一、WBJS8000G變頻介(jie)質損耗測量(liang)儀概述

介損測(ce)(ce)量是(shi)絕緣(yuan)試(shi)驗中很基本(ben)的(de)方法，可以(yi)有效地發現電器(qi)設備(bei)絕緣(yuan)的(de)整體受(shou)潮劣化(hua)變質，以(yi)及局部(bu)缺陷等。在(zai)電工制(zhi)造、電氣設備(bei)安(an)裝、交接(jie)和(he)預防性試(shi)驗中都廣泛應用。變壓器(qi)、互感器(qi)、電抗(kang)器(qi)、電容器(qi)以(yi)及套管、避(bi)雷器(qi)等介損的(de)測(ce)(ce)量是(shi)衡量其絕緣(yuan)性能的(de)*基本(ben)方法。LYJS9000F變頻介質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀突破了傳統的電橋測量(liang)方式，采用變頻電源技(ji)術，利用單片機(ji)、和(he)現代化電子技(ji)術進行自動頻率(lv)變換、模/數(shu)轉換(huan)和數(shu)據(ju)運算；達(da)到抗干擾能力強、測試速度快、精度高、全自動數(shu)字化、操作簡便；電(dian)源采用大功率(lv)開關電(dian)源，輸出45Hz和(he)55Hz純正弦波，自動加壓，可提供(gong)*高10千伏的電壓；自動濾除50Hz干擾(rao)，適(shi)用(yong)于(yu)變(bian)(bian)電(dian)(dian)站等電(dian)(dian)磁干擾(rao)大的(de)現(xian)場測試。廣泛適(shi)用(yong)于(yu)電(dian)(dian)力行業(ye)中(zhong)變(bian)(bian)壓器(qi)、互感器(qi)、套管(guan)、電(dian)(dian)容器(qi)、避雷器(qi)等設備的(de)介損測量。

二、WBJS8000G變頻介質損耗(hao)測量(liang)儀**措施

1、使用(yong)本(ben)儀(yi)器前一定要認真閱(yue)讀本(ben)手冊。

2、儀(yi)器的(de)操作者(zhe)應具備(bei)一(yi)般電氣(qi)設備(bei)或儀(yi)器的(de)使用常識。

3、本(ben)儀器戶(hu)內外均可使用，但應避開(kai)雨淋(lin)、腐(fu)蝕氣(qi)體、塵(chen)埃過(guo)濃、高溫、陽光直射等場(chang)所使用。

儀表應避(bi)免劇烈(lie)振動。

5、對儀器的維(wei)修、護理(li)和調整應由專業(ye)人(ren)員(yuan)進行。

6、在任何接(jie)(jie)線(xian)之前必須用接(jie)(jie)地(di)電纜把儀器接(jie)(jie)地(di)端子(zi)與大地(di)可靠連接(jie)(jie)起(qi)來。

7、由(you)于測(ce)(ce)(ce)試(shi)設備(bei)產生高(gao)(gao)電壓(ya)，所以測(ce)(ce)(ce)試(shi)人(ren)(ren)員(yuan)必須完(wan)全嚴格遵守(shou)**操(cao)作(zuo)規程(cheng)，防止他人(ren)(ren)接觸(chu)高(gao)(gao)壓(ya)部件和電路。直接從(cong)事測(ce)(ce)(ce)試(shi)的人(ren)(ren)員(yuan)必須完(wan)全了解高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試(shi)線路，及儀器操(cao)作(zuo)要點。非從(cong)事測(ce)(ce)(ce)試(shi)人(ren)(ren)員(yuan)必須遠離高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試(shi)區，測(ce)(ce)(ce)試(shi)區必須用柵(zha)欄或繩索、警視牌等清楚表示出來。

8、儀器(qi)(qi)的調(diao)整維(wei)修和維(wei)護，必(bi)須在不加電情況(kuang)下進行，如果(guo)必(bi)須加電，則(ze)操作(zuo)者必(bi)須非(fei)常熟悉本儀器(qi)(qi)高壓危險(xian)部件。

9、保(bao)(bao)險(xian)(xian)管損壞時，必須確保(bao)(bao)更換同樣的保(bao)(bao)險(xian)(xian)，禁止更換不同型號(hao)保(bao)(bao)險(xian)(xian)或將保(bao)(bao)險(xian)(xian)直接(jie)短路使(shi)用。

