一、WBJS8000GAI6000D變(bian)頻(pin)介質損耗測試(shi)儀概(gai)述

介損(sun)(sun)測(ce)量(liang)(liang)是絕緣試(shi)驗中很基本的(de)方法，可(ke)以(yi)有效地發現電(dian)(dian)(dian)器(qi)(qi)(qi)設(she)備絕緣的(de)整(zheng)體受(shou)潮劣化變(bian)質(zhi)，以(yi)及(ji)局部缺陷等(deng)。在電(dian)(dian)(dian)工(gong)制造、電(dian)(dian)(dian)氣設(she)備安裝、交接和預防性試(shi)驗中都廣泛應(ying)用。變(bian)壓(ya)器(qi)(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)(qi)、電(dian)(dian)(dian)抗器(qi)(qi)(qi)、電(dian)(dian)(dian)容器(qi)(qi)(qi)以(yi)及(ji)套管、避雷器(qi)(qi)(qi)等(deng)介損(sun)(sun)的(de)測(ce)量(liang)(liang)是衡量(liang)(liang)其絕緣性能的(de)*基本方法。LYJS9000F變頻介(jie)質損耗測試(shi)儀(yi)突破了傳統的電橋測量方(fang)式，采(cai)用變頻電源技術，利用單(dan)片(pian)機、和現代化電子技術進行自動頻率變換、模(mo)/數(shu)轉換和數(shu)據運算；達到抗干擾能力強(qiang)、測試速度(du)快、精度(du)高、全自動數(shu)字(zi)化、操作簡便；電源采用大功率(lv)開關電源，輸(shu)出45Hz和55Hz純(chun)正弦波，自動(dong)加(jia)壓，可提(ti)供*高10千(qian)伏的電壓；自動濾(lv)除50Hz干擾，適用于(yu)變電(dian)站等電(dian)磁干擾大(da)的現場測(ce)試。廣泛適用于(yu)電(dian)力行業中變壓器、互(hu)感器、套(tao)管、電(dian)容(rong)器、避(bi)雷(lei)器等設備的介(jie)損測(ce)量。

二、WBJS8000GAI6000D變頻介質損耗測試儀**措施(shi)

1、使用本儀器前一(yi)定(ding)要認真閱讀(du)本手(shou)冊。

2、儀(yi)(yi)器(qi)(qi)的操作者應具備一般電氣設備或儀(yi)(yi)器(qi)(qi)的使(shi)用常識。

3、本(ben)儀(yi)器戶(hu)內外均可使用(yong)，但應避開(kai)雨(yu)淋、腐蝕(shi)氣體、塵(chen)埃過濃、高溫(wen)、陽光直射等(deng)場所使用(yong)。

儀(yi)表應避免(mian)劇(ju)烈振動。

5、對儀(yi)器的維(wei)修、護理和調整(zheng)應(ying)由專業人員進行。

6、在任(ren)何(he)接(jie)線之前必須用接(jie)地電纜把儀(yi)器接(jie)地端子與大地可靠連接(jie)起來。

7、由于測(ce)(ce)(ce)試(shi)設備產生高電(dian)壓(ya)，所以測(ce)(ce)(ce)試(shi)人員必須(xu)完全(quan)嚴格遵守**操作規(gui)程，防止他人接(jie)觸高壓(ya)部(bu)件和(he)電(dian)路。直接(jie)從事(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)的人員必須(xu)完全(quan)了(le)解高壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試(shi)線路，及(ji)儀器操作要點。非從事(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)人員必須(xu)遠離高壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試(shi)區，測(ce)(ce)(ce)試(shi)區必須(xu)用柵欄或繩索、警視牌等清楚表示出來。

8、儀(yi)器(qi)的調(diao)整(zheng)維修(xiu)和維護，必(bi)須(xu)在不加電情況(kuang)下進行(xing)，如果必(bi)須(xu)加電，則(ze)操作(zuo)者(zhe)必(bi)須(xu)非常熟悉(xi)本儀(yi)器(qi)高壓危險部件。

9、保(bao)險(xian)管(guan)損壞時(shi)，必須(xu)確保(bao)更換同(tong)樣的保(bao)險(xian)，禁止更換不(bu)同(tong)型號保(bao)險(xian)或將保(bao)險(xian)直接短路使用。

儀器出(chu)現故障時，關(guan)閉(bi)電源開關(guan)，等待一分(fen)鐘之后再檢(jian)查(cha)。

三(san)、WBJS8000GAI6000D變頻介質損(sun)耗測試儀可測試參(can)數

儀(yi)器(qi)可(ke)測量(liang)下列參數并數字顯示：

被測試品的電容(rong)量值CX，以pF或nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被測試品的介質(zhi)損耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000GAI6000D變頻介質損(sun)耗測試(shi)儀性能(neng)特(te)點(dian)

1、儀器(qi)采用(yong)復(fu)數電流法，測量電容、介質損耗(hao)及其它(ta)參(can)數。測試結果精度高，便于實現自動化測量。

2、儀器采用了變(bian)頻(pin)技術(shu)來消除現場(chang)50Hz工(gong)頻干擾，即使在強電磁干擾的環境(jing)下也(ye)能測得(de)可靠的數據。

3、儀器采用大(da)屏幕(mu)液晶顯示器，測試過程(cheng)通過漢(han)字菜單(dan)提示既直觀(guan)又便于操作。

4、儀器操(cao)作簡便，測量過程(cheng)由微(wei)處理器控(kong)制，只要選(xuan)擇(ze)好合適的測量方式，數據的測量就(jiu)可在(zai)微(wei)處理器控(kong)制下自動完成。

