一、WBJS8000G多頻(pin)道介質損耗測試儀(yi)概述(shu)

介損(sun)測量是(shi)絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗中很基本(ben)的(de)(de)(de)方法，可以有效地發(fa)現(xian)電器(qi)設(she)備(bei)絕(jue)緣(yuan)的(de)(de)(de)整體受(shou)潮劣化變質，以及局部缺(que)陷(xian)等。在電工制造、電氣設(she)備(bei)安(an)裝(zhuang)、交(jiao)接和預防性(xing)試(shi)驗中都(dou)廣泛(fan)應用(yong)。變壓(ya)器(qi)、互感器(qi)、電抗器(qi)、電容器(qi)以及套管(guan)、避雷(lei)器(qi)等介損(sun)的(de)(de)(de)測量是(shi)衡量其絕(jue)緣(yuan)性(xing)能的(de)(de)(de)*基本(ben)方法。LYJS9000F變(bian)頻(pin)(pin)介(jie)質損耗測(ce)試儀突破(po)了傳統(tong)的電(dian)橋測(ce)量(liang)方式(shi)，采用變(bian)頻(pin)(pin)電(dian)源技術(shu)(shu)，利用單片機、和現代化電(dian)子技術(shu)(shu)進行自動頻(pin)(pin)率變(bian)換、模/數轉換和數據運(yun)算；達(da)到抗干擾能(neng)力強、測試速(su)度(du)快、精(jing)度(du)高、全自動(dong)數字化、操作簡便；電源采用大功率開關電源，輸出(chu)45Hz和(he)55Hz純正(zheng)弦波，自動加壓，可提供*高10千伏(fu)的(de)電壓；自動濾(lv)除50Hz干(gan)擾，適用于變(bian)電站等電磁干(gan)擾大的現場測(ce)試。廣泛適用于電力行業(ye)中變(bian)壓器(qi)(qi)、互感(gan)器(qi)(qi)、套管(guan)、電容器(qi)(qi)、避(bi)雷器(qi)(qi)等設(she)備的介損測(ce)量(liang)。

二(er)、WBJS8000G多(duo)頻道介質損(sun)耗測(ce)試儀**措施

1、使用本儀器前一定要認真閱讀本手冊。

2、儀器的(de)操作(zuo)者(zhe)應(ying)具備一般電氣設備或儀器的(de)使(shi)用(yong)常識。

3、本儀器戶內(nei)外均可使(shi)(shi)用，但應避開雨淋(lin)、腐蝕(shi)氣體、塵埃(ai)過濃、高溫、陽(yang)光直射等場(chang)所使(shi)(shi)用。

儀(yi)表應避免劇烈振動(dong)。

5、對儀器的(de)維修、護(hu)理(li)和調整應由專(zhuan)業人員進行。

6、在任何接(jie)線之(zhi)前(qian)必須(xu)用(yong)接(jie)地(di)電纜(lan)把(ba)儀器接(jie)地(di)端子(zi)與(yu)大地(di)可靠連接(jie)起來。

7、由于測(ce)(ce)試(shi)設備產生高(gao)電壓(ya)，所以(yi)測(ce)(ce)試(shi)人員(yuan)必(bi)須(xu)完全嚴格遵守**操(cao)作規(gui)程，防(fang)止他人接(jie)觸(chu)高(gao)壓(ya)部(bu)件和電路(lu)。直接(jie)從事(shi)測(ce)(ce)試(shi)的人員(yuan)必(bi)須(xu)完全了解高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)線路(lu)，及(ji)儀器(qi)操(cao)作要點。非從事(shi)測(ce)(ce)試(shi)人員(yuan)必(bi)須(xu)遠離高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)區，測(ce)(ce)試(shi)區必(bi)須(xu)用柵欄或繩索、警視(shi)牌等清楚表示(shi)出來。

