一、WBJS8000GAI6000D變頻介損儀(yi)概述

介(jie)損測(ce)量(liang)是絕(jue)緣(yuan)試驗中(zhong)很基(ji)本的方(fang)(fang)法，可以有效(xiao)地發現電(dian)器設(she)備絕(jue)緣(yuan)的整體受(shou)潮(chao)劣化(hua)變(bian)質，以及局部缺陷等(deng)。在(zai)電(dian)工制造、電(dian)氣設(she)備安裝、交接和(he)預防性(xing)試驗中(zhong)都廣泛應用。變(bian)壓器、互感(gan)器、電(dian)抗器、電(dian)容器以及套(tao)管(guan)、避(bi)雷器等(deng)介(jie)損的測(ce)量(liang)是衡量(liang)其絕(jue)緣(yuan)性(xing)能的*基(ji)本方(fang)(fang)法。LYJS9000F變頻(pin)(pin)介質損耗測(ce)試(shi)儀(yi)突破了傳統(tong)的電(dian)橋測(ce)量方式，采用(yong)變頻(pin)(pin)電(dian)源技(ji)術(shu)(shu)，利用(yong)單片機(ji)、和現代化電(dian)子技(ji)術(shu)(shu)進行(xing)自動(dong)頻(pin)(pin)率變換、模/數(shu)轉換和數(shu)據運算(suan)；達到(dao)抗干擾能(neng)力強(qiang)、測試速度快、精度高(gao)、全自動(dong)數(shu)字化、操作簡便；電源采(cai)用(yong)大功率(lv)開關電源，輸(shu)出45Hz和(he)55Hz純正弦波，自動(dong)加壓，可(ke)提供*高10千伏的電壓；自動濾除(chu)50Hz干(gan)(gan)擾(rao)，適(shi)用于(yu)變(bian)電(dian)(dian)站等電(dian)(dian)磁(ci)干(gan)(gan)擾(rao)大的現場測(ce)試。廣泛適(shi)用于(yu)電(dian)(dian)力行業中(zhong)變(bian)壓器(qi)(qi)、互感(gan)器(qi)(qi)、套(tao)管、電(dian)(dian)容器(qi)(qi)、避雷器(qi)(qi)等設(she)備的介損測(ce)量。

二(er)、WBJS8000GAI6000D變頻介損儀(yi)**措施(shi)

1、使用本(ben)儀器前一(yi)定要認真閱讀本(ben)手冊。

2、儀器(qi)的操作者應具備一般電氣設備或儀器(qi)的使用常(chang)識。

3、本儀器戶內外均可使用(yong)，但應避(bi)開雨淋、腐蝕氣體、塵埃過濃、高溫、陽光(guang)直射等場所使用(yong)。

儀表應避免劇烈(lie)振動(dong)。

5、對儀器的維修、護(hu)理和調整應由專業人員(yuan)進行。

6、在任何接(jie)線(xian)之前必須用(yong)接(jie)地電纜(lan)把儀器(qi)接(jie)地端(duan)子(zi)與大地可靠連接(jie)起來。

7、由于測試設備產生高電壓(ya)(ya)(ya)，所以測試人(ren)員必(bi)須完全嚴格遵守**操作(zuo)規程，防止他人(ren)接(jie)(jie)觸高壓(ya)(ya)(ya)部(bu)件和電路。直(zhi)接(jie)(jie)從(cong)事測試的人(ren)員必(bi)須完全了解高壓(ya)(ya)(ya)測試線(xian)路，及儀(yi)器操作(zuo)要點(dian)。非從(cong)事測試人(ren)員必(bi)須遠離(li)高壓(ya)(ya)(ya)測試區(qu)，測試區(qu)必(bi)須用柵欄或繩索、警視牌(pai)等清楚表示(shi)出(chu)來。

8、儀(yi)(yi)器的調(diao)整維修(xiu)和維護(hu)，必須在不加(jia)電情況下進行，如(ru)果必須加(jia)電，則操作者必須非常熟悉本(ben)儀(yi)(yi)器高壓危(wei)險部件。

9、保險管損壞(huai)時(shi)，必須確保更換(huan)同樣的保險，禁止更換(huan)不同型(xing)號(hao)保險或將保險直接短(duan)路使用。

