一、WBJS8000G高壓變頻介質損耗測試儀概述

介損測量(liang)是絕(jue)緣(yuan)試驗中很(hen)基本(ben)的方(fang)法(fa)，可以(yi)有(you)效地(di)發(fa)現電器(qi)(qi)設備(bei)(bei)絕(jue)緣(yuan)的整體受(shou)潮劣化變(bian)質，以(yi)及(ji)局部缺陷等(deng)。在(zai)電工制造、電氣設備(bei)(bei)安裝、交接和預防性試驗中都廣泛(fan)應用。變(bian)壓器(qi)(qi)、互(hu)感器(qi)(qi)、電抗器(qi)(qi)、電容(rong)器(qi)(qi)以(yi)及(ji)套管、避雷器(qi)(qi)等(deng)介損的測量(liang)是衡量(liang)其絕(jue)緣(yuan)性能的*基本(ben)方(fang)法(fa)。LYJS9000F變頻(pin)介質損耗測(ce)試儀突破了傳(chuan)統的電(dian)橋測(ce)量方式，采(cai)用變頻(pin)電(dian)源(yuan)技術(shu)，利用單片機、和(he)現代化電(dian)子技術(shu)進行自動(dong)頻(pin)率變換、模/數(shu)轉換和數(shu)據運算；達(da)到(dao)抗干擾能力強(qiang)、測試(shi)速度快、精度高、全自動數(shu)字(zi)化、操作簡便；電源采用大功率開關電源，輸出45Hz和55Hz純正(zheng)弦波(bo)，自動(dong)加壓，可提供*高10千(qian)伏的電壓；自(zi)動濾除50Hz干(gan)擾，適用于(yu)變電站等電磁(ci)干(gan)擾大(da)的(de)(de)現場測(ce)試。廣(guang)泛適用于(yu)電力(li)行業(ye)中變壓器、互感器、套(tao)管、電容(rong)器、避雷(lei)器等設備的(de)(de)介損測(ce)量。

二(er)、WBJS8000G高壓變(bian)頻(pin)介質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀**措(cuo)施

1、使用本(ben)儀器前一定(ding)要認真(zhen)閱(yue)讀本(ben)手冊(ce)。

2、儀器(qi)的(de)操作者應(ying)具備一(yi)般電氣設備或儀器(qi)的(de)使用常識。

3、本儀器戶內外均(jun)可使用，但應避開雨淋、腐蝕(shi)氣體、塵埃過(guo)濃、高溫、陽(yang)光(guang)直射(she)等場所使用。

儀(yi)表應(ying)避免(mian)劇烈振動。

5、對儀(yi)器的維(wei)修、護理和調整(zheng)應由專業人員進行。

6、在(zai)任何接(jie)線之前必須用接(jie)地(di)電纜把(ba)儀(yi)器(qi)接(jie)地(di)端子與大地(di)可靠連接(jie)起來。

7、由(you)于測試(shi)設備產(chan)生高電壓，所以(yi)測試(shi)人員(yuan)必(bi)須完全嚴格遵守(shou)**操作規程，防止他人接觸高壓部件和電路(lu)。直接從事(shi)測試(shi)的人員(yuan)必(bi)須完全了解高壓測試(shi)線路(lu)，及(ji)儀器操作要點。非(fei)從事(shi)測試(shi)人員(yuan)必(bi)須遠離(li)高壓測試(shi)區，測試(shi)區必(bi)須用柵欄(lan)或繩(sheng)索、警視牌等(deng)清楚表示出來。

8、儀(yi)器(qi)(qi)的調整(zheng)維修(xiu)和維護，必(bi)須在不加電(dian)情(qing)況(kuang)下進行，如果必(bi)須加電(dian)，則操作者必(bi)須非常熟悉(xi)本(ben)儀(yi)器(qi)(qi)高壓危險部件。

9、保險(xian)(xian)管損壞時，必(bi)須(xu)確保更換同(tong)(tong)樣的保險(xian)(xian)，禁止更換不同(tong)(tong)型號保險(xian)(xian)或將保險(xian)(xian)直接(jie)短路使用。

儀器出現故障時，關閉電(dian)源(yuan)開(kai)關，等待一分鐘之后再(zai)檢(jian)查。

三(san)、WBJS8000G高壓(ya)變頻介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀可測(ce)試參(can)數

