一、WBJS8000G變頻介質損(sun)耗(hao)測試系統概述(shu)

介損(sun)測量是(shi)絕(jue)(jue)(jue)緣(yuan)試驗(yan)中(zhong)很基本的(de)方法，可(ke)以(yi)有(you)效地發(fa)現電(dian)(dian)(dian)器(qi)設備絕(jue)(jue)(jue)緣(yuan)的(de)整體受潮劣化變質，以(yi)及(ji)局部(bu)缺陷等。在電(dian)(dian)(dian)工制造、電(dian)(dian)(dian)氣設備安裝、交接和預防性試驗(yan)中(zhong)都廣泛應用。變壓(ya)器(qi)、互感器(qi)、電(dian)(dian)(dian)抗器(qi)、電(dian)(dian)(dian)容器(qi)以(yi)及(ji)套管、避雷器(qi)等介損(sun)的(de)測量是(shi)衡(heng)量其(qi)絕(jue)(jue)(jue)緣(yuan)性能(neng)的(de)*基本方法。LYJS9000F變頻(pin)(pin)介(jie)質損(sun)耗測試儀突破(po)了傳統的電(dian)(dian)橋測量(liang)方式，采(cai)用(yong)變頻(pin)(pin)電(dian)(dian)源技術(shu)，利(li)用(yong)單片機(ji)、和(he)現代化電(dian)(dian)子技術(shu)進行(xing)自(zi)動頻(pin)(pin)率(lv)變換(huan)、模(mo)/數(shu)轉換(huan)和數(shu)據運算；達到抗(kang)干擾能力強、測(ce)試速(su)度(du)快、精(jing)度(du)高、全自動數(shu)字化、操作(zuo)簡便；電源(yuan)采(cai)用大(da)功率(lv)開關電源(yuan)，輸出45Hz和55Hz純正(zheng)弦(xian)波(bo)，自動加壓，可提供*高10千(qian)伏(fu)的電壓(ya)；自動(dong)濾除50Hz干擾，適用(yong)于變(bian)(bian)電(dian)(dian)站等電(dian)(dian)磁干擾大的現場測試。廣泛適用(yong)于電(dian)(dian)力行業中(zhong)變(bian)(bian)壓(ya)器(qi)、互感(gan)器(qi)、套管、電(dian)(dian)容器(qi)、避(bi)雷器(qi)等設備的介(jie)損測量。

二、WBJS8000G變頻介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)系統**措施

1、使(shi)用本(ben)儀(yi)器前一(yi)定要認真閱(yue)讀本(ben)手冊。

2、儀(yi)器的操作(zuo)者應具(ju)備一般電氣設備或儀(yi)器的使(shi)用常識。

3、本儀(yi)器戶內外均(jun)可(ke)使(shi)(shi)用，但應避開雨(yu)淋、腐蝕氣體、塵(chen)埃過濃(nong)、高溫、陽光直射(she)等場所使(shi)(shi)用。

儀表應避免(mian)劇烈振動。

5、對儀器的維(wei)修、護理和調整應由專業人員進行。

6、在任何(he)接線之(zhi)前(qian)必(bi)須用(yong)接地(di)(di)電纜把儀(yi)器(qi)接地(di)(di)端子與大地(di)(di)可靠連(lian)接起來。

7、由于(yu)測試設備產生高(gao)(gao)電壓(ya)(ya)，所以測試人(ren)(ren)員(yuan)必(bi)須(xu)完全(quan)嚴格遵守**操作規(gui)程(cheng)，防(fang)止他(ta)人(ren)(ren)接觸高(gao)(gao)壓(ya)(ya)部件(jian)和電路(lu)。直接從事測試的人(ren)(ren)員(yuan)必(bi)須(xu)完全(quan)了解高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測試線路(lu)，及(ji)儀器操作要(yao)點(dian)。非從事測試人(ren)(ren)員(yuan)必(bi)須(xu)遠離高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測試區(qu)，測試區(qu)必(bi)須(xu)用柵欄(lan)或繩索、警視牌等清(qing)楚表示(shi)出來。

