一、WBJS8000G變頻(pin)介質(zhi)損耗測(ce)量裝置概述(shu)

介(jie)損測(ce)(ce)量(liang)(liang)是絕緣試驗中很(hen)基本的方法，可(ke)以(yi)(yi)有效(xiao)地發現電(dian)(dian)器(qi)設備(bei)絕緣的整體受潮(chao)劣化變質，以(yi)(yi)及局(ju)部缺陷(xian)等。在電(dian)(dian)工制造、電(dian)(dian)氣設備(bei)安(an)裝、交接和(he)預防性試驗中都廣(guang)泛應用(yong)。變壓器(qi)、互感器(qi)、電(dian)(dian)抗器(qi)、電(dian)(dian)容器(qi)以(yi)(yi)及套(tao)管、避雷(lei)器(qi)等介(jie)損的測(ce)(ce)量(liang)(liang)是衡量(liang)(liang)其絕緣性能的*基本方法。LYJS9000F變頻(pin)介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試儀突破了傳統(tong)的(de)電(dian)(dian)橋測(ce)量方式(shi)，采(cai)用變頻(pin)電(dian)(dian)源技術，利用單(dan)片機、和(he)現(xian)代化電(dian)(dian)子技術進行(xing)自(zi)動頻(pin)率(lv)變換、模/數(shu)轉換和(he)數(shu)據運算；達到(dao)抗干擾能(neng)力強、測試(shi)速度(du)快、精度(du)高、全自動(dong)數(shu)字化、操(cao)作(zuo)簡便；電源(yuan)采用大(da)功率開關(guan)電源(yuan)，輸出45Hz和55Hz純正弦(xian)波，自(zi)動加壓，可提供*高10千(qian)伏的電壓(ya)；自動濾除50Hz干擾，適(shi)用于變電站等電磁(ci)干擾大的現場(chang)測試。廣泛(fan)適(shi)用于電力行(xing)業中變壓器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、套(tao)管、電容器(qi)(qi)、避雷器(qi)(qi)等設備的介損(sun)測量。

二、WBJS8000G變頻介質(zhi)損耗測量裝置**措施

1、使用本(ben)儀器前一(yi)定(ding)要(yao)認(ren)真閱讀本(ben)手(shou)冊。

2、儀器(qi)的操(cao)作者應具備(bei)一般電氣設備(bei)或儀器(qi)的使(shi)用常(chang)識。

3、本儀器戶(hu)內外均(jun)可(ke)使(shi)用，但應避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃(ai)過濃、高溫、陽光(guang)直射等場所使(shi)用。

儀(yi)表應(ying)避免劇(ju)烈振動。

5、對儀器的維修、護理和調(diao)整應由(you)專業人員進行(xing)。

6、在(zai)任何接(jie)線之前必(bi)須用(yong)接(jie)地電纜(lan)把(ba)儀器接(jie)地端子(zi)與大地可靠連接(jie)起(qi)來。

7、由于測(ce)(ce)(ce)試(shi)設備(bei)產(chan)生高(gao)電壓(ya)，所以測(ce)(ce)(ce)試(shi)人(ren)員必須(xu)(xu)完(wan)全(quan)嚴格遵守(shou)**操作規(gui)程，防止他人(ren)接觸(chu)高(gao)壓(ya)部件(jian)和電路。直接從事(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)的人(ren)員必須(xu)(xu)完(wan)全(quan)了解高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試(shi)線路，及儀器操作要點。非從事(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)人(ren)員必須(xu)(xu)遠離高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試(shi)區(qu)，測(ce)(ce)(ce)試(shi)區(qu)必須(xu)(xu)用柵欄或(huo)繩(sheng)索、警視牌等清楚表示出(chu)來。

8、儀(yi)器(qi)(qi)的調整維修和(he)維護，必須(xu)在不加(jia)電情(qing)況(kuang)下(xia)進行(xing)，如果必須(xu)加(jia)電，則操作者必須(xu)非(fei)常熟悉(xi)本儀(yi)器(qi)(qi)高壓危險部件。

9、保險(xian)管損壞時，必須確保更(geng)換(huan)同樣(yang)的保險(xian)，禁止更(geng)換(huan)不同型號保險(xian)或將保險(xian)直接(jie)短路(lu)使用(yong)。

