一、WBJS8000G500KV電(dian)站(zhan)專用變頻介質(zhi)損(sun)耗測試儀概(gai)述

介(jie)損測量是(shi)絕(jue)緣(yuan)(yuan)試(shi)驗(yan)(yan)中很基本的(de)方法，可以(yi)有效地(di)發現電(dian)器(qi)(qi)設(she)備絕(jue)緣(yuan)(yuan)的(de)整體(ti)受潮劣化變質，以(yi)及局部缺陷等。在電(dian)工制造、電(dian)氣設(she)備安(an)裝、交接和預防性試(shi)驗(yan)(yan)中都廣泛應用。變壓(ya)器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、電(dian)抗器(qi)(qi)、電(dian)容器(qi)(qi)以(yi)及套管、避雷器(qi)(qi)等介(jie)損的(de)測量是(shi)衡(heng)量其絕(jue)緣(yuan)(yuan)性能的(de)*基本方法。LYJS9000F變(bian)頻介質損(sun)耗測試(shi)儀突(tu)破(po)了(le)傳統的電橋測量方(fang)式，采用變(bian)頻電源技術(shu)，利(li)用單片機(ji)、和現(xian)代化電子技術(shu)進行自動頻率(lv)變(bian)換、模/數轉換和數據(ju)運算(suan)；達到(dao)抗干擾能力(li)強、測試(shi)速度快、精度高、全自動數字化、操作(zuo)簡便；電源(yuan)采用大功(gong)率開關電源(yuan)，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動(dong)加壓，可提供*高(gao)10千伏(fu)的電壓；自動濾除(chu)50Hz干(gan)擾，適用(yong)于(yu)變電(dian)站(zhan)等電(dian)磁干(gan)擾大的(de)現(xian)場測試。廣泛(fan)適用(yong)于(yu)電(dian)力行業中變壓器(qi)、互感器(qi)、套(tao)管、電(dian)容器(qi)、避(bi)雷器(qi)等設(she)備的(de)介(jie)損測量。

二、WBJS8000G500KV電站專用變頻介質損耗測試儀**措施

1、使用本(ben)儀(yi)器前一定要認真閱讀本(ben)手冊。

2、儀器(qi)的(de)(de)操作者應(ying)具(ju)備一般電氣設備或(huo)儀器(qi)的(de)(de)使用常識。

3、本儀器戶內(nei)外均可使用(yong)，但(dan)應(ying)避開雨(yu)淋、腐蝕氣體、塵埃(ai)過濃、高溫(wen)、陽光直射等場所使用(yong)。

儀(yi)表應避免(mian)劇烈振動。

5、對儀(yi)器的維修、護理和調(diao)整應由(you)專業人員進行。

6、在任何接(jie)線之前必須用接(jie)地電(dian)纜把儀器接(jie)地端子與大地可靠連接(jie)起來。

7、由(you)于測(ce)(ce)試(shi)設(she)備產(chan)生高(gao)電壓(ya)，所(suo)以測(ce)(ce)試(shi)人員必(bi)(bi)須(xu)(xu)(xu)完(wan)全嚴格遵(zun)守**操(cao)(cao)作(zuo)規(gui)程，防止他(ta)人接觸高(gao)壓(ya)部件和(he)電路。直接從事(shi)測(ce)(ce)試(shi)的人員必(bi)(bi)須(xu)(xu)(xu)完(wan)全了解高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)線路，及儀器操(cao)(cao)作(zuo)要點。非(fei)從事(shi)測(ce)(ce)試(shi)人員必(bi)(bi)須(xu)(xu)(xu)遠離高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)區，測(ce)(ce)試(shi)區必(bi)(bi)須(xu)(xu)(xu)用(yong)柵欄或繩索(suo)、警視牌(pai)等清(qing)楚(chu)表示出來。

8、儀器的調整維(wei)修和(he)維(wei)護，必(bi)須(xu)(xu)在(zai)不加(jia)(jia)電情況下進行，如果必(bi)須(xu)(xu)加(jia)(jia)電，則操作者必(bi)須(xu)(xu)非常熟悉本(ben)儀器高壓危險部件。

9、保(bao)險(xian)(xian)管損壞時(shi)，必須確保(bao)更換同樣(yang)的保(bao)險(xian)(xian)，禁止更換不同型(xing)號保(bao)險(xian)(xian)或將保(bao)險(xian)(xian)直接短路使用。