8、儀器的(de)調整維修和維護(hu)，必須(xu)在(zai)不加(jia)電(dian)情況下(xia)進行(xing)，如(ru)果必須(xu)加(jia)電(dian)，則操作者必須(xu)非常熟悉本(ben)儀器高壓危險部件。

9、保(bao)險(xian)管損(sun)壞時，必須確保(bao)更換同樣(yang)的(de)保(bao)險(xian)，禁(jin)止更換不同型(xing)號保(bao)險(xian)或將(jiang)保(bao)險(xian)直接短路(lu)使(shi)用(yong)。

儀器出(chu)現(xian)故障時，關閉電源開關，等待一分鐘之后再檢查。

三(san)、WBJS8000G變頻介質損(sun)耗測試系統可測試參數

儀器可測量下列參數并數字顯示：

被(bei)測試品(pin)的電容量值CX，以pF或nF為單(dan)位，1nF=1000pF。

被測試(shi)品的介質(zhi)損耗值tgδ，以%顯(xian)示。

四、WBJS8000G變頻介質損(sun)耗測(ce)試(shi)系統性(xing)能特點

1、儀(yi)器采用復(fu)數電流法，測(ce)(ce)量電容(rong)、介質(zhi)損耗及其它參(can)數。測(ce)(ce)試結果精度高(gao)，便于實現(xian)自動化測(ce)(ce)量。

2、儀器采用了(le)變頻技(ji)術來(lai)消除現場50Hz工頻干(gan)擾，即(ji)使在(zai)強電(dian)磁(ci)干(gan)擾的環境下(xia)也(ye)能測得(de)可靠的數據。

3、儀器采用大(da)屏幕液(ye)晶顯示器，測試(shi)過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作。

4、儀器操作簡便(bian)，測量過程由微處理(li)器控(kong)制，只要選擇好(hao)合適的測量方式，數據的測量就可(ke)在微處理(li)器控(kong)制下自動(dong)完成(cheng)。

5、一體化機型，內附標(biao)準(zhun)電(dian)容和(he)高壓電(dian)源(yuan)，便(bian)于現場測試，減少現場接(jie)線。

6、儀器(qi)測(ce)(ce)量準確度高，可滿足油(you)(you)介損(sun)測(ce)(ce)量要求，因此(ci)只需配備標準油(you)(you)杯，和專(zhuan)用測(ce)(ce)試線即(ji)可實現油(you)(you)介損(sun)測(ce)(ce)量。

7、設CVT測試(shi)功能，可實現CVT的自激法測(ce)試(shi)，無需外置附件(jian)，只需一次測(ce)量，C1,C2的電容和介損全部測出。

8、反接(jie)線(xian)測試(shi)采(cai)用ivddv技(ji)術,消除了(le)以往反接線數據不(bu)穩定(ding)的現(xian)象。

9、具有反接線低壓屏蔽功(gong)能，在(zai)220kV CVT 母線接地情況下，對C11 可進行不拆線10kV 反接線介(jie)損(sun)測(ce)量(liang)

10、具有測量高電壓(ya)介損功能(neng)，能(neng)夠使用(yong)高壓(ya)變壓(ya)器或串聯諧振進行超過10kV電壓的介損試驗。

12、接地保護功能(neng)，當儀(yi)器不(bu)接地線(xian)或接地**時(shi)，儀(yi)器不(bu)進入正常程序，不(bu)輸出高壓。過流保護功能(neng)，在試品(pin)短路或擊穿時(shi)儀(yi)器不(bu)受損壞。

13、觸(chu)電保護功能，當儀(yi)(yi)器操作人員(yuan)不(bu)小心觸(chu)電時候(hou)，儀(yi)(yi)器會立即切(qie)斷高壓，保障試(shi)驗人員(yuan)的**.