儀器出現故(gu)障時，關(guan)閉(bi)電(dian)源開關(guan)，等(deng)待一分鐘之后再檢查。

三、WBJS8000G變頻(pin)介(jie)質損(sun)耗測量裝置可(ke)測試參數

儀器可測(ce)量下列參數(shu)并數(shu)字顯示：

被測試品的電容量值CX，以pF或(huo)nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被測試品(pin)的介質損耗值(zhi)tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G變頻介質(zhi)損耗測(ce)量(liang)裝置性能特點

1、儀器采用復數電流(liu)法，測量電容、介質損耗及其它參(can)數。測試結(jie)果(guo)精度高，便于實(shi)現(xian)自動化測量。

2、儀器采(cai)用了變頻技術來消除現(xian)場50Hz工頻干擾，即使在強電(dian)磁(ci)干擾的(de)環境下(xia)也能測得可靠的(de)數據。

3、儀(yi)器采用大屏幕液晶(jing)顯(xian)示(shi)器，測試過(guo)(guo)程通過(guo)(guo)漢字菜(cai)單提示(shi)既直(zhi)觀又便于操作(zuo)。

4、儀器(qi)操作簡便，測(ce)量過程由微(wei)處理(li)器(qi)控制(zhi)，只要選擇好合(he)適的測(ce)量方(fang)式(shi)，數據(ju)的測(ce)量就可在(zai)微(wei)處理(li)器(qi)控制(zhi)下自(zi)動(dong)完(wan)成。

5、一(yi)體化(hua)機型，內附(fu)標(biao)準電(dian)容和高壓電(dian)源，便于現(xian)場測(ce)試，減少現(xian)場接線(xian)。

6、儀(yi)器測量(liang)準(zhun)確度高，可滿足油(you)(you)介損測量(liang)要求，因(yin)此只需配備(bei)標準(zhun)油(you)(you)杯，和專用測試(shi)線(xian)即可實現油(you)(you)介損測量(liang)。

7、設CVT測試功(gong)能(neng)，可實現CVT的自(zi)激法測(ce)試(shi)，無需外置附件，只需一次測(ce)量，C1,C2的電容和介損全部(bu)測出。

8、反接線測試(shi)采用ivddv技術(shu),消(xiao)除(chu)了以往反接線數據不穩定的現(xian)象。

9、具(ju)有反接線低(di)壓(ya)屏(ping)蔽功能，在(zai)220kV CVT 母線接地情況下，對C11 可進(jin)行不(bu)拆(chai)線(xian)10kV 反接線介(jie)損測(ce)量

10、具有測量高(gao)電(dian)壓(ya)介損功能(neng)，能(neng)夠使(shi)用(yong)高(gao)壓(ya)變壓(ya)器或串聯(lian)諧振進(jin)行(xing)超過10kV電壓的介損試驗。

12、接(jie)(jie)地(di)保護(hu)功能，當儀(yi)器(qi)不(bu)接(jie)(jie)地(di)線或接(jie)(jie)地(di)**時，儀(yi)器(qi)不(bu)進入正常程序，不(bu)輸出高壓。過流保護(hu)功能，在(zai)試(shi)品(pin)短路(lu)或擊穿時儀(yi)器(qi)不(bu)受損壞。

13、觸電(dian)(dian)保(bao)護功(gong)能，當儀(yi)器操作人員不小(xiao)心觸電(dian)(dian)時(shi)候，儀(yi)器會立即(ji)切(qie)斷高壓(ya)，保(bao)障試驗人員的**.

五、WBJS8000G變頻介質損耗測量裝置(zhi)技術指(zhi)標

準確(que)度：

Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀(du)數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾指標：  變(bian)頻抗(kang)干(gan)擾，在200%干擾下仍能達到上述(shu)準(zhun)確度

電容量范圍：  內施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外(wai)施高壓(ya)：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率(lv)：      *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍：     不(bu)限，分(fen)辨(bian)率0.001%，電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻三種試品自動識別。

試驗電(dian)流范圍：10μA～1A

內施高壓：    設(she)定(ding)電(dian)壓范圍：0.5～10kV

*大輸(shu)出電(dian)流：200mA

升降壓方(fang)式：連(lian)續平滑(hua)調節

試驗(yan)頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙(shuang)變頻(pin)

頻(pin)率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試驗(yan)電流(liu)1A，工頻或變頻40-70Hz

