換紙。

3.4光標在 啟動 上面時(shi)候，按減小鍵則代表(biao)取出(chu)存儲的(de)數據(ju)。

3.5測(ce)試完畢，如果按(an)減小鍵，則(ze)代表(biao)存儲(chu)測(ce)試的數據

八、WBJS8000G多變頻介質損耗(hao)測試儀功能簡介

儀器面板見圖九所示：

打(da)(da)印(yin)機——打(da)(da)印(yin)測量數據。

顯示器(qi)——128×64點陣液(ye)晶(jing)顯示器，顯示菜單和各(ge)種(zhong)提示信息(xi)及測量(liang)結果(guo)。

  鍵——選擇菜(cai)單項(xiang)(xiang)，被選中(zhong)項(xiang)(xiang)反白字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內容，采用(yong)循環滾動方式。

▼ 鍵——修改菜(cai)單內容，采用循環滾動方式。

確認(ren)鍵——在“測試”選項(xiang)上(shang)按(an)此(ci)鍵進入測試狀(zhuang)態。

電源開關——整機電源的開啟和關閉。

電源(yuan)座——交(jiao)流220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶(dai)保險倉(cang)。

9．自(zi)激法電流輸(shu)出端(duan)——測量(liang)CVT的(de)專用端子。

10．地——為接(jie)地線(xian)接(jie)線(xian)端(duan)子。

11．CX插座(zuo)——是試(shi)品信號的測量(liang)輸入端(duan)，正接線(xian)時由專(zhuan)用低壓電纜(lan)連接，此電纜(lan)單層屏蔽(bi)帶(dai)特制(zhi)鱷魚夾，長(chang)8m，接(jie)試品低端。反接(jie)線時此端空置。

12．CN插座——是外標準(zhun)電容信號的測(ce)量輸入端，使用內標準(zhun)時此(ci)端空置。

13．HV插(cha)座——高(gao)壓引出(chu)端子(zi)，由高(gao)壓電纜(lan)連接，接試品高(gao)壓端。輸出(chu)10kv高(gao)壓(ya)。

14．RS-232接(jie)口，用來連接(jie)電腦(nao)，上(shang)傳(chuan)數(shu)據。

九、儀器操作步驟

1．測量前準(zhun)備：

1）用接地線一端接儀(yi)(yi)器的接地柱，另一端接可靠的大地，保(bao)證儀(yi)(yi)器外殼(ke)處(chu)在地電位上。

2）正接線時：將高壓電纜插(cha)頭(tou)插(cha)入后門(men)HV插座中(zhong)，將另一端的紅色(se)大(da)鉗子夾到(dao)被測試品(pin)的**引線上，黑色(se)小鉗子懸空或(huo)夾在紅色(se)大(da)鉗子上。將CX低(di)壓電纜插入CX插座中，另一端(duan)的紅色夾(jia)(jia)子夾(jia)(jia)試品(pin)的低(di)端(duan)，黑色夾(jia)(jia)子懸空或(huo)接屏蔽裝置。

3）反接(jie)線時：將高壓(ya)電(dian)纜插頭插入后(hou)門(men)HV插座中(zhong)，將另一端的紅色(se)大(da)鉗子(zi)夾到被測試品的**引線上，紅色(se)小鉗子(zi)懸(xuan)空或接屏蔽裝置。Cx插座不(bu)用。

2．打(da)開(kai)電(dian)源開(kai)關，儀(yi)器進(jin)行自(zi)檢(jian)，若自(zi)檢(jian)良好，液(ye)晶(jing)屏顯示中文主菜(cai)單如

圖十所(suo)示。

3．菜單選擇：

按鍵可移動光標至(zhi)各菜單(dan)項，并循(xun)環指示。被選中項反白字體顯示。選擇鍵的流程見圖十一所示。

在光(guang)標(biao)當(dang)前(qian)所(suo)示(shi)項目(mu)，按(an)▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進(jin)行該項菜單的變(bian)更(geng)，并循環(huan)指示(shi)，流程見圖十二所(suo)示(shi)。

將菜單變(bian)更至與(yu)測試要求相對應后即(ji)可按(an)選(xuan)擇鍵(jian)進行下個項目的選(xuan)擇。

4、 頻(pin)率(lv)：光標在頻(pin)率(lv)上，按(an)↑↓鍵(jian)選(xuan)擇定頻(pin)和變頻(pin)：

光標在定頻上：按住“啟(qi)停(ting)”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此設(she)置不能(neng)抗干擾，在試驗室內(nei)測量(liang)或校驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單(dan)頻率(lv)測量，研究不同(tong)頻率(lv)下介損的變化時(shi)選用。

光標在(zai)變(bian)頻上：按(an)住(zhu)“啟停”鍵1s以上切換(huan)到全頻率選(xuan)擇，按↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動(dong)變頻，適合50Hz電網工頻干(gan)擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合60Hz電網工頻干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下(xia)測量。