儀器出現故(gu)障時，關閉(bi)電源(yuan)開關，等(deng)待(dai)一分鐘之(zhi)后再檢查。

三、WBJS8000G變頻介質損耗測量儀可測試參數

儀器可測量下列參(can)數并(bing)數字顯示：

被測試品的電容量值(zhi)CX，以(yi)pF或(huo)nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被測試品的介(jie)質損耗值tgδ，以(yi)%顯(xian)示。

四、WBJS8000G變頻介質損耗(hao)測量儀(yi)性能(neng)特(te)點

1、儀器(qi)采用復數(shu)(shu)電流法，測(ce)(ce)量(liang)電容、介質損耗及其它參(can)數(shu)(shu)。測(ce)(ce)試結(jie)果精度高(gao)，便(bian)于實現自動化測(ce)(ce)量(liang)。

2、儀器采用(yong)了變(bian)頻技術來(lai)消除現場50Hz工頻干擾，即使在(zai)強(qiang)電磁干擾的環境下也能測得(de)可靠的數據(ju)。

3、儀器(qi)采用(yong)大屏幕(mu)液(ye)晶顯示(shi)(shi)器(qi)，測試(shi)過程通過漢字菜單提示(shi)(shi)既直觀又便于操作。

4、儀器(qi)操作簡便(bian)，測量過程由(you)微(wei)(wei)處理器(qi)控制(zhi)，只要(yao)選擇好(hao)合適的(de)測量方式(shi)，數據的(de)測量就(jiu)可在(zai)微(wei)(wei)處理器(qi)控制(zhi)下自動完成。

5、一體化機型，內附(fu)標準電容(rong)和(he)高壓電源，便(bian)于現(xian)場測試，減少現(xian)場接線(xian)。

6、儀器(qi)測(ce)量(liang)準確度高，可滿足(zu)油(you)(you)介損(sun)測(ce)量(liang)要求，因此(ci)只(zhi)需配備標準油(you)(you)杯，和專用測(ce)試線即可實現油(you)(you)介損(sun)測(ce)量(liang)。

7、設CVT測試功能，可實現CVT的自激(ji)法測(ce)試，無(wu)需外置(zhi)附件(jian)，只需一(yi)次測(ce)量，C1,C2的(de)電容和(he)介損全部測出。

8、反接(jie)線測(ce)試(shi)采用ivddv技術,消除了(le)以往反接線數據(ju)不穩定的現象。

9、具有反接線(xian)低壓屏蔽功能(neng)，在(zai)220kV CVT 母線接地(di)情況(kuang)下，對C11 可進行不拆線10kV 反(fan)接線介損測量

10、具有(you)測量高(gao)電壓(ya)介損功能，能夠使用高(gao)壓(ya)變壓(ya)器(qi)或串聯諧振進行超過10kV電壓的(de)介損試驗。

12、接地(di)保(bao)護(hu)功能，當(dang)儀(yi)器(qi)(qi)不接地(di)線或接地(di)**時，儀(yi)器(qi)(qi)不進(jin)入正常程(cheng)序，不輸出高壓。過流保(bao)護(hu)功能，在試(shi)品短路或擊穿時儀(yi)器(qi)(qi)不受損壞。

13、觸電保(bao)護功(gong)能，當(dang)儀器操作人員不小心觸電時候，儀器會立即(ji)切斷高(gao)壓，保(bao)障試驗人員的**.

五、WBJS8000G變頻介(jie)質損耗(hao)測量儀技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀(du)數(shu)×1%+0.00040）

抗干(gan)擾指標：  變頻(pin)抗(kang)干(gan)擾，在200%干擾下仍(reng)能(neng)達到(dao)上述(shu)準(zhun)確度

電容量(liang)范(fan)圍：  內施高(gao)壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：      *高(gao)0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍：     不限，分辨率0.001%，電容(rong)、電感、電阻(zu)三種試品自動識(shi)別。

試驗(yan)電流范圍：10μA～1A

內施高壓：    設定電(dian)壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升(sheng)降壓(ya)方式：連續平滑調節

試驗頻(pin)率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻(pin)率精度(du)：±0.01Hz

外施(shi)高壓(ya)：正接線時*大試(shi)驗(yan)電(dian)流1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

