一、WBJS8000G介損分析儀概述

介損測量(liang)是(shi)絕(jue)(jue)緣(yuan)試(shi)驗中(zhong)很基本(ben)的(de)(de)方(fang)法，可(ke)以(yi)(yi)有(you)效地(di)發現電(dian)器(qi)設備絕(jue)(jue)緣(yuan)的(de)(de)整體受潮劣化(hua)變質，以(yi)(yi)及局部(bu)缺(que)陷(xian)等(deng)。在電(dian)工制造、電(dian)氣設備安裝(zhuang)、交接和(he)預防性(xing)試(shi)驗中(zhong)都廣泛應用(yong)。變壓器(qi)、互感器(qi)、電(dian)抗器(qi)、電(dian)容器(qi)以(yi)(yi)及套管、避雷(lei)器(qi)等(deng)介損的(de)(de)測量(liang)是(shi)衡量(liang)其絕(jue)(jue)緣(yuan)性(xing)能的(de)(de)*基本(ben)方(fang)法。LYJS9000F變頻介質損耗(hao)測試(shi)儀突破了傳統的(de)電(dian)橋測量方式(shi)，采用變頻電(dian)源技術，利用單片機、和現代化電(dian)子技術進(jin)行自動頻率變換、模/數(shu)轉(zhuan)換和(he)數(shu)據運(yun)算；達(da)到抗(kang)干擾能力強、測試速度(du)(du)快、精(jing)度(du)(du)高(gao)、全自動數(shu)字化、操作簡(jian)便；電(dian)源采(cai)用大功率開關(guan)電(dian)源，輸(shu)出(chu)45Hz和55Hz純正弦波，自動加(jia)壓(ya)，可提供*高10千伏(fu)的電壓；自動濾除50Hz干擾(rao)(rao)，適(shi)用于變電站(zhan)等電磁干擾(rao)(rao)大的現(xian)場測(ce)試(shi)。廣泛適(shi)用于電力行業(ye)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設備(bei)的介損測(ce)量。

二(er)、WBJS8000G介(jie)損分析儀**措施

1、使用本儀器(qi)前一定要認真閱讀本手冊。

2、儀(yi)器的操作者應具備(bei)一(yi)般電(dian)氣設備(bei)或儀(yi)器的使用常識。

3、本(ben)儀器(qi)戶內外均可(ke)使用，但應避(bi)開雨淋(lin)、腐蝕氣(qi)體、塵埃過濃(nong)、高溫、陽光直射等場(chang)所(suo)使用。

儀表應避免劇烈振動。

5、對儀器的(de)維(wei)修、護理和調整應由專業(ye)人員進行。

6、在任何接線之前必須用接地(di)電纜把儀器接地(di)端(duan)子與大(da)地(di)可靠連接起來。

7、由(you)于測(ce)(ce)試(shi)設備(bei)產生高(gao)(gao)電壓，所以測(ce)(ce)試(shi)人(ren)員必(bi)(bi)須(xu)完全(quan)嚴格遵守(shou)**操作(zuo)規(gui)程，防止他人(ren)接觸高(gao)(gao)壓部件和電路。直(zhi)接從事(shi)測(ce)(ce)試(shi)的人(ren)員必(bi)(bi)須(xu)完全(quan)了解高(gao)(gao)壓測(ce)(ce)試(shi)線路，及儀器操作(zuo)要點。非從事(shi)測(ce)(ce)試(shi)人(ren)員必(bi)(bi)須(xu)遠離高(gao)(gao)壓測(ce)(ce)試(shi)區(qu)，測(ce)(ce)試(shi)區(qu)必(bi)(bi)須(xu)用柵欄或繩索(suo)、警(jing)視牌等清楚表示出來。

8、儀(yi)器的調整維(wei)修和維(wei)護，必須在不加電情況(kuang)下進行，如果(guo)必須加電，則操(cao)作(zuo)者必須非常熟悉本(ben)儀(yi)器高(gao)壓危險(xian)部件。

9、保險(xian)管損(sun)壞時，必須確保更換(huan)同(tong)樣的保險(xian)，禁(jin)止(zhi)更換(huan)不(bu)同(tong)型號保險(xian)或將保險(xian)直接短路(lu)使用。