儀器出現(xian)故障時，關(guan)閉電源開關(guan)，等待一分鐘之(zhi)后再檢查。

三、WBJS8000G500KV電站專(zhuan)用變頻介質損耗測試儀可測試參數

儀(yi)器可(ke)測量下列參數并數字顯示：

被測試品的電容(rong)量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被(bei)測試(shi)品的介質損(sun)耗(hao)值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G500KV電站專(zhuan)用變頻介質(zhi)損耗測試(shi)儀性能特點

1、儀器采(cai)用復數電流法，測量(liang)電容、介質損耗(hao)及其(qi)它參數。測試結(jie)果(guo)精(jing)度高，便于(yu)實現自動化測量(liang)。

2、儀器采用(yong)了變頻技術來消除現場(chang)50Hz工頻干擾，即使在強電磁干擾的環境下也(ye)能測得可(ke)靠的數據。

3、儀器采(cai)用大屏幕液晶(jing)顯(xian)示器，測試過程通過漢字菜單(dan)提示既直觀又便于操作。

4、儀器(qi)(qi)操(cao)作簡(jian)便，測量(liang)過程由微(wei)處理(li)器(qi)(qi)控制(zhi)，只要(yao)選擇(ze)好合(he)適(shi)的測量(liang)方式，數據的測量(liang)就可(ke)在微(wei)處理(li)器(qi)(qi)控制(zhi)下自(zi)動完(wan)成。

5、一體化機型，內附標準電容和高壓電源，便于(yu)現場測試，減(jian)少現場接線。

6、儀(yi)器測量(liang)準確(que)度(du)高，可滿足油介損(sun)測量(liang)要求，因此只需配備標準油杯，和專用測試線即可實現油介損(sun)測量(liang)。

7、設CVT測試功能，可(ke)實現CVT的自(zi)激(ji)法(fa)測(ce)試，無需外置附件，只需一(yi)次(ci)測(ce)量，C1,C2的電容和介(jie)損全部測出。

8、反接(jie)線(xian)測(ce)試采用ivddv技術,消除了以往反接(jie)線數據不穩(wen)定的(de)現象。

9、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母線接地情況下，對C11 可進行不拆線10kV 反接線(xian)介損(sun)測量

10、具有測量高電壓(ya)介損(sun)功能(neng)，能(neng)夠使用高壓(ya)變壓(ya)器或串聯諧振進行(xing)超過10kV電壓的(de)介(jie)損試驗。

12、接地(di)保(bao)護功能，當儀器不(bu)接地(di)線或(huo)接地(di)**時，儀器不(bu)進入正(zheng)常(chang)程序(xu)，不(bu)輸(shu)出高壓。過流保(bao)護功能，在試(shi)品(pin)短路(lu)或(huo)擊(ji)穿時儀器不(bu)受損壞。

13、觸電保護功能，當儀器操(cao)作人(ren)員(yuan)不(bu)小心(xin)觸電時候，儀器會(hui)立即切斷高(gao)壓(ya)，保障試驗人(ren)員(yuan)的**.

五、WBJS8000G500KV電站專用(yong)變頻介質(zhi)損耗測試(shi)儀技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾指標：  變頻抗干擾，在200%干(gan)擾下仍(reng)能達(da)到上述準確度

電容(rong)量(liang)范圍：  內施(shi)高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高(gao)壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：      *高0.001pF，4位有效數字(zi)

tgδ范圍：     不(bu)限，分辨(bian)率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自(zi)動識別。

試(shi)驗電流范圍：10μA～1A

內施高(gao)壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升(sheng)降壓方式(shi)：連續平滑調(diao)節

試驗頻(pin)率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時(shi)*大試驗(yan)電流(liu)1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

反接線時*大試驗電流10kV/1A，工(gong)頻(pin)或(huo)變頻(pin)40-70Hz

CVT自激法(fa)低壓輸(shu)(shu)出：輸(shu)(shu)出電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測(ce)量(liang)：

變比測量精度：±讀(du)數×1%     變比測量范圍：10～99999

相位測量精度(du)：±0.1°           相位測量范圍(wei)：0～359.9°

測量時間：    約40s，與(yu)測量方式有關(guan)

