一、WBJS8000G變頻介質損耗儀(yi)概述

介損測量(liang)是(shi)絕(jue)(jue)緣(yuan)試驗中很基本的(de)(de)方(fang)法，可以(yi)有效地發現電(dian)(dian)器設(she)備(bei)絕(jue)(jue)緣(yuan)的(de)(de)整體(ti)受潮劣(lie)化變質，以(yi)及局部缺(que)陷等。在電(dian)(dian)工制造、電(dian)(dian)氣設(she)備(bei)安裝、交接和預防性(xing)試驗中都廣泛(fan)應用。變壓器、互感器、電(dian)(dian)抗器、電(dian)(dian)容器以(yi)及套管、避(bi)雷器等介損的(de)(de)測量(liang)是(shi)衡(heng)量(liang)其(qi)絕(jue)(jue)緣(yuan)性(xing)能的(de)(de)*基本方(fang)法。LYJS9000F變頻介質損耗測試儀突破了傳(chuan)統的電(dian)橋(qiao)測量方(fang)式，采(cai)用變頻電(dian)源技術，利用單(dan)片機、和現代化(hua)電(dian)子技術進(jin)行自動頻率變換(huan)、模/數轉換和數據運(yun)算；達到抗干(gan)擾能力強、測試(shi)速度快、精度高、全(quan)自動數字化、操作(zuo)簡(jian)便；電源(yuan)采用(yong)大(da)功率(lv)開(kai)關電源(yuan)，輸(shu)出(chu)45Hz和55Hz純正弦波(bo)，自動加壓，可提(ti)供(gong)*高10千伏的(de)電壓(ya)；自(zi)動(dong)濾除50Hz干擾(rao)，適(shi)用(yong)于變電(dian)站等(deng)(deng)電(dian)磁干擾(rao)大的(de)現場(chang)測試。廣泛(fan)適(shi)用(yong)于電(dian)力行(xing)業中變壓(ya)器、互感器、套管、電(dian)容(rong)器、避雷(lei)器等(deng)(deng)設備的(de)介損測量。

二(er)、WBJS8000G變頻介質損(sun)耗儀**措施

1、使用本儀(yi)器前一(yi)定要認(ren)真閱讀本手冊。

2、儀器的(de)操作者應具(ju)備一般電(dian)氣(qi)設(she)備或儀器的(de)使用(yong)常識。

3、本(ben)儀器戶內(nei)外均可使用(yong)(yong)，但應避開雨(yu)淋、腐蝕氣(qi)體(ti)、塵埃過濃、高溫(wen)、陽光直射等場所使用(yong)(yong)。

儀表應避免劇(ju)烈振動。

5、對儀器的維修、護理和調整應由(you)專業人員進行。

6、在(zai)任何(he)接(jie)線之前(qian)必(bi)須用接(jie)地(di)電(dian)纜(lan)把(ba)儀器接(jie)地(di)端(duan)子與大(da)地(di)可靠連接(jie)起來。

7、由于(yu)測試(shi)(shi)設備產生高電(dian)壓(ya)(ya)(ya)，所以測試(shi)(shi)人(ren)員(yuan)必須(xu)完全(quan)嚴格遵守**操作(zuo)規程，防止他人(ren)接(jie)觸(chu)高壓(ya)(ya)(ya)部件和電(dian)路。直接(jie)從(cong)(cong)事測試(shi)(shi)的人(ren)員(yuan)必須(xu)完全(quan)了解高壓(ya)(ya)(ya)測試(shi)(shi)線路，及儀器操作(zuo)要點。非從(cong)(cong)事測試(shi)(shi)人(ren)員(yuan)必須(xu)遠離(li)高壓(ya)(ya)(ya)測試(shi)(shi)區，測試(shi)(shi)區必須(xu)用柵(zha)欄或繩(sheng)索、警視牌等清(qing)楚表示(shi)出來。

8、儀(yi)器(qi)的調(diao)整維修和維護，必(bi)(bi)須(xu)在(zai)不(bu)加電情況下進行，如(ru)果必(bi)(bi)須(xu)加電，則操作者必(bi)(bi)須(xu)非(fei)常熟悉本儀(yi)器(qi)高(gao)壓危險部件。