8、儀(yi)器的調整維(wei)修和(he)維(wei)護，必須在不加電情況(kuang)下(xia)進行(xing)，如果必須加電，則操作(zuo)者必須非(fei)常(chang)熟悉本儀(yi)器高壓危險(xian)部件。

9、保(bao)(bao)(bao)險(xian)(xian)管損壞時(shi)，必(bi)須確保(bao)(bao)(bao)更換同樣的保(bao)(bao)(bao)險(xian)(xian)，禁止(zhi)更換不同型號(hao)保(bao)(bao)(bao)險(xian)(xian)或將保(bao)(bao)(bao)險(xian)(xian)直接短路使用。

儀器出(chu)現故(gu)障時，關(guan)閉電源開關(guan)，等待一分鐘之(zhi)后再檢查。

三、WBJS8000G多頻道介(jie)質(zhi)損耗測(ce)試儀可(ke)測試參(can)數

儀(yi)器(qi)可測量下列參數(shu)并數(shu)字(zi)顯示：

被(bei)測(ce)試品(pin)的電容量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品的(de)介質損耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G多頻道(dao)介質損耗測試儀性能特(te)點

1、儀(yi)器采用復數電流法(fa)，測量電容、介(jie)質損耗及其它參數。測試結果精度高，便(bian)于實現自動化(hua)測量。

2、儀器采用了變頻技術來消除(chu)現(xian)場50Hz工(gong)頻干擾，即使在強電磁干擾的環境(jing)下也能測得可(ke)靠(kao)的數據。

3、儀器(qi)采用大屏幕液晶顯(xian)示器(qi)，測試過(guo)程通(tong)過(guo)漢字菜單提示既直觀(guan)又便于操(cao)作。

4、儀(yi)器(qi)操作簡便，測(ce)量(liang)過程由(you)微處理器(qi)控制(zhi)，只要選(xuan)擇好合(he)適的測(ce)量(liang)方式(shi)，數據的測(ce)量(liang)就可在微處理器(qi)控制(zhi)下自動完成。

5、一體化(hua)機(ji)型，內(nei)附標準電容(rong)和高壓(ya)電源，便于(yu)現場(chang)測試，減(jian)少現場(chang)接線。

6、儀器測量(liang)準確度高(gao)，可滿足油介損(sun)測量(liang)要求，因此只(zhi)需配備標(biao)準油杯，和專用測試(shi)線即可實(shi)現油介損(sun)測量(liang)。

7、設CVT測試功能(neng)，可(ke)實現CVT的(de)自激法(fa)測(ce)試，無需外(wai)置附件，只需一次測(ce)量，C1,C2的電容(rong)和介損全(quan)部(bu)測出。

8、反(fan)接(jie)線(xian)測試采用ivddv技(ji)術,消(xiao)除了以往(wang)反接線數據不(bu)穩定(ding)的(de)現象。

9、具有反接線(xian)低壓屏(ping)蔽(bi)功能，在220kV CVT 母(mu)線接地情(qing)況下，對(dui)C11 可(ke)進(jin)行不拆線(xian)10kV 反接線(xian)介損測(ce)量(liang)

10、具有測量高(gao)電壓介損功能，能夠使用(yong)高(gao)壓變(bian)壓器或串聯諧振進行超(chao)過10kV電(dian)壓的介損試驗(yan)。

12、接(jie)地保護功能，當儀(yi)器(qi)(qi)不(bu)接(jie)地線或接(jie)地**時，儀(yi)器(qi)(qi)不(bu)進入正常程序(xu)，不(bu)輸出(chu)高(gao)壓(ya)。過流保護功能，在試品(pin)短路(lu)或擊穿(chuan)時儀(yi)器(qi)(qi)不(bu)受損壞。

13、觸(chu)電(dian)保護功(gong)能，當儀器操作人員(yuan)不小心觸(chu)電(dian)時候(hou)，儀器會立即(ji)切斷(duan)高壓，保障試驗人員(yuan)的**.