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或(huo)發電機供電

計算機接口：  標準RS232接口

打印機：         煒(wei)煌A7熱敏微(wei)型(xing)打印(yin)機

環境溫(wen)度：    -10℃～50℃

相對濕度(du)：    <90%

外形(xing)尺寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、WBJS8000G500KV電站專用(yong)變(bian)頻介質損(sun)耗測(ce)試(shi)儀測量(liang)方(fang)式(shi)及原理

按被測(ce)試品是否接地分兩種(zhong)(zhong)測(ce)量方式(shi)，即(ji)正接線(xian)測(ce)量方式(shi)和(he)反接線(xian)測(ce)量方式(shi)。兩種(zhong)(zhong)測(ce)量方式(shi)的(de)原理如圖一所示(shi)：

在高壓電(dian)源的(de)10kV側，高壓分(fen)(fen)兩路(lu)(lu)，一(yi)(yi)路(lu)(lu)給機(ji)內標準電(dian)容CN，此電(dian)容介損非(fei)常小，可(ke)以認(ren)為介損為零，即為純(chun)容性電(dian)流，此電(dian)流ICN 可(ke)做為容性電(dian)流基(ji)準。在Cx試(shi)品(pin)一(yi)(yi)側，試(shi)品(pin)電(dian)流Icx通過采樣電(dian)阻R采入(ru)機(ji)內，此Icx可(ke)分(fen)(fen)解(jie)成水平(ping)分(fen)(fen)量(liang)和垂(chui)直(zhi)分(fen)(fen)量(liang)見(jian)圖二所示，通過計(ji)算水平(ping)分(fen)(fen)量(liang)與垂(chui)直(zhi)分(fen)(fen)量(liang)的(de)比值即可(ke)得到tgδ值。

在圖一（a）中Cx為非接地試(shi)(shi)品(pin)，試(shi)(shi)品(pin)電(dian)(dian)(dian)流Icx從試(shi)(shi)品(pin)末端進入采樣電(dian)(dian)(dian)阻(zu)R，得(de)到全電(dian)(dian)(dian)流值(zhi)，在圖一（b）中Cx為接地試(shi)(shi)品(pin)，機內(nei)Cx端直接接地，電(dian)(dian)(dian)流Icx從試(shi)(shi)品(pin)高(gao)壓端到機內(nei)采樣電(dian)(dian)(dian)阻(zu)取得(de)全電(dian)(dian)(dian)流值(zhi)。

七、WBJS8000G500KV電站專用變頻(pin)介(jie)質損耗測(ce)試儀常見設備的接(jie)線(xian)方法

1．儀器引(yin)出端(duan)子說明：

HV ——  儀器的(de)測量引(yin)線(xian)高壓(ya)端（帶危險電(dian)壓(ya)） 。

CX ——  正接線時試品電流輸(shu)入端。

——  儀器的接地端，使(shi)用時與大地可靠相接

2.參考接線

2.1正(zheng)接(jie)線、內標(biao)準電容、內高壓(ya)（常規正(zheng)接(jie)線）：

2.2反接線(xian)、內標準電容、內高壓(ya)（常規反接線(xian)）

2.3正接線、外標準電(dian)容、內高壓：

2.4反接(jie)線、外標(biao)準(zhun)電容、內高壓：

2.5正接線、內標準(zhun)電容、外高壓(ya)：

2.6反接線、內標(biao)準電容、外高壓：

2.7正接線、外標準(zhun)電容、外高(gao)壓（高(gao)電壓介損(sun)）：

2.8反接線、外(wai)標準電容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自激法測量(liang)：

CVT自激(ji)(ji)法(fa)可按(an)下圖接(jie)(jie)線。如(ru)(ru)果C1是單(dan)節電容，母線不能接(jie)(jie)地；如(ru)(ru)果C1是多(duo)節電容，母線可接(jie)(jie)地，C11和C12可用常規正反接(jie)(jie)線測(ce)量，C13和C2用自激(ji)(ji)法(fa)測(ce)量。

CVT自激法測(ce)量中，儀器先測(ce)量C1，然(ran)后自動倒線(xian)測(ce)量C2，并自動校準分壓影響。

應注意，高(gao)壓線應懸空不能接觸地(di)面，否則其對地(di)附加介(jie)損會引(yin)起誤(wu)差，可用細電纜連接高(gao)壓插座與CVT試品并(bing)吊起。強烈建議使用(yong)高(gao)壓(ya)插座使用(yong)的高(gao)壓(ya)線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測(ce)試(shi)