儀器出(chu)現故(gu)障時，關閉(bi)電(dian)源開關，等(deng)待(dai)一分鐘之后再(zai)檢查。

三、WBJS8000GAI6000D變頻介損儀可測試參數

儀器可測量下列參數并數字顯(xian)示：

被測試品的電(dian)容(rong)量值CX，以pF或(huo)nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品的介(jie)質損耗值tgδ，以%顯示(shi)。

四、WBJS8000GAI6000D變頻介損儀性能(neng)特點(dian)

1、儀(yi)器采(cai)用復數(shu)電流法，測量(liang)(liang)電容、介質損耗及(ji)其它參(can)數(shu)。測試結果精度高，便于實現(xian)自動化測量(liang)(liang)。

2、儀器采用了變(bian)頻(pin)技術來消除現場(chang)50Hz工(gong)頻(pin)干(gan)擾，即使在強電磁干(gan)擾的(de)環境(jing)下也能測(ce)得(de)可靠(kao)的(de)數據(ju)。

3、儀(yi)器采用大屏幕液晶顯示(shi)器，測試過(guo)程通過(guo)漢字菜(cai)單提示(shi)既直觀又便于操(cao)作(zuo)。

4、儀器(qi)操(cao)作簡便(bian)，測(ce)量過程(cheng)由微(wei)處(chu)理(li)器(qi)控制，只(zhi)要(yao)選擇好合適的測(ce)量方(fang)式(shi)，數(shu)據的測(ce)量就可在微(wei)處(chu)理(li)器(qi)控制下(xia)自動完成。

5、一體化機型，內(nei)附標準電(dian)(dian)容和高壓(ya)電(dian)(dian)源(yuan)，便于現場測試，減(jian)少現場接線。

6、儀(yi)器測(ce)量(liang)準(zhun)確度高，可滿(man)足油介損測(ce)量(liang)要(yao)求，因(yin)此只需配備標準(zhun)油杯(bei)，和(he)專(zhuan)用測(ce)試(shi)線即可實現油介損測(ce)量(liang)。

7、設CVT測試功能(neng)，可實現CVT的自激法(fa)測(ce)試(shi)，無需(xu)外(wai)置附件，只需(xu)一次(ci)測(ce)量，C1,C2的電(dian)容和介(jie)損全部測(ce)出。

8、反接(jie)線測試采用ivddv技(ji)術(shu),消除(chu)了以往反接線數據不穩定(ding)的現象(xiang)。

9、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母線(xian)接地情況(kuang)下，對C11 可進行不(bu)拆線10kV 反接(jie)線(xian)介(jie)損測(ce)量(liang)

10、具有(you)測(ce)量高(gao)電壓(ya)介損功能，能夠使用高(gao)壓(ya)變壓(ya)器或(huo)串聯諧振進行超過10kV電(dian)壓的介損試驗(yan)。

12、接地(di)(di)保護功能(neng)，當儀器(qi)不接地(di)(di)線或(huo)接地(di)(di)**時，儀器(qi)不進入正常程序，不輸出高壓。過流保護功能(neng)，在試品短路(lu)或(huo)擊穿時儀器(qi)不受損壞。

13、觸電保(bao)護功能，當儀器操作人員不小(xiao)心(xin)觸電時候，儀器會立即(ji)切斷高(gao)壓(ya)，保(bao)障試(shi)驗人員的**.

五、WBJS8000GAI6000D變頻介損儀技術指標

準確(que)度：

Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指(zhi)標：  變頻抗干擾(rao)，在200%干擾下(xia)仍能達到上述準確度

電容量范圍：  內施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓：    3pF～1.5μF/10kV       ;  60pF～30μF/0.5kV

分辨率(lv)：      *高0.001pF，4位有效數字(zi)

tgδ范(fan)圍：     不限，分辨率(lv)0.001%，電容、電感、電阻三(san)種試品自動(dong)識別。

試驗電流范圍：10μA～1A

內施(shi)高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大(da)輸出電流：200mA

升降壓方式：連續(xu)平滑調節(jie)

試驗(yan)頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變(bian)頻

頻(pin)率(lv)精度：±0.01Hz

外施(shi)高壓：正接線時*大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時*大試驗電流(liu)10kV/1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