5、測試(shi)(shi)：當(dang)光標在(zai) 測試(shi)(shi) 項目(mu)上時(shi)，按確(que)認鍵大(da)約3秒鐘(zhong)開始測試。測試過程(cheng)(cheng)中(zhong)顯示的畫面如圖十(shi)三（正(zheng)接線，變頻(pin)）所示，當下面的進程(cheng)(cheng)到100%時候測試完畢，然后顯示(shi)測量(liang)結(jie)果(guo)見圖十(shi)四所(suo)示(shi)，此時光標指(zhi)示(shi)打(da)印(yin)機圖標，按(an)確(que)認鍵打(da)印(yin)報告。測量(liang)結(jie)果(guo)的意義如(ru)下(xia)：

tgδ： 試(shi)品的損耗因(yin)數tgδ值

CX： 測量的(de)電容值

V：施加電壓(ya)值(zhi)

I：試品流(liu)過的電流(liu)

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束后(hou)，關(guan)閉電源開關(guan)，測試完畢(bi)。

十、現場試驗注意事項

如果使用(yong)中出(chu)現測試(shi)數據明顯(xian)不合理，請從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現場測量使(shi)用搭鉤連接(jie)(jie)試(shi)(shi)品時，搭鉤務(wu)必(bi)與試(shi)(shi)品接(jie)(jie)觸良好，否則接(jie)(jie)觸點放(fang)電(dian)會引起數據(ju)嚴重波動(dong)！尤(you)其是引流線(xian)氧(yang)化層(ceng)太厚，或風(feng)吹線(xian)擺動(dong)，易造(zao)成接(jie)(jie)觸**。

2、接(jie)(jie)地接(jie)(jie)觸(chu)**

接地**會(hui)引起儀(yi)器保(bao)護(hu)或數據嚴重(zhong)波動。應刮凈接地點上的油(you)漆和銹蝕，務必保(bao)證0電阻(zu)接地！

3、直接測(ce)量CVT或末端屏(ping)蔽法測(ce)量(liang)電磁式(shi)PT

直接測量CVT的下節耦合電容會出現負介損，應改用自(zi)激法。

用末端屏蔽法測量電磁式PT時，由于受潮引起“T形(xing)網絡干擾”出(chu)現負介損，吹干下面三裙瓷套(tao)和接線端(duan)子盤即可(ke)。也可(ke)改用常規(gui)法(fa)(fa)或末端(duan)加壓法(fa)(fa)測量(liang)。

4、空氣濕度過(guo)大

空氣濕度大(da)使介損測量值異常增大(da)（或減小甚(shen)至為(wei)負）且不穩(wen)定，必要時可加屏蔽環。因人為(wei)加屏蔽環改變(bian)了(le)試(shi)品電(dian)場分布，此法有(you)爭(zheng)議，可參照有(you)關(guan)規程。

5、發電機供電

發電機(ji)供(gong)電時輸入頻率不穩定(ding)，可采用定(ding)頻50Hz模式工作。

6、測試線

由于長期使用(yong)，易造(zao)成測試線隱性斷路，或(huo)芯(xin)線和屏蔽短路，或(huo)插(cha)頭接(jie)觸(chu)**，用(yong)戶應(ying)經(jing)常(chang)維護測試線；

測試(shi)標(biao)準電容試(shi)品(pin)時，應使用全(quan)屏(ping)蔽插頭(tou)連接，以消(xiao)除附加雜散(san)電容影響，否則不能反映出儀器精度；

自(zi)激(ji)法測量CVT時，非專用的高壓線(xian)應吊(diao)起懸空，否則(ze)對地附加雜散電(dian)容和介損(sun)會引(yin)起測量(liang)誤差。

7、工作(zuo)模(mo)式選擇

接好線后請選擇正確(que)的測(ce)量工作模式(shi)（正、反和(he)CVT），不(bu)可選錯(cuo)。特別是干擾環境下應(ying)選用變(bian)頻抗干擾模(mo)式。

8、試驗方法影響

由于(yu)介損測(ce)量受試驗方法(fa)(fa)影響較大(da)，應區分是(shi)(shi)試驗方法(fa)(fa)誤差還(huan)是(shi)(shi)儀器誤差。出現問(wen)題時可首先檢(jian)(jian)查(cha)(cha)接(jie)線，然(ran)后檢(jian)(jian)查(cha)(cha)是(shi)(shi)否(fou)為(wei)儀器故障。

9、儀器故障

用萬用表(biao)測(ce)量一下(xia)測(ce)試(shi)線是否斷路，或芯線和屏(ping)蔽是否短路；輸入電(dian)源220V過(guo)高(gao)或(huo)過(guo)低；接(jie)地是否良好(hao)。