五、WBJS8000G多頻道(dao)介質損(sun)耗(hao)測試儀技術指(zhi)標

準確度：

Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀(du)數×1%+0.00040）

抗干擾指標(biao)：  變頻抗干擾，在200%干擾下仍(reng)能達(da)到上述準確度

電(dian)容量范(fan)圍：  內施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓：    3pF～1.5μF/10kV     ;    60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范(fan)圍：     不限，分辨率0.001%，電容(rong)、電感(gan)、電阻三種(zhong)試品自動識別。

試驗電流范圍：10μA～1A

內施(shi)高壓：    設定(ding)電壓(ya)范(fan)圍(wei)：0.5～10kV

*大輸(shu)出(chu)電流(liu)：200mA

升(sheng)降壓方式：連(lian)續(xu)平(ping)滑調節

試驗(yan)頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變(bian)頻(pin)

頻(pin)率精度(du)：±0.01Hz

外施高壓(ya)：正接線時*大試驗電流1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

反接(jie)線時*大試驗電流10kV/1A，工頻(pin)或變(bian)頻(pin)40-70Hz

CVT自(zi)激(ji)法低壓輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀(du)數×1%     變(bian)比測量范圍：10～99999

相位測量精度：±0.1°           相位測量范圍：0～359.9°

測量時間：    約40s，與測(ce)量方式(shi)有關

輸(shu)入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

計(ji)算(suan)機接口：  標準(zhun)RS232接口(kou)

打印機：       ;  煒(wei)煌A7熱(re)敏微型(xing)打印機

環境(jing)溫度：    -10℃～50℃

相對(dui)濕度：    <90%

外形尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重(zhong)量：28kg

六(liu)、WBJS8000G多頻(pin)道介質損耗測試儀(yi)測量(liang)方(fang)式及(ji)原理

按被測(ce)試品(pin)是否(fou)接地分兩種(zhong)測(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)，即正(zheng)接線(xian)測(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)和(he)反(fan)接線(xian)測(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)。兩種(zhong)測(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)的原理如(ru)圖一(yi)所示：

在高壓電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)的(de)10kV側(ce)，高壓分(fen)兩路，一路給機內標(biao)準電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)CN，此(ci)電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)介損非(fei)常小(xiao)，可(ke)以認為(wei)介損為(wei)零(ling)，即為(wei)純容(rong)性電(dian)(dian)(dian)(dian)流，此(ci)電(dian)(dian)(dian)(dian)流ICN 可(ke)做(zuo)為(wei)容(rong)性電(dian)(dian)(dian)(dian)流基準。在Cx試(shi)(shi)品一側(ce)，試(shi)(shi)品電(dian)(dian)(dian)(dian)流Icx通過采(cai)樣電(dian)(dian)(dian)(dian)阻R采(cai)入機內，此(ci)Icx可(ke)分(fen)解(jie)成水平(ping)分(fen)量和(he)垂(chui)直分(fen)量見圖二所示(shi)，通過計算水平(ping)分(fen)量與垂(chui)直分(fen)量的(de)比值即可(ke)得到(dao)tgδ值。

在圖一(yi)(yi)（a）中Cx為(wei)非(fei)接(jie)(jie)地(di)試品(pin)，試品(pin)電流Icx從試品(pin)末(mo)端進(jin)入采(cai)樣(yang)電阻(zu)R，得(de)到全(quan)電流值，在圖一(yi)(yi)（b）中Cx為(wei)接(jie)(jie)地(di)試品(pin)，機內(nei)Cx端直接(jie)(jie)接(jie)(jie)地(di)，電流Icx從試品(pin)高壓端到機內(nei)采(cai)樣(yang)電阻(zu)取得(de)全(quan)電流值。

七、WBJS8000G多(duo)頻(pin)道介(jie)質損耗測試儀(yi)常(chang)見設備(bei)的(de)接線方法

1．儀(yi)器引出端子(zi)說明(ming)：

HV ——  儀(yi)器的測(ce)量引線高壓端（帶危險電(dian)壓） 。

CX ——  正接線時試品電(dian)流輸入端(duan)。

——  儀器的接(jie)地(di)端，使用時與大地(di)可(ke)靠相接(jie)