CVT自激法低壓輸(shu)出：輸(shu)出電壓3～50V，輸(shu)出電流(liu)3～30A

CVT變(bian)比測量：

變比測量精度：±讀(du)數×1%     變比測量范圍：10～99999

相位測量精度：±0.1°           相位(wei)測量(liang)范圍：0～359.9°

測(ce)量時間：    約40s，與(yu)測量方式有關(guan)

輸入(ru)電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或(huo)發(fa)電(dian)機供電(dian)

計算機接口：  標(biao)準RS232接口

打印機：         煒煌A7熱(re)敏微(wei)型打印機(ji)

環境(jing)溫(wen)度：    -10℃～50℃

相(xiang)對濕度(du)：    <90%

外形(xing)尺寸：460×360×350mm

儀(yi)器重量：28kg

六、WBJS8000GAI6000D變(bian)頻(pin)介(jie)損儀測(ce)量方式及原理

按被測試(shi)品是否接地分兩(liang)種測量方(fang)式(shi)，即正接線測量方(fang)式(shi)和(he)反接線測量方(fang)式(shi)。兩(liang)種測量方(fang)式(shi)的原(yuan)理如圖一(yi)所示：

在高壓電(dian)(dian)源的10kV側，高壓分兩路(lu)，一路(lu)給機內標準電(dian)(dian)容(rong)(rong)CN，此(ci)電(dian)(dian)容(rong)(rong)介損非常小，可以認為(wei)介損為(wei)零(ling)，即為(wei)純容(rong)(rong)性(xing)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，此(ci)電(dian)(dian)流(liu)(liu)ICN 可做為(wei)容(rong)(rong)性(xing)電(dian)(dian)流(liu)(liu)基準。在Cx試品(pin)一側，試品(pin)電(dian)(dian)流(liu)(liu)Icx通過(guo)采樣電(dian)(dian)阻R采入機內，此(ci)Icx可分解成水(shui)平分量(liang)和(he)垂直分量(liang)見(jian)圖(tu)二所示，通過(guo)計算水(shui)平分量(liang)與垂直分量(liang)的比值即可得到tgδ值。

在(zai)圖一（a）中Cx為(wei)非(fei)接地(di)(di)試(shi)品(pin)，試(shi)品(pin)電(dian)(dian)流Icx從(cong)試(shi)品(pin)末(mo)端(duan)進入(ru)采樣電(dian)(dian)阻(zu)R，得到全(quan)電(dian)(dian)流值，在(zai)圖一（b）中Cx為(wei)接地(di)(di)試(shi)品(pin)，機內(nei)Cx端(duan)直接接地(di)(di)，電(dian)(dian)流Icx從(cong)試(shi)品(pin)高壓端(duan)到機內(nei)采樣電(dian)(dian)阻(zu)取得全(quan)電(dian)(dian)流值。

七、WBJS8000GAI6000D變(bian)頻(pin)介損儀常見設備的(de)接線(xian)方法

1．儀器引出端子(zi)說明：

HV ——  儀器的測(ce)量(liang)引線(xian)高(gao)壓端（帶危險電壓） 。

CX ——  正接線時試品電(dian)流輸入端。

——  儀(yi)器的接地(di)端，使用時與(yu)大地(di)可(ke)靠相(xiang)接

2.參考接線

2.1正接線(xian)、內標準電容、內高壓（常規(gui)正接線(xian)）：

2.2反接線、內標準(zhun)電容、內高壓（常規反接線）

2.3正接線、外標準電容、內高壓：

2.4反(fan)接(jie)線、外(wai)標準電容(rong)、內高壓：

2.5正接線、內(nei)標準電容、外高壓(ya)：

2.6反接線、內(nei)標準電容、外高(gao)壓：

2.7正(zheng)接線(xian)、外標準電容(rong)、外高(gao)壓（高(gao)電壓介損）：

2.8反接線、外(wai)標準電(dian)容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自激法測量：

CVT自激法(fa)可(ke)(ke)按下圖接(jie)線。如果(guo)C1是單節(jie)電(dian)容(rong)，母線不(bu)能接(jie)地；如果(guo)C1是多節(jie)電(dian)容(rong)，母線可(ke)(ke)接(jie)地，C11和(he)(he)C12可(ke)(ke)用(yong)常規正反接(jie)線測(ce)量，C13和(he)(he)C2用(yong)自激法(fa)測(ce)量。