儀器出現故(gu)障時，關閉電(dian)源開(kai)關，等待一分鐘之后(hou)再檢查。

三(san)、WBJS8000G介損分析(xi)儀可測試(shi)參數

儀(yi)器(qi)可測量下列參數(shu)并數(shu)字顯示(shi)：

被測試品的電容量(liang)值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品的介質損耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G介(jie)損分析儀性(xing)能特點

1、儀器采用(yong)復數(shu)電(dian)流法，測(ce)(ce)量電(dian)容、介質(zhi)損耗(hao)及其它參數(shu)。測(ce)(ce)試(shi)結果精(jing)度高，便于實(shi)現自動(dong)化測(ce)(ce)量。

2、儀器采用了(le)變頻技術來消(xiao)除(chu)現場(chang)50Hz工(gong)頻(pin)干(gan)擾，即(ji)使在強電磁干(gan)擾的(de)環(huan)境下也(ye)能測得可靠的(de)數據(ju)。

3、儀(yi)器(qi)采用大屏幕(mu)液晶顯示(shi)器(qi)，測試(shi)過程通過漢字菜單(dan)提示(shi)既直觀(guan)又便于(yu)操作。

4、儀器操作簡(jian)便，測量過程由(you)微(wei)處理器控(kong)制(zhi)，只要選擇好合(he)適的(de)測量方式，數據的(de)測量就可在微(wei)處理器控(kong)制(zhi)下(xia)自動(dong)完(wan)成。

5、一(yi)體化機型，內(nei)附(fu)標準電(dian)容和高壓電(dian)源(yuan)，便于(yu)現場(chang)測試，減少(shao)現場(chang)接線。

6、儀器測(ce)(ce)量準(zhun)確度高，可滿足油(you)介損測(ce)(ce)量要(yao)求，因此只需配(pei)備標準(zhun)油(you)杯，和專用測(ce)(ce)試線即可實現油(you)介損測(ce)(ce)量。

7、設CVT測試功能，可實現CVT的自(zi)激法(fa)測試，無需(xu)外置附件，只需(xu)一(yi)次測量(liang)，C1,C2的電容和介損全部測出。

8、反接(jie)線測試采用ivddv技術,消除了以往(wang)反接線數據不(bu)穩定的現象(xiang)。

9、具(ju)有反(fan)接線低壓屏蔽功能，在(zai)220kV CVT 母線(xian)接地情況下(xia)，對(dui)C11 可進(jin)行不拆線10kV 反(fan)接線(xian)介損(sun)測量

10、具有(you)測量高(gao)電壓介損(sun)功能(neng)，能(neng)夠使用高(gao)壓變壓器(qi)或串聯諧振進(jin)行超過(guo)10kV電壓的(de)介損試驗(yan)。

12、接(jie)(jie)(jie)地保(bao)護(hu)功能，當儀器(qi)不接(jie)(jie)(jie)地線或(huo)接(jie)(jie)(jie)地**時，儀器(qi)不進入(ru)正常程序，不輸出高壓。過流(liu)保(bao)護(hu)功能，在(zai)試品短路或(huo)擊穿時儀器(qi)不受損壞(huai)。

13、觸(chu)電(dian)保(bao)護功能，當儀器操作人員不小(xiao)心觸(chu)電(dian)時候，儀器會(hui)立(li)即切(qie)斷(duan)高壓，保(bao)障試驗人員的**.

五(wu)、WBJS8000G介損分析儀技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀(du)數×1%+0.00040）

抗干(gan)擾指標：  變頻抗(kang)干擾(rao)，在(zai)200%干擾下仍能達(da)到上述準確度(du)

電容(rong)量范圍：  內施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外(wai)施高(gao)壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：      *高(gao)0.001pF，4位(wei)有效數字

tgδ范圍：     不(bu)限，分辨率(lv)0.001%，電(dian)容、電(dian)感(gan)、電(dian)阻三種試(shi)品自動識別(bie)。

試驗電流(liu)范圍：10μA～1A

內施高壓：    設定電(dian)壓(ya)范(fan)圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方(fang)式：連續平滑調節

試驗頻率(lv)： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻(pin)

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接(jie)線時*大試驗(yan)電流1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

反接線(xian)時(shi)*大試(shi)驗電流10kV/1A，工(gong)頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸(shu)出電流3～30A