反(fan)接線時*大試驗電流(liu)10kV/1A，工(gong)頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出(chu)：輸出(chu)電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀數×1%     變比測(ce)量范圍：10～99999

相位測量精度：±0.1°           相位(wei)測量范圍：0～359.9°

測(ce)量時間：    約(yue)40s，與(yu)測量方(fang)式(shi)有關

輸入(ru)電源(yuan)：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

計算機(ji)接口：  標準(zhun)RS232接口

打印機：         煒煌A7熱敏(min)微型打印機

環境(jing)溫度(du)：    -10℃～50℃

相對濕度(du)：    <90%

外(wai)形(xing)尺寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六(liu)、WBJS8000G變頻介質損(sun)耗(hao)測量(liang)裝置(zhi)測量方式及原理

按被測(ce)試品是否接地分(fen)兩種(zhong)測(ce)量方(fang)(fang)式(shi)(shi)，即正接線測(ce)量方(fang)(fang)式(shi)(shi)和反接線測(ce)量方(fang)(fang)式(shi)(shi)。兩種(zhong)測(ce)量方(fang)(fang)式(shi)(shi)的原理(li)如圖一所示：

在高壓電(dian)(dian)源的10kV側，高壓分(fen)(fen)兩路，一(yi)(yi)路給機內標準電(dian)(dian)容(rong)(rong)CN，此電(dian)(dian)容(rong)(rong)介損非(fei)常(chang)小，可以認為介損為零，即為純容(rong)(rong)性電(dian)(dian)流(liu)(liu)，此電(dian)(dian)流(liu)(liu)ICN 可做為容(rong)(rong)性電(dian)(dian)流(liu)(liu)基準。在Cx試品一(yi)(yi)側，試品電(dian)(dian)流(liu)(liu)Icx通過采樣電(dian)(dian)阻R采入機內，此Icx可分(fen)(fen)解(jie)成水平分(fen)(fen)量和垂(chui)直分(fen)(fen)量見圖二所(suo)示，通過計算(suan)水平分(fen)(fen)量與垂(chui)直分(fen)(fen)量的比值即可得到tgδ值。

在圖一(yi)（a）中(zhong)Cx為非接地(di)試(shi)(shi)(shi)品(pin)，試(shi)(shi)(shi)品(pin)電(dian)流Icx從(cong)試(shi)(shi)(shi)品(pin)末端進(jin)入采(cai)(cai)樣電(dian)阻R，得到(dao)全電(dian)流值，在圖一(yi)（b）中(zhong)Cx為接地(di)試(shi)(shi)(shi)品(pin)，機(ji)內(nei)Cx端直(zhi)接接地(di)，電(dian)流Icx從(cong)試(shi)(shi)(shi)品(pin)高壓端到(dao)機(ji)內(nei)采(cai)(cai)樣電(dian)阻取得全電(dian)流值。

七(qi)、WBJS8000G變頻(pin)介(jie)質損耗測(ce)量裝置(zhi)常見設備的接線方法

1．儀器引出(chu)端子(zi)說(shuo)明：

HV ——  儀器(qi)的測量引線(xian)高(gao)壓(ya)端（帶危險電壓(ya)） 。

CX ——  正接線時試品(pin)電流輸(shu)入端。

——  儀(yi)器(qi)的接(jie)(jie)地(di)端，使用時與(yu)大(da)地(di)可靠相接(jie)(jie)

2.參考接線

2.1正接線、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規正接線）：

2.2反(fan)接線、內標準電容、內高壓（常規反(fan)接線）

2.3正接(jie)線、外標準電(dian)容、內(nei)高壓(ya)：

2.4反接線、外標準電容、內高壓：

2.5正(zheng)接(jie)線、內(nei)標準(zhun)電容(rong)、外高壓：

2.6反(fan)接線、內(nei)標(biao)準電容、外高壓(ya)：

2.7正接(jie)線、外標準電容(rong)、外高壓（高電壓介損）：

2.8反接線、外標準(zhun)電容、外高壓：

2.9  CVT自激法(fa)測(ce)量：

CVT自激法可(ke)按下圖接(jie)(jie)(jie)線(xian)。如果C1是單節電容，母線(xian)不能接(jie)(jie)(jie)地；如果C1是多(duo)節電容，母線(xian)可(ke)接(jie)(jie)(jie)地，C11和(he)C12可(ke)用(yong)常規正(zheng)反接(jie)(jie)(jie)線(xian)測量，C13和(he)C2用(yong)自激法測量。