儀器(qi)可(ke)測量下列參數并(bing)數字(zi)顯示：

被測試品的電(dian)容量值(zhi)CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品的介(jie)質(zhi)損(sun)耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G高壓變頻介質損耗測試(shi)儀性能特(te)點(dian)

1、儀器采用(yong)復數電流法，測量電容(rong)、介(jie)質損耗(hao)及其它參數。測試結果精(jing)度高，便于實現自動化測量。

2、儀器采用(yong)了(le)變(bian)頻技術來消除現場50Hz工頻干擾(rao)，即使(shi)在(zai)強電磁(ci)干擾(rao)的環境下也能測得可靠的數據。

3、儀器(qi)(qi)采用大屏(ping)幕液(ye)晶顯示器(qi)(qi)，測試過(guo)程通過(guo)漢字(zi)菜單提示既(ji)直(zhi)觀(guan)又(you)便于(yu)操作。

4、儀器(qi)(qi)操作(zuo)簡便，測量過程由微處(chu)理器(qi)(qi)控制，只要(yao)選擇好合適的測量方式，數據的測量就(jiu)可在微處(chu)理器(qi)(qi)控制下自動完成。

5、一體化(hua)機型，內附(fu)標準電(dian)容和高壓電(dian)源，便(bian)于現場測試，減(jian)少現場接線。

6、儀器測(ce)量(liang)準確度高，可(ke)滿足油介損測(ce)量(liang)要(yao)求，因此只需配(pei)備(bei)標準油杯(bei)，和專用測(ce)試(shi)線即可(ke)實(shi)現油介損測(ce)量(liang)。

7、設CVT測試功能，可實現CVT的自(zi)激(ji)法測試，無需外置附件，只需一(yi)次測量，C1,C2的電容和(he)介損(sun)全部測出。

8、反接線(xian)測試采用ivddv技術,消除了(le)以往反接線數據不穩定的現象。

9、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母線(xian)接地情(qing)況(kuang)下(xia)，對C11 可進行(xing)不(bu)拆(chai)線10kV 反接線介損(sun)測量

10、具(ju)有(you)測量高電壓介損(sun)功能，能夠使用高壓變(bian)壓器(qi)或(huo)串聯諧(xie)振進行超過10kV電(dian)壓的介損試驗。

12、接地保護(hu)(hu)功(gong)能(neng)，當(dang)儀(yi)器不接地線或接地**時，儀(yi)器不進入正常程序，不輸出高壓。過(guo)流保護(hu)(hu)功(gong)能(neng)，在試品短路或擊穿時儀(yi)器不受損(sun)壞(huai)。

13、觸電(dian)保護(hu)功能(neng)，當儀器操作人員不小心觸電(dian)時候，儀器會立即(ji)切(qie)斷高壓，保障試驗人員的**.

五、WBJS8000G高(gao)壓(ya)變頻(pin)介(jie)質(zhi)損耗(hao)測試(shi)儀技(ji)術指標

準確度：

Cx: ±（讀(du)數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指標：  變頻抗(kang)干擾(rao)，在200%干擾下仍能達(da)到上述準(zhun)確度

電容量(liang)范圍：  內施高(gao)壓(ya)：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：      *高0.001pF，4位有效數字(zi)

tgδ范圍：     不限，分(fen)辨率0.001%，電(dian)容、電(dian)感(gan)、電(dian)阻三(san)種試品(pin)自動識別。

試驗電流范(fan)圍：10μA～1A

內(nei)施高(gao)壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸(shu)出電流：200mA

升降(jiang)壓方式：連續平滑調節

試驗頻率(lv)： 45、50、55、60、65Hz單(dan)頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精(jing)度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時(shi)*大試驗(yan)電(dian)流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時(shi)*大(da)試驗電流10kV/1A，工(gong)頻(pin)或變(bian)頻(pin)40-70Hz

CVT自激法(fa)低壓輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓3～50V，輸(shu)出電流3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀(du)數×1%     變比測量(liang)范圍(wei)：10～99999

相(xiang)位測(ce)量(liang)精度(du)：±0.1°      ;     相位測量范圍：0～359.9°

測量時間(jian)：    約40s，與測量方(fang)式有關(guan)

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機(ji)供(gong)電(dian)

計算機接口：  標準RS232接(jie)口

打(da)印機(ji)：         煒煌A7熱敏微型(xing)打印(yin)機(ji)