2.參考接(jie)線

2.1正(zheng)接線(xian)、內(nei)標準電容(rong)、內(nei)高(gao)壓（常規正(zheng)接線(xian)）：

2.2反接線、內標準電容(rong)、內高壓（常規(gui)反接線）

2.3正接(jie)線(xian)、外(wai)標準電容(rong)、內高壓(ya)：

2.4反接線、外(wai)標準電容、內高壓(ya)：

2.5正接(jie)線、內標(biao)準電容、外高壓(ya)：

2.6反接線、內標準電容、外(wai)高壓：

2.7正接線(xian)、外(wai)(wai)標準電容、外(wai)(wai)高壓(ya)(ya)（高電壓(ya)(ya)介(jie)損）：

2.8反接(jie)線、外標(biao)準電容、外高壓：

2.9  CVT自(zi)激法測量：

CVT自(zi)激(ji)法可按下圖接(jie)(jie)線。如果(guo)C1是單節電容，母(mu)線不能接(jie)(jie)地；如果(guo)C1是多(duo)節電容，母(mu)線可接(jie)(jie)地，C11和C12可用常規正反接(jie)(jie)線測(ce)量(liang)，C13和C2用自(zi)激(ji)法測(ce)量(liang)。

CVT自(zi)激(ji)法(fa)測(ce)量(liang)中，儀器(qi)先測(ce)量(liang)C1，然后自(zi)動倒線(xian)測(ce)量(liang)C2，并自(zi)動校準分(fen)壓影響。

應注(zhu)意(yi)，高壓線(xian)應懸空不能接(jie)觸(chu)地面(mian)，否則(ze)其(qi)對地附加(jia)介損會引起誤(wu)差，可(ke)用細電纜(lan)連接(jie)高壓插(cha)座與CVT試品并吊起。強烈(lie)建議使用高壓(ya)(ya)插座使用的高壓(ya)(ya)線用黑色Cx線。

2.10 CVT變比測(ce)試

儀器(qi)高壓線的芯線紅夾子(zi)接CVT的上(shang)端，母(mu)線拆地。CVT下端接(jie)地，低壓線紅黑夾子接(jie)二(er)次繞組，注意:如果(guo)測試角度接近180度，應將紅黑夾子(zi)顛倒(dao)。

3.附加(jia)功(gong)能

3.1光標在 電壓：10kV上面時候，按(an)“確(que)認”鍵在(zai)儀器屏幕(mu)的左下角會出現圖標(biao)，代(dai)表測試結束(shu)自(zi)動(dong)(dong)打印。如果再按(an)確認鍵，圖標(biao)消(xiao)失，代(dai)表測試結束(shu)必須手動(dong)(dong)才(cai)能打印。

3.2光標(biao)在 反(fan)接(jie) 上面(mian)時(shi)候(hou)，在反(fan)接(jie)線，內(nei)Cn，內Un，情況(kuang)下，按確(que)認(ren)鍵在儀器屏(ping)幕(mu)右下角(jiao)會出(chu)現圖標(biao)，代表(biao)反接線低壓屏蔽測試。如果再(zai)按確認(ren)鍵，圖標(biao)消失，代表(biao)取消反接線低壓屏蔽。