9、保險管損壞時，必須確保更換同(tong)樣的保險，禁止(zhi)更換不同(tong)型號保險或將保險直接短路使用(yong)。

儀器出現故障(zhang)時，關閉電源開關，等待一分鐘(zhong)之后再檢查。

三(san)、WBJS8000G變(bian)頻(pin)介質損耗儀可測試參數

儀器可測(ce)量下(xia)列參數(shu)并數(shu)字顯示(shi)：

被測試品(pin)的(de)電容量值CX，以pF或(huo)nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被測試品的(de)介質(zhi)損(sun)耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G變頻(pin)介質損(sun)耗儀性能特點

1、儀器(qi)采用復數電(dian)流(liu)法(fa)，測(ce)量電(dian)容、介質損耗及其它參數。測(ce)試(shi)結(jie)果精度(du)高，便(bian)于實現自動化測(ce)量。

2、儀(yi)器采用了變頻技術來消(xiao)除(chu)現(xian)場50Hz工頻(pin)干擾，即使在強電磁干擾的環境下也能測得可靠的數(shu)據(ju)。

3、儀器采(cai)用大屏幕液晶顯示器，測試過程通過漢字菜單提示既直觀(guan)又便(bian)于(yu)操作。

4、儀(yi)器(qi)操(cao)作簡(jian)便，測量過程由微處理器(qi)控(kong)制，只要選擇(ze)好合適的測量方式(shi)，數(shu)據的測量就可在(zai)微處理器(qi)控(kong)制下自動(dong)完成。

5、一體化機型，內附標(biao)準電容和高壓(ya)電源，便于(yu)現場測(ce)試，減少現場接線。

6、儀(yi)器(qi)測(ce)量準確(que)度高，可滿足(zu)油(you)介(jie)損測(ce)量要(yao)求，因此只需(xu)配(pei)備標(biao)準油(you)杯，和(he)專用測(ce)試線即可實現油(you)介(jie)損測(ce)量。

7、設(she)CVT測試功能(neng)，可實現CVT的自激法測試(shi)，無(wu)需外置附件，只(zhi)需一次(ci)測量，C1,C2的電容和(he)介損全部(bu)測出。

8、反接線測(ce)試采用ivddv技(ji)術(shu),消除了(le)以(yi)往反接線數據不穩定(ding)的現象。

9、具有反(fan)接線低壓屏蔽功(gong)能(neng)，在220kV CVT 母線(xian)接地(di)情況(kuang)下，對C11 可進行不拆線10kV 反(fan)接線介損測量

10、具有(you)測量(liang)高電壓介(jie)損功能，能夠使用高壓變壓器或串聯(lian)諧振進行超過(guo)10kV電壓的介損試驗。

12、接地保護(hu)功能，當儀器不接地線或(huo)接地**時，儀器不進入正常程序，不輸出高壓。過(guo)流保護(hu)功能，在試品短路或(huo)擊穿時儀器不受損(sun)壞(huai)。

13、觸電(dian)保護功能，當儀器操作人員(yuan)不小心觸電(dian)時候，儀器會立即切(qie)斷(duan)高壓(ya)，保障試驗(yan)人員(yuan)的**.

五、WBJS8000G變頻介(jie)質損耗儀(yi)技術(shu)指標(biao)

準確度(du)：

Cx: ±（讀(du)數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀(du)數(shu)×1%+0.00040）

抗(kang)干(gan)擾指標：  變頻抗干擾，在(zai)200%干擾下仍能(neng)達到上(shang)述準(zhun)確度

電(dian)容量(liang)范圍：  內施(shi)高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高(gao)壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位有效(xiao)數字

tgδ范(fan)圍(wei)：     不限(xian)，分(fen)辨(bian)率(lv)0.001%，電容、電感、電阻三(san)種(zhong)試品自動識別。

試驗電流范圍：10μA～1A

內(nei)施高壓：    設定電壓(ya)范(fan)圍：0.5～10kV

*大輸出(chu)電流：200mA

升降(jiang)壓方式：連續平滑調節(jie)

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精度(du)：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試驗電流1A，工頻(pin)(pin)或變頻(pin)(pin)40-70Hz

反(fan)接線時(shi)*大試驗電流10kV/1A，工(gong)頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