CVT自激法測(ce)(ce)量中，儀(yi)器先測(ce)(ce)量C1，然后自動(dong)倒線測(ce)(ce)量C2，并自動(dong)校準分(fen)壓(ya)影(ying)響。

應(ying)注意，高(gao)壓(ya)線應(ying)懸(xuan)空不能接(jie)觸地(di)面，否則其對(dui)地(di)附加介(jie)損會引(yin)起誤(wu)差(cha)，可用(yong)細電(dian)纜連接(jie)高(gao)壓(ya)插座與CVT試品(pin)并吊(diao)起。強烈建議使(shi)用高壓插座使(shi)用的高壓線用黑色Cx線。

2.10 CVT變比測(ce)試(shi)

儀器高(gao)壓(ya)線的芯線紅夾(jia)子接(jie)CVT的上端，母線(xian)拆地。CVT下(xia)端接地，低壓線紅(hong)黑夾子(zi)接二次繞組，注意:如果測(ce)試角度接近180度，應將紅黑夾(jia)子顛倒。

3.附加功能

3.1光(guang)標在 電壓：10kV上(shang)面時候，按“確認”鍵在儀器屏幕的左下角(jiao)會出現圖(tu)標，代表(biao)測(ce)試結(jie)束自動(dong)打印。如果再按(an)確認鍵，圖(tu)標消失，代表(biao)測(ce)試結(jie)束必(bi)須手動(dong)才能打印。

3.2光標在 反接 上面時(shi)候，在反接線，內Cn，內Un，情況下(xia)，按確認(ren)鍵在(zai)儀(yi)器屏幕右下(xia)角會出現圖(tu)標，代表反接線(xian)低壓屏蔽測(ce)試。如果再(zai)按確認鍵，圖(tu)標消失，代表取(qu)消反接線(xian)低壓屏蔽。

反接(jie)線(xian)低壓(ya)屏蔽功能，一(yi)次接(jie)線(xian)可同(tong)時測出C1和C2的(de)電容(rong)量和介損(sun)

在(zai)反接線、內標(biao)準和(he)內高壓方式，光標(biao)移到(dao)“反(fan)接(jie)”處，按“確認(ren)”右下角顯示“M”。

打開反(fan)(fan)接線低壓(ya)屏蔽，可在上(shang)端(duan)電(dian)容(rong)C1不拆母線的(de)情(qing)況下(xia)，對其進行(xing)不拆線10kV反(fan)(fan)接線介損測(ce)量(liang)。如下(xia)圖(tu)所示：母線掛地(di)線，C1上(shang)端(duan)不拆線，C1下(xia)端(duan)接高壓(ya)線芯線，C2末端(duan)接Cx芯線。儀器采用(yong)反(fan)(fan)接線/10kV/M測(ce)量(liang)方式(shi)，可同時測(ce)出C11和下(xia)端(duan)屏蔽部分的(de)電(dian)容(rong)量(liang)和介損值。

3.3光標在 正接(jie) 上面(mian)時候，按確認鍵(jian)則測試打(da)印機，換紙(zhi)。

3.4光標(biao)在(zai) 啟動 上面時候，按減小鍵則代表取出(chu)存儲的數據(ju)。

3.5測(ce)試完畢，如(ru)果(guo)按減小鍵，則代表存儲測(ce)試的數據

八、WBJS8000G變(bian)頻介質損耗測量裝置(zhi)功能簡(jian)介

儀器面板見圖九(jiu)所(suo)示(shi)：

打印機——打印測(ce)量(liang)數(shu)據。

顯示器(qi)——128×64點陣液晶顯示器，顯示菜(cai)單和各(ge)種(zhong)提示信息及測量結(jie)果。

  鍵——選(xuan)擇(ze)菜(cai)單項，被選(xuan)中(zhong)項反白(bai)字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內容，采(cai)用循環滾動方式。