反接(jie)線(xian)低壓屏蔽功能，一次接(jie)線(xian)可(ke)同時測出(chu)C1和C2的電容量(liang)和介損

在反接(jie)線、內(nei)標準和內(nei)高壓方式，光標移到“反(fan)接”處，按“確認”右下(xia)角顯(xian)示“M”。

打開(kai)反(fan)接(jie)線(xian)(xian)低壓屏(ping)蔽，可在上端(duan)(duan)(duan)電(dian)容(rong)C1不拆(chai)(chai)母線(xian)(xian)的(de)情況下(xia)，對其進行(xing)不拆(chai)(chai)線(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)介損測(ce)量。如(ru)下(xia)圖所示：母線(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)，C1上端(duan)(duan)(duan)不拆(chai)(chai)線(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)(duan)(duan)接(jie)高壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末(mo)端(duan)(duan)(duan)接(jie)Cx芯線(xian)(xian)。儀(yi)器(qi)采用反(fan)接(jie)線(xian)(xian)/10kV/M測(ce)量方式，可同時測(ce)出(chu)C11和下(xia)端(duan)(duan)(duan)屏(ping)蔽部分的(de)電(dian)容(rong)量和介損值(zhi)。

3.3光標在 正(zheng)接 上面時候，按確認鍵則測試打印機，換紙。

3.4光(guang)標(biao)在(zai) 啟動(dong) 上面時(shi)候，按減小鍵則(ze)代表(biao)取(qu)出存儲的數據。

3.5測(ce)試完畢，如果按(an)減小鍵，則代表(biao)存儲測(ce)試的數據

八、WBJS8000G多頻道介(jie)質(zhi)損耗測試儀功能簡介

儀器面板見圖九所示：

打(da)印機——打(da)印測量數據。

顯示器(qi)——128×64點陣(zhen)液晶(jing)顯示器，顯示菜(cai)單和各種提示信息及測(ce)量結(jie)果。

  鍵——選(xuan)擇菜單項，被選(xuan)中項反白字體顯示。

▲  鍵(jian)——修(xiu)改(gai)菜單(dan)內容，采(cai)用循環(huan)滾動方式。

▼ 鍵——修改菜單內(nei)容，采用(yong)循環滾動方式。

確認(ren)鍵——在(zai)“測(ce)(ce)試”選項(xiang)上按此鍵進(jin)入測(ce)(ce)試狀態。

電源開關——整機電源的(de)開啟和關閉(bi)。

電源座(zuo)——交流(liu)220V±10%，50±1Hz電源輸入(ru)口，帶(dai)保險(xian)倉。

9．自激(ji)法電流輸出端(duan)——測量CVT的專用端(duan)子。

10．地——為(wei)接地線(xian)接線(xian)端子。

11．CX插座——是試品信號的測量輸入(ru)端(duan)，正(zheng)接線時由專(zhuan)用低壓電纜(lan)連(lian)接，此電纜(lan)單層(ceng)屏蔽帶(dai)特制鱷魚夾(jia)，長8m，接試(shi)品低端。反(fan)接線時此端空置。

12．CN插座——是外標(biao)準電容信號(hao)的測量(liang)輸(shu)入端，使用內標(biao)準時此端空置。

13．HV插座——高壓(ya)引出端(duan)子，由高壓(ya)電纜連接，接試(shi)品高壓(ya)端(duan)。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口，用來(lai)連接電(dian)腦(nao)，上傳(chuan)數據(ju)。

九、儀器(qi)操作步驟

1．測量(liang)前準備：

1）用接地(di)線(xian)一(yi)端(duan)接儀(yi)器(qi)的接地(di)柱(zhu)，另一(yi)端(duan)接可靠(kao)的大地(di)，保證儀(yi)器(qi)外殼處在地(di)電位上。

2）正接線(xian)時：將高壓電纜(lan)插頭插入后門HV插座中，將另一端的紅色大(da)鉗(qian)子(zi)夾(jia)到被測試品(pin)的**引線上(shang)，黑色小鉗(qian)子(zi)懸空(kong)或夾(jia)在(zai)紅色大(da)鉗(qian)子(zi)上(shang)。將CX低壓電纜插(cha)入CX插座中，另一端的紅色夾子夾試(shi)品的低端，黑色夾子懸空或接屏(ping)蔽裝置。

3）反接線時：將高壓電纜插頭插入后門(men)HV插座中，將另一(yi)端(duan)的(de)紅色(se)大(da)鉗子夾(jia)到被測試品的(de)**引(yin)線上，紅色(se)小(xiao)鉗子懸空或接屏(ping)蔽裝(zhuang)置(zhi)。Cx插座不用。