五、WBJS8000G變頻介質損耗測試系統(tong)技術指標

準確度(du)：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指標：  變頻(pin)抗干擾，在(zai)200%干擾下(xia)仍能達到上(shang)述(shu)準(zhun)確度

電容量范圍：  內(nei)施(shi)高壓(ya)：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高(gao)壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位有(you)效數字

tgδ范圍：     不限，分辨(bian)率0.001%，電容、電感(gan)、電阻(zu)三種(zhong)試(shi)品自(zi)動識別。

試驗電(dian)流(liu)范圍：10μA～1A

內(nei)施高壓(ya)：    設定電(dian)壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續(xu)平滑調節(jie)

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線(xian)時*大試(shi)驗電流1A，工頻或變(bian)頻40-70Hz

反接(jie)線時(shi)*大試驗電流10kV/1A，工頻(pin)或變(bian)頻(pin)40-70Hz

CVT自激法低壓(ya)輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓(ya)3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測(ce)量：

變比測量精度：±讀(du)數×1%     變(bian)比測量范(fan)圍：10～99999

相位(wei)測量精度：±0.1°           相位測量(liang)范(fan)圍：0～359.9°

測量時間：    約(yue)40s，與測量方式(shi)有關

輸入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)(dian)或發電(dian)(dian)機供(gong)電(dian)(dian)

計算機接(jie)口(kou)：  標準(zhun)RS232接口

打印機：         煒煌A7熱(re)敏微型打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形尺寸：460×360×350mm

儀器(qi)重量：28kg

六、WBJS8000G變頻介質損耗測試系統測量方式及原理

按被(bei)測(ce)(ce)(ce)試品(pin)是否接(jie)地(di)分(fen)兩種測(ce)(ce)(ce)量方式(shi)(shi)，即正接(jie)線(xian)測(ce)(ce)(ce)量方式(shi)(shi)和反接(jie)線(xian)測(ce)(ce)(ce)量方式(shi)(shi)。兩種測(ce)(ce)(ce)量方式(shi)(shi)的原(yuan)理(li)如圖一所示：

在(zai)高壓(ya)電(dian)(dian)源的10kV側(ce)，高壓(ya)分(fen)(fen)(fen)兩路(lu)，一(yi)路(lu)給機內標準(zhun)電(dian)(dian)容CN，此(ci)電(dian)(dian)容介損非常小，可以認(ren)為(wei)介損為(wei)零，即為(wei)純容性(xing)電(dian)(dian)流(liu)，此(ci)電(dian)(dian)流(liu)ICN 可做為(wei)容性(xing)電(dian)(dian)流(liu)基準(zhun)。在(zai)Cx試(shi)品一(yi)側(ce)，試(shi)品電(dian)(dian)流(liu)Icx通過采樣電(dian)(dian)阻R采入機內，此(ci)Icx可分(fen)(fen)(fen)解成水平(ping)分(fen)(fen)(fen)量(liang)(liang)和(he)垂直(zhi)分(fen)(fen)(fen)量(liang)(liang)見圖(tu)二所(suo)示，通過計(ji)算(suan)水平(ping)分(fen)(fen)(fen)量(liang)(liang)與垂直(zhi)分(fen)(fen)(fen)量(liang)(liang)的比值即可得到tgδ值。

在(zai)圖一（a）中(zhong)Cx為非(fei)接地(di)試品(pin)，試品(pin)電流(liu)(liu)(liu)Icx從(cong)試品(pin)末端進入采樣電阻(zu)R，得(de)到全(quan)電流(liu)(liu)(liu)值，在(zai)圖一（b）中(zhong)Cx為接地(di)試品(pin)，機內Cx端直接接地(di)，電流(liu)(liu)(liu)Icx從(cong)試品(pin)高壓端到機內采樣電阻(zu)取得(de)全(quan)電流(liu)(liu)(liu)值。