CVT自(zi)(zi)激法測量中，儀器先測量C1，然(ran)后自(zi)(zi)動倒線測量C2，并自(zi)(zi)動校準分壓影響(xiang)。

應注意，高(gao)壓(ya)線應懸空(kong)不能接觸地面，否則(ze)其(qi)對地附加介損會引起誤差，可用細電纜連(lian)接高(gao)壓(ya)插座與CVT試品并吊起。強烈建議使(shi)用(yong)高(gao)(gao)壓(ya)插(cha)座使(shi)用(yong)的高(gao)(gao)壓(ya)線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測(ce)試

儀器(qi)高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端，母線拆地。CVT下端接(jie)地，低壓(ya)線紅黑夾子接(jie)二次繞組，注意:如果測試(shi)角度接近180度，應將紅(hong)黑夾子顛倒。

3.附加功能

3.1光標在(zai) 電壓：10kV上面時候，按“確認”鍵在儀器屏幕的左(zuo)下角會出現(xian)圖(tu)標，代(dai)表(biao)測試結束(shu)(shu)自動(dong)打(da)印。如(ru)果再按確認(ren)鍵，圖(tu)標消失，代(dai)表(biao)測試結束(shu)(shu)必須手動(dong)才(cai)能打(da)印。

3.2光標在 反接 上面時候，在反接線(xian)，內Cn，內Un，情況下，按確認鍵在儀器屏幕右下角會出現(xian)圖(tu)標(biao)(biao)，代表(biao)反接線低壓屏蔽測試。如(ru)果再按(an)確認鍵，圖(tu)標(biao)(biao)消失，代表(biao)取消反接線低壓屏蔽。

反接線(xian)(xian)低(di)壓屏(ping)蔽功能，一次接線(xian)(xian)可同時(shi)測出C1和C2的(de)電容(rong)量和介損

在反接線、內(nei)標準和內(nei)高壓(ya)方式，光(guang)標移到“反接”處(chu)，按“確認”右下角顯示“M”。

打開反接線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽，可在上端(duan)電(dian)容C1不(bu)拆(chai)(chai)母線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的情況下(xia)，對其進行(xing)不(bu)拆(chai)(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)介(jie)損(sun)測量。如下(xia)圖所示：母線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)掛(gua)地線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，C1上端(duan)不(bu)拆(chai)(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)接高壓線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)接Cx芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)。儀器采用反接線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)/10kV/M測量方式，可同時測出C11和(he)下(xia)端(duan)屏蔽部分的電(dian)容量和(he)介(jie)損(sun)值。

3.3光標在(zai) 正接 上面時候，按確認鍵則(ze)測試打印機(ji)，換紙(zhi)。

3.4光標在 啟動 上面時候(hou)，按(an)減小(xiao)鍵則代表(biao)取(qu)出(chu)存儲的數(shu)據(ju)。

3.5測(ce)試(shi)完(wan)畢，如果按減小鍵，則代(dai)表(biao)存儲測(ce)試(shi)的數據

八(ba)、WBJS8000GAI6000D變(bian)頻介損(sun)儀功能(neng)簡(jian)介

儀器面板(ban)見圖九所示(shi)：

打(da)印機——打(da)印測量數據。

顯示器(qi)——128×64點陣液(ye)晶顯示器，顯示菜單(dan)和各種提示信息及測量(liang)結果。

  鍵——選擇菜(cai)單(dan)項，被選中(zhong)項反白字體顯示。

▲  鍵(jian)——修改菜單內容，采(cai)用循(xun)環滾動方式。

▼ 鍵——修改菜單(dan)內容，采用循環滾(gun)動方式(shi)。

確認(ren)鍵——在“測(ce)試”選項上按此(ci)鍵進入測(ce)試狀態。

電(dian)源開(kai)關——整(zheng)機電(dian)源的開(kai)啟和關閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸(shu)入口，帶(dai)保險倉。

9．自激法電流輸出端——測量CVT的專用端(duan)子。

10．地(di)——為接地(di)線接線端子(zi)。

11．CX插(cha)座——是試品信(xin)號(hao)的測量輸入(ru)端，正接線時由專用(yong)低壓電纜連接，此電纜單層屏(ping)蔽帶特制鱷魚(yu)夾(jia)，長8m，接(jie)試品低端。反接(jie)線(xian)時此端空置。