反接線時*大試(shi)驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流(liu)3～30A

CVT變比測(ce)量：

變比測(ce)量精度：±讀數×1%     變(bian)比測(ce)量范圍：10～99999

相位測量(liang)精度(du)：±0.1°        ;   相位測量范(fan)圍：0～359.9°

測量(liang)時間：    約40s，與測量方式有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市(shi)電或發電機(ji)供(gong)電

計算(suan)機接口：  標準(zhun)RS232接口

打印(yin)機：  ;       煒煌A7熱敏微型(xing)打(da)印(yin)機

環境(jing)溫度：    -10℃～50℃

相對濕(shi)度(du)：    <90%

外形尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重量(liang)：28kg

六、WBJS8000G變頻介(jie)質(zhi)損耗測(ce)量儀測(ce)量方(fang)式及原理(li)

按(an)被測(ce)(ce)(ce)試品是否接(jie)地分兩(liang)種測(ce)(ce)(ce)量(liang)方式(shi)，即正接(jie)線測(ce)(ce)(ce)量(liang)方式(shi)和反接(jie)線測(ce)(ce)(ce)量(liang)方式(shi)。兩(liang)種測(ce)(ce)(ce)量(liang)方式(shi)的原理如圖一所示(shi)：

在(zai)高壓(ya)電(dian)源的10kV側(ce)，高壓(ya)分兩路，一路給機內標準電(dian)容(rong)(rong)CN，此(ci)電(dian)容(rong)(rong)介(jie)損非常小，可(ke)以認為(wei)介(jie)損為(wei)零，即為(wei)純容(rong)(rong)性電(dian)流(liu)(liu)(liu)，此(ci)電(dian)流(liu)(liu)(liu)ICN 可(ke)做(zuo)為(wei)容(rong)(rong)性電(dian)流(liu)(liu)(liu)基準。在(zai)Cx試品一側(ce)，試品電(dian)流(liu)(liu)(liu)Icx通過(guo)(guo)采(cai)樣電(dian)阻R采(cai)入機內，此(ci)Icx可(ke)分解成水(shui)平分量和垂直分量見圖二所示(shi)，通過(guo)(guo)計算水(shui)平分量與(yu)垂直分量的比值即可(ke)得(de)到tgδ值。

在圖(tu)一（a）中Cx為非接地(di)(di)試(shi)(shi)品(pin)，試(shi)(shi)品(pin)電(dian)(dian)(dian)(dian)流Icx從試(shi)(shi)品(pin)末端進入采(cai)樣電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)R，得到全電(dian)(dian)(dian)(dian)流值，在圖(tu)一（b）中Cx為接地(di)(di)試(shi)(shi)品(pin)，機內Cx端直接接地(di)(di)，電(dian)(dian)(dian)(dian)流Icx從試(shi)(shi)品(pin)高壓端到機內采(cai)樣電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)取得全電(dian)(dian)(dian)(dian)流值。

七、WBJS8000G變頻介質損(sun)耗測(ce)量儀常見設備的接線(xian)方法(fa)

1．儀器引出(chu)端子說明：

HV ——  儀器(qi)的測量(liang)引線(xian)高壓端（帶危險電壓） 。

CX ——  正接(jie)線時試品(pin)電流輸入端。

——  儀(yi)器的接地端，使用時與大地可靠(kao)相接

2.參(can)考接(jie)線

2.1正接線、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規正接線）：

2.2反接線、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規反接線）

2.3正(zheng)接線、外標(biao)準電(dian)容、內(nei)高壓：

2.4反接線、外標(biao)準電容(rong)、內高(gao)壓：

2.5正接線(xian)、內標準電(dian)容、外高壓：

2.6反接線、內標準電(dian)容、外高壓：

2.7正接線、外標準電容、外高壓(ya)（高電壓(ya)介損）：

2.8反接線、外(wai)標準電容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自激法測量：

CVT自激(ji)法可按下圖接(jie)線(xian)(xian)。如(ru)果(guo)C1是(shi)單節(jie)電容，母線(xian)(xian)不能接(jie)地；如(ru)果(guo)C1是(shi)多節(jie)電容，母線(xian)(xian)可接(jie)地，C11和C12可用(yong)(yong)常規(gui)正反接(jie)線(xian)(xian)測(ce)量(liang)(liang)，C13和C2用(yong)(yong)自激(ji)法測(ce)量(liang)(liang)。