七、WBJS8000G變頻介質損(sun)耗測試(shi)系統常(chang)見設(she)備的接線方法

1．儀器引出端子說明：

HV ——  儀器(qi)的(de)測量引線高(gao)壓端（帶(dai)危(wei)險電壓） 。

CX ——  正(zheng)接(jie)線(xian)時試品電流輸(shu)入端。

——  儀器的接(jie)地端，使(shi)用(yong)時與(yu)大地可靠相接(jie)

2.參考接(jie)線

2.1正(zheng)接(jie)線、內標準(zhun)電容、內高壓（常(chang)規正(zheng)接(jie)線）：

2.2反接(jie)線(xian)、內標(biao)準電容、內高壓(ya)（常規反接(jie)線(xian)）

2.3正(zheng)接線、外標準(zhun)電容(rong)、內高壓(ya)：

2.4反接線、外標(biao)準電容、內高壓：

2.5正接線、內(nei)標(biao)準(zhun)電容(rong)、外高(gao)壓：

2.6反接線、內標準電容(rong)、外高壓：

2.7正(zheng)接線、外標準電容、外高壓（高電壓介(jie)損(sun)）：

2.8反接線、外標準電(dian)容(rong)、外高壓：

2.9  CVT自(zi)激法測量：

CVT自激法(fa)可(ke)按下圖(tu)接(jie)線(xian)(xian)(xian)。如果(guo)C1是(shi)(shi)單節電(dian)容(rong)，母線(xian)(xian)(xian)不能接(jie)地；如果(guo)C1是(shi)(shi)多節電(dian)容(rong)，母線(xian)(xian)(xian)可(ke)接(jie)地，C11和(he)C12可(ke)用常規正反接(jie)線(xian)(xian)(xian)測(ce)(ce)量(liang)，C13和(he)C2用自激法(fa)測(ce)(ce)量(liang)。

CVT自激法(fa)測量(liang)(liang)中，儀器先(xian)測量(liang)(liang)C1，然后自動倒線(xian)測量(liang)(liang)C2，并自動校準分壓影響(xiang)。

應注意，高(gao)壓線(xian)應懸(xuan)空不能接觸地面(mian)，否則其對地附(fu)加介損會引起(qi)誤差(cha)，可用(yong)細電纜連接高(gao)壓插座與CVT試品(pin)并吊起。強烈建議使(shi)用高(gao)壓插座使(shi)用的高(gao)壓線(xian)用黑(hei)色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀器高壓線的芯(xin)線紅夾子接CVT的上端，母線拆地。CVT下端接(jie)地，低(di)壓線紅(hong)黑(hei)夾子接(jie)二(er)次繞組，注意:如果測試角(jiao)度(du)接(jie)近180度(du)，應(ying)將紅(hong)黑夾子顛倒。

3.附(fu)加(jia)功能

3.1光(guang)標在 電壓：10kV上面時候，按“確認(ren)”鍵在儀器屏幕的左下(xia)角會出現圖標(biao)，代表(biao)測試結(jie)(jie)束自動(dong)打印。如果再按確(que)認鍵，圖標(biao)消(xiao)失，代表(biao)測試結(jie)(jie)束必須手動(dong)才能打印。

3.2光標在 反接(jie) 上(shang)面時候，在反接(jie)線，內Cn，內Un，情況下(xia)，按(an)確認鍵在儀(yi)器屏(ping)幕(mu)右下(xia)角會出現圖標，代表(biao)反接(jie)(jie)線(xian)低壓屏(ping)蔽測試。如果再按確(que)認鍵(jian)，圖標消失，代表(biao)取消反接(jie)(jie)線(xian)低壓屏(ping)蔽。