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形尺寸：460×360×350mm

儀(yi)器重量(liang)：28kg

六、WBJS8000G高壓(ya)變頻介質損耗測試儀測量方式及原理

按被測試品是否接地分(fen)兩(liang)種(zhong)測量(liang)(liang)方式(shi)，即正接線測量(liang)(liang)方式(shi)和反接線測量(liang)(liang)方式(shi)。兩(liang)種(zhong)測量(liang)(liang)方式(shi)的原理如圖一所(suo)示(shi)：

在高壓電(dian)源的10kV側(ce)，高壓分(fen)(fen)(fen)兩(liang)路(lu)，一(yi)(yi)路(lu)給機內標準(zhun)電(dian)容CN，此(ci)電(dian)容介(jie)損非(fei)常小，可(ke)以(yi)認為介(jie)損為零，即為純容性電(dian)流(liu)，此(ci)電(dian)流(liu)ICN 可(ke)做(zuo)為容性電(dian)流(liu)基準(zhun)。在Cx試品一(yi)(yi)側(ce)，試品電(dian)流(liu)Icx通過采(cai)樣(yang)電(dian)阻R采(cai)入機內，此(ci)Icx可(ke)分(fen)(fen)(fen)解成水平(ping)分(fen)(fen)(fen)量和(he)垂直(zhi)分(fen)(fen)(fen)量見圖二所示，通過計算水平(ping)分(fen)(fen)(fen)量與垂直(zhi)分(fen)(fen)(fen)量的比值(zhi)即可(ke)得到tgδ值(zhi)。

在(zai)圖一（a）中Cx為(wei)非接地試品(pin)，試品(pin)電(dian)(dian)流(liu)Icx從(cong)試品(pin)末端(duan)(duan)(duan)進(jin)入采(cai)樣(yang)電(dian)(dian)阻R，得到全電(dian)(dian)流(liu)值，在(zai)圖一（b）中Cx為(wei)接地試品(pin)，機內Cx端(duan)(duan)(duan)直接接地，電(dian)(dian)流(liu)Icx從(cong)試品(pin)高壓端(duan)(duan)(duan)到機內采(cai)樣(yang)電(dian)(dian)阻取得全電(dian)(dian)流(liu)值。

七、WBJS8000G高壓(ya)變頻(pin)介質(zhi)損耗測試儀常見設備(bei)的接(jie)線方法

1．儀器(qi)引出端子說明(ming)：

HV ——  儀器(qi)的測(ce)量引線(xian)高壓端（帶危險電(dian)壓） 。

CX ——  正(zheng)接(jie)線時(shi)試品電流(liu)輸入端。

——  儀器(qi)的接地端，使(shi)用時與大地可靠相接

2.參(can)考接(jie)線

2.1正(zheng)接線、內(nei)(nei)標準電容(rong)、內(nei)(nei)高(gao)壓（常規正(zheng)接線）：

2.2反接線、內標準電容(rong)、內高壓（常規反接線）

2.3正(zheng)接線、外標準(zhun)電容(rong)、內高(gao)壓：

2.4反接線(xian)、外標準電(dian)容、內高壓：

2.5正接線、內標準(zhun)電容、外高壓(ya)：

2.6反接線、內標準電容(rong)、外高壓(ya)：

2.7正接線、外標(biao)準電容、外高(gao)壓（高(gao)電壓介損）：

2.8反接線、外(wai)標(biao)準電容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自激法(fa)測量(liang)：

CVT自激(ji)法可按下圖接(jie)線(xian)。如果(guo)C1是單節電(dian)容，母線(xian)不能(neng)接(jie)地；如果(guo)C1是多節電(dian)容，母線(xian)可接(jie)地，C11和C12可用(yong)常規正反接(jie)線(xian)測量(liang)，C13和C2用(yong)自激(ji)法測量(liang)。

CVT自激法測(ce)量(liang)中，儀器先測(ce)量(liang)C1，然后自動倒線測(ce)量(liang)C2，并自動校(xiao)準分壓(ya)影響。