CVT變比測(ce)量：

變比測(ce)量(liang)精(jing)度：±讀數(shu)×1%     變比測(ce)量范圍：10～99999

相位(wei)測量精度(du)：±0.1°        ;   相(xiang)位測量范圍：0～359.9°

測(ce)量時間：    約(yue)40s，與測量方式(shi)有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市(shi)電或發電機供電

計算(suan)機接口：  標(biao)準(zhun)RS232接口

打印機(ji)：         煒煌A7熱(re)敏微型(xing)打(da)印機(ji)

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六(liu)、WBJS8000G介損分析儀測量方式及原理

按被測(ce)(ce)試品(pin)是否(fou)接(jie)地分兩(liang)種測(ce)(ce)量方式，即正(zheng)接(jie)線測(ce)(ce)量方式和反接(jie)線測(ce)(ce)量方式。兩(liang)種測(ce)(ce)量方式的原(yuan)理(li)如圖(tu)一(yi)所示：

在高壓電(dian)源的10kV側，高壓分(fen)兩(liang)路，一路給機內標準電(dian)容(rong)CN，此(ci)電(dian)容(rong)介損非常小，可(ke)以認為(wei)介損為(wei)零，即為(wei)純容(rong)性電(dian)流，此(ci)電(dian)流ICN 可(ke)做為(wei)容(rong)性電(dian)流基準。在Cx試品(pin)一側，試品(pin)電(dian)流Icx通過采樣電(dian)阻R采入(ru)機內，此(ci)Icx可(ke)分(fen)解成(cheng)水平(ping)分(fen)量和垂直分(fen)量見(jian)圖二所示，通過計算(suan)水平(ping)分(fen)量與垂直分(fen)量的比(bi)值(zhi)(zhi)即可(ke)得到tgδ值(zhi)(zhi)。

在圖一（a）中Cx為非(fei)接(jie)(jie)地(di)試(shi)(shi)品(pin)，試(shi)(shi)品(pin)電(dian)流(liu)Icx從(cong)試(shi)(shi)品(pin)末端進入(ru)采(cai)樣(yang)電(dian)阻R，得到全電(dian)流(liu)值，在圖一（b）中Cx為接(jie)(jie)地(di)試(shi)(shi)品(pin)，機內Cx端直接(jie)(jie)接(jie)(jie)地(di)，電(dian)流(liu)Icx從(cong)試(shi)(shi)品(pin)高壓(ya)端到機內采(cai)樣(yang)電(dian)阻取得全電(dian)流(liu)值。

七、WBJS8000G介損分析儀常見設(she)備的接線方法

1．儀器引出端子說明：

HV ——  儀(yi)器的測(ce)量引線(xian)高壓(ya)端（帶危險電壓(ya)） 。

CX ——  正接線時試品電流輸入(ru)端。

——  儀器的接地(di)端，使用時與(yu)大(da)地(di)可靠相接

2.參考接線

2.1正接(jie)線(xian)、內標準電容(rong)、內高壓（常規(gui)正接(jie)線(xian)）：

2.2反接線(xian)、內標準電容、內高(gao)壓（常(chang)規反接線(xian)）

2.3正接線、外(wai)標準(zhun)電容(rong)、內高(gao)壓(ya)：

2.4反(fan)接線(xian)、外標準(zhun)電容、內(nei)高(gao)壓：

2.5正接線(xian)、內標準電容、外高壓：

2.6反接線(xian)、內標準電容(rong)、外(wai)高壓：

2.7正接線、外(wai)(wai)標(biao)準電(dian)容(rong)、外(wai)(wai)高壓（高電(dian)壓介(jie)損(sun)）：

2.8反(fan)接線、外標準(zhun)電容(rong)、外高壓(ya)：

2.9  CVT自激法測(ce)量：

CVT自激法(fa)可(ke)(ke)按下圖(tu)接線(xian)。如果(guo)C1是單節電(dian)容，母線(xian)不能接地；如果(guo)C1是多節電(dian)容，母線(xian)可(ke)(ke)接地，C11和(he)C12可(ke)(ke)用(yong)(yong)常規正(zheng)反接線(xian)測量(liang)，C13和(he)C2用(yong)(yong)自激法(fa)測量(liang)。