反接線(xian)低壓屏蔽功能，一次接線(xian)可同時測出C1和C2的電容量和(he)介損

在(zai)反(fan)接線、內標準和內高(gao)壓方式(shi)，光標移到“反接”處，按“確認”右下角顯示“M”。

打開反(fan)接(jie)線(xian)(xian)低壓屏(ping)蔽，可在上(shang)端(duan)電(dian)容C1不拆母(mu)線(xian)(xian)的(de)情況(kuang)下(xia)(xia)，對其進(jin)行不拆線(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)介(jie)損(sun)測量(liang)。如下(xia)(xia)圖(tu)所(suo)示：母(mu)線(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)，C1上(shang)端(duan)不拆線(xian)(xian)，C1下(xia)(xia)端(duan)接(jie)高壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末(mo)端(duan)接(jie)Cx芯線(xian)(xian)。儀(yi)器采用反(fan)接(jie)線(xian)(xian)/10kV/M測量(liang)方式，可同時(shi)測出C11和下(xia)(xia)端(duan)屏(ping)蔽部(bu)分的(de)電(dian)容量(liang)和介(jie)損(sun)值。

3.3光標在 正接(jie) 上(shang)面時(shi)候(hou)，按確認(ren)鍵則(ze)測試打(da)印機，換紙(zhi)。

3.4光標在 啟動 上面時候(hou)，按減小(xiao)鍵則代(dai)表取(qu)出存儲的數(shu)據。

3.5測試(shi)完畢，如果(guo)按(an)減小鍵，則代表存儲測試(shi)的數(shu)據

八、WBJS8000G變頻(pin)介質損耗測試系統功能簡介(jie)

儀器(qi)面板見圖九所示(shi)：

打印機(ji)——打印測量(liang)數據。

顯示(shi)器——128×64點陣液晶顯示(shi)(shi)(shi)器(qi)，顯示(shi)(shi)(shi)菜單和各種提示(shi)(shi)(shi)信息及測(ce)量(liang)結果(guo)。

  鍵——選擇菜單項，被選中項反白(bai)字體顯(xian)示。

▲  鍵(jian)——修改(gai)菜單內容(rong)，采用循(xun)環(huan)滾動方(fang)式。

▼ 鍵——修(xiu)改菜單內容，采用循(xun)環滾動(dong)方式。

確認(ren)鍵(jian)(jian)——在“測試(shi)”選項上按此鍵(jian)(jian)進入測試(shi)狀態。

電(dian)源開(kai)關——整機電(dian)源的開(kai)啟(qi)和關閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電(dian)源輸入口，帶(dai)保險倉。

9．自激法(fa)電流輸出端——測(ce)量CVT的專(zhuan)用端子。

10．地——為接地線(xian)(xian)接線(xian)(xian)端子。

11．CX插(cha)座——是試品(pin)信號的測量輸入端，正(zheng)接線(xian)時由專用低壓電纜連接，此(ci)電纜單層屏(ping)蔽(bi)帶特制(zhi)鱷魚(yu)夾，長8m，接試品低(di)端。反接線時此端空(kong)置。

12．CN插座——是外標(biao)準電容信號的(de)測量輸入端(duan)(duan)，使用內標(biao)準時此端(duan)(duan)空(kong)置。

13．HV插座——高壓引(yin)出(chu)端(duan)子，由高壓電纜連接(jie)，接(jie)試品高壓端(duan)。輸(shu)出(chu)10kv高壓(ya)。

14．RS-232接口，用來連接電腦，上傳數據(ju)。

九、儀器操作步(bu)驟

1．測量前(qian)準備：

1）用接(jie)地(di)線一端接(jie)儀(yi)器的接(jie)地(di)柱(zhu)，另一端接(jie)可靠的大地(di)，保證儀(yi)器外殼(ke)處(chu)在地(di)電位上(shang)。

2）正接線時：將(jiang)高壓(ya)電纜(lan)插頭插入后門HV插座(zuo)中(zhong)，將(jiang)另一端的紅(hong)(hong)色大(da)鉗(qian)子(zi)夾到被(bei)測(ce)試品的**引(yin)線上，黑(hei)色小鉗(qian)子(zi)懸空或夾在紅(hong)(hong)色大(da)鉗(qian)子(zi)上。將(jiang)CX低壓電纜插入CX插座中(zhong)，另一端的(de)紅色夾(jia)子(zi)夾(jia)試品的(de)低(di)端，黑色夾(jia)子(zi)懸空或接屏蔽裝置。