12．CN插座——是外(wai)標準電容信號的測量輸入(ru)端，使用內標準時此端空(kong)置。

13．HV插座——高壓(ya)(ya)引出端子，由高壓(ya)(ya)電纜連接，接試品高壓(ya)(ya)端。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口，用來(lai)連接電腦，上傳數(shu)據。

九、儀器(qi)操作步驟(zou)

1．測量前準備：

1）用(yong)接地(di)線一(yi)端接儀器的(de)接地(di)柱，另一(yi)端接可靠的(de)大(da)地(di)，保證儀器外殼(ke)處在地(di)電位上。

2）正接線時：將高(gao)壓電纜插(cha)頭插(cha)入后(hou)門HV插(cha)座中(zhong)，將另一端的(de)紅色(se)大鉗子(zi)夾到被測試品(pin)的(de)**引(yin)線上，黑色(se)小鉗子(zi)懸空或夾在紅色(se)大鉗子(zi)上。將CX低壓電纜插入CX插座中，另一端(duan)的紅色(se)夾子夾試(shi)品的低端(duan)，黑色(se)夾子懸空或接屏蔽裝(zhuang)置。

3）反接線時：將高壓電纜插(cha)頭(tou)插(cha)入后門(men)HV插座中，將(jiang)另一端的紅色(se)大(da)鉗(qian)(qian)子(zi)夾到被測試(shi)品(pin)的**引(yin)線上(shang)，紅色(se)小鉗(qian)(qian)子(zi)懸(xuan)空或接屏蔽裝置。Cx插座(zuo)不用。

2．打開電源開關，儀器(qi)進行自檢(jian)，若(ruo)自檢(jian)良好，液晶屏顯示中文主菜(cai)單如(ru)

圖十所示。

3．菜單選擇：

按鍵可(ke)移動(dong)光標至各菜(cai)單項，并循環指示(shi)(shi)。被選中項反白字體(ti)顯示(shi)(shi)。選擇鍵的流程見圖十一所示(shi)(shi)。

在光(guang)標當前所示(shi)項目，按▼ ▲鍵鍵可進行該(gai)項菜(cai)單的變更，并循環指示(shi)，流程見圖十二所示(shi)。

將(jiang)菜單變更至與測試要求相對應(ying)后即可按選擇(ze)鍵進行下個(ge)項目的(de)選擇(ze)。

4、 頻(pin)(pin)(pin)率(lv)：光標在(zai)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)上，按(an)↑↓鍵選擇定頻(pin)(pin)(pin)和變(bian)頻(pin)(pin)(pin)：

光標(biao)在定頻上：按住“啟停”鍵(jian)1s以(yi)上切換(huan)到(dao)全頻(pin)率選擇，按(an)↑↓鍵循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設置不(bu)能抗(kang)干擾，在(zai)試(shi)驗(yan)(yan)室內測量或校驗(yan)(yan)時選用(yong)50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單(dan)頻(pin)(pin)率(lv)測量(liang)，研究不同(tong)頻(pin)(pin)率(lv)下(xia)介損的(de)變化時選用(yong)。

光標(biao)在變頻(pin)上：按住“啟(qi)停”鍵1s以(yi)上切換到(dao)全(quan)頻率選擇，按↑↓鍵(jian)循環顯示(shi)5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網工(gong)頻干擾下測(ce)量(liang)。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合60Hz電網工頻干(gan)擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下測(ce)量。

5、測試(shi)：當光標在(zai) 測試(shi) 項目上時，按確(que)認鍵大(da)約3秒鐘開(kai)始測試(shi)。測試(shi)過程(cheng)中顯示的畫面如圖十(shi)三（正(zheng)接(jie)線(xian)，變頻）所示，當下(xia)面的進程(cheng)到100%時(shi)候(hou)測試完(wan)畢，然后顯示(shi)(shi)測量結(jie)(jie)果見圖(tu)(tu)十四所示(shi)(shi)，此時(shi)光(guang)標指示(shi)(shi)打印機圖(tu)(tu)標，按確認鍵打印報(bao)告。測量結(jie)(jie)果的意義如下：

tgδ： 試品的損(sun)耗(hao)因數tgδ值(zhi)

