一、WBJS8000G超強干擾介(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀概述

介損測(ce)量是絕緣(yuan)試驗中(zhong)很基本(ben)的(de)方(fang)法，可以(yi)有效地發現電(dian)(dian)器(qi)設備絕緣(yuan)的(de)整體受(shou)潮劣(lie)化變質，以(yi)及局部(bu)缺(que)陷等(deng)。在電(dian)(dian)工制造、電(dian)(dian)氣設備安裝、交接和(he)預(yu)防性試驗中(zhong)都廣(guang)泛應用。變壓器(qi)、互感器(qi)、電(dian)(dian)抗器(qi)、電(dian)(dian)容器(qi)以(yi)及套管、避雷(lei)器(qi)等(deng)介損的(de)測(ce)量是衡量其絕緣(yuan)性能(neng)的(de)*基本(ben)方(fang)法。LYJS9000F變頻介質損耗測試儀(yi)突破(po)了傳統(tong)的電橋測量方(fang)式，采用變頻電源技術，利(li)用單片機、和現代化電子技術進行自動頻率變換、模/數(shu)轉換和數(shu)據運算；達到抗干擾(rao)能力強、測試速(su)度(du)快、精度(du)高、全自動數(shu)字化、操作簡(jian)便；電源采用大功率開關電源，輸出45Hz和55Hz純正(zheng)弦(xian)波(bo)，自(zi)動加壓(ya)，可提供(gong)*高10千伏(fu)的電壓；自動濾除50Hz干(gan)擾，適用于變電站等電磁干(gan)擾大的現場測試。廣泛適用于電力行(xing)業中變壓器、互(hu)感器、套管、電容器、避(bi)雷器等設(she)備的介損(sun)測量。

二、WBJS8000G超強干擾介質(zhi)損耗(hao)測試儀**措施

1、使用本儀器前(qian)一定(ding)要認(ren)真(zhen)閱讀本手冊。

2、儀器(qi)的操作者應具備一(yi)般(ban)電氣設(she)備或儀器(qi)的使(shi)用(yong)常(chang)識。

3、本(ben)儀器戶內(nei)外均(jun)可使(shi)用，但(dan)應避開雨(yu)淋(lin)、腐蝕氣(qi)體、塵埃(ai)過濃(nong)、高(gao)溫、陽光直(zhi)射等場(chang)所使(shi)用。

儀表(biao)應避免劇(ju)烈振動。

5、對儀(yi)器的維修、護理和調整應由專業人員(yuan)進行。

6、在(zai)任何接(jie)線之前必須用接(jie)地電纜把(ba)儀器接(jie)地端子與(yu)大地可靠連接(jie)起來(lai)。

7、由于測(ce)試(shi)設備產生(sheng)高電(dian)壓，所以測(ce)試(shi)人(ren)(ren)員(yuan)必(bi)須(xu)完(wan)全(quan)嚴格遵守**操作規程，防止他人(ren)(ren)接觸高壓部件和(he)電(dian)路(lu)。直接從事(shi)測(ce)試(shi)的(de)人(ren)(ren)員(yuan)必(bi)須(xu)完(wan)全(quan)了解高壓測(ce)試(shi)線路(lu)，及儀器操作要(yao)點。非從事(shi)測(ce)試(shi)人(ren)(ren)員(yuan)必(bi)須(xu)遠離高壓測(ce)試(shi)區，測(ce)試(shi)區必(bi)須(xu)用柵欄或繩索、警視牌等清楚表示出來。

8、儀器的調整(zheng)維修和維護(hu)，必須在不加電情況(kuang)下(xia)進行，如果必須加電，則操作者必須非常熟悉本儀器高(gao)壓危險部(bu)件(jian)。

9、保(bao)(bao)險管損壞(huai)時，必須確保(bao)(bao)更換同(tong)樣的保(bao)(bao)險，禁(jin)止更換不同(tong)型(xing)號保(bao)(bao)險或將保(bao)(bao)險直(zhi)接(jie)短路使(shi)用。

儀(yi)器出現故障時，關閉電源開關，等待(dai)一分鐘(zhong)之后(hou)再檢(jian)查(cha)。

三(san)、WBJS8000G超強干擾介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀(yi)可測試參數