應注意，高壓線應懸空不(bu)能接觸(chu)地面，否則其對(dui)地附(fu)加介損會引起誤(wu)差(cha)，可用細電纜連接高壓插座與CVT試(shi)品并吊(diao)起。強烈建(jian)議使用高(gao)壓插座使用的高(gao)壓線用黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀器(qi)高(gao)壓線的芯線紅夾子接(jie)CVT的(de)上端，母線(xian)拆(chai)地。CVT下端(duan)接(jie)地，低壓線紅黑夾(jia)子接(jie)二(er)次繞(rao)組，注(zhu)意:如果測試角(jiao)度(du)接近180度，應將紅黑夾(jia)子(zi)顛倒。

3.附加(jia)功(gong)能

3.1光(guang)標在 電(dian)壓(ya)：10kV上面(mian)時候，按(an)“確(que)認”鍵在儀器(qi)屏幕的左下角(jiao)會出現圖(tu)(tu)標，代(dai)表測(ce)(ce)試結(jie)束(shu)自動(dong)打(da)印。如果(guo)再按確認(ren)鍵，圖(tu)(tu)標消(xiao)失，代(dai)表測(ce)(ce)試結(jie)束(shu)必須手(shou)動(dong)才能(neng)打(da)印。

3.2光標在(zai) 反接 上面時候(hou)，在(zai)反接線(xian)，內Cn，內(nei)Un，情(qing)況(kuang)下，按確認鍵在儀器屏(ping)幕右(you)下角會出現圖(tu)標，代(dai)表(biao)反(fan)(fan)接線(xian)低壓屏蔽測試。如果再按確認鍵(jian)，圖(tu)標消(xiao)失，代(dai)表(biao)取消(xiao)反(fan)(fan)接線(xian)低壓屏蔽。

反(fan)接線低壓屏蔽(bi)功(gong)能，一(yi)次接線可同時測(ce)出(chu)C1和C2的電容量和介損(sun)

在反(fan)接線、內(nei)標(biao)準和內(nei)高壓方式，光(guang)標(biao)移到(dao)“反接”處，按“確認(ren)”右下角顯示“M”。

打開反接線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)低壓屏(ping)蔽(bi)，可(ke)在上(shang)端(duan)電(dian)容C1不(bu)拆(chai)母(mu)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)情況下(xia)，對其進行(xing)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)介損測量。如(ru)下(xia)圖所(suo)示：母(mu)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，C1上(shang)端(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)接高(gao)壓線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)接Cx芯線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)。儀(yi)器采用(yong)反接線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)/10kV/M測量方式，可(ke)同(tong)時測出C11和(he)下(xia)端(duan)屏(ping)蔽(bi)部(bu)分(fen)的(de)電(dian)容量和(he)介損值。

3.3光標(biao)在 正接 上面時候(hou)，按確認鍵則測試打印機(ji)，換(huan)紙。

3.4光(guang)標在(zai) 啟(qi)動 上面時候，按減小鍵則代表取出存儲(chu)的數據。

3.5測(ce)試(shi)完畢，如(ru)果按減小鍵(jian)，則代(dai)表存儲(chu)測(ce)試(shi)的(de)數(shu)據

八、WBJS8000G高壓變(bian)頻介質(zhi)損(sun)耗測試儀功(gong)能簡介

儀(yi)器面板見圖九所示：

打印(yin)(yin)機(ji)——打印(yin)(yin)測量數據。

顯(xian)示(shi)器——128×64點(dian)陣液(ye)晶顯(xian)(xian)示(shi)器，顯(xian)(xian)示(shi)菜單和各種(zhong)提(ti)示(shi)信息及測量(liang)結果。

  鍵——選(xuan)擇菜單項，被選(xuan)中(zhong)項反白(bai)字體顯示。

▲  鍵——修(xiu)改菜(cai)單內容(rong)，采用循環滾動方式(shi)。

▼ 鍵——修改菜單內(nei)容，采(cai)用(yong)循環滾動(dong)方式。

確(que)認鍵——在“測試”選項上按(an)此(ci)鍵進(jin)入測試狀態。

電源開(kai)關——整機電源的開(kai)啟和關閉。

電(dian)源(yuan)座——交流(liu)220V±10%，50±1Hz電源(yuan)輸入口，帶保險倉。

9．自激法(fa)電流輸(shu)出端——測(ce)量CVT的(de)專(zhuan)用端(duan)子(zi)。

10．地(di)——為接(jie)地(di)線(xian)接(jie)線(xian)端子。

11．CX插座——是試(shi)品信號的測量輸入端，正接線時由專(zhuan)用低(di)壓(ya)電纜連接，此電纜單(dan)層屏蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接試(shi)品低端。反接線時此端空置。