CX： 測量的(de)電容值

V：施加電壓(ya)值

I：試品流過(guo)的電流

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束后(hou)，關閉電源開關，測試完畢。

十、現場試驗注意事(shi)項

如果使用(yong)中出現(xian)測試數據明顯不合理，請(qing)從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現(xian)場測(ce)量使用搭鉤連接(jie)(jie)試品(pin)時，搭鉤務必與(yu)試品(pin)接(jie)(jie)觸良好(hao)，否則接(jie)(jie)觸點放(fang)電會引起(qi)數據(ju)嚴重波動(dong)！尤其(qi)是引流線氧化層太厚(hou)，或風吹線擺(bai)動(dong)，易(yi)造(zao)成接(jie)(jie)觸**。

2、接地接觸**

接(jie)地**會引起儀器保護(hu)或數(shu)據嚴重波(bo)動。應刮凈接(jie)地點上的(de)油(you)漆和(he)銹蝕，務必保證0電(dian)阻接地！

3、直接(jie)測量CVT或(huo)末端屏蔽法(fa)測(ce)量電磁式PT

直(zhi)接測量CVT的下(xia)節耦合電(dian)容會出現負介損，應改用自激法(fa)。

用(yong)末(mo)端屏(ping)蔽(bi)法測量電磁式PT時，由于受潮引起“T形(xing)網(wang)絡(luo)干擾”出(chu)現負介損，吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可(ke)。也可(ke)改用常(chang)規(gui)法或末端加(jia)壓(ya)法測量。

4、空氣濕度(du)過(guo)大

空氣濕度大使介損測量值(zhi)異常增大（或減小甚(shen)至為負）且不穩定，必要時(shi)可(ke)加屏(ping)蔽環。因人為加屏(ping)蔽環改變了試品電場(chang)分布，此法有爭議，可(ke)參照有關規程。

5、發電機(ji)供電

發電機供電時(shi)輸入(ru)頻(pin)率(lv)不穩定，可(ke)采(cai)用定頻(pin)50Hz模式工作(zuo)。

6、測試線

由于(yu)長期使用，易(yi)造成測試線隱性斷(duan)路，或芯線和屏蔽短路，或插頭接觸(chu)**，用戶應(ying)經常維護(hu)測試線；

測試(shi)標(biao)準電容試(shi)品時，應使用全屏蔽插頭連接，以(yi)消除附(fu)加(jia)雜散電容影響(xiang)，否則不能反映出(chu)儀器精度；

自激(ji)法(fa)測量(liang)CVT時，非專用(yong)的(de)高壓線應吊起(qi)懸空，否則對地(di)附加雜散電(dian)容和介損(sun)會引(yin)起(qi)測量誤差。

7、工作模式選擇(ze)

接(jie)好線(xian)后(hou)請(qing)選擇正確的測量工作(zuo)模式（正、反和CVT），不可(ke)選(xuan)錯。特別是干(gan)擾(rao)環境(jing)下(xia)應選(xuan)用變頻抗干(gan)擾(rao)模式。

8、試驗方法影響

由于介損測(ce)量受試驗(yan)方法(fa)影響較大，應區分是(shi)試驗(yan)方法(fa)誤(wu)差還(huan)是(shi)儀(yi)器誤(wu)差。出(chu)現問題時可首先檢查接(jie)線，然后檢查是(shi)否為(wei)儀(yi)器故(gu)障。

9、儀器(qi)故(gu)障

用(yong)(yong)萬(wan)用(yong)(yong)表測量(liang)一下測試線是否斷路，或(huo)芯(xin)線和屏蔽是否短路；輸(shu)入(ru)電源220V過高或過低(di)；接地是否良(liang)好。

用(yong)正、反(fan)接(jie)線(xian)測一下(xia)標準電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結果正確，即可判斷儀器沒有問題；

拔下(xia)所有測試導線，進行(xing)空試升(sheng)壓，若不能(neng)正常工(gong)作(zuo)，儀(yi)器可能(neng)有故(gu)障。

啟動CVT測量(liang)后測量(liang)低(di)壓輸(shu)出，應出現2～5V電(dian)壓，否(fou)則儀(yi)器有故(gu)障。

十一、 儀器(qi)檢(jian)定(ding)