CVT自(zi)激(ji)法低壓輸出(chu)：輸出(chu)電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比(bi)測量(liang)：

變比測量精度：±讀數×1%     變比測量范圍：10～99999

相位測量(liang)精度：±0.1°           相位測量范圍：0～359.9°

測(ce)量時間：    約40s，與測量方式有關

輸入電源(yuan)：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機(ji)供電(dian)

計算機(ji)接(jie)口：  標準(zhun)RS232接口

打印機：         煒(wei)煌A7熱敏微型打(da)印(yin)機(ji)

環境溫(wen)度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、WBJS8000G變頻(pin)介(jie)質損耗儀測(ce)量方式(shi)及原理

按被測試品是否(fou)接地(di)分兩種測量方(fang)(fang)式(shi)，即(ji)正(zheng)接線(xian)測量方(fang)(fang)式(shi)和反接線(xian)測量方(fang)(fang)式(shi)。兩種測量方(fang)(fang)式(shi)的原理如圖一所示：

在高壓電(dian)源的(de)10kV側(ce)(ce)，高壓分(fen)(fen)兩路，一路給機內標準電(dian)容CN，此(ci)電(dian)容介損非常(chang)小，可以認為(wei)介損為(wei)零，即為(wei)純容性電(dian)流(liu)，此(ci)電(dian)流(liu)ICN 可做為(wei)容性電(dian)流(liu)基準。在Cx試品一側(ce)(ce)，試品電(dian)流(liu)Icx通過采樣電(dian)阻R采入(ru)機內，此(ci)Icx可分(fen)(fen)解成水平分(fen)(fen)量和垂直(zhi)分(fen)(fen)量見圖二所示，通過計算水平分(fen)(fen)量與(yu)垂直(zhi)分(fen)(fen)量的(de)比值即可得到tgδ值。

在圖一（a）中(zhong)Cx為非接(jie)地(di)試(shi)品(pin)(pin)，試(shi)品(pin)(pin)電(dian)(dian)流(liu)Icx從試(shi)品(pin)(pin)末(mo)端(duan)進入(ru)采(cai)樣電(dian)(dian)阻(zu)R，得到全電(dian)(dian)流(liu)值(zhi)(zhi)，在圖一（b）中(zhong)Cx為接(jie)地(di)試(shi)品(pin)(pin)，機內(nei)Cx端(duan)直接(jie)接(jie)地(di)，電(dian)(dian)流(liu)Icx從試(shi)品(pin)(pin)高壓端(duan)到機內(nei)采(cai)樣電(dian)(dian)阻(zu)取得全電(dian)(dian)流(liu)值(zhi)(zhi)。

七、WBJS8000G變頻介(jie)質損(sun)耗儀常見設備(bei)的接線(xian)方法

1．儀器引(yin)出端(duan)子說明：

HV ——  儀器的測量引線高(gao)壓(ya)端(duan)（帶危險電壓(ya)） 。

CX ——  正接線時試品電流輸(shu)入端。

——  儀器(qi)的(de)接地端，使(shi)用時與大地可靠(kao)相接

2.參考接(jie)線

2.1正接(jie)線、內(nei)標(biao)準電容、內(nei)高壓（常規正接(jie)線）：

2.2反(fan)接線(xian)、內(nei)標準電(dian)容、內(nei)高壓(ya)（常規反(fan)接線(xian)）

2.3正(zheng)接線(xian)、外(wai)標(biao)準電(dian)容(rong)、內高壓：

2.4反接(jie)線、外標準電容、內高壓：

2.5正(zheng)接線、內標準電容、外高壓：

2.6反(fan)接(jie)線、內(nei)標準電容、外(wai)高(gao)壓：

2.7正接線、外(wai)標準(zhun)電容、外(wai)高壓(ya)（高電壓(ya)介損）：

2.8反接線、外標準電容、外高壓：

2.9  CVT自激法測量：

CVT自激(ji)(ji)法可按下圖接線(xian)。如果C1是(shi)單節電(dian)容，母(mu)線(xian)不(bu)能接地；如果C1是(shi)多節電(dian)容，母(mu)線(xian)可接地，C11和(he)C12可用常規正反(fan)接線(xian)測(ce)量(liang)，C13和(he)C2用自激(ji)(ji)法測(ce)量(liang)。