CVT自(zi)激法測(ce)量中，儀器先測(ce)量C1，然后自(zi)動(dong)倒線測(ce)量C2，并(bing)自(zi)動(dong)校準分壓影響。

應(ying)注(zhu)意，高(gao)壓(ya)線應(ying)懸空不(bu)能接觸(chu)地(di)面，否則(ze)其對地(di)附加介損會引起(qi)誤差，可用細電纜連接高(gao)壓(ya)插座(zuo)與CVT試品并吊起(qi)。強烈建議(yi)使用高壓(ya)(ya)插(cha)座使用的高壓(ya)(ya)線用黑色Cx線(xian)。

2.10 CVT變(bian)比測(ce)試

儀器高壓(ya)線的(de)芯線紅夾子(zi)接CVT的上(shang)端，母線拆地。CVT下端接地(di)，低壓線紅黑夾子接二(er)次繞(rao)組，注意(yi):如果(guo)測試角度接近180度，應將紅(hong)黑夾子顛倒(dao)。

3.附加功能

3.1光(guang)標(biao)在 電壓：10kV上面時候，按“確認”鍵在儀器屏(ping)幕的左(zuo)下角會出現圖標，代(dai)表測試結束自動打印。如果再按確認鍵，圖標消(xiao)失，代(dai)表測試結束必(bi)須手(shou)動才能打印。

3.2光標在(zai) 反接 上(shang)面(mian)時(shi)候，在(zai)反接線，內Cn，內Un，情況下(xia)，按確認鍵在儀器(qi)屏幕右下(xia)角(jiao)會(hui)出(chu)現圖標，代表反接線低(di)壓屏(ping)蔽測(ce)試。如果(guo)再按確認鍵，圖標消失(shi)，代表取消反接線低(di)壓屏(ping)蔽。

反接線(xian)低壓(ya)屏蔽功能(neng)，一次(ci)接線(xian)可同時測(ce)出C1和C2的(de)電容量和介損

在反接線、內標準和內高壓方式，光標移到“反(fan)接”處(chu)，按“確認”右(you)下(xia)角顯示“M”。

打開反接(jie)線(xian)(xian)低(di)壓屏蔽(bi)(bi)，可在上端(duan)電(dian)(dian)容(rong)(rong)C1不拆(chai)母線(xian)(xian)的情況下(xia)，對(dui)其進(jin)行(xing)不拆(chai)線(xian)(xian)10kV反接(jie)線(xian)(xian)介損(sun)測(ce)量。如下(xia)圖所(suo)示：母線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)，C1上端(duan)不拆(chai)線(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)接(jie)高(gao)壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末(mo)端(duan)接(jie)Cx芯線(xian)(xian)。儀器采(cai)用反接(jie)線(xian)(xian)/10kV/M測(ce)量方式，可同時(shi)測(ce)出C11和下(xia)端(duan)屏蔽(bi)(bi)部分的電(dian)(dian)容(rong)(rong)量和介損(sun)值(zhi)。

3.3光標在 正(zheng)接 上面(mian)時候，按確認(ren)鍵(jian)則測試打印機，換(huan)紙(zhi)。

3.4光標在(zai) 啟動 上面(mian)時(shi)候，按減小鍵則代表取出存儲(chu)的(de)數據。

3.5測(ce)試(shi)完畢，如(ru)果(guo)按(an)減小鍵，則代表存(cun)儲測(ce)試(shi)的數據

八、WBJS8000G介(jie)損(sun)分析儀功能(neng)簡介

儀器面板見圖九所(suo)示(shi)：

打印機——打印測(ce)量(liang)數據。

顯(xian)示器——128×64點陣液晶(jing)顯(xian)示器，顯(xian)示菜單和各種提(ti)示信息及測量結(jie)果。

  鍵——選擇菜(cai)單項，被選中項反白字(zi)體顯示。

▲  鍵(jian)——修改菜單(dan)內容，采用(yong)循(xun)環滾動方式(shi)。

▼ 鍵(jian)——修改(gai)菜(cai)單內(nei)容，采(cai)用循環滾動方式(shi)。

確認(ren)鍵——在“測(ce)試(shi)”選項上按此鍵進(jin)入測(ce)試(shi)狀態。

電(dian)源開(kai)關——整機電(dian)源的開(kai)啟和關閉(bi)。

電源座(zuo)——交流220V±10%，50±1Hz電源輸(shu)入口，帶保險倉(cang)。

9．自激法電流輸(shu)出端——測量CVT的專用端子。

10．地——為接(jie)地線接(jie)線端子(zi)。

11．CX插座——是(shi)試品信號(hao)的(de)測量輸入端，正接(jie)線時由專用低壓電(dian)纜連接(jie)，此電(dian)纜單(dan)層屏蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接(jie)試品低(di)端。反接(jie)線時此端空置。