CVT自(zi)激(ji)法測量中，儀器先測量C1，然(ran)后(hou)自(zi)動倒線測量C2，并(bing)自(zi)動校準(zhun)分壓(ya)影響。

應注意，高壓線(xian)應懸空不能接(jie)觸地面，否則其對(dui)地附(fu)加介損(sun)會引起誤(wu)差，可用細電纜連(lian)接(jie)高壓插座與CVT試品并吊(diao)起。強烈建(jian)議使用(yong)高(gao)壓插(cha)座使用(yong)的高(gao)壓線(xian)用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀器高壓線的芯線紅夾子(zi)接(jie)CVT的上(shang)端(duan)，母線拆地。CVT下端接地(di)，低(di)壓線(xian)紅黑夾子接二次繞組(zu)，注意:如果測(ce)試角度接近180度，應將紅黑夾(jia)子(zi)顛倒。

3.附加功能(neng)

3.1光標在 電(dian)壓：10kV上面(mian)時候，按“確(que)認”鍵在儀器屏幕的左下角會出現圖(tu)標(biao)，代(dai)表測試結(jie)束自動(dong)打印。如果再按(an)確認鍵，圖(tu)標(biao)消失，代(dai)表測試結(jie)束必須手動(dong)才能打印。

3.2光(guang)標在(zai) 反接 上面(mian)時(shi)候，在(zai)反接線，內(nei)Cn，內Un，情況下，按確認(ren)鍵在(zai)儀器屏幕右下角會出現圖標，代(dai)表反(fan)接(jie)線低(di)壓屏(ping)蔽(bi)測(ce)試。如果再按確認鍵，圖標消(xiao)失(shi)，代(dai)表取消(xiao)反(fan)接(jie)線低(di)壓屏(ping)蔽(bi)。

反接(jie)線(xian)低壓屏蔽功能(neng)，一次接(jie)線(xian)可同時測(ce)出C1和C2的電容量和介損

在反(fan)接線、內(nei)標(biao)準(zhun)和(he)內(nei)高(gao)壓方(fang)式，光標(biao)移到“反接”處，按“確認”右下角(jiao)顯示(shi)“M”。

打開(kai)反接(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)(bi)，可在上端(duan)電容C1不拆(chai)(chai)母線(xian)(xian)(xian)的(de)情(qing)況下(xia)，對其(qi)進(jin)行不拆(chai)(chai)線(xian)(xian)(xian)10kV反接(jie)線(xian)(xian)(xian)介(jie)損測(ce)量。如下(xia)圖所(suo)示：母線(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)，C1上端(duan)不拆(chai)(chai)線(xian)(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)接(jie)高(gao)壓線(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)接(jie)Cx芯(xin)線(xian)(xian)(xian)。儀器采用(yong)反接(jie)線(xian)(xian)(xian)/10kV/M測(ce)量方(fang)式，可同(tong)時測(ce)出(chu)C11和下(xia)端(duan)屏蔽(bi)(bi)部分的(de)電容量和介(jie)損值。

3.3光(guang)標(biao)在 正接 上面時(shi)候，按確認鍵則(ze)測試(shi)打(da)印機，換紙。

3.4光標在  啟動 上面時候，按(an)減小鍵則代(dai)表取出(chu)存(cun)儲的數(shu)據。

3.5測試完畢，如果按減小鍵，則代表存儲測試的數據

八(ba)、WBJS8000G變頻(pin)介(jie)質損(sun)耗測量儀功能(neng)簡(jian)介(jie)

儀器面板見(jian)圖九(jiu)所示：

打印機——打印測(ce)量數(shu)據。

顯示器——128×64點陣液(ye)晶(jing)顯示(shi)(shi)器，顯示(shi)(shi)菜單和各種(zhong)提示(shi)(shi)信(xin)息及測(ce)量結果。

  鍵——選擇菜單項，被選中項反白字體顯示(shi)。

▲  鍵——修改菜單內容，采用(yong)循環滾動方式。

▼ 鍵——修改(gai)菜單內(nei)容，采用循環滾動(dong)方(fang)式。

確(que)認鍵(jian)——在“測(ce)試”選項上按此鍵(jian)進入測(ce)試狀(zhuang)態。

電源(yuan)開關——整機電源(yuan)的開啟(qi)和關閉。

電(dian)源座——交流220V±10%，50±1Hz電(dian)源(yuan)輸入口，帶保險倉。

9．自激法(fa)電流輸出端(duan)——測(ce)量CVT的(de)專用(yong)端子。

10．地——為接(jie)地線(xian)接(jie)線(xian)端子。

11．CX插座——是試品信號的(de)測量輸(shu)入端(duan)，正接線時由專用低壓(ya)電纜連接，此(ci)電纜單層屏蔽帶特制鱷魚夾(jia)，長8m，接試品低端。反接線時此端空(kong)置。