▼ 鍵——修改菜單內容，采用循環滾動方(fang)式。

確認鍵——在“測試(shi)”選項上按此(ci)鍵進入測試(shi)狀態。

電源開關——整機(ji)電源的開啟和關閉。

電(dian)源座——交流220V±10%，50±1Hz電(dian)源輸入口，帶保險倉。

9．自(zi)激法電流輸(shu)出端——測(ce)量CVT的專用端子。

10．地——為接地線接線端子。

11．CX插座——是試(shi)品(pin)信號的測(ce)量(liang)輸入端，正接線時由專用低壓電纜連接，此電纜單層屏蔽帶特制鱷(e)魚夾，長8m，接試品低端。反接線時(shi)此端空置(zhi)。

12．CN插座(zuo)——是(shi)外標準電容信號的測量輸入(ru)端，使用內標準時此端空置。

13．HV插座(zuo)——高(gao)壓引(yin)出(chu)端子，由高(gao)壓電纜連(lian)接，接試(shi)品高(gao)壓端。輸出(chu)10kv高(gao)壓。

14．RS-232接(jie)口，用來連(lian)接(jie)電腦，上傳數據。

九、儀器(qi)操作步驟

1．測量前準備：

1）用接(jie)(jie)地線一端接(jie)(jie)儀器的接(jie)(jie)地柱，另(ling)一端接(jie)(jie)可靠的大地，保(bao)證儀器外(wai)殼處在地電位上(shang)。

2）正接線時：將高壓電(dian)纜插(cha)(cha)頭插(cha)(cha)入后(hou)門HV插座中，將另一端的(de)紅(hong)色大鉗(qian)子(zi)夾(jia)到被(bei)測試品(pin)的(de)**引線上，黑色小鉗(qian)子(zi)懸空或夾(jia)在紅(hong)色大鉗(qian)子(zi)上。將CX低(di)壓電纜插入CX插座中，另一端(duan)的紅色夾(jia)子夾(jia)試(shi)品的低端(duan)，黑色夾(jia)子懸空或接屏(ping)蔽裝置。

3）反接線時(shi)：將高(gao)壓電纜插頭(tou)插入后門HV插(cha)座中，將(jiang)另一端(duan)的(de)紅色大鉗子(zi)夾(jia)到被測試品的(de)**引線上，紅色小鉗子(zi)懸空(kong)或接(jie)屏蔽裝置。Cx插座不(bu)用(yong)。

2．打開(kai)電源開(kai)關(guan)，儀器進行自檢，若(ruo)自檢良好(hao)，液晶屏顯示中文主(zhu)菜(cai)單如

圖十所(suo)示(shi)。

3．菜單選擇：

按鍵(jian)可移動光(guang)標至各菜(cai)單(dan)項，并循環指(zhi)示。被(bei)選中(zhong)項反(fan)白字(zi)體顯(xian)示。選擇鍵(jian)的流程見(jian)圖十一所(suo)示。

在(zai)光(guang)標當前所(suo)示(shi)(shi)項(xiang)目，按▼ ▲鍵鍵可(ke)進行該項(xiang)菜單的變更，并(bing)循環(huan)指(zhi)示(shi)(shi)，流程見(jian)圖(tu)十二所(suo)示(shi)(shi)。

將菜單變更至與測試要求相(xiang)對應后即可(ke)按選擇(ze)鍵進行下(xia)個項(xiang)目(mu)的(de)選擇(ze)。

4、 頻(pin)率(lv)：光標在頻(pin)率(lv)上，按↑↓鍵選擇定頻(pin)和變頻(pin)：

光(guang)標在定頻上：按住“啟停”鍵(jian)1s以上切(qie)換(huan)到(dao)全頻(pin)率選擇(ze)，按↑↓鍵循環顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(ce)量(liang)，此設置不能抗干擾，在試驗室內測(ce)量(liang)或校驗時(shi)選(xuan)用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測(ce)量，研究不同(tong)頻率下介損的變化時選用。

光標在(zai)變頻上：按(an)住“啟(qi)停”鍵1s以上切換到全頻(pin)率選擇，按↑↓鍵循環顯(xian)示(shi)5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網工(gong)頻干(gan)擾下(xia)測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合(he)60Hz電網工頻(pin)干擾下測(ce)量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾(rao)下(xia)測量(liang)。

5、測試：當光標在 測試 項目上時，按確認鍵(jian)大約3秒鐘(zhong)開始測試(shi)。測試(shi)過程中(zhong)顯(xian)示(shi)的畫面如圖十三（正接線，變頻）所示(shi)，當下面的進程到100%時候測試完畢，然(ran)后顯示測量結果見圖十四(si)所示，此(ci)時光標指示打印機圖標，按(an)確認鍵(jian)打印報告。測量結果的意(yi)義(yi)如下：

tgδ： 試品(pin)的損耗因數tgδ值

CX： 測量的電容值(zhi)