儀器(qi)可(ke)測量下列參數并數字(zi)顯(xian)示：

被測試品的電容(rong)量值CX，以(yi)pF或nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被測試品的介質(zhi)損耗(hao)值tgδ，以%顯(xian)示。

四、WBJS8000G超強干擾介質損耗測試儀(yi)性(xing)能特點

1、儀器采用復(fu)數電流法，測(ce)量(liang)電容、介(jie)質損(sun)耗(hao)及(ji)其它參數。測(ce)試結果精度高，便于實現自動化測(ce)量(liang)。

2、儀(yi)器采用了變頻技(ji)術來消除現場50Hz工頻干擾，即使(shi)在(zai)強電磁干擾的環(huan)境下(xia)也(ye)能(neng)測得可靠的數據。

3、儀器(qi)采用(yong)大屏幕液(ye)晶顯(xian)示(shi)器(qi)，測試過(guo)程(cheng)通過(guo)漢字菜單提示(shi)既直觀又(you)便于操作。

4、儀(yi)器(qi)操作簡便，測量過程由微處理(li)器(qi)控制，只要選擇(ze)好(hao)合(he)適(shi)的測量方式，數據的測量就可(ke)在(zai)微處理(li)器(qi)控制下自動完成。

5、一體化機(ji)型，內(nei)附標準電容和高壓電源，便于現(xian)場(chang)(chang)測試，減少(shao)現(xian)場(chang)(chang)接線。

6、儀器測量準確度高，可滿足油(you)介(jie)(jie)損測量要(yao)求(qiu)，因(yin)此只(zhi)需(xu)配備標(biao)準油(you)杯，和專用測試線即可實現油(you)介(jie)(jie)損測量。

7、設(she)CVT測試功能，可實現(xian)CVT的自激法(fa)測試，無需(xu)外置(zhi)附件，只需(xu)一次測量，C1,C2的電容和介(jie)損全部測出。

8、反接線測(ce)試采用(yong)ivddv技(ji)術,消除了以往反接(jie)線數據不穩定的(de)現象(xiang)。

9、具有(you)反接(jie)線低壓屏蔽功能，在(zai)220kV CVT 母線接地情(qing)況下，對(dui)C11 可進(jin)行不(bu)拆(chai)線10kV 反接線介損測量

10、具有測量高電壓介損功能，能夠使(shi)用高壓變壓器或(huo)串聯諧振(zhen)進行超(chao)過10kV電壓的介損試驗。

12、接(jie)地(di)保護(hu)功能(neng)，當儀(yi)器(qi)不(bu)接(jie)地(di)線或接(jie)地(di)**時，儀(yi)器(qi)不(bu)進入正常程序(xu)，不(bu)輸出高壓。過流保護(hu)功能(neng)，在試品短路或擊穿時儀(yi)器(qi)不(bu)受(shou)損壞。

13、觸電(dian)保護功能，當儀器操(cao)作人員不小心觸電(dian)時候，儀器會立即切斷高壓，保障(zhang)試驗人員的**.

五、WBJS8000G超強干擾介質損耗測試儀技術指標

準(zhun)確度：

Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗干擾(rao)指標：  變頻抗(kang)干擾，在(zai)200%干擾下仍(reng)能達到(dao)上述準確度

電容量范(fan)圍：  內施高壓(ya)：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓(ya)：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：      *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范(fan)圍：     不限，分辨率0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻(zu)三種試品自動識別。

試驗(yan)電流范圍：10μA～1A

內施高壓(ya)：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓(ya)方式：連(lian)續平滑調節

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精度(du)：±0.01Hz

外(wai)施(shi)高壓：正接線時*大試(shi)驗電流1A，工頻或變(bian)頻40-70Hz

反接線時*大試驗(yan)電流(liu)10kV/1A，工(gong)頻(pin)或(huo)變頻(pin)40-70Hz

CVT自激法低(di)壓(ya)(ya)輸出：輸出電壓(ya)(ya)3～50V，輸出電流(liu)3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀(du)數×1%     變比測量范圍：10～99999

相(xiang)位測量精度：±0.1°           相位測量范圍：0～359.9°

測量時(shi)間：    約40s，與測量方(fang)式有關

輸入電源(yuan)：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或(huo)發電機(ji)供電

計(ji)算機接口(kou)：  標準(zhun)RS232接口(kou)