CVT自激法(fa)測(ce)(ce)量(liang)中，儀器先(xian)測(ce)(ce)量(liang)C1，然后自動倒線(xian)測(ce)(ce)量(liang)C2，并(bing)自動校(xiao)準分壓影響(xiang)。

應注意，高(gao)壓(ya)線應懸(xuan)空不(bu)能接觸地面，否(fou)則其對(dui)地附加介損會引起誤差，可用細電纜(lan)連接高(gao)壓(ya)插(cha)座與CVT試品并吊起。強烈建(jian)議(yi)使用高壓(ya)插座使用的高壓(ya)線用黑色(se)Cx線。

2.10 CVT變比測(ce)試

儀器高(gao)壓(ya)線(xian)的芯線(xian)紅(hong)夾子(zi)接(jie)CVT的上端，母線拆(chai)地(di)。CVT下端接(jie)(jie)地，低壓線紅黑夾子接(jie)(jie)二次繞組，注意(yi):如果(guo)測試角度接近180度，應將紅黑夾子(zi)顛(dian)倒(dao)。

3.附加(jia)功能

3.1光標(biao)在 電壓：10kV上面時(shi)候，按“確認”鍵在儀器(qi)屏幕的(de)左下角會出現圖標，代表(biao)測(ce)試結(jie)(jie)束自動(dong)打(da)印。如果再按確認鍵(jian)，圖標消失，代表(biao)測(ce)試結(jie)(jie)束必須(xu)手(shou)動(dong)才(cai)能打(da)印。

3.2光標在(zai) 反(fan)接 上(shang)面(mian)時候，在(zai)反(fan)接線，內Cn，內Un，情況下，按確認鍵在(zai)儀器屏幕右下角(jiao)會出現圖標，代(dai)表反(fan)接(jie)線(xian)低壓屏蔽(bi)測試(shi)。如果(guo)再按確認鍵，圖標消失，代(dai)表取(qu)消反(fan)接(jie)線(xian)低壓屏蔽(bi)。

反接線低(di)壓屏蔽功能，一(yi)次(ci)接線可同時測出(chu)C1和C2的電容量和介損

在反(fan)接線、內標(biao)準和(he)內高壓(ya)方(fang)式，光標(biao)移到“反接(jie)”處(chu)，按“確認”右下(xia)角顯(xian)示“M”。

打(da)開反(fan)(fan)接(jie)線(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)，可在上端(duan)(duan)(duan)電(dian)容(rong)C1不拆母(mu)線(xian)(xian)的(de)情(qing)況下(xia)，對(dui)其進行不拆線(xian)(xian)10kV反(fan)(fan)接(jie)線(xian)(xian)介損測(ce)量。如(ru)下(xia)圖所示：母(mu)線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)，C1上端(duan)(duan)(duan)不拆線(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)(duan)(duan)接(jie)高(gao)壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末端(duan)(duan)(duan)接(jie)Cx芯線(xian)(xian)。儀器(qi)采用反(fan)(fan)接(jie)線(xian)(xian)/10kV/M測(ce)量方式，可同(tong)時測(ce)出(chu)C11和(he)下(xia)端(duan)(duan)(duan)屏蔽(bi)部分(fen)的(de)電(dian)容(rong)量和(he)介損值(zhi)。

3.3光(guang)標在 正接 上面時候，按確認鍵則測試打印機(ji)，換紙。

3.4光標在 啟動(dong) 上(shang)面時候，按(an)減小(xiao)鍵則代表取出(chu)存儲的數(shu)據。

3.5測試完畢(bi)，如(ru)果(guo)按減小(xiao)鍵，則代表存儲測試的數據

八(ba)、WBJS8000G變頻介(jie)質損(sun)耗儀功(gong)能簡介

儀器面板見圖九所示(shi)：

打印機(ji)——打印測量數據。

顯示(shi)器(qi)——128×64點陣液(ye)晶顯示(shi)器，顯示(shi)菜(cai)單和各種(zhong)提(ti)示(shi)信息及測量結果。

  鍵——選擇(ze)菜單項，被選中項反白字體顯(xian)示。

▲  鍵——修改(gai)菜單內容，采用(yong)循環滾動方式。

▼ 鍵——修(xiu)改菜單內容，采用循環滾動(dong)方式。

確認鍵——在“測試(shi)”選(xuan)項上按此鍵進入(ru)測試(shi)狀(zhuang)態。

電源開關(guan)(guan)——整機電源的開啟和關(guan)(guan)閉。

電源(yuan)座——交(jiao)流220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保險倉(cang)。