用正(zheng)、反接線測一下(xia)標(biao)準(zhun)電(dian)容器(qi)或已知容量和介損的電(dian)容試品(pin)，如果結果正(zheng)確，即可判(pan)斷儀(yi)器(qi)沒有問(wen)題；

拔下所有測試(shi)導線(xian)，進行空(kong)試(shi)升壓，若(ruo)不能正常工作，儀(yi)器可(ke)能有故障。

啟(qi)動CVT測(ce)量后(hou)測(ce)量低(di)壓輸出，應出現2～5V電壓，否則儀器有故障。

十(shi)一、 儀(yi)器(qi)檢定

1、用標(biao)準(zhun)損(sun)耗器檢定

用(yong)(yong)帶插頭的屏蔽(bi)電纜連接標(biao)準(zhun)損(sun)耗(hao)器。如果不能保證(zheng)標(biao)準(zhun)損(sun)耗(hao)器的精度(du)，應(ying)使用(yong)(yong)比對法檢(jian)定，建議用(yong)(yong)2801電橋(qiao)或其它(ta)精密電橋(qiao)作比對(dui)標(biao)準。儀(yi)器應選用“內標準(zhun)”和“RC串聯(lian)試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用(yong)QSJ3檢定：使用帶插頭(tou)的屏蔽(bi)電纜連接(jie)QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測(ce)量，電流比(bi)為Cx∶Cn，Cn可置(zhi)入適當值(zhi)。

3、抗干擾能力

設置一個回路向儀器(qi)注入定量的干擾(rao)電流。

注(zhu)意：

1）應考慮(lv)到該回(hui)路可能成為試品的一(yi)部分。

2）儀器(qi)啟動后會使220V供電電路帶有測量(liang)頻率(lv)分(fen)量(liang)，如果該頻率(lv)分(fen)量(liang)又(you)通過(guo)干(gan)擾電流進入儀器，則(ze)無(wu)法檢(jian)驗儀器的(de)抗干(gan)擾能力。

3）不建議用臨近高壓(ya)導體施(shi)加干(gan)擾，因為這樣很容易產(chan)生近距離**放電(dian)，這種放電(dian)電(dian)阻是非線性的，容易產(chan)生同頻干(gan)擾。

十二、變頻測量討論

1、變(bian)頻測量(liang)

干擾十(shi)分嚴重時，變頻(pin)測量(liang)能得(de)到準確可靠(kao)的結果(guo)。例如用55Hz測量時，測量系統只允(yun)許55Hz信號通過，50Hz干擾(rao)信號被有效抑(yi)制，原(yuan)因在于測量(liang)系統(tong)很(hen)容易區(qu)別不同頻率(lv)，由下述(shu)簡單(dan)計(ji)算可(ke)以(yi)說明選頻測量(liang)的效果：

兩個頻率相(xiang)差1倍的(de)正弦波疊加(jia)到一起，高頻(pin)的(de)是干擾，幅度為(wei)低頻(pin)的(de)10倍：

這剛好是低頻部(bu)分的(de)相(xiang)位和(he)幅度，干擾被抑制。實際波(bo)(bo)形的(de)測量點多達數萬，計算量很大，結(jie)果反映了波(bo)(bo)形的(de)整體特征。

2、頻率和介(jie)損的關系

介損(sun)有RC串(chuan)聯(lian)(lian)和并(bing)聯(lian)(lian)兩種理(li)想模型：串(chuan)聯(lian)(lian)模型tgδ=2πfRC，并聯模(mo)型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別隨(sui)頻率f成(cheng)正比和反比。如圖所(suo)示，f對完(wan)全(quan)正比和完(wan)全(quan)反比兩(liang)種(zhong)模(mo)型影響較大。但(dan)實際電容器是多種(zhong)模(mo)型交(jiao)織的混合模(mo)型，此時f的影響就(jiu)小(xiao)。

3、自動(dong)變頻(pin)與(yu)50Hz等效

儀器(qi)采(cai)用自動變(bian)頻在(zai)干擾(rao)頻率50Hz兩側（45Hz和(he)55Hz）各(ge)測一(yi)個點，然后推算50Hz頻率下(xia)數據。除多個元(yuan)件電路的低(di)頻諧振外，單個試(shi)品中的介質不(bu)可能在低(di)頻引起能量吸收峰，工頻附近(jin)介損(sun)(sun)總(zong)是隨頻率單調變化的。因此這種測量方法不(bu)會(hui)帶來明顯誤(wu)差(cha)。實(shi)際上，平均前的兩個介損(sun)(sun)值(zhi)已(yi)十分接近(jin)，即使不(bu)平均也(ye)完全有參考價值(zhi)。目前，變頻介損(sun)(sun)儀(yi)已(yi)成(cheng)為介損(sun)(sun)測量的常規儀(yi)器，其優(you)異(yi)的抗干擾能力和準確度已(yi)經得(de)到認(ren)可。

十(shi)三、儀器的裝箱清單

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