3）反接線時：將高壓(ya)電纜插頭插入(ru)后門(men)HV插(cha)座(zuo)中，將另一端的(de)紅色大鉗子夾到(dao)被(bei)測試品(pin)的(de)**引線上，紅色小鉗子懸空或接屏(ping)蔽(bi)裝置(zhi)。Cx插座不用。

2．打開電源開關(guan)，儀器(qi)進行自檢(jian)，若(ruo)自檢(jian)良好，液晶(jing)屏顯示中(zhong)文主菜單如

圖十所(suo)示。

3．菜(cai)單選(xuan)擇(ze)：

按鍵可(ke)移動光標至各(ge)菜單項(xiang)，并循環指(zhi)示。被選(xuan)中項(xiang)反白字體顯示。選(xuan)擇鍵的流程(cheng)見(jian)圖十一所示。

在光標當前所示(shi)項(xiang)目，按(an)▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該項(xiang)菜單(dan)的變更，并(bing)循環指示(shi)，流程(cheng)見(jian)圖十二所示(shi)。

將菜單變更至與測試要求(qiu)相對應后即可按(an)選(xuan)擇鍵(jian)進行下個項目的選(xuan)擇。

4、 頻(pin)(pin)率：光標在頻(pin)(pin)率上，按↑↓鍵選擇定(ding)頻(pin)(pin)和變頻(pin)(pin)：

光標(biao)在定頻上(shang)：按住“啟停”鍵1s以上切(qie)換(huan)到(dao)全頻率選擇，按↑↓鍵(jian)循(xun)環顯(xian)示(shi)45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(ce)量，此(ci)設(she)置不能抗干擾，在試驗室內測(ce)量或校(xiao)驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻(pin)(pin)率測量，研究不同頻(pin)(pin)率下介(jie)損(sun)的變化(hua)時選用。

光標(biao)在變頻上：按住“啟(qi)停”鍵(jian)1s以上切換到全頻(pin)率(lv)選擇(ze)，按↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電(dian)網工頻干(gan)擾下測(ce)量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變(bian)頻，適合(he)60Hz電網工頻干擾(rao)下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電網(wang)工頻干(gan)擾下測量。

5、測(ce)(ce)試(shi)：當光標在(zai) 測(ce)(ce)試(shi) 項目上(shang)時(shi)，按確認鍵(jian)大約3秒鐘(zhong)開(kai)始測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)過程(cheng)(cheng)中顯示的(de)畫面(mian)如(ru)圖(tu)十三（正接線，變頻）所示，當下面(mian)的(de)進程(cheng)(cheng)到100%時候(hou)測(ce)試完(wan)畢，然后顯(xian)示(shi)測(ce)量結(jie)果見圖十四所示(shi)，此時光標(biao)指示(shi)打印機圖標(biao)，按確認鍵打印報告。測(ce)量結(jie)果的意義如下(xia)：

tgδ： 試品的損耗因數tgδ值(zhi)

CX： 測量(liang)的電容值

V：施加電壓值

I：試品流(liu)過的電流(liu)

F1,F2 : 試(shi)驗頻率

打印結束后(hou)，關閉(bi)電源開(kai)關，測試完畢。

十、現場試驗注意(yi)事(shi)項

如果使用中出現測試(shi)數據(ju)明顯(xian)不(bu)合理，請從以下方面查(cha)找原(yuan)因：

1、搭(da)鉤接觸(chu)**

現(xian)場(chang)測量使用搭鉤(gou)連接試品時，搭鉤(gou)務必與試品接觸良好，否則接觸點(dian)放電會引起數據嚴重波(bo)動！尤其是(shi)引流線氧化層(ceng)太厚，或風(feng)吹線擺動，易(yi)造(zao)成接觸**。