打印機：         煒(wei)煌(huang)A7熱(re)敏微型(xing)打印機

環境溫度(du)：    -10℃～50℃

相對(dui)濕度(du)：    <90%

外(wai)形尺寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、WBJS8000G超強干擾介質損耗測試儀測量方(fang)式及原理

按被測(ce)試品(pin)是否(fou)接地分兩種測(ce)量(liang)方式(shi)，即正接線測(ce)量(liang)方式(shi)和反(fan)接線測(ce)量(liang)方式(shi)。兩種測(ce)量(liang)方式(shi)的原理如圖一所示(shi)：

在高(gao)壓電(dian)(dian)源的(de)10kV側，高(gao)壓分(fen)(fen)兩路，一路給(gei)機內(nei)標準(zhun)電(dian)(dian)容(rong)CN，此(ci)電(dian)(dian)容(rong)介損非(fei)常小(xiao)，可以認為(wei)(wei)介損為(wei)(wei)零，即(ji)為(wei)(wei)純容(rong)性電(dian)(dian)流，此(ci)電(dian)(dian)流ICN 可做(zuo)為(wei)(wei)容(rong)性電(dian)(dian)流基準(zhun)。在Cx試(shi)品(pin)(pin)一側，試(shi)品(pin)(pin)電(dian)(dian)流Icx通過采樣電(dian)(dian)阻R采入機內(nei)，此(ci)Icx可分(fen)(fen)解成(cheng)水(shui)平(ping)分(fen)(fen)量和(he)垂直(zhi)分(fen)(fen)量見(jian)圖二所(suo)示，通過計算水(shui)平(ping)分(fen)(fen)量與垂直(zhi)分(fen)(fen)量的(de)比值即(ji)可得到tgδ值。

在圖(tu)一（a）中Cx為(wei)非接地試(shi)(shi)(shi)品(pin)，試(shi)(shi)(shi)品(pin)電(dian)流(liu)Icx從試(shi)(shi)(shi)品(pin)末端進入采樣電(dian)阻R，得到(dao)全(quan)電(dian)流(liu)值，在圖(tu)一（b）中Cx為(wei)接地試(shi)(shi)(shi)品(pin)，機內Cx端直接接地，電(dian)流(liu)Icx從試(shi)(shi)(shi)品(pin)高壓端到(dao)機內采樣電(dian)阻取(qu)得全(quan)電(dian)流(liu)值。

七(qi)、WBJS8000G超強干擾(rao)介質損耗測試儀(yi)常見設(she)備的接線方法

1．儀器引出端子說明：

HV ——  儀器的測量(liang)引(yin)線(xian)高壓(ya)端(duan)（帶(dai)危險電壓(ya)） 。

CX ——  正接(jie)線時試品電流輸入(ru)端。

——  儀器(qi)的接地端(duan)，使用時與大地可靠相(xiang)接

2.參考接線

2.1正接線、內標(biao)準電(dian)容、內高壓(ya)（常(chang)規正接線）：

2.2反接(jie)線(xian)、內標準電容(rong)、內高壓（常(chang)規反接(jie)線(xian)）

2.3正接(jie)線、外標準電容、內(nei)高壓：

2.4反接線、外標準電容、內(nei)高壓(ya)：

2.5正接線、內標準電(dian)容、外高壓：

2.6反接線、內(nei)標準電容、外高壓(ya)：

2.7正接(jie)線、外標準電容、外高壓(ya)（高電壓(ya)介(jie)損）：

2.8反接線、外(wai)標準電容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自激(ji)法(fa)測量：

CVT自激(ji)法(fa)可(ke)按下圖接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)。如果(guo)(guo)C1是單節電容(rong)，母線(xian)(xian)不能接(jie)(jie)(jie)地；如果(guo)(guo)C1是多(duo)節電容(rong)，母線(xian)(xian)可(ke)接(jie)(jie)(jie)地，C11和C12可(ke)用常規正反接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)測量，C13和C2用自激(ji)法(fa)測量。