2．打開(kai)電源開(kai)關，儀器進行自檢(jian)(jian)，若(ruo)自檢(jian)(jian)良好，液晶(jing)屏顯(xian)示中文主菜單如(ru)

圖十所(suo)示。

3．菜單選(xuan)擇：

按鍵可移動光標至各菜(cai)單項(xiang)，并循環指(zhi)示(shi)。被選中項(xiang)反白字(zi)體(ti)顯示(shi)。選擇鍵的流(liu)程見圖十一所示(shi)。

在光標當前所(suo)示項(xiang)目，按▼ ▲鍵鍵可進(jin)行該項(xiang)菜單的(de)變更，并(bing)循(xun)環指示，流(liu)程見圖十二(er)所(suo)示。

將菜單變(bian)更至與測試要求相對(dui)應(ying)后(hou)即可(ke)按選(xuan)擇鍵(jian)進行下(xia)個項目的(de)選(xuan)擇。

4、 頻(pin)(pin)率(lv)：光標在頻(pin)(pin)率(lv)上，按(an)↑↓鍵選擇(ze)定(ding)頻(pin)(pin)和變頻(pin)(pin)：

光標在(zai)定頻上(shang)：按住(zhu)“啟(qi)停”鍵1s以上切(qie)換到全頻率選擇，按(an)↑↓鍵循(xun)環(huan)顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(ce)量，此設置不能抗干(gan)擾，在試(shi)驗(yan)室內測(ce)量或校驗(yan)時(shi)選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量，研究不同頻(pin)率下介損的變化(hua)時選用(yong)。

光標在(zai)變頻上：按(an)住“啟停”鍵(jian)1s以(yi)上切換到全(quan)頻率選擇，按↑↓鍵(jian)循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變(bian)頻，適合50Hz電網(wang)工頻(pin)干擾(rao)下測量。

“6-Hz”：為(wei)55/65Hz自(zi)動變(bian)頻，適合60Hz電(dian)網工頻(pin)干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干(gan)擾下(xia)測量(liang)。

5、測試：當光標在 測試 項目上時，按確認鍵大約3秒(miao)鐘開(kai)始(shi)測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)過程中顯(xian)示(shi)的畫(hua)面如(ru)圖十三（正接線，變頻(pin)）所(suo)示(shi)，當下面的進程到100%時候測(ce)(ce)試完畢，然后顯示測(ce)(ce)量結(jie)果見(jian)圖(tu)十四所示，此時光標指示打印機圖(tu)標，按(an)確認(ren)鍵(jian)打印報(bao)告(gao)。測(ce)(ce)量結(jie)果的意(yi)義如下(xia)：

tgδ： 試品的損(sun)耗因(yin)數tgδ值

CX： 測量(liang)的電(dian)容值

V：施加(jia)電(dian)壓值

I：試品流過的(de)電流

F1,F2 : 試(shi)驗頻率

打印結(jie)束后，關閉(bi)電(dian)源(yuan)開關，測試完畢。

十、現(xian)場試(shi)驗注(zhu)意(yi)事項(xiang)

如果(guo)使用中出現測試數據明顯不合理，請從(cong)以下方面查找(zhao)原(yuan)因：

1、搭鉤接(jie)觸(chu)**

現場測量使(shi)用(yong)搭鉤(gou)連接試品(pin)(pin)時，搭鉤(gou)務必與試品(pin)(pin)接觸(chu)良好(hao)，否則接觸(chu)點放(fang)電會引起(qi)數據嚴重波動！尤(you)其是引流線(xian)(xian)氧化層太(tai)厚，或風吹線(xian)(xian)擺動，易造成接觸(chu)**。