12．CN插座——是外(wai)標準電(dian)容信號的測量輸入端(duan)，使用(yong)內標準時(shi)此端(duan)空置。

13．HV插座——高(gao)壓引(yin)出端(duan)子(zi)，由高(gao)壓電(dian)纜連接(jie)(jie)，接(jie)(jie)試品高(gao)壓端(duan)。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口(kou)，用來連接電腦，上(shang)傳數據(ju)。

九、儀器操作步驟

1．測量前(qian)準備：

1）用接地(di)線一端(duan)接儀(yi)器的接地(di)柱(zhu)，另一端(duan)接可靠的大(da)地(di)，保證儀(yi)器外殼處在地(di)電位上。

2）正接(jie)線(xian)時：將高壓(ya)電(dian)纜插頭(tou)插入(ru)后門HV插座(zuo)中，將另一端的紅色大鉗(qian)(qian)子(zi)夾到被測試(shi)品的**引線上，黑色小鉗(qian)(qian)子(zi)懸空或夾在紅色大鉗(qian)(qian)子(zi)上。將CX低壓電纜插入CX插座(zuo)中(zhong)，另一(yi)端(duan)的紅色(se)夾(jia)子夾(jia)試品的低(di)端(duan)，黑色(se)夾(jia)子懸空(kong)或接屏蔽裝置。

3）反(fan)接線(xian)時：將高壓電纜插(cha)頭插(cha)入(ru)后(hou)門HV插座(zuo)中，將另(ling)一端的紅(hong)色大鉗(qian)子夾(jia)到被測(ce)試品的**引線(xian)上，紅(hong)色小鉗(qian)子懸空(kong)或接屏蔽裝置。Cx插座不用(yong)。

2．打(da)開電源(yuan)開關(guan)，儀(yi)器進行自(zi)檢，若自(zi)檢良好，液晶屏顯示中文主菜單如

圖十所示。

3．菜單選(xuan)擇：

按鍵可移動光標至(zhi)各菜單項(xiang)，并循(xun)環(huan)指(zhi)示。被(bei)選中項(xiang)反白字體顯示。選擇(ze)鍵的流(liu)程見圖十一(yi)所示。

在光(guang)標當前所示(shi)項(xiang)目(mu)，按(an)▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該(gai)項(xiang)菜單的變更，并循環指(zhi)示(shi)，流(liu)程見圖十二(er)所示(shi)。

將(jiang)菜單變更至與測試要求相對應后即可按選擇(ze)鍵進行(xing)下個項目的選擇(ze)。

4、 頻率：光標在頻率上，按↑↓鍵選擇定頻和變頻：

光標(biao)在(zai)定頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到(dao)全(quan)頻率選擇(ze)，按(an)↑↓鍵(jian)循環顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工(gong)頻50Hz測量，此設置(zhi)不能(neng)抗干擾，在試(shi)驗室內(nei)測量或校驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻(pin)率(lv)測量，研究不同頻(pin)率(lv)下(xia)介損的變化時選用。

光(guang)標在(zai)變(bian)頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇(ze)，按↑↓鍵循環顯(xian)示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動(dong)變頻，適(shi)合50Hz電網(wang)工頻干(gan)擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合(he)60Hz電網工頻干擾下測(ce)量。

“4-Hz”：為(wei)47.5/52.5Hz自動(dong)變頻，適合50Hz電網工頻干擾下測量(liang)。

5、測試(shi)：當光標在 測試(shi) 項目上時，按確(que)認鍵大約3秒鐘(zhong)開始(shi)測試。測試過(guo)程(cheng)中顯示的(de)畫面如圖十(shi)三(san)（正接線，變頻）所(suo)示，當下面的(de)進程(cheng)到100%時候測試完畢，然后顯示(shi)測量(liang)(liang)結果見(jian)圖十(shi)四所示(shi)，此時光標指示(shi)打印機(ji)圖標，按確認鍵打印報告。測量(liang)(liang)結果的意義(yi)如下：

tgδ： 試品的損耗(hao)因(yin)數tgδ值(zhi)