9．自(zi)激法電流(liu)輸出端——測量CVT的專用端(duan)子。

10．地——為接地線(xian)接線(xian)端子。

11．CX插(cha)座——是試品信號的測量輸入端，正接線(xian)時由專用(yong)低壓電(dian)纜連接，此(ci)電(dian)纜單層屏(ping)蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接(jie)試品低(di)端(duan)。反接(jie)線時此端(duan)空置。

12．CN插座——是外標準(zhun)電容信(xin)號(hao)的測量輸(shu)入端，使用內標準(zhun)時(shi)此端空置。

13．HV插座——高(gao)壓(ya)引(yin)出端子，由(you)高(gao)壓(ya)電纜連接，接試品高(gao)壓(ya)端。輸出10kv高壓(ya)。

14．RS-232接口，用來連接電(dian)腦，上傳數據。

九、儀器操作(zuo)步驟

1．測(ce)量前準備：

1）用(yong)接地(di)線一端(duan)接儀器(qi)(qi)的接地(di)柱(zhu)，另一端(duan)接可靠的大地(di)，保證儀器(qi)(qi)外殼處(chu)在地(di)電位上。

2）正接線時：將高(gao)壓電(dian)纜插頭插入后(hou)門HV插座(zuo)中，將(jiang)另一端的紅色大鉗子夾(jia)到(dao)被(bei)測(ce)試品(pin)的**引線上，黑色小鉗子懸空(kong)或(huo)夾(jia)在(zai)紅色大鉗子上。將(jiang)CX低壓電纜插(cha)入CX插座中，另一端的(de)紅色(se)夾(jia)子夾(jia)試品的(de)低端，黑色(se)夾(jia)子懸空或接屏蔽裝置。

3）反接線時(shi)：將高壓電纜插頭插入后門HV插(cha)座中，將(jiang)另一端的紅(hong)色大鉗子(zi)夾到(dao)被測試品的**引線上，紅(hong)色小鉗子(zi)懸空或接屏(ping)蔽裝置。Cx插座不用。

2．打(da)開電(dian)源開關(guan)，儀器進(jin)行自(zi)檢，若自(zi)檢良好(hao)，液(ye)晶屏顯示中文主菜(cai)單如

圖十所示。

3．菜單選(xuan)擇：

按(an)鍵(jian)可移動光標至各(ge)菜單項，并循環(huan)指(zhi)示。被選中項反(fan)白字(zi)體顯示。選擇鍵(jian)的流程見(jian)圖十一所示。

在光(guang)標當前所(suo)示(shi)(shi)項(xiang)目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該項(xiang)菜單的變更，并循環指示(shi)(shi)，流程見圖十二所(suo)示(shi)(shi)。

將菜(cai)單變更至與測試要求(qiu)相對應(ying)后即可(ke)按選擇(ze)鍵進行下個項目的選擇(ze)。

4、 頻率：光標(biao)在頻率上，按↑↓鍵(jian)選擇(ze)定頻和(he)變(bian)頻：

光(guang)標(biao)在(zai)定頻(pin)上：按住“啟停”鍵1s以上(shang)切換(huan)到(dao)全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此設置不能抗干(gan)擾，在試驗室內(nei)測量(liang)或校驗時(shi)選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻(pin)率測(ce)量，研究不同頻(pin)率下(xia)介損的變化時選用。

光標(biao)在(zai)變(bian)頻上：按住“啟(qi)停”鍵1s以上切換到(dao)全頻(pin)率選擇，按↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為(wei)45/55Hz自動變頻，適合50Hz電(dian)網工頻干擾下(xia)測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合60Hz電網工(gong)頻干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適(shi)合(he)50Hz電網(wang)工(gong)頻干(gan)擾下測量。