12．CN插座——是外標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容(rong)信(xin)號的測(ce)量輸入端，使用內標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)時此(ci)端空置。

13．HV插座——高壓(ya)(ya)引(yin)出端子，由(you)高壓(ya)(ya)電纜連接，接試品高壓(ya)(ya)端。輸出10kv高壓(ya)。

14．RS-232接口，用來連(lian)接電腦，上傳(chuan)數據。

九(jiu)、儀器操作步驟

1．測(ce)量前準備：

1）用接(jie)地線(xian)一(yi)端(duan)接(jie)儀(yi)(yi)器的(de)(de)接(jie)地柱，另一(yi)端(duan)接(jie)可靠(kao)的(de)(de)大地，保(bao)證儀(yi)(yi)器外(wai)殼處在地電(dian)位上。

2）正接線時(shi)：將(jiang)高壓電纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座中，將另(ling)一端(duan)的(de)紅色大鉗子夾到被測(ce)試品的(de)**引線上(shang)，黑色小鉗子懸空(kong)或夾在紅色大鉗子上(shang)。將CX低(di)壓電纜插入CX插(cha)座中，另一端的紅色(se)夾(jia)子夾(jia)試品的低端，黑色(se)夾(jia)子懸空或(huo)接屏蔽(bi)裝(zhuang)置(zhi)。

3）反接線(xian)時(shi)：將(jiang)高壓電(dian)纜(lan)插頭插入(ru)后(hou)門HV插座中，將(jiang)另一端(duan)的(de)紅色大鉗子夾到被(bei)測試品的(de)**引線上，紅色小鉗子懸空或(huo)接屏(ping)蔽裝置。Cx插(cha)座不用。

2．打開(kai)電源開(kai)關(guan)，儀器進行(xing)自檢，若(ruo)自檢良好，液晶屏顯示中文主菜(cai)單如(ru)

圖十(shi)所示(shi)。

3．菜(cai)單(dan)選擇：

按鍵可移動(dong)光標(biao)至各菜單項，并(bing)循環指示。被(bei)選中項反(fan)白字體顯示。選擇鍵的流程見(jian)圖十一所示。

在光(guang)標當前所示項(xiang)目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該項(xiang)菜單的變更，并循環(huan)指示，流(liu)程見圖十(shi)二(er)所示。

將菜單變(bian)更至與測試要(yao)求相對應后(hou)即可按(an)選擇(ze)鍵進行下個(ge)項目的選擇(ze)。

4、 頻率(lv)：光標在頻率(lv)上，按↑↓鍵選(xuan)擇(ze)定頻和(he)變(bian)頻：

光標在定頻(pin)上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇(ze)，按↑↓鍵(jian)循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此(ci)設置不能抗干擾，在試驗室內測量(liang)或校驗時(shi)選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量(liang)，研究不同頻率(lv)下介損(sun)的變化時選用。

光標在變頻上：按(an)住“啟停”鍵1s以上切(qie)換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯示(shi)5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為(wei)45/55Hz自(zi)動變頻(pin)，適(shi)合50Hz電網工(gong)頻干擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合(he)60Hz電(dian)網工頻干擾下測量。

“4-Hz”：為(wei)47.5/52.5Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電(dian)網工頻干擾下測量。

5、測試：當(dang)光標在 測試 項目上時，按確認鍵大(da)約3秒(miao)鐘開(kai)始測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)過程中顯(xian)示的畫(hua)面如(ru)圖(tu)十(shi)三（正接線，變頻）所(suo)示，當下面的進程到100%時候測試(shi)完畢(bi)，然后顯示測量結果(guo)見圖(tu)十四(si)所示，此(ci)時光標指示打印(yin)機圖(tu)標，按確認鍵打印(yin)報告(gao)。測量結果(guo)的意(yi)義如下(xia)：

tgδ： 試品的損耗因數tgδ值(zhi)

CX： 測量(liang)的(de)電容值(zhi)