12．CN插座(zuo)——是(shi)外標準電容信號的測(ce)量輸入端，使用內標準時此端空置。

13．HV插座——高(gao)壓引(yin)出(chu)端子，由高(gao)壓電(dian)纜連接，接試品(pin)高(gao)壓端。輸(shu)出(chu)10kv高壓。

14．RS-232接口，用來(lai)連接電腦，上傳數據。

九(jiu)、儀器操作步驟

1．測量(liang)前準(zhun)備：

1）用接地線一端(duan)接儀器(qi)的接地柱，另一端(duan)接可靠的大地，保證(zheng)儀器(qi)外殼處在地電位上。

2）正接線(xian)時：將高壓電纜插(cha)頭插(cha)入后門(men)HV插座(zuo)中，將另(ling)一端的(de)紅(hong)色(se)大鉗(qian)子(zi)夾(jia)(jia)到(dao)被測(ce)試品的(de)**引線(xian)上，黑(hei)色(se)小鉗(qian)子(zi)懸(xuan)空或夾(jia)(jia)在紅(hong)色(se)大鉗(qian)子(zi)上。將CX低壓電纜(lan)插入CX插座中，另一端的紅色夾子夾試(shi)品的低端，黑色夾子懸空(kong)或(huo)接(jie)屏蔽裝置(zhi)。

3）反接線時：將高壓電(dian)纜插頭插入后門HV插座中，將另(ling)一端的紅(hong)色大(da)鉗子夾到被(bei)測試品的**引線(xian)上，紅(hong)色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。

2．打(da)開電(dian)源開關，儀器進行(xing)自檢(jian)(jian)，若自檢(jian)(jian)良好，液晶屏顯示中(zhong)文主菜單如

圖十(shi)所示。

3．菜(cai)單選擇：

按鍵可移動光標至各菜單項，并循環指示(shi)。被選中項反(fan)白(bai)字(zi)體顯示(shi)。選擇鍵的(de)流程見圖十一所示(shi)。

在光標當前所示項目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該項菜單的(de)變更(geng)，并循環指示，流程見圖十二(er)所示。

將菜(cai)單變更至與測試要求相對應(ying)后即(ji)可按(an)選擇鍵(jian)進行下個項目的(de)選擇。

4、 頻(pin)率：光(guang)標在頻(pin)率上，按↑↓鍵選擇定頻(pin)和變頻(pin)：

光標在定頻上(shang)：按住“啟停”鍵(jian)1s以(yi)上切(qie)換到(dao)全頻(pin)率(lv)選(xuan)擇，按↑↓鍵循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(ce)量，此(ci)設置不能(neng)抗干擾，在試(shi)驗(yan)室內測(ce)量或校驗(yan)時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單(dan)頻(pin)(pin)率測量，研究不(bu)同頻(pin)(pin)率下介損的變化時選用。

光標在變頻上：按(an)住(zhu)“啟(qi)停(ting)”鍵1s以上切換到全頻(pin)率選擇，按↑↓鍵循環(huan)顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合50Hz電(dian)網工頻干擾(rao)下測量(liang)。

“6-Hz”：為55/65Hz自(zi)動變頻，適合60Hz電網工頻(pin)干(gan)擾下(xia)測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適(shi)合50Hz電網工頻干擾下測量。

5、測試(shi)：當光標在 測試(shi) 項(xiang)目上時，按確(que)認(ren)鍵大約3秒鐘開(kai)始(shi)測試。測試過程中顯示的(de)畫(hua)面如圖十(shi)三（正(zheng)接線(xian)，變(bian)頻）所示，當下面的(de)進程到100%時候測(ce)試完畢，然(ran)后顯示(shi)(shi)(shi)測(ce)量(liang)結果(guo)見圖十四所示(shi)(shi)(shi)，此時光標(biao)指示(shi)(shi)(shi)打印機(ji)圖標(biao)，按確認鍵打印報(bao)告。測(ce)量(liang)結果(guo)的意義如下：

tgδ： 試品的損(sun)耗(hao)因數tgδ值

CX： 測(ce)量的電容值(zhi)