5、測試：當(dang)光(guang)標(biao)在 測試 項目上(shang)時，按(an)確認(ren)鍵大約(yue)3秒鐘開始(shi)測試。測試過(guo)程(cheng)中顯示(shi)(shi)的畫面(mian)如圖(tu)十三（正(zheng)接線，變(bian)頻）所示(shi)(shi)，當(dang)下面(mian)的進程(cheng)到100%時候測試完畢，然后顯示測量結果見圖十四所示，此時光標指(zhi)示打印機圖標，按確認鍵打印報告。測量結果的意義如下：

tgδ： 試(shi)品的(de)損耗(hao)因數tgδ值

CX： 測(ce)量(liang)的電容值

V：施加電壓值

I：試品流過(guo)的電流

F1,F2 : 試驗頻(pin)率(lv)

打印結束后，關(guan)閉電(dian)源開關(guan)，測試完畢。

十、現場試驗注意事項

如果使用(yong)中出現測試數據明顯(xian)不合理，請(qing)從以下(xia)方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現場測量使(shi)用(yong)搭鉤連接(jie)試品時，搭鉤務必與試品接(jie)觸良好，否則接(jie)觸點放(fang)電會引起數據嚴重波動(dong)！尤其是(shi)引流線氧化(hua)層太(tai)厚(hou)，或風吹線擺動(dong)，易造成接(jie)觸**。

2、接地(di)接觸**

接地**會引(yin)起儀器保護(hu)或數(shu)據嚴重波動。應刮凈(jing)接地點上的(de)油漆和(he)銹蝕，務必保證0電阻接地！

3、直接(jie)測量CVT或末端(duan)屏蔽法測量(liang)電磁(ci)式PT

直接測(ce)量CVT的(de)下節耦合電容會出現負介損，應改(gai)用(yong)自(zi)激(ji)法(fa)。

用末端(duan)屏(ping)蔽法測量電磁式PT時，由于受潮引起“T形(xing)網絡(luo)干(gan)擾”出現負(fu)介損，吹干下面(mian)三裙瓷(ci)套和接線端子盤即可。也可改用(yong)常(chang)規法或末(mo)端加壓法測量(liang)。

4、空氣濕(shi)度(du)過(guo)大

空氣濕度(du)大使(shi)介(jie)損測量值異常增大（或減小甚至為負）且不穩定，必要時可(ke)加屏(ping)蔽環。因人為加屏(ping)蔽環改變了試品電(dian)場分布，此(ci)法有爭議，可(ke)參照有關規程。

5、發電機供電

發(fa)電機供(gong)電時輸入頻率不(bu)穩定(ding)，可采用(yong)定(ding)頻50Hz模式工作。

6、測試線

由于長(chang)期使用，易(yi)造成測試(shi)線(xian)隱性(xing)斷路，或(huo)芯線(xian)和屏蔽短路，或(huo)插(cha)頭接(jie)觸**，用戶應(ying)經常(chang)維護測試(shi)線(xian)；

測試標準電(dian)容(rong)試品時，應使用全屏蔽插頭連接，以消除(chu)附(fu)加雜散電(dian)容(rong)影響，否則不能反映出儀器精(jing)度(du)；

自(zi)激(ji)法測量CVT時，非專用的高壓(ya)線(xian)應吊起懸空，否則對地附加雜散電容(rong)和介損(sun)會(hui)引起測量誤差。

7、工作(zuo)模式選擇(ze)

接好線后請選擇正確的測量工作模式（正、反和CVT），不(bu)可選錯。特別是干(gan)擾環(huan)境(jing)下應選用變頻抗(kang)干(gan)擾模式。

8、試(shi)驗方法影響

由于介損測量受試(shi)驗(yan)方(fang)法影響較大，應區分是試(shi)驗(yan)方(fang)法誤差(cha)還是儀器(qi)誤差(cha)。出現問(wen)題(ti)時可首先檢查(cha)(cha)接(jie)線，然后(hou)檢查(cha)(cha)是否為儀器(qi)故障。

9、儀器故障

用(yong)萬用(yong)表測量一下(xia)測試線是否斷(duan)路，或芯線和屏蔽(bi)是否短路；輸入電源(yuan)220V過高或過低(di)；接地(di)是否良好。

用正、反接線測(ce)一下標(biao)準電(dian)容器(qi)或已知(zhi)容量和(he)介損(sun)的電(dian)容試(shi)品，如果結(jie)果正確，即可判斷儀(yi)器(qi)沒有問題；