V：施加電(dian)壓值(zhi)

I：試(shi)品流過的電(dian)流

F1,F2 : 試驗頻(pin)率

打印結束(shu)后，關閉電(dian)源開關，測(ce)試完畢。

十、現(xian)場試(shi)驗注意事項(xiang)

如果使(shi)用(yong)中出現測試(shi)數據明顯不合(he)理，請從以下方面查找原(yuan)因：

1、搭鉤接觸**

現場測量使用搭鉤(gou)連接(jie)試品(pin)時，搭鉤(gou)務必與試品(pin)接(jie)觸(chu)良好(hao)，否則接(jie)觸(chu)點放電會引起數據嚴(yan)重(zhong)波(bo)動(dong)！尤其是引流線(xian)氧化層太厚，或風吹線(xian)擺動(dong)，易造成接(jie)觸(chu)**。

2、接地接觸(chu)**

接地**會引(yin)起儀器保(bao)護或數據嚴重波(bo)動。應(ying)刮凈接地點(dian)上的(de)油漆和銹蝕，務必保(bao)證0電阻接(jie)地！

3、直(zhi)接測(ce)量(liang)CVT或末端屏蔽法測(ce)量電磁式(shi)PT

直接測量CVT的下節耦(ou)合電容(rong)會(hui)出現負(fu)介損，應改用自(zi)激法(fa)。

用末(mo)端屏蔽法(fa)測量電磁式PT時(shi)，由于受潮引起(qi)“T形(xing)網絡干(gan)擾”出現負介損，吹干下面三裙瓷套和接線端(duan)子盤即可(ke)。也可(ke)改用常規法或末端(duan)加壓(ya)法測(ce)量。

4、空氣濕度(du)過大

空氣濕度大(da)使介(jie)損測量值異(yi)常增大(da)（或減小甚至為負）且不穩(wen)定，必要時可加(jia)屏蔽環。因人為加(jia)屏蔽環改(gai)變了試(shi)品電場分布，此法有(you)爭議(yi)，可參照有(you)關規程。

5、發電(dian)機供電(dian)

發電機供(gong)電時輸入頻率不穩定(ding)，可采用(yong)定(ding)頻50Hz模式工作(zuo)。

6、測試(shi)線

由(you)于長期使用，易(yi)造成(cheng)測試線隱(yin)性斷路(lu)，或芯線和(he)屏(ping)蔽短路(lu)，或插頭接觸**，用戶(hu)應經常(chang)維(wei)護測試線；

測試(shi)標準電容(rong)試(shi)品時，應使用(yong)全屏蔽插頭連接，以消除附加(jia)雜散電容(rong)影響，否(fou)則不能反映出(chu)儀(yi)器(qi)精度；

自激(ji)法測量CVT時，非專用的高壓線(xian)應吊起懸空，否(fou)則對(dui)地附加雜散電(dian)容(rong)和介損會引起測量(liang)誤差(cha)。

7、工作模式選擇

接好線后請(qing)選擇正(zheng)確(que)的測量工作模式(shi)（正(zheng)、反和CVT），不可選錯。特別是干擾環(huan)境(jing)下應選用(yong)變(bian)頻(pin)抗干擾模式(shi)。

8、試(shi)驗方法(fa)影響

由于介(jie)損測量(liang)受試驗(yan)方(fang)法(fa)影響較大，應區分是(shi)(shi)試驗(yan)方(fang)法(fa)誤(wu)差還(huan)是(shi)(shi)儀器誤(wu)差。出(chu)現問(wen)題時可首(shou)先檢查接線，然(ran)后檢查是(shi)(shi)否(fou)為儀器故障。

9、儀器故障

用萬用表測(ce)量一(yi)下測(ce)試線是否斷(duan)路，或(huo)芯線和屏蔽是否短路；輸(shu)入電(dian)源220V過(guo)高或過(guo)低；接地是否(fou)良好。

用正、反接線測一下標準電容(rong)器或已(yi)知容(rong)量和(he)介損的電容(rong)試品，如(ru)果結果正確(que)，即可判斷儀器沒(mei)有(you)問題；

拔下(xia)所有測(ce)試導(dao)線，進(jin)行空試升(sheng)壓，若不能(neng)正常(chang)工作，儀器可能(neng)有故障。

啟動(dong)CVT測量(liang)后測量(liang)低(di)壓輸出(chu)，應出(chu)現2～5V電壓，否(fou)則(ze)儀器(qi)有故障(zhang)。