CX： 測量的電容值

V：施(shi)加電壓值

I：試品流過(guo)的電(dian)流

F1,F2 : 試(shi)驗(yan)頻(pin)率

打印(yin)結束后，關閉(bi)電(dian)源(yuan)開關，測試完畢。

十、現場試驗注意事(shi)項

如果使用中出(chu)現(xian)測(ce)試(shi)數據明顯(xian)不合理(li)，請從以下方面查找原(yuan)因(yin)：

1、搭鉤接觸**

現場測量使用(yong)搭鉤(gou)連(lian)接(jie)試(shi)品時，搭鉤(gou)務必與試(shi)品接(jie)觸(chu)良好，否則接(jie)觸(chu)點放電(dian)會引起數(shu)據嚴重(zhong)波動(dong)！尤其是引流線氧(yang)化層太厚，或風(feng)吹(chui)線擺(bai)動(dong)，易(yi)造(zao)成(cheng)接(jie)觸(chu)**。

2、接(jie)地接(jie)觸**

接(jie)地**會引起儀(yi)器保護或數(shu)據嚴(yan)重波動。應刮(gua)凈接(jie)地點上的油漆和銹蝕，務必(bi)保證0電(dian)阻(zu)接地！

3、直接(jie)測量CVT或末端屏(ping)蔽法測量電(dian)磁(ci)式PT

直(zhi)接測(ce)量(liang)CVT的(de)下節耦合電(dian)容(rong)會出現(xian)負介損，應改用自激法(fa)。

用末端屏蔽法(fa)測量(liang)電磁式PT時，由于受潮引起(qi)“T形(xing)網絡(luo)干擾”出現(xian)負(fu)介損，吹(chui)干下面三裙瓷套和接(jie)線端(duan)子(zi)盤即可。也可改(gai)用常(chang)規法或(huo)末(mo)端(duan)加壓法測量。

4、空(kong)氣(qi)濕(shi)度過大

空氣濕(shi)度大使介損測量值異常增大（或減小甚(shen)至為負）且不穩定，必(bi)要(yao)時可(ke)加屏蔽環(huan)。因人為加屏蔽環(huan)改變了試品(pin)電場分布，此(ci)法有爭(zheng)議，可(ke)參照有關規程。

5、發電機供電

發(fa)電(dian)機供電(dian)時(shi)輸入頻率不穩定(ding)，可采用(yong)定(ding)頻50Hz模式工作。

6、測試(shi)線(xian)

由(you)于長期使用，易造成測(ce)試(shi)(shi)線隱性斷(duan)路，或芯線和屏蔽(bi)短路，或插(cha)頭接觸(chu)**，用戶應(ying)經常維護測(ce)試(shi)(shi)線；

測試標準電容(rong)試品(pin)時(shi)，應(ying)使用全屏(ping)蔽(bi)插頭連接，以消(xiao)除附加雜散(san)電容(rong)影響(xiang)，否則(ze)不(bu)能反映(ying)出儀器精度；

自激(ji)法測量CVT時，非專用的高壓(ya)線應吊起懸空，否(fou)則對地(di)附(fu)加(jia)雜(za)散電容和介損會引起測量誤差。

7、工(gong)作模式選擇(ze)

接好線后請(qing)選擇正確的測量工(gong)作模式(shi)（正、反和CVT），不可(ke)選錯。特別是干擾(rao)環境下(xia)應選用變頻抗干擾(rao)模式。

8、試驗方法影(ying)響

由于介損測量受試驗方法影響較大，應區分是(shi)(shi)試驗方法誤(wu)差還是(shi)(shi)儀(yi)器(qi)誤(wu)差。出現(xian)問題時可首先(xian)檢查接(jie)線，然后(hou)檢查是(shi)(shi)否為(wei)儀(yi)器(qi)故(gu)障(zhang)。

9、儀器故障

用萬用表測量一下測試線是(shi)否(fou)斷路(lu)，或芯線和屏蔽是(shi)否(fou)短路(lu)；輸入(ru)電源(yuan)220V過高或過低；接地是否良好。

用正(zheng)、反接線測一(yi)下標準電容(rong)器(qi)或(huo)已知(zhi)容(rong)量和介(jie)損的電容(rong)試品，如(ru)果結(jie)果正(zheng)確(que)，即(ji)可判斷(duan)儀器(qi)沒有問題；

拔下所有(you)測(ce)試導線，進(jin)行空試升壓，若(ruo)不能正常工作，儀器可(ke)能有(you)故障(zhang)。

啟動CVT測(ce)量(liang)后測(ce)量(liang)低壓輸出，應出現2～5V電壓，否則儀(yi)器有故障。

十(shi)一、 儀器檢(jian)定

1、用標(biao)準損耗(hao)器檢(jian)定(ding)