2、接(jie)地接(jie)觸**

接地**會(hui)引起儀器保護或數(shu)據嚴重波(bo)動。應刮凈接地點(dian)上的油(you)漆和(he)銹蝕，務必保證(zheng)0電阻(zu)接(jie)地！

3、直(zhi)接測量(liang)CVT或末端屏蔽法(fa)測量電磁式PT

直接測量(liang)CVT的下(xia)節耦(ou)合電容會出現(xian)負介損(sun)，應改用自激(ji)法。

用(yong)末端屏蔽法測量電(dian)磁式(shi)PT時，由于受(shou)潮(chao)引起“T形網(wang)絡干(gan)擾(rao)”出現(xian)負介損，吹干(gan)下面三裙(qun)瓷套(tao)和接線端(duan)子盤即可。也可改用常(chang)規(gui)法或末端(duan)加壓(ya)法測量。

4、空氣(qi)濕(shi)度過大

空氣濕度大使介損測量值異常增(zeng)大（或減小(xiao)甚至(zhi)為負）且不穩定，必要時可加屏(ping)蔽環(huan)。因(yin)人(ren)為加屏(ping)蔽環(huan)改變了試品電場分(fen)布(bu)，此法有爭議，可參照有關規程。

5、發電機供電

發(fa)電(dian)機供電(dian)時輸入(ru)頻(pin)率不(bu)穩(wen)定(ding)，可采用(yong)定(ding)頻(pin)50Hz模式(shi)工作。

6、測試線(xian)

由于長(chang)期使用，易造成(cheng)測(ce)試(shi)線(xian)隱(yin)性(xing)斷路，或(huo)芯(xin)線(xian)和屏蔽短路，或(huo)插頭(tou)接觸**，用戶應經(jing)常維護測(ce)試(shi)線(xian)；

測試標準電容試品時，應使用全屏蔽插頭(tou)連接，以消除附(fu)加雜散電容影響，否則(ze)不能反映出儀器精度；

自激法測量(liang)CVT時，非專用(yong)的(de)高(gao)壓線應吊起懸空，否則對地附加雜散電容和介損(sun)會引起測量誤差。

7、工作(zuo)模式選擇

接(jie)好線(xian)后請(qing)選擇正(zheng)確的測(ce)量工作(zuo)模式（正(zheng)、反和CVT），不(bu)可(ke)選錯。特別是干(gan)擾環境下(xia)應選用(yong)變頻抗干(gan)擾模式。

8、試(shi)驗方法(fa)影(ying)響

由(you)于(yu)介損測(ce)量受試(shi)驗方法影響較大，應區分(fen)是(shi)試(shi)驗方法誤差還是(shi)儀器(qi)誤差。出現問題時可首(shou)先檢查接線，然后(hou)檢查是(shi)否(fou)為儀器(qi)故障。

9、儀(yi)器(qi)故障

用萬用表測(ce)量(liang)一下測(ce)試線是(shi)否斷路(lu)，或芯線和屏蔽是(shi)否短路(lu)；輸入電源220V過(guo)高或(huo)過(guo)低；接(jie)地是(shi)否(fou)良好。

用正、反接(jie)線測一下標準電(dian)容(rong)器(qi)或已知容(rong)量(liang)和介損的電(dian)容(rong)試品，如(ru)果(guo)結果(guo)正確(que)，即可判斷(duan)儀器(qi)沒有(you)問題(ti)；

拔下所有測試導線，進(jin)行空(kong)試升壓，若不(bu)能(neng)正常工作，儀器可能(neng)有故障。

啟動(dong)CVT測量后測量低壓輸出，應出現2～5V電壓，否則儀器有故障(zhang)。

十(shi)一、 儀器(qi)檢定

1、用(yong)標準損(sun)耗器(qi)檢定(ding)

用(yong)(yong)帶插頭的屏(ping)蔽電纜連(lian)接標準損(sun)耗(hao)器。如果(guo)不能保證標準損(sun)耗(hao)器的精度，應使用(yong)(yong)比對(dui)法檢定，建議用(yong)(yong)2801電(dian)橋或其它(ta)精密電(dian)橋作比對標準。儀器應選用“內標(biao)準”和“RC串聯試品”，可選擇(ze)工頻 50Hz或(huo)定頻50Hz頻率模式。