十一、 儀(yi)器檢定

1、用標準(zhun)損耗(hao)器檢定

用(yong)帶(dai)插頭的屏蔽電纜連接標準損耗(hao)器。如果不能保證(zheng)標準損耗(hao)器的精度，應使用(yong)比對法檢定，建議用(yong)2801電橋或其它精密(mi)電橋作比(bi)對標(biao)準。儀器(qi)應選(xuan)用“內標準”和(he)“RC串聯試品”，可選擇工頻 50Hz或(huo)定頻50Hz頻率模式(shi)。

2、用QSJ3檢定：使用帶插(cha)頭的屏(ping)蔽電纜(lan)連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適(shi)當值。

3、抗干擾能力

設置一個回路向儀器注入定量的干(gan)擾(rao)電流。

注意：

1）應考慮到該(gai)回路可能(neng)成為試品的一部分。

2）儀(yi)器啟動(dong)后會使(shi)220V供電(dian)電(dian)路帶有測(ce)量(liang)頻(pin)率分(fen)量(liang)，如果該頻(pin)率分(fen)量(liang)又通過(guo)干擾電(dian)流進入儀器，則無法檢驗儀器的(de)抗干擾能(neng)力。

3）不建議(yi)用臨近(jin)高壓導體(ti)施加(jia)干擾(rao)(rao)，因為這(zhe)樣很容易(yi)產(chan)生近(jin)距離**放電(dian)(dian)，這(zhe)種放電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻(zu)是非線(xian)性(xing)的(de)，容易(yi)產(chan)生同頻干擾(rao)(rao)。

十二、變頻測量討(tao)論

1、變頻測量

干擾十分(fen)嚴重時，變(bian)頻測量能得到(dao)準確可靠的結(jie)果。例如用55Hz測量時，測量系統只允許55Hz信號(hao)通過，50Hz干擾(rao)信號(hao)被有(you)效抑制，原因(yin)在于測(ce)量系統很(hen)容易區別不同頻率(lv)，由下述簡單(dan)計(ji)算可以說明選頻測(ce)量的效果：

兩(liang)個(ge)頻率相差(cha)1倍的正弦(xian)波疊加到(dao)一起，高頻的是干擾，幅(fu)度為低頻的10倍：

這剛好是低頻部分的(de)相位和幅(fu)度，干擾被抑制。實際波形(xing)的(de)測量(liang)點多達數萬，計(ji)算量(liang)很大，結果反映了波形(xing)的(de)整體(ti)特征(zheng)。

2、頻率和介損(sun)的關系

介損(sun)有RC串聯(lian)和并聯(lian)兩種理想模型：串聯(lian)模型tgδ=2πfRC，并聯模型(xing)tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別隨頻(pin)率f成(cheng)正(zheng)比和反(fan)比。如圖所示(shi)，f對(dui)完全(quan)正(zheng)比(bi)(bi)和完全(quan)反比(bi)(bi)兩(liang)種模型(xing)影響較大。但(dan)實際電容器是多(duo)種模型(xing)交(jiao)織的(de)混(hun)合模型(xing)，此時(shi)f的影響就(jiu)小。

3、自(zi)動變頻與50Hz等(deng)效

儀器采用自動變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個點(dian)，然后推(tui)算50Hz頻(pin)率下數據。除多(duo)個(ge)元件電路的(de)(de)(de)低(di)頻(pin)諧振外，單個(ge)試品中(zhong)的(de)(de)(de)介質不(bu)(bu)可能在低(di)頻(pin)引起(qi)能量(liang)吸收峰，工頻(pin)附近介損總是(shi)隨頻(pin)率單調變(bian)(bian)化的(de)(de)(de)。因此(ci)這種測量(liang)方法(fa)不(bu)(bu)會帶來明顯誤差。實際上，平均前的(de)(de)(de)兩個(ge)介損值已(yi)十(shi)分(fen)接近，即使不(bu)(bu)平均也完全有參考價值。目前，變(bian)(bian)頻(pin)介損儀已(yi)成(cheng)為(wei)介損測量(liang)的(de)(de)(de)常規儀器，其優(you)異的(de)(de)(de)抗干擾(rao)能力和準確度已(yi)經得到認(ren)可。

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