儀(yi)器高壓(ya)線的芯線紅夾(jia)子(zi)接(jie)CVT的上端，母線(xian)拆(chai)地(di)。CVT下端接(jie)地(di)，低(di)壓線紅黑夾子(zi)接(jie)二次繞組，注意:如果(guo)測試(shi)角度接近180度，應將紅黑夾子顛倒。

3.附加功(gong)能(neng)

3.1光(guang)標在 電壓：10kV上面時候，按(an)“確(que)認”鍵(jian)在儀(yi)器屏幕的左下角會出現圖標，代表測試結束自動(dong)打印。如果(guo)再(zai)按確認鍵，圖標消失，代表測試結束必須手動(dong)才(cai)能打印。

3.2光標(biao)在(zai) 反接 上面時候，在(zai)反接線，內Cn，內Un，情況(kuang)下(xia)，按確(que)認鍵在(zai)儀(yi)器屏幕右下(xia)角會出現圖(tu)標(biao)，代(dai)(dai)表反(fan)接線(xian)低壓屏(ping)蔽測(ce)試(shi)。如果再按確認(ren)鍵，圖(tu)標(biao)消失，代(dai)(dai)表取消反(fan)接線(xian)低壓屏(ping)蔽。

反(fan)接線(xian)(xian)低(di)壓屏蔽功能，一次接線(xian)(xian)可同時(shi)測出C1和C2的電(dian)容(rong)量(liang)和介損

在反接線、內(nei)標準和內(nei)高壓方式(shi)，光標移到“反接”處(chu)，按(an)“確認”右下角(jiao)顯示“M”。

打(da)開反接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)，可在(zai)上(shang)端(duan)電容C1不(bu)(bu)拆母線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)情況下(xia)，對(dui)其進(jin)行不(bu)(bu)拆線(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)介損(sun)測量。如下(xia)圖所示：母線(xian)(xian)(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C1上(shang)端(duan)不(bu)(bu)拆線(xian)(xian)(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)接(jie)高(gao)壓線(xian)(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)(xian)，C2末(mo)端(duan)接(jie)Cx芯線(xian)(xian)(xian)(xian)。儀器采用反接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)/10kV/M測量方式，可同時測出C11和下(xia)端(duan)屏蔽(bi)部分的(de)(de)電容量和介損(sun)值(zhi)。

3.3光標在 正接 上(shang)面時候，按確認(ren)鍵則(ze)測試打(da)印機，換紙(zhi)。

3.4光(guang)標在 啟動 上面時候，按減小鍵則代表取出存儲(chu)的數據。

3.5測試完(wan)畢，如(ru)果按減小鍵(jian)，則(ze)代表存儲測試的數(shu)據

八、WBJS8000G500KV電站專(zhuan)用變頻介質損耗測試儀功能簡介

儀器面板(ban)見圖九所(suo)示：

打印機——打印測(ce)量(liang)數(shu)據(ju)。

顯示器——128×64點陣液晶顯示器，顯示菜單和各(ge)種提示信息及測(ce)量結果。

  鍵——選擇菜單項，被選中項反白字體顯示(shi)。

▲  鍵——修改(gai)菜單內(nei)容，采(cai)用循環滾動方式。

▼ 鍵——修改菜單內容，采用循(xun)環(huan)滾動方式(shi)。

確(que)認鍵(jian)——在“測試”選項上按此鍵(jian)進入測試狀態。

電源開關——整(zheng)機(ji)電源的開啟和關閉。

電源座(zuo)——交流220V±10%，50±1Hz電源輸(shu)入(ru)口(kou)，帶保險倉(cang)。

9．自激(ji)法(fa)電(dian)流輸出端——測(ce)量(liang)CVT的(de)專用(yong)端子。

10．地——為接地線接線端子。

11．CX插座——是試(shi)品信(xin)號的測(ce)量輸入端，正(zheng)接線時由專用低壓(ya)電(dian)纜連(lian)接，此電(dian)纜單層屏蔽帶特(te)制鱷魚夾，長8m，接試品低端(duan)。反接線時此端(duan)空置(zhi)。

12．CN插座——是外標準電容信號的測量輸(shu)入端(duan)，使用內(nei)標準時此端(duan)空置(zhi)。

13．HV插座——高(gao)壓(ya)引(yin)出端子，由高(gao)壓(ya)電(dian)纜連接，接試品高(gao)壓(ya)端。輸出10kv高(gao)壓。