2、接地接觸**

接地(di)**會引起儀器保護或數(shu)據(ju)嚴重波(bo)動。應刮凈接地(di)點上的油(you)漆(qi)和銹蝕，務必保證0電阻接地！

3、直接(jie)測量(liang)CVT或末(mo)端屏蔽法(fa)測量(liang)電(dian)磁式PT

直接測量CVT的下(xia)節耦(ou)合電容(rong)會出(chu)現負(fu)介損，應改(gai)用自激法。

用末端屏蔽法(fa)測量電磁式PT時(shi)，由于受潮引(yin)起“T形網絡干擾(rao)”出現負介損，吹干下面三(san)裙瓷(ci)套(tao)和(he)接線端子盤即可(ke)。也可(ke)改用常規(gui)法或末端加壓法測量。

4、空氣(qi)濕(shi)度過大

空氣濕度大(da)使介損測量值異(yi)常增大(da)（或減(jian)小甚(shen)至為負）且不穩定，必要(yao)時可加屏(ping)蔽環。因人為加屏(ping)蔽環改變了試品(pin)電場(chang)分布，此法有爭議，可參照有關規(gui)程。

5、發電機供電

發電機供電時輸入(ru)頻率不穩定(ding)，可采(cai)用定(ding)頻50Hz模式工作。

6、測(ce)試線

由于長(chang)期使(shi)用，易造成測試線隱性斷路(lu)，或(huo)芯線和(he)屏蔽短路(lu)，或(huo)插頭(tou)接觸**，用戶應(ying)經常維護測試線；

測試標(biao)準電容試品時，應使用(yong)全屏蔽(bi)插(cha)頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能(neng)反映出儀(yi)器精度；

自激法(fa)測(ce)量CVT時，非專用的(de)高壓線應(ying)吊(diao)起(qi)懸空，否則(ze)對地附加雜散(san)電(dian)容和(he)介損會引起(qi)測量誤差。

7、工作(zuo)模式選擇

接好線(xian)后請選擇正確(que)的測(ce)量工作模式（正、反和CVT），不可(ke)選錯。特別是干擾環境下應選用變頻抗干擾模(mo)式。

8、試驗方法影響

由于介(jie)損測(ce)量受試(shi)(shi)驗方法影響較(jiao)大(da)，應區分是(shi)試(shi)(shi)驗方法誤(wu)差還(huan)是(shi)儀器誤(wu)差。出(chu)現問(wen)題時可首(shou)先檢查接線(xian)，然(ran)后檢查是(shi)否為儀器故障。

9、儀(yi)器故障

用(yong)萬用(yong)表測(ce)量(liang)一下測(ce)試線(xian)是否斷路(lu)，或芯線(xian)和屏(ping)蔽是否短(duan)路(lu)；輸入電(dian)源220V過(guo)高(gao)或過(guo)低；接地是(shi)否良好。

用正(zheng)、反(fan)接線測一下(xia)標準電容器或已知(zhi)容量和介損的電容試品，如果(guo)結果(guo)正(zheng)確(que)，即(ji)可判斷儀器沒(mei)有(you)問題；

拔下所有測(ce)試導線，進行空試升(sheng)壓，若不(bu)能正常工作，儀(yi)器可能有故(gu)障。

啟動CVT測(ce)量(liang)后測(ce)量(liang)低壓輸出(chu)，應出(chu)現2～5V電(dian)壓，否則儀器有故障。

十(shi)一、 儀器檢(jian)定

1、用標準損耗器檢定

用(yong)帶插頭的屏蔽電(dian)纜連接標(biao)準損耗(hao)(hao)器(qi)。如果不能保證標(biao)準損耗(hao)(hao)器(qi)的精度(du)，應使用(yong)比對法檢定，建議(yi)用(yong)2801電橋(qiao)或其(qi)它精(jing)密電橋(qiao)作比對標準。儀器應選用(yong)“內(nei)標(biao)準”和(he)“RC串聯試品”，可(ke)選擇工(gong)頻 50Hz或定頻50Hz頻(pin)率模式(shi)。