2、用(yong)QSJ3檢定(ding)：使用(yong)帶插頭的屏蔽(bi)電(dian)纜(lan)連接(jie)QSJ3，選擇“正接/ 外(wai)Cn / 外Un式測量(liang)，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗干擾(rao)能力

設置一個回路向儀(yi)器注入定(ding)量的干擾電(dian)流。

注意：

1）應考慮到該回(hui)路可能成(cheng)為試(shi)品的一部(bu)分。

2）儀器啟動后會使220V供電(dian)電(dian)路帶有測(ce)量(liang)頻率(lv)分量(liang)，如果該頻率(lv)分量(liang)又(you)通過(guo)干擾電(dian)流進(jin)入儀器，則無法檢驗儀器的抗干擾能(neng)力。

3）不建議(yi)用臨近高壓導體施(shi)加干擾，因(yin)為(wei)這樣(yang)很容(rong)易(yi)產生(sheng)近距離**放電，這種放電電阻是非線性的，容(rong)易(yi)產生(sheng)同(tong)頻干擾。

十二、變頻(pin)測量討論

1、變(bian)頻(pin)測量

干擾十分嚴(yan)重時，變(bian)頻測量能得(de)到準確可靠的結果。例如(ru)用55Hz測(ce)(ce)量時，測(ce)(ce)量系統(tong)只允(yun)許55Hz信號(hao)通過，50Hz干擾(rao)信號被(bei)有效抑制，原因在于測(ce)量(liang)系統很容易區別(bie)不(bu)同頻率(lv)，由下述簡(jian)單(dan)計算可(ke)以(yi)說(shuo)明選頻測(ce)量(liang)的效果：

兩個頻率相差1倍的正弦波疊加到一起，高頻的是(shi)干擾(rao)，幅度為低(di)頻的10倍：

這剛好(hao)是低頻部分的(de)相位和幅度，干擾被抑制。實際波(bo)形的(de)測量(liang)點(dian)多達數萬(wan)，計算量(liang)很大(da)，結果反映了(le)波(bo)形的(de)整體特征。

2、頻率(lv)和介(jie)損的關系(xi)

介損有RC串聯和并聯兩(liang)種理(li)想(xiang)模(mo)型：串聯模(mo)型tgδ=2πfRC，并聯(lian)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如圖所示，f對完(wan)全正比和完(wan)全反比兩種模型(xing)影響較大。但實(shi)際電容器是(shi)多種模型(xing)交織的混(hun)合模型(xing)，此(ci)時f的影響就小。

3、自動變頻與(yu)50Hz等效

儀(yi)器采用自動變頻(pin)在(zai)干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和(he)55Hz）各測一個點，然后推算50Hz頻(pin)率下數據。除(chu)多個(ge)(ge)元(yuan)件電路的(de)低(di)頻(pin)諧振外，單(dan)個(ge)(ge)試品(pin)中的(de)介質不可(ke)(ke)能(neng)在低(di)頻(pin)引起能(neng)量(liang)吸收(shou)峰，工頻(pin)附近介損總是隨頻(pin)率單(dan)調變(bian)化的(de)。因此這(zhe)種測量(liang)方法(fa)不會帶來(lai)明顯誤差。實(shi)際上(shang)，平均(jun)前的(de)兩個(ge)(ge)介損值(zhi)已十分接近，即(ji)使不平均(jun)也完全(quan)有參考價值(zhi)。目前，變(bian)頻(pin)介損儀(yi)(yi)已成為介損測量(liang)的(de)常規(gui)儀(yi)(yi)器，其優異的(de)抗干擾能(neng)力(li)和準確度已經得到認可(ke)(ke)。

十三、儀(yi)器的(de)裝箱清(qing)單

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