14．RS-232接口，用(yong)來連接電腦，上傳數據。

九(jiu)、儀(yi)器操作(zuo)步驟

1．測量前準備：

1）用接地線一(yi)端接儀(yi)器的(de)接地柱，另一(yi)端接可靠的(de)大地，保證儀(yi)器外殼(ke)處(chu)在(zai)地電位(wei)上。

2）正接線(xian)時(shi)：將高壓(ya)電纜插(cha)頭(tou)插(cha)入后門HV插座(zuo)中，將(jiang)另一端的(de)紅色大鉗子夾到被測試品的(de)**引(yin)線上，黑色小鉗子懸空(kong)或(huo)夾在紅色大鉗子上。將(jiang)CX低壓電纜插入CX插座中，另一端(duan)的紅色(se)夾子夾試品的低端(duan)，黑色(se)夾子懸(xuan)空或接屏蔽裝置。

3）反接線時：將高壓(ya)電(dian)纜插頭插入后(hou)門(men)HV插座中，將另一端的紅色(se)大(da)鉗子夾到被測試品的**引線上，紅色(se)小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用(yong)。

2．打開電(dian)源開關，儀(yi)器進行(xing)自檢，若自檢良好，液晶(jing)屏(ping)顯(xian)示中(zhong)文主菜(cai)單如

圖十所示(shi)。

3．菜(cai)單(dan)選擇：

按鍵(jian)可移動光標至各菜單項，并循環(huan)指示(shi)。被選中(zhong)項反白字體顯示(shi)。選擇(ze)鍵(jian)的流(liu)程見圖十一所示(shi)。

在光標當(dang)前所(suo)示(shi)項(xiang)目(mu)，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可(ke)進行該項(xiang)菜單的變更，并(bing)循環指(zhi)示(shi)，流(liu)程見圖十二所(suo)示(shi)。

將菜單變更至與測試要(yao)求相(xiang)對應(ying)后(hou)即(ji)可按(an)選擇鍵進行下(xia)個項目的選擇。

4、 頻(pin)率：光(guang)標在頻(pin)率上，按(an)↑↓鍵選(xuan)擇定(ding)頻(pin)和變(bian)頻(pin)：

光(guang)標(biao)在定(ding)頻上：按住“啟停”鍵1s以(yi)上切換(huan)到全頻率(lv)選擇，按↑↓鍵循(xun)環顯示(shi)45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(ce)量(liang)，此(ci)設(she)置不能(neng)抗干擾，在(zai)試驗(yan)室(shi)內測(ce)量(liang)或(huo)校驗(yan)時選(xuan)用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻(pin)率(lv)測量，研(yan)究(jiu)不同(tong)頻(pin)率(lv)下介損的變化時選用。

光標在變(bian)頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換(huan)到全(quan)頻(pin)率選擇(ze)，按↑↓鍵循環(huan)顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為(wei)45/55Hz自動變頻，適(shi)合(he)50Hz電網工頻(pin)干擾下測量(liang)。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合60Hz電(dian)網工頻干擾下(xia)測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電網工頻(pin)干(gan)擾下測量。

5、測試(shi)：當(dang)光標在 測試(shi) 項(xiang)目上(shang)時，按確認鍵大約3秒(miao)鐘開始測試。測試過程(cheng)中顯示的(de)畫面如圖(tu)十三（正接線(xian)，變頻）所示，當下面的(de)進程(cheng)到(dao)100%時候測(ce)試完畢(bi)，然后顯示(shi)(shi)測(ce)量結(jie)果(guo)見圖十四(si)所示(shi)(shi)，此時光標指示(shi)(shi)打(da)印機圖標，按確認(ren)鍵打(da)印報告(gao)。測(ce)量結(jie)果(guo)的意義(yi)如下：

tgδ： 試(shi)品的損耗因數tgδ值(zhi)

CX： 測量的電容(rong)值(zhi)

V：施加電壓值

I：試(shi)品流過的電流

F1,F2 : 試(shi)驗頻率(lv)

打印結束后，關(guan)閉(bi)電源開關(guan)，測試(shi)完(wan)畢(bi)。

十(shi)、現場(chang)試驗注(zhu)意事項(xiang)