V：施(shi)加電壓值

I：試品流過的電(dian)流

F1,F2 : 試驗頻率

打印(yin)結(jie)束后，關閉電源開(kai)關，測試完(wan)畢。

十(shi)、現場試驗注(zhu)意事項

如(ru)果使用中出現測試數據明顯不合理，請從(cong)以下方面查找(zhao)原(yuan)因：

1、搭鉤(gou)接(jie)觸**

現(xian)場測(ce)量使用搭(da)鉤連接(jie)試(shi)(shi)品(pin)時，搭(da)鉤務必與(yu)試(shi)(shi)品(pin)接(jie)觸良好(hao)，否則接(jie)觸點放電會(hui)引起數據嚴重波動！尤其(qi)是(shi)引流線氧化層太厚，或風吹線擺動，易造(zao)成接(jie)觸**。

2、接(jie)地接(jie)觸**

接(jie)地**會(hui)引起(qi)儀器保(bao)護(hu)或數據嚴重波動。應刮凈接(jie)地點上的油漆和銹(xiu)蝕，務(wu)必(bi)保(bao)證0電阻(zu)接地！

3、直接測量CVT或末端(duan)屏蔽法測量電磁式PT

直接測量(liang)CVT的下節(jie)耦合電容(rong)會出現負(fu)介損，應(ying)改用(yong)自激(ji)法(fa)。

用末端屏蔽法測量電磁(ci)式PT時，由(you)于受潮引起“T形(xing)網絡干(gan)擾”出(chu)現負介損，吹干下面三裙瓷(ci)套和接線端(duan)子盤即可。也(ye)可改用常規法或末(mo)端(duan)加壓法測量。

4、空氣濕(shi)度過大

空氣濕度(du)大使介(jie)損測量值異常增大（或減小甚至為負）且不穩定，必要(yao)時(shi)可(ke)加(jia)屏蔽(bi)環(huan)(huan)。因人為加(jia)屏蔽(bi)環(huan)(huan)改變了(le)試品(pin)電場分布(bu)，此法有爭議，可(ke)參照有關規程。

5、發電機供電

發(fa)電機供電時輸入(ru)頻率不穩定(ding)，可采用(yong)定(ding)頻50Hz模式工作。

6、測試線

由于(yu)長期使用，易造成測(ce)試(shi)線隱性斷路，或芯線和屏蔽短路，或插頭接觸**，用戶應(ying)經(jing)常維護測(ce)試(shi)線；

測試標準電(dian)容試品(pin)時，應(ying)使(shi)用全屏蔽插頭連接，以消除(chu)附加(jia)雜散電(dian)容影響，否則不能反映出儀器精度；

自激法測(ce)量CVT時(shi)，非專用的高壓線應吊起(qi)懸空，否則對地附(fu)加雜(za)散電容(rong)和介損(sun)會(hui)引起(qi)測(ce)量(liang)誤差。

7、工作模式選擇(ze)

接好線后請選擇正確的測(ce)量工(gong)作模(mo)式(shi)（正、反和(he)CVT），不(bu)可選錯。特別是(shi)干擾(rao)環境(jing)下應選用變頻抗(kang)干擾(rao)模式。

8、試驗方法影響

由于介(jie)損測量受試驗方法影響(xiang)較大，應(ying)區分是試驗方法誤差還是儀(yi)器(qi)誤差。出現問題時可首先(xian)檢(jian)查接線(xian)，然后檢(jian)查是否為儀(yi)器(qi)故障。

9、儀(yi)器故障(zhang)

用(yong)萬(wan)用(yong)表測量(liang)一下測試線(xian)是否(fou)(fou)斷路(lu)，或芯線(xian)和屏蔽是否(fou)(fou)短路(lu)；輸入(ru)電源220V過高或過低；接地是(shi)否(fou)良好。

用正、反接線測(ce)一下標準電容(rong)器(qi)或已(yi)知容(rong)量(liang)和介(jie)損的電容(rong)試品，如果結果正確，即可判(pan)斷(duan)儀(yi)器(qi)沒有問題；