拔下(xia)所(suo)有(you)測試(shi)導(dao)線，進行空試(shi)升壓，若不能(neng)正常工作，儀(yi)器可能(neng)有(you)故障。

啟動CVT測(ce)量后測(ce)量低(di)壓輸出，應出現2～5V電壓，否則(ze)儀器有故(gu)障。

十(shi)一、 儀(yi)器檢定

1、用標準損耗器檢定(ding)

用帶插頭(tou)的屏蔽電纜連接標準損(sun)耗器。如(ru)果不能保證標準損(sun)耗器的精(jing)度，應使(shi)用比對法檢定(ding)，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對(dui)標準。儀器應選用“內標準”和(he)“RC串聯試(shi)品”，可選(xuan)擇工頻 50Hz或定(ding)頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選(xuan)擇“正接/ 外Cn / 外(wai)Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當(dang)值(zhi)。

3、抗(kang)干擾能力

設(she)置一個回路向儀器(qi)注(zhu)入(ru)定量的干擾電流(liu)。

注意：

1）應考慮到該回路可能(neng)成為試品的(de)一部分(fen)。

2）儀器(qi)啟動后會使220V供電電路(lu)帶(dai)有(you)測量(liang)頻(pin)率分量(liang)，如果該頻(pin)率分量(liang)又通過干(gan)(gan)擾電流進入儀器(qi)，則無法檢驗儀器(qi)的抗干(gan)(gan)擾能(neng)力(li)。

3）不建議用臨近高壓導體施加(jia)干擾，因為這(zhe)(zhe)樣很(hen)容(rong)易產生近距離**放電，這(zhe)(zhe)種放電電阻是(shi)非線性(xing)的，容(rong)易產生同頻(pin)干擾。

十二、變(bian)頻測量(liang)討論

1、變頻測(ce)量

干擾十分(fen)嚴重時，變頻測量能得到準確可靠的結果。例如用55Hz測量時，測量系統(tong)只允許55Hz信號通過，50Hz干(gan)擾信號被有效抑制，原因在于測量系統(tong)很容易區別(bie)不同頻(pin)率，由下述(shu)簡單計算可以(yi)說明選(xuan)頻(pin)測量的效果：

兩個頻率相差1倍的正弦波(bo)疊加到一起，高(gao)頻的是干擾，幅度為低頻的10倍：

這剛好是低頻部分的(de)相位和幅(fu)度，干擾被抑(yi)制(zhi)。實際(ji)波形的(de)測量點多達數萬，計算(suan)量很(hen)大，結果反(fan)映了波形的(de)整體特征。

2、頻率和介損的關系

介損(sun)有RC串聯和并聯兩種理想模(mo)型(xing)：串聯模(mo)型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比和(he)反比。如(ru)圖所示，f對完(wan)全正比(bi)和(he)完(wan)全反比(bi)兩種(zhong)模(mo)型影(ying)響較大。但實際電容器(qi)是多種(zhong)模(mo)型交織(zhi)的混合模(mo)型，此時(shi)f的影響就小。

3、自動變頻與50Hz等效

儀器采用(yong)自動(dong)變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側(ce)（45Hz和55Hz）各(ge)測一個點(dian)，然后推算50Hz頻(pin)率下數據。除多個(ge)(ge)元件(jian)電路的(de)低頻(pin)諧(xie)振(zhen)外(wai)，單個(ge)(ge)試品(pin)中的(de)介質不可能在低頻(pin)引(yin)起能量(liang)吸收峰，工(gong)頻(pin)附(fu)近介損(sun)(sun)總是隨頻(pin)率單調變化的(de)。因此這種(zhong)測量(liang)方法不會帶來明顯誤(wu)差。實際上，平(ping)均(jun)前的(de)兩個(ge)(ge)介損(sun)(sun)值已十分接近，即使不平(ping)均(jun)也(ye)完全有參考(kao)價值。目前，變頻(pin)介損(sun)(sun)儀已成為介損(sun)(sun)測量(liang)的(de)常規儀器，其優異(yi)的(de)抗干擾(rao)能力(li)和準確度已經得到認可。

十三、儀器(qi)的裝箱(xiang)清單(dan)

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