V：施加電(dian)壓值

I：試(shi)品(pin)流(liu)過的(de)電流(liu)

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束后，關閉電源開關，測(ce)試完畢。

十、現(xian)場試驗注意事項(xiang)

如果使用中出現測(ce)試數據明顯不合理，請從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現場測量使用搭鉤(gou)連接(jie)試品時(shi)，搭鉤(gou)務(wu)必(bi)與試品接(jie)觸(chu)(chu)(chu)良好，否則接(jie)觸(chu)(chu)(chu)點放(fang)電會引起(qi)數據嚴重波動(dong)！尤其是引流線氧化層太(tai)厚(hou)，或風吹線擺動(dong)，易造成接(jie)觸(chu)(chu)(chu)**。

2、接地接觸**

接地**會引(yin)起儀器保(bao)護或數據(ju)嚴重波動。應(ying)刮凈接地點(dian)上的油漆和銹蝕，務必(bi)保(bao)證0電阻接地！

3、直(zhi)接測量CVT或末端屏(ping)蔽法測(ce)量(liang)電磁式PT

直接測量CVT的下(xia)節耦合(he)電容會出現負介損(sun)，應(ying)改用自激法。

用末(mo)端屏蔽(bi)法(fa)測量電磁式PT時，由于受潮引起“T形網絡干(gan)擾”出(chu)現負介損，吹干(gan)下面三裙(qun)瓷套和接線端子盤即可(ke)。也可(ke)改用常(chang)規(gui)法或末端加(jia)壓法測量。

4、空氣濕度過大

空(kong)氣(qi)濕度(du)大使(shi)介損測量值異常增大（或(huo)減小甚至為負）且(qie)不穩定，必要時可加(jia)屏蔽環。因(yin)人為加(jia)屏蔽環改變(bian)了試品電場分(fen)布(bu)，此法有爭議，可參照(zhao)有關規程。

5、發電機供電

發電機供電時輸入頻(pin)率(lv)不穩(wen)定(ding)，可采用定(ding)頻(pin)50Hz模式工作(zuo)。

6、測試線

由于長期(qi)使用，易造成測試線隱性斷路(lu)，或(huo)芯線和屏蔽短路(lu)，或(huo)插頭接觸**，用戶應經常維護測試線；

測試標準(zhun)電(dian)容(rong)試品時，應使用全屏蔽插(cha)頭連接(jie)，以消除附加雜散電(dian)容(rong)影(ying)響，否則(ze)不能反映出(chu)儀(yi)器精度(du)；

自激法測(ce)量CVT時，非專(zhuan)用的高壓線(xian)應吊起懸空，否則(ze)對地附加雜(za)散電容和介損會引起測量(liang)誤(wu)差。

7、工作(zuo)模式選擇

接好線(xian)后請(qing)選擇正確的測量工作模式（正、反和CVT），不(bu)可選(xuan)錯。特別是干(gan)擾(rao)環境下應(ying)選(xuan)用(yong)變(bian)頻抗(kang)干(gan)擾(rao)模式。

8、試驗方法影響

由于介損測量受(shou)試驗(yan)方(fang)法(fa)影響較大，應區(qu)分是試驗(yan)方(fang)法(fa)誤差(cha)還(huan)是儀器誤差(cha)。出現問題時(shi)可首先檢(jian)查(cha)(cha)接線，然后檢(jian)查(cha)(cha)是否為儀器故障。

9、儀器故障

用萬用表測(ce)量一下(xia)測(ce)試(shi)線是(shi)否斷(duan)路(lu)，或芯(xin)線和屏蔽是(shi)否短路(lu)；輸入電源220V過高或過低；接地是否良好。

用正(zheng)、反接線測一(yi)下標準電容器或已知容量和介損(sun)的電容試(shi)品(pin)，如果(guo)結果(guo)正(zheng)確，即可判斷(duan)儀器沒有問(wen)題；