CVT自激(ji)法測量(liang)中，儀器先測量(liang)C1，然后自動倒線測量(liang)C2，并自動校(xiao)準分壓影響。

應(ying)注(zhu)意，高壓線應(ying)懸空不能接觸地(di)面，否(fou)則其對地(di)附(fu)加介損會引起誤差，可用細電纜連(lian)接高壓插座(zuo)與(yu)CVT試(shi)品(pin)并吊起。強烈建議(yi)使用(yong)高壓插座使用(yong)的高壓線用(yong)黑(hei)色Cx線(xian)。

2.10 CVT變比(bi)測試(shi)

儀器高壓線(xian)(xian)的芯(xin)線(xian)(xian)紅夾子(zi)接CVT的(de)上(shang)端，母線拆地。CVT下端接地，低壓線紅(hong)黑夾子接二次(ci)繞組，注意:如(ru)果測試角度接近180度，應將(jiang)紅黑夾子顛倒(dao)。

3.附加功能(neng)

3.1光(guang)標在 電壓：10kV上面(mian)時候，按“確認”鍵在儀器(qi)屏幕的左下角(jiao)會出(chu)現圖標，代表(biao)測(ce)試結束自動(dong)打(da)印。如果(guo)再(zai)按確(que)認鍵，圖標消失，代表(biao)測(ce)試結束必(bi)須(xu)手動(dong)才能打(da)印。

3.2光標在 反接(jie) 上面時候，在反接(jie)線，內Cn，內Un，情況下(xia)，按(an)確認(ren)鍵在儀器屏(ping)幕右(you)下(xia)角會(hui)出現圖標(biao)(biao)，代表反(fan)接(jie)線低壓屏蔽測試。如(ru)果再按確認鍵(jian)，圖標(biao)(biao)消(xiao)失，代表取消(xiao)反(fan)接(jie)線低壓屏蔽。

反接線低壓屏蔽功能(neng)，一(yi)次接線可同時測出C1和C2的電容量和介損

在反接線(xian)、內標(biao)準和內高壓方式，光標(biao)移到“反接”處(chu)，按“確認”右下角顯示“M”。

打開反接(jie)(jie)線(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)，可(ke)在上端(duan)電(dian)容C1不(bu)拆母線(xian)(xian)的情況下，對其(qi)進行(xing)不(bu)拆線(xian)(xian)10kV反接(jie)(jie)線(xian)(xian)介(jie)(jie)損(sun)測量(liang)。如下圖所示：母線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)，C1上端(duan)不(bu)拆線(xian)(xian)，C1下端(duan)接(jie)(jie)高壓(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)，C2末端(duan)接(jie)(jie)Cx芯(xin)線(xian)(xian)。儀器(qi)采用反接(jie)(jie)線(xian)(xian)/10kV/M測量(liang)方(fang)式，可(ke)同時測出C11和(he)下端(duan)屏蔽(bi)部分的電(dian)容量(liang)和(he)介(jie)(jie)損(sun)值。

3.3光標在(zai) 正接 上面時(shi)候，按確認鍵則測試打印機，換(huan)紙。

3.4光標在 啟(qi)動(dong) 上面(mian)時候，按減小鍵則代(dai)表取出存儲的數(shu)據。

3.5測試完畢，如果按減小鍵，則代(dai)表存儲測試的數據

八(ba)、WBJS8000G超強干擾(rao)介質(zhi)損耗測試儀(yi)功(gong)能簡介(jie)

儀器面板見圖九所示(shi)：

打(da)印機——打(da)印測量數據。

顯示器——128×64點(dian)陣液晶顯示(shi)(shi)器(qi)，顯示(shi)(shi)菜單和各(ge)種(zhong)提(ti)示(shi)(shi)信息及測量(liang)結果。

  鍵——選擇菜單項(xiang)，被(bei)選中項(xiang)反白字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內(nei)容，采用循環滾動方式。

▼ 鍵(jian)——修(xiu)改菜單內容，采用循環滾動方(fang)式。

確認鍵——在“測試”選項上(shang)按此鍵進入(ru)測試狀(zhuang)態。

電源開關——整機電源的開啟和關閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保險倉。

9．自激法電流輸出端——測量(liang)CVT的(de)專用(yong)端子(zi)。

10．地——為接地線接線端子。

11．CX插(cha)座(zuo)——是(shi)試品信號(hao)的(de)測(ce)量輸(shu)入端，正接線(xian)時由(you)專(zhuan)用低壓(ya)電纜連接，此電纜單層屏(ping)蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接試品(pin)低(di)端。反接線時(shi)此端空(kong)置(zhi)。