1、用標準(zhun)損耗(hao)器(qi)檢定

用(yong)(yong)帶插(cha)頭(tou)的(de)屏蔽(bi)電纜連接標準損耗器。如果(guo)不(bu)能(neng)保證標準損耗器的(de)精度(du)，應使用(yong)(yong)比對(dui)法(fa)檢定(ding)，建議用(yong)(yong)2801電橋或其它精密電橋作比(bi)對標準。儀器應選用“內標(biao)準”和“RC串聯試品”，可選擇工頻 50Hz或(huo)定(ding)頻(pin)50Hz頻率模式(shi)。

2、用QSJ3檢定(ding)：使用帶插頭的屏蔽電(dian)纜連接(jie)QSJ3，選擇(ze)“正接/ 外Cn / 外Un式測量(liang)，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗干擾能(neng)力

設置一個回路向(xiang)儀器注(zhu)入定量的(de)干擾(rao)電流。

注意：

1）應考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動后會使220V供電電路(lu)帶(dai)有測(ce)量頻率分量，如(ru)果該(gai)頻率分量又通過干(gan)擾電流進入(ru)儀(yi)器，則無法(fa)檢驗儀(yi)器的(de)抗干(gan)擾能力(li)。

3）不建議用(yong)臨近(jin)高壓(ya)導體(ti)施加干擾(rao)，因為這樣很容(rong)易產生近(jin)距離**放(fang)(fang)電(dian)，這種放(fang)(fang)電(dian)電(dian)阻(zu)是非線性的，容(rong)易產生同頻干擾(rao)。

十二、變頻測量(liang)討論

1、變頻測量(liang)

干擾十分嚴重時，變頻測量能得到(dao)準確可靠(kao)的結果。例如用55Hz測量時，測量系(xi)統只允(yun)許55Hz信號通(tong)過(guo)，50Hz干擾信號(hao)被有效抑制，原因(yin)在于測量系(xi)統很(hen)容易區別不同(tong)頻率(lv)，由下述簡單計(ji)算可以說明選頻測量的效果：

兩(liang)個頻率相差1倍的(de)正弦波疊加(jia)到一起(qi)，高頻的(de)是干擾，幅度(du)為(wei)低頻的(de)10倍(bei)：

這剛好是低(di)頻部分的(de)相(xiang)位和幅度，干擾被抑制。實(shi)際波形的(de)測量點(dian)多(duo)達數(shu)萬，計算量很大，結果反映了波形的(de)整(zheng)體(ti)特征。

2、頻(pin)率和介損的(de)關系

介損有RC串(chuan)聯和并聯兩種理想(xiang)模型：串(chuan)聯模型tgδ=2πfRC，并聯模型(xing)tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別(bie)隨頻率f成正比和(he)反比。如圖所示，f對完全(quan)正比和完全(quan)反比兩種模型影響較大。但實際電容(rong)器是多種模型交(jiao)織的混合模型，此時(shi)f的(de)影響就小。

3、自動(dong)變頻與50Hz等效

儀器(qi)采用自動變(bian)頻在干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一(yi)個點，然后(hou)推算50Hz頻(pin)率(lv)下數據。除多(duo)個(ge)(ge)元件電路(lu)的(de)低(di)頻(pin)諧(xie)振外，單個(ge)(ge)試品中的(de)介質不(bu)可(ke)能在低(di)頻(pin)引(yin)起(qi)能量吸收峰，工頻(pin)附(fu)近(jin)介損總是隨頻(pin)率(lv)單調變化的(de)。因此(ci)這種測(ce)量方法不(bu)會帶來明顯誤差。實際上(shang)，平(ping)均(jun)前(qian)(qian)的(de)兩個(ge)(ge)介損值(zhi)已(yi)十分(fen)接近(jin)，即(ji)使不(bu)平(ping)均(jun)也完全有參考(kao)價值(zhi)。目前(qian)(qian)，變頻(pin)介損儀已(yi)成為介損測(ce)量的(de)常規儀器，其優異的(de)抗干擾(rao)能力和準確度已(yi)經(jing)得到(dao)認可(ke)。

十三、儀(yi)器的裝箱清單

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