拔(ba)下所有測試(shi)導(dao)線，進行(xing)空試(shi)升壓，若不能正常(chang)工作，儀器可能有故(gu)障。

啟(qi)動CVT測量后測量低壓輸出，應(ying)出現2～5V電壓，否(fou)則儀器有故障。

十一、 儀器檢定

1、用標(biao)準損耗器檢(jian)定(ding)

用帶(dai)插頭的屏蔽電纜連接(jie)標準(zhun)損耗(hao)器。如果不能保證標準(zhun)損耗(hao)器的精(jing)度，應使用比對法檢定，建議用2801電橋或其它(ta)精密電橋作比對標準。儀(yi)器應選用“內標準(zhun)”和“RC串聯試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用(yong)QSJ3檢定：使(shi)用帶插頭的屏蔽電(dian)纜連(lian)接QSJ3，選(xuan)擇“正(zheng)接/ 外Cn / 外Un式測量(liang)，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗干擾能(neng)力

設(she)置一個回路向儀器注入定量的干擾電流(liu)。

注意：

1）應考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動后會使220V供(gong)電(dian)電(dian)路帶有測(ce)量頻率分量，如果該頻率分量又通(tong)過干擾電(dian)流進入(ru)儀器，則無法(fa)檢驗儀器的抗干擾能力(li)。

3）不建議用臨(lin)近高壓導體施加干(gan)(gan)擾(rao)，因(yin)為這樣很容(rong)易產(chan)生近距離**放電(dian)(dian)，這種放電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻(zu)是非線性的，容(rong)易產(chan)生同頻干(gan)(gan)擾(rao)。

十(shi)二、變頻測量討論

1、變(bian)頻測量

干擾十(shi)分嚴重(zhong)時，變頻(pin)測(ce)量能得(de)到準(zhun)確可靠的(de)結果(guo)。例如用55Hz測量(liang)時，測量(liang)系統只允許55Hz信號通過，50Hz干(gan)擾信號被有效(xiao)抑制(zhi)，原因在于測(ce)量(liang)系(xi)統很容易區別不同頻(pin)率(lv)，由下述簡單計算可以說明選頻(pin)測(ce)量(liang)的效(xiao)果：

兩個頻率(lv)相差1倍的(de)(de)正弦波疊(die)加到一起，高(gao)頻的(de)(de)是干擾(rao)，幅度為低頻的(de)(de)10倍：

這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被(bei)抑制(zhi)。實際波(bo)形的測量點多達數萬(wan)，計算量很大，結果反映(ying)了波(bo)形的整體特征。

2、頻(pin)率(lv)和介損(sun)的關(guan)系

介損有(you)RC串聯和并聯兩種理想模(mo)型：串聯模(mo)型tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別隨頻率f成正比(bi)和(he)反比(bi)。如圖所示，f對完(wan)全(quan)正比和完(wan)全(quan)反比兩(liang)種(zhong)模(mo)(mo)型影(ying)響較大。但實際(ji)電容器是多種(zhong)模(mo)(mo)型交(jiao)織的混合模(mo)(mo)型，此(ci)時f的影響就(jiu)小。

3、自動(dong)變(bian)頻與50Hz等(deng)效(xiao)

儀(yi)器采用自動(dong)變頻在干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個(ge)點，然后推算50Hz頻(pin)(pin)(pin)率下(xia)數據。除多個元件(jian)電路(lu)的低頻(pin)(pin)(pin)諧振外，單個試品中的介(jie)質(zhi)不(bu)可(ke)能在低頻(pin)(pin)(pin)引(yin)起能量(liang)吸收峰，工頻(pin)(pin)(pin)附近介(jie)損(sun)總(zong)是隨頻(pin)(pin)(pin)率單調變化(hua)的。因此(ci)這(zhe)種測量(liang)方法不(bu)會帶(dai)來明顯(xian)誤差。實際上，平均(jun)前的兩個介(jie)損(sun)值(zhi)已(yi)十分(fen)接近，即使不(bu)平均(jun)也完全有參考(kao)價值(zhi)。目前，變頻(pin)(pin)(pin)介(jie)損(sun)儀(yi)已(yi)成(cheng)為介(jie)損(sun)測量(liang)的常(chang)規(gui)儀(yi)器，其優(you)異的抗干擾能力(li)和準確度(du)已(yi)經得到認可(ke)。

十三、儀器的裝箱清單

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