用帶插頭的屏蔽電纜(lan)連(lian)接標(biao)準損(sun)耗(hao)器(qi)。如(ru)果(guo)不能(neng)保(bao)證標(biao)準損(sun)耗(hao)器(qi)的精度，應使用比對法檢定(ding)，建議用2801電(dian)橋(qiao)或其它(ta)精密電(dian)橋(qiao)作(zuo)比對標準。儀器應選用(yong)“內標準”和“RC串聯試品”，可選擇工頻 50Hz或定(ding)頻50Hz頻率模式(shi)。

2、用QSJ3檢定：使用(yong)帶插(cha)頭的屏蔽電纜連(lian)接QSJ3，選(xuan)擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適(shi)當值(zhi)。

3、抗干擾能力

設置一個回路(lu)向儀器注(zhu)入定量的干擾電流。

注意(yi)：

1）應考(kao)慮(lv)到該回路可能成為試品的一(yi)部分(fen)。

2）儀器啟動后會使220V供電(dian)電(dian)路帶(dai)有(you)測(ce)量頻(pin)(pin)率分(fen)量，如果(guo)該頻(pin)(pin)率分(fen)量又(you)通(tong)過(guo)干擾(rao)電(dian)流進(jin)入儀(yi)器(qi)，則無法檢驗儀(yi)器(qi)的(de)抗干擾(rao)能力。

3）不建(jian)議(yi)用臨(lin)近(jin)高壓(ya)導體施加(jia)干擾，因為這樣很容(rong)易(yi)產生近(jin)距離**放電，這種放電電阻是非線性的，容(rong)易(yi)產生同頻干擾。

十二、變頻測量(liang)討論(lun)

1、變(bian)頻測量(liang)

干擾十(shi)分嚴重時，變頻測(ce)量能(neng)得到(dao)準(zhun)確可靠的結果。例如用55Hz測量時，測量系統只(zhi)允許55Hz信(xin)號通過，50Hz干(gan)擾(rao)信號(hao)被(bei)有效抑制，原因在(zai)于測量系(xi)統很容易區別不同頻率(lv)，由下述簡單計算(suan)可以說(shuo)明選頻測量的效果：

兩個頻率相差1倍的(de)(de)正弦波疊加(jia)到一起，高頻的(de)(de)是(shi)干擾(rao)，幅(fu)度為低(di)頻的(de)(de)10倍(bei)：

這剛好是低頻部分的(de)相位和幅(fu)度，干擾被抑制。實際波(bo)形的(de)測量點多達數萬，計算量很大，結果反映(ying)了波(bo)形的(de)整(zheng)體特征。

2、頻率和(he)介損的(de)關系

介(jie)損有RC串(chuan)聯和并聯兩種(zhong)理想模型(xing)：串(chuan)聯模型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模(mo)型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別(bie)隨頻(pin)率f成正(zheng)比和反比。如圖所示，f對(dui)完全(quan)正比(bi)(bi)和(he)完全(quan)反比(bi)(bi)兩種(zhong)模(mo)型影響較大。但實際(ji)電容器是(shi)多種(zhong)模(mo)型交織的混合(he)模(mo)型，此時f的影響就小。

3、自動變頻(pin)與50Hz等效

儀器采(cai)用自動變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各(ge)測一個點，然(ran)后推(tui)算50Hz頻率下數據。除多(duo)個(ge)元件(jian)電路的(de)低頻諧振外(wai)，單個(ge)試品中(zhong)的(de)介質(zhi)不(bu)可能在低頻引起能量(liang)吸收峰，工(gong)頻附(fu)近介損總是隨(sui)頻率單調變化的(de)。因此這(zhe)種(zhong)測(ce)量(liang)方法不(bu)會帶(dai)來明顯誤(wu)差。實際上，平均(jun)(jun)前的(de)兩(liang)個(ge)介損值已十分接近，即使不(bu)平均(jun)(jun)也完(wan)全有參考價值。目前，變頻介損儀已成為介損測(ce)量(liang)的(de)常(chang)規儀器，其優(you)異(yi)的(de)抗干擾能力和準確度已經得到認(ren)可。

十三、儀器(qi)的裝箱清(qing)單

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