如果使用中出(chu)現測試數(shu)據(ju)明顯不(bu)合理，請(qing)從以下方面查找原(yuan)因：

1、搭鉤接觸**

現場(chang)測量使用搭(da)鉤(gou)連接試(shi)(shi)品(pin)時，搭(da)鉤(gou)務(wu)必(bi)與(yu)試(shi)(shi)品(pin)接觸(chu)良好(hao)，否則(ze)接觸(chu)點放電會(hui)引(yin)(yin)起數據嚴重波動！尤(you)其是引(yin)(yin)流線(xian)氧(yang)化層太厚(hou)，或風吹線(xian)擺動，易造成接觸(chu)**。

2、接地(di)接觸**

接地(di)**會引起(qi)儀器(qi)保(bao)護或(huo)數據嚴(yan)重波動。應刮凈(jing)接地(di)點上的油漆和(he)銹(xiu)蝕，務(wu)必保(bao)證0電阻接(jie)地！

3、直接測量CVT或(huo)末端屏蔽(bi)法測(ce)量(liang)電磁式PT

直接(jie)測量CVT的下節耦(ou)合電容會出現負介(jie)損(sun)，應改用(yong)自激法。

用末(mo)端(duan)屏蔽法測量電(dian)磁(ci)式PT時，由(you)于受潮引起“T形網(wang)絡干擾(rao)”出現負介損，吹(chui)干下面三裙(qun)瓷(ci)套和(he)接(jie)線端子盤即可(ke)。也可(ke)改用常規法或(huo)末端加壓(ya)法測(ce)量。

4、空氣濕度過大

空(kong)氣濕度大使介損測(ce)量(liang)值異常增大（或(huo)減小甚至為負(fu)）且(qie)不穩定，必要時可加屏蔽環(huan)。因(yin)人為加屏蔽環(huan)改(gai)變了試品電場(chang)分布，此法(fa)有爭議，可參照有關規程。

5、發(fa)電(dian)機供電(dian)

發(fa)電機供電時(shi)輸入(ru)頻率不穩定，可采用定頻50Hz模(mo)式(shi)工作。

6、測試(shi)線

由于長期使用(yong)，易(yi)造成(cheng)測試線(xian)隱性斷路(lu)，或芯線(xian)和屏(ping)蔽短路(lu)，或插(cha)頭接(jie)觸**，用(yong)戶應經(jing)常維護測試線(xian)；

測試標準電容試品時，應(ying)使用全屏蔽插頭連(lian)接，以消除附(fu)加雜(za)散電容影(ying)響，否則不能反映出儀器精(jing)度；

自(zi)激(ji)法測(ce)量CVT時，非(fei)專(zhuan)用的高(gao)壓線應吊(diao)起懸(xuan)空，否(fou)則(ze)對地(di)附(fu)加雜(za)散電容和(he)介(jie)損會引起測(ce)量(liang)誤差。

7、工(gong)作模式(shi)選(xuan)擇

接(jie)好線后請選擇正確(que)的(de)測量工作模式（正、反和CVT），不可選錯。特(te)別(bie)是干(gan)擾環境下應(ying)選用變(bian)頻抗(kang)干(gan)擾模式。

8、試驗方法影響

由于介(jie)損測量受試(shi)驗方法(fa)(fa)影響(xiang)較大，應區(qu)分(fen)是試(shi)驗方法(fa)(fa)誤(wu)差還是儀器誤(wu)差。出現問題(ti)時可首先檢(jian)查(cha)接線，然后(hou)檢(jian)查(cha)是否為儀器故(gu)障。

9、儀器故障

用萬用表測量一(yi)下測試線(xian)是(shi)否(fou)斷(duan)路(lu)，或芯線(xian)和屏(ping)蔽是(shi)否(fou)短路(lu)；輸入電源220V過(guo)高或過(guo)低；接地是(shi)否良好。

用(yong)正、反(fan)接(jie)線測一下標準(zhun)電(dian)容器或已(yi)知容量和介損的電(dian)容試(shi)品(pin)，如果結果正確，即可(ke)判(pan)斷儀(yi)器沒有問題；

拔(ba)下所有(you)(you)測試導線，進行空試升壓，若不能(neng)正常工作(zuo)，儀(yi)器可能(neng)有(you)(you)故(gu)障。