12．CN插座——是外標準電容信號的測量(liang)輸入端，使用(yong)內標準時此端空(kong)置(zhi)。

13．HV插座(zuo)——高壓引出端(duan)子，由高壓電纜連接(jie)(jie)，接(jie)(jie)試品高壓端(duan)。輸(shu)出10kv高壓。

14．RS-232接口，用來連接電(dian)腦，上傳數據。

九、儀(yi)器操作步驟

1．測量前準備(bei)：

1）用(yong)接地線(xian)一端(duan)接儀器的(de)接地柱，另(ling)一端(duan)接可靠的(de)大地，保證儀器外殼處在(zai)地電位上(shang)。

2）正接(jie)線時：將高(gao)壓(ya)電纜插(cha)(cha)頭插(cha)(cha)入后門HV插(cha)座中，將(jiang)另(ling)一端的(de)紅色(se)大鉗(qian)子夾(jia)到被測(ce)試品的(de)**引線(xian)上，黑色(se)小鉗(qian)子懸空或(huo)夾(jia)在紅色(se)大鉗(qian)子上。將(jiang)CX低壓電纜插(cha)入(ru)CX插座中(zhong)，另一端的紅色夾子夾試品(pin)的低端，黑色夾子懸空或(huo)接屏(ping)蔽裝置。

3）反(fan)接線時(shi)：將高壓(ya)電(dian)纜(lan)插(cha)(cha)頭插(cha)(cha)入后門HV插座中，將(jiang)另(ling)一端的紅色大鉗子夾到被測試品的**引(yin)線上，紅色小(xiao)鉗子懸空或接屏(ping)蔽裝置。Cx插座不用。

2．打開電(dian)源(yuan)開關，儀(yi)器進行自檢，若自檢良好，液晶(jing)屏顯示中文主菜單如

圖十所示。

3．菜單(dan)選擇：

按(an)鍵可移動光標至各(ge)菜單(dan)項，并(bing)循環指(zhi)示(shi)。被選中(zhong)項反白字體顯示(shi)。選擇(ze)鍵的流程(cheng)見圖十一所示(shi)。

在光標當(dang)前所示項目(mu)，按(an)▼ ▲鍵鍵可(ke)進(jin)行該項菜單的變更，并(bing)循環指示，流程見圖十(shi)二(er)所示。

將菜單變更至與測(ce)試要求相(xiang)對應后即(ji)可按選擇鍵進行下(xia)個項(xiang)目的選擇。

4、 頻(pin)率：光標在頻(pin)率上，按↑↓鍵選擇定頻(pin)和變頻(pin)：

光標在定頻上：按(an)住“啟停”鍵(jian)1s以上(shang)切(qie)換到全頻率選擇，按↑↓鍵(jian)循環(huan)顯示(shi)45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設置不能(neng)抗干擾，在(zai)試驗(yan)室內測量或校(xiao)驗(yan)時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量(liang)，研究不同頻率(lv)下(xia)介損的變化時選用。

光標在變頻(pin)上：按住“啟停”鍵1s以上切換到(dao)全頻(pin)率選擇(ze)，按↑↓鍵循環(huan)顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適(shi)合50Hz電網(wang)工頻(pin)干擾(rao)下(xia)測量。

“6-Hz”：為(wei)55/65Hz自動變頻，適合(he)60Hz電(dian)網(wang)工頻干擾下測(ce)量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適(shi)合(he)50Hz電網工頻干擾下測量。

5、測試：當(dang)光(guang)標(biao)在 測試 項目上(shang)時，按確(que)認(ren)鍵大約3秒鐘開(kai)始測試。測試過程中顯示的畫面(mian)如圖十三(san)（正接線，變頻）所示，當下面(mian)的進程到100%時候測(ce)(ce)試完畢，然后顯示測(ce)(ce)量(liang)結果(guo)見圖十四所示，此時光標指示打印機(ji)圖標，按確(que)認鍵打印報告。測(ce)(ce)量(liang)結果(guo)的意義(yi)如下：

tgδ： 試品的損耗因數(shu)tgδ值(zhi)

CX： 測量的電(dian)容值

V：施加電壓值

I：試品流(liu)過的電(dian)流(liu)