2、用QSJ3檢定：使用(yong)帶(dai)插頭的屏(ping)蔽電纜(lan)連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外(wai)Un式(shi)測(ce)量(liang)，電流比(bi)為(wei)Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗干擾能力(li)

設置一個回路向儀(yi)器注入定(ding)量(liang)的干擾電流(liu)。

注意：

1）應(ying)考慮到該(gai)回路可能(neng)成(cheng)為試品的一部(bu)分(fen)。

2）儀(yi)器啟動后會使220V供電電路帶有測(ce)量(liang)頻(pin)率(lv)分(fen)量(liang)，如果該(gai)頻(pin)率(lv)分(fen)量(liang)又(you)通(tong)過干(gan)(gan)擾(rao)電流進入儀(yi)器，則無(wu)法檢(jian)驗儀(yi)器的抗(kang)干(gan)(gan)擾(rao)能力。

3）不建議用臨近高壓導體(ti)施加干(gan)擾，因為這樣很容(rong)易產生近距(ju)離(li)**放(fang)電(dian)，這種放(fang)電(dian)電(dian)阻是非線性(xing)的(de)，容(rong)易產生同頻干(gan)擾。

十二、變(bian)頻(pin)測量(liang)討論

1、變(bian)頻測量

干(gan)擾十分(fen)嚴重時，變頻測量(liang)能(neng)得(de)到準確可靠(kao)的(de)結果。例如用(yong)55Hz測量時，測量系統(tong)只允(yun)許55Hz信號通過，50Hz干擾(rao)信號被有效(xiao)抑制(zhi)，原因(yin)在于測量(liang)系統很容易區(qu)別不同頻率，由下述簡單(dan)計算(suan)可(ke)以說明(ming)選頻測量(liang)的效(xiao)果：

兩(liang)個頻率相差1倍的(de)正弦波(bo)疊加到一起，高頻的(de)是干擾，幅度為低頻的(de)10倍(bei)：

這剛(gang)好是低頻(pin)部分的相位(wei)和幅度，干(gan)擾(rao)被抑(yi)制。實(shi)際波形的測量(liang)(liang)點(dian)多(duo)達數萬，計算量(liang)(liang)很大，結果反(fan)映(ying)了(le)波形的整體特征。

2、頻率和介損的關系

介損有(you)RC串聯和并聯兩種(zhong)理想模型：串聯模型tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別隨(sui)頻率f成正(zheng)比和反比。如圖所(suo)示，f對完(wan)全(quan)正比和完(wan)全(quan)反比兩種模型影響較大。但實際電容器是(shi)多種模型交(jiao)織的混合模型，此時f的影響就小。

3、自動變頻與50Hz等(deng)效

儀器(qi)采(cai)用自動變頻在干擾(rao)頻率50Hz兩側（45Hz和(he)55Hz）各測一個點，然后推算50Hz頻(pin)(pin)率(lv)下數據。除多個元件電路的(de)(de)低(di)頻(pin)(pin)諧振(zhen)外，單個試品中的(de)(de)介(jie)質不可能在低(di)頻(pin)(pin)引起能量吸收峰(feng)，工頻(pin)(pin)附近介(jie)損(sun)(sun)(sun)總是隨頻(pin)(pin)率(lv)單調變化的(de)(de)。因此這種測(ce)(ce)量方法不會帶來明顯誤(wu)差(cha)。實(shi)際上，平均(jun)前的(de)(de)兩個介(jie)損(sun)(sun)(sun)值已(yi)十分接近，即使(shi)不平均(jun)也完全有參考價值。目前，變頻(pin)(pin)介(jie)損(sun)(sun)(sun)儀已(yi)成為介(jie)損(sun)(sun)(sun)測(ce)(ce)量的(de)(de)常規(gui)儀器(qi)，其優異(yi)的(de)(de)抗干擾(rao)能力和準確度已(yi)經得到認可。

十三、儀器的裝(zhuang)箱清單

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