拔下所有(you)測試導線，進行空試升壓，若不能正常工作，儀器可能有(you)故障(zhang)。

啟動CVT測(ce)量后測(ce)量低壓輸出(chu)，應出(chu)現2～5V電(dian)壓(ya)，否則(ze)儀器有故(gu)障。

十一、 儀器檢定

1、用標準損耗器(qi)檢定

用帶插頭的屏蔽電(dian)纜連接標(biao)準(zhun)損耗器(qi)。如果不能保(bao)證標(biao)準(zhun)損耗器(qi)的精度，應使用比對法檢定，建議(yi)用2801電(dian)橋(qiao)或其它精密電(dian)橋(qiao)作比對標準。儀器應選(xuan)用“內標準”和“RC串聯(lian)試品”，可選擇工頻(pin) 50Hz或定頻50Hz頻率(lv)模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭(tou)的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外(wai)Cn / 外Un式測(ce)量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適(shi)當值。

3、抗干擾(rao)能(neng)力

設置一個(ge)回(hui)路向儀器注入定量的干擾電流(liu)。

注(zhu)意：

1）應考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動(dong)后會使(shi)220V供(gong)電(dian)電(dian)路帶有測量(liang)頻(pin)率分(fen)量(liang)，如(ru)果(guo)該(gai)頻(pin)率分(fen)量(liang)又(you)通(tong)過干(gan)擾電(dian)流進入儀(yi)器(qi)，則(ze)無法檢驗儀(yi)器(qi)的抗干(gan)擾能力(li)。

3）不(bu)建議用臨(lin)近高壓導體施(shi)加干擾，因(yin)為這樣很容易產生近距離**放電(dian)(dian)，這種放電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻是(shi)非線性的，容易產生同頻干擾。

十二、變頻(pin)測量討(tao)論

1、變頻測量

干擾十(shi)分嚴重時，變頻測量能(neng)得到準確可靠的(de)結(jie)果(guo)。例如用55Hz測(ce)量時，測(ce)量系統只允許55Hz信(xin)號(hao)通過，50Hz干(gan)擾(rao)信號被(bei)有效(xiao)(xiao)抑制，原因在于測量系統很容易區別不同頻率，由下述簡單計算可以說(shuo)明選頻測量的(de)效(xiao)(xiao)果：

兩個頻率相差1倍(bei)的正弦波疊加到一起(qi)，高頻的是(shi)干擾，幅度為低頻的10倍：

這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被抑制。實(shi)際(ji)波形的測量(liang)(liang)點(dian)多(duo)達數萬(wan)，計算量(liang)(liang)很大，結果反(fan)映了(le)波形的整體特征。

2、頻率和介損的關系

介損有RC串(chuan)聯和并聯兩(liang)種(zhong)理想模型：串(chuan)聯模型tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成(cheng)正比和反(fan)比。如圖所示，f對完(wan)全(quan)正比(bi)和完(wan)全(quan)反(fan)比(bi)兩種模型影(ying)響較大(da)。但實際電(dian)容器(qi)是多種模型交織的混合模型，此時f的影響就(jiu)小。

3、自(zi)動變(bian)頻與50Hz等效(xiao)

儀器采用自(zi)動變頻在干擾(rao)頻率50Hz兩側（45Hz和(he)55Hz）各測(ce)一個點，然后推算50Hz頻(pin)(pin)(pin)率(lv)下(xia)數據。除(chu)多個(ge)元件電路的(de)低頻(pin)(pin)(pin)諧振(zhen)外，單(dan)個(ge)試(shi)品(pin)中的(de)介質不可能在低頻(pin)(pin)(pin)引起能量吸收峰，工(gong)頻(pin)(pin)(pin)附近(jin)介損總(zong)是隨(sui)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)單(dan)調變(bian)化的(de)。因此(ci)這(zhe)種測量方法不會帶來明顯誤差。實際(ji)上，平均(jun)前的(de)兩個(ge)介損值已十(shi)分接近(jin)，即(ji)使不平均(jun)也(ye)完全有參考價值。目前，變(bian)頻(pin)(pin)(pin)介損儀已成(cheng)為(wei)介損測量的(de)常(chang)規儀器，其優異的(de)抗干擾(rao)能力和(he)準確(que)度已經得到認可。

十三、儀器的裝箱清(qing)單

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