F1,F2 : 試驗(yan)頻率

打印結束(shu)后，關閉電源開關，測試完畢。

十、現場試(shi)驗注意事項

如(ru)果使用(yong)中出現測試數據(ju)明顯不合(he)理(li)，請從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸(chu)**

現(xian)場測(ce)量使用搭(da)鉤連接(jie)(jie)試品(pin)時(shi)，搭(da)鉤務(wu)必與(yu)試品(pin)接(jie)(jie)觸(chu)良好，否則(ze)接(jie)(jie)觸(chu)點放電(dian)會引起數據(ju)嚴(yan)重(zhong)波動！尤(you)其是引流(liu)線氧(yang)化層太厚，或風吹線擺動，易造成接(jie)(jie)觸(chu)**。

2、接地接觸**

接地(di)**會引(yin)起儀(yi)器保(bao)護或數據嚴重波動。應刮凈接地(di)點(dian)上(shang)的油(you)漆和(he)銹蝕，務必保(bao)證0電阻接地！

3、直接測量(liang)CVT或末端屏蔽法(fa)測(ce)量電磁式PT

直(zhi)接測量CVT的下節耦合電容會出現負(fu)介損，應改用(yong)自激法(fa)。

用末端屏蔽法測量電(dian)磁式PT時，由于(yu)受潮引起“T形網絡干擾”出現(xian)負(fu)介損，吹干(gan)下面(mian)三裙(qun)瓷套和接線端子(zi)盤即可(ke)。也可(ke)改用常規法或末端加壓法測量。

4、空(kong)氣濕度(du)過(guo)大

空氣濕度大(da)使介損測(ce)量值異常增(zeng)大(da)（或減(jian)小甚至為負）且不(bu)穩定，必要時可加屏(ping)蔽環。因人為加屏(ping)蔽環改(gai)變了試品(pin)電場(chang)分布，此(ci)法有(you)爭議，可參照(zhao)有(you)關規程。

5、發電(dian)機(ji)供電(dian)

發電機(ji)供電時輸(shu)入頻率不穩定，可(ke)采用定頻50Hz模式工(gong)作。

6、測試線

由(you)于長期使(shi)用，易造成測試線(xian)隱性斷路，或(huo)芯線(xian)和(he)屏蔽(bi)短路，或(huo)插(cha)頭接(jie)觸**，用戶(hu)應經常維護測試線(xian)；

測試(shi)標(biao)準電容試(shi)品時，應(ying)使用(yong)全屏蔽插頭連接，以消除(chu)附加(jia)雜散電容影響，否則不能(neng)反映(ying)出儀(yi)器精度(du)；

自激法測量CVT時(shi)，非專用(yong)的高壓線應吊起懸空，否則(ze)對地附加雜散電容(rong)和介損會引起測量誤差。

7、工作(zuo)模式選(xuan)擇

接好線(xian)后請選擇正確的測量(liang)工作模式（正、反和CVT），不可選錯。特別是干擾(rao)環境下應選用變頻抗干擾(rao)模式。

8、試驗方法影響

由于(yu)介損(sun)測量受試驗方法影響較大，應區分是試驗方法誤差還是儀(yi)器誤差。出現問題時(shi)可首(shou)先檢查(cha)接(jie)線(xian)，然后檢查(cha)是否為儀(yi)器故障。

9、儀(yi)器故(gu)障

用(yong)萬用(yong)表測量一下測試線是否(fou)斷(duan)路，或芯線和屏蔽是否(fou)短路；輸入(ru)電源(yuan)220V過高或(huo)過低；接地是否良好。

用(yong)正(zheng)、反接(jie)線測一下標準(zhun)電(dian)容器或已知容量和介損(sun)的電(dian)容試(shi)品，如果結果正(zheng)確，即可判斷儀器沒有(you)問題；