啟動CVT測(ce)量后(hou)測(ce)量低(di)壓輸(shu)出，應出現(xian)2～5V電壓(ya)，否(fou)則(ze)儀器有故障。

十一、 儀器檢定

1、用標準損耗器檢定

用帶插頭(tou)的屏蔽電纜連接標準損耗(hao)器。如果不能保證標準損耗(hao)器的精度(du)，應使用比對法檢定(ding)，建(jian)議用2801電(dian)橋或其(qi)它精密(mi)電(dian)橋作(zuo)比對(dui)標準。儀(yi)器應選用“內標準”和(he)“RC串(chuan)聯試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻(pin)率模式。

2、用QSJ3檢(jian)定：使用帶插(cha)頭的屏(ping)蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接(jie)/ 外Cn / 外Un式測量(liang)，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當值(zhi)。

3、抗干擾能力(li)

設置一個回(hui)路向儀器注入定量的干擾電流。

注(zhu)意：

1）應考慮到該回(hui)路可能(neng)成為試品(pin)的一部(bu)分。

2）儀器啟(qi)動(dong)后會使220V供(gong)電電路帶(dai)有測量(liang)頻率分(fen)量(liang)，如果該(gai)頻率分(fen)量(liang)又通過(guo)干擾電流進入儀器，則無(wu)法檢(jian)驗儀器的(de)抗(kang)干擾能力。

3）不(bu)建議用(yong)臨近高壓導體(ti)施(shi)加干擾(rao)，因為(wei)這樣很容(rong)易產生(sheng)近距(ju)離**放(fang)電，這種放(fang)電電阻是非(fei)線性的，容(rong)易產生(sheng)同頻干擾(rao)。

十二、變頻(pin)測量討(tao)論

1、變頻測量

干擾十分嚴重時，變頻測量能得到準確可靠的結(jie)果。例如用55Hz測量時，測量系(xi)統只允許55Hz信號通過，50Hz干擾信號被有效(xiao)抑制，原因在于測(ce)量系統很(hen)容易區別不同頻(pin)率，由下述(shu)簡單計算(suan)可以說(shuo)明(ming)選頻(pin)測(ce)量的效(xiao)果：

兩個頻率相差1倍(bei)的正弦波(bo)疊加(jia)到(dao)一起(qi)，高頻(pin)的是(shi)干擾(rao)，幅度(du)為低頻(pin)的10倍：

這剛好是低頻部分的相位和幅度(du)，干擾(rao)被抑制(zhi)。實(shi)際(ji)波形的測(ce)量(liang)點多達數萬，計算量(liang)很大，結果(guo)反映了波形的整體特(te)征。

2、頻率和介損的(de)關系

介損有(you)RC串聯和并聯兩種理想模型：串聯模型tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別(bie)隨(sui)頻率f成正(zheng)比和反比。如圖所示(shi)，f對(dui)完(wan)全(quan)正比和完(wan)全(quan)反比兩(liang)種(zhong)模(mo)(mo)型(xing)影響較大。但(dan)實際電容器是多種(zhong)模(mo)(mo)型(xing)交織的(de)混合模(mo)(mo)型(xing)，此時f的影響就小(xiao)。

3、自動變頻與(yu)50Hz等效

儀器(qi)采用自動變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一(yi)個(ge)點，然后推算50Hz頻(pin)(pin)(pin)率下數據。除多個(ge)元件(jian)電路的(de)(de)低頻(pin)(pin)(pin)諧振外，單個(ge)試品中的(de)(de)介質不可(ke)能在低頻(pin)(pin)(pin)引起能量(liang)(liang)吸收峰，工頻(pin)(pin)(pin)附近(jin)介損(sun)總是隨頻(pin)(pin)(pin)率單調變化的(de)(de)。因此這種測量(liang)(liang)方法不會帶來(lai)明顯誤差。實際上，平均前的(de)(de)兩個(ge)介損(sun)值(zhi)已(yi)十分(fen)接近(jin)，即使不平均也完全有參考價值(zhi)。目前，變頻(pin)(pin)(pin)介損(sun)儀(yi)已(yi)成為介損(sun)測量(liang)(liang)的(de)(de)常規儀(yi)器，其(qi)優異的(de)(de)抗干擾能力和準(zhun)確度已(yi)經得到(dao)認可(ke)。

十三、儀(yi)器(qi)的裝(zhuang)箱清單(dan)

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