拔下(xia)所(suo)有測試導線(xian)，進(jin)行空(kong)試升壓，若不能正常(chang)工作(zuo)，儀器可能有故(gu)障。

啟(qi)動CVT測(ce)量后測(ce)量低壓輸出(chu)，應出(chu)現2～5V電壓，否則儀器有故障。

十一、 儀器檢定

1、用標(biao)準損(sun)耗器檢(jian)定

用(yong)(yong)帶插頭(tou)的(de)屏蔽電纜連接標準損(sun)耗器(qi)。如果不(bu)能保證(zheng)標準損(sun)耗器(qi)的(de)精度(du)，應使(shi)用(yong)(yong)比對法檢定(ding)，建議用(yong)(yong)2801電橋(qiao)或其(qi)它精密電橋(qiao)作比對標準。儀器應(ying)選用“內標準”和“RC串聯試品(pin)”，可選擇工(gong)頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢(jian)定(ding)：使用帶插頭的屏蔽電(dian)纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為(wei)Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗干擾能(neng)力(li)

設置一個回路向儀器注入定量的干擾(rao)電流。

注意：

1）應考慮到(dao)該回(hui)路(lu)可能(neng)成為試品的一部(bu)分。

2）儀器啟(qi)動后會使220V供(gong)電電路帶有(you)測(ce)量頻(pin)率分量，如果該(gai)頻(pin)率分量又(you)通過干擾電流進入儀(yi)器(qi)，則無法檢驗儀(yi)器(qi)的(de)抗干擾能(neng)力。

3）不建議用臨近高壓(ya)導體施加干擾，因為這樣(yang)很容易產生近距離**放(fang)電(dian)，這種放(fang)電(dian)電(dian)阻是非(fei)線(xian)性的，容易產生同頻(pin)干擾。

十二、變頻(pin)測量(liang)討論

1、變頻(pin)測量

干擾十分嚴重時，變頻測(ce)量能得到準確可(ke)靠的結果。例如用55Hz測(ce)量(liang)時，測(ce)量(liang)系統只允(yun)許55Hz信號通過，50Hz干擾信號被有效抑(yi)制，原因(yin)在于測量(liang)系(xi)統很容(rong)易(yi)區別(bie)不(bu)同頻率，由下述簡(jian)單計算可(ke)以(yi)說明選頻測量(liang)的效果：

兩(liang)個頻率相差1倍的正弦(xian)波疊加到一起，高頻(pin)的是干擾(rao)，幅度(du)為(wei)低頻(pin)的10倍(bei)：

這剛好(hao)是低頻部(bu)分的(de)相位和幅(fu)度，干擾(rao)被抑制。實(shi)際波形(xing)的(de)測量點多(duo)達數萬(wan)，計算量很大，結(jie)果反映了波形(xing)的(de)整體(ti)特征。

2、頻率和介損(sun)的關(guan)系

介損有RC串聯和并聯兩種理想模型：串聯模型tgδ=2πfRC，并(bing)聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別隨頻率f成正(zheng)比(bi)和反比(bi)。如圖所示，f對(dui)完(wan)全(quan)正比(bi)和(he)完(wan)全(quan)反比(bi)兩種模(mo)型(xing)影(ying)響較大。但實際電容器是多(duo)種模(mo)型(xing)交織(zhi)的混合模(mo)型(xing)，此(ci)時f的(de)影響就小。

3、自動(dong)變頻與50Hz等效

儀器(qi)采(cai)用自動變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測(ce)一個點，然(ran)后推(tui)算50Hz頻(pin)率下數據(ju)。除多個(ge)元件(jian)電路的(de)(de)低(di)頻(pin)諧振外，單(dan)個(ge)試品中的(de)(de)介(jie)(jie)質不(bu)(bu)可能在低(di)頻(pin)引起(qi)能量(liang)(liang)吸收峰，工(gong)頻(pin)附(fu)近介(jie)(jie)損(sun)(sun)總(zong)是隨(sui)頻(pin)率單(dan)調變(bian)化的(de)(de)。因此(ci)這(zhe)種測量(liang)(liang)方法不(bu)(bu)會(hui)帶來明顯(xian)誤(wu)差。實際(ji)上，平均前的(de)(de)兩個(ge)介(jie)(jie)損(sun)(sun)值已十(shi)分接近，即使不(bu)(bu)平均也(ye)完全有參考價值。目前，變(bian)頻(pin)介(jie)(jie)損(sun)(sun)儀已成(cheng)為(wei)介(jie)(jie)損(sun)(sun)測量(liang)(liang)的(de)(de)常(chang)規儀器，其優異的(de)(de)抗干擾能力和準確(que)度已經(jing)得(de)到(dao)認可。

十三、儀器(qi)的(de)裝箱清單

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