5、一體化機(ji)型，內(nei)附標準電(dian)容和高壓電(dian)源，便(bian)于(yu)現(xian)場測試，減少現(xian)場接線。

6、儀器(qi)測(ce)量準確度(du)高，可滿足(zu)油(you)介損(sun)(sun)測(ce)量要求，因此只需配備標準油(you)杯，和專用測(ce)試線即可實現油(you)介損(sun)(sun)測(ce)量。

7、設CVT測試(shi)功能，可實現CVT的自激(ji)法(fa)測試，無需(xu)外置附件(jian)，只需(xu)一次測量，C1,C2的(de)電容(rong)和介損全部測出。

8、反接線測(ce)試采用(yong)ivddv技術,消(xiao)除(chu)了以往(wang)反接線數據不(bu)穩定的現象(xiang)。

9、具有反接線低壓屏(ping)蔽(bi)功(gong)能，在220kV CVT 母線接地(di)情況下，對(dui)C11 可進行不拆線10kV 反接線介損測(ce)量

10、具有測量(liang)高(gao)電壓介損功能，能夠使用高(gao)壓變壓器(qi)或串聯諧(xie)振進行超過10kV電壓(ya)的介損(sun)試驗(yan)。

12、接地保護(hu)功(gong)(gong)能，當儀(yi)(yi)器(qi)不接地線(xian)或(huo)接地**時，儀(yi)(yi)器(qi)不進入(ru)正常(chang)程序，不輸出高(gao)壓。過流保護(hu)功(gong)(gong)能，在試品短路(lu)或(huo)擊穿(chuan)時儀(yi)(yi)器(qi)不受損壞。

13、觸(chu)電保(bao)護功能(neng)，當儀器(qi)(qi)操作人(ren)(ren)員不(bu)小心(xin)觸(chu)電時(shi)候，儀器(qi)(qi)會立即切斷高(gao)壓(ya)，保(bao)障(zhang)試驗人(ren)(ren)員的**.

五、WBJS8000GAI6000D變頻(pin)介質損(sun)耗測試儀技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干(gan)擾指(zhi)標：  變頻抗干擾(rao)，在200%干擾下仍能達到上(shang)述準確度

電容量范圍：  內施(shi)高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓(ya)：    3pF～1.5μF/10kV    ;     60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高(gao)0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍：     不限，分辨(bian)率0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻三種(zhong)試品自動識別。

試驗電流范(fan)圍：10μA～1A

內施(shi)高(gao)壓(ya)：    設(she)定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降(jiang)壓(ya)方(fang)式(shi)：連續平滑調節

試驗頻(pin)率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙(shuang)變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時*大試驗電流(liu)10kV/1A，工頻或(huo)變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出(chu)(chu)：輸出(chu)(chu)電(dian)壓3～50V，輸出電流(liu)3～30A

CVT變比測量：

變(bian)比測量精(jing)度(du)：±讀數×1%     變比測量范圍：10～99999

相位測量精度：±0.1°           相位(wei)測量范圍：0～359.9°

測量時間(jian)：    約40s，與測量方式有關

輸(shu)入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發電機(ji)供電

計(ji)算(suan)機接口：  標(biao)準RS232接(jie)口

打印機：         煒煌A7熱敏微型打(da)印機(ji)

環境溫度：    -10℃～50℃

相對(dui)濕度：    <90%

外形尺寸(cun)：460×360×350mm

儀器(qi)重量(liang)：28kg

六、WBJS8000GAI6000D變(bian)頻介質(zhi)損耗測試(shi)儀測量方式及原理

按被測(ce)(ce)(ce)試品是(shi)否接地分兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)(ce)量方(fang)式(shi)，即(ji)正接線(xian)測(ce)(ce)(ce)量方(fang)式(shi)和反(fan)接線(xian)測(ce)(ce)(ce)量方(fang)式(shi)。兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)(ce)量方(fang)式(shi)的原理如(ru)圖一(yi)所示：

在(zai)高壓(ya)電源的(de)10kV側，高壓(ya)分(fen)兩(liang)路，一路給機(ji)內(nei)(nei)標準(zhun)電容CN，此(ci)電容介損非(fei)常小(xiao)，可(ke)(ke)以認為介損為零，即(ji)為純容性(xing)電流，此(ci)電流ICN 可(ke)(ke)做(zuo)為容性(xing)電流基準(zhun)。在(zai)Cx試品(pin)一側，試品(pin)電流Icx通過采樣電阻R采入機(ji)內(nei)(nei)，此(ci)Icx可(ke)(ke)分(fen)解(jie)成水(shui)平(ping)分(fen)量(liang)和垂(chui)直分(fen)量(liang)見(jian)圖二所示，通過計(ji)算水(shui)平(ping)分(fen)量(liang)與垂(chui)直分(fen)量(liang)的(de)比(bi)值即(ji)可(ke)(ke)得到(dao)tgδ值。

在圖一(yi)（a）中(zhong)Cx為(wei)非接地試(shi)(shi)品(pin)，試(shi)(shi)品(pin)電(dian)流(liu)Icx從試(shi)(shi)品(pin)末端(duan)進入采樣(yang)電(dian)阻R，得到(dao)(dao)全(quan)電(dian)流(liu)值，在圖一(yi)（b）中(zhong)Cx為(wei)接地試(shi)(shi)品(pin)，機內(nei)Cx端(duan)直接接地，電(dian)流(liu)Icx從試(shi)(shi)品(pin)高壓(ya)端(duan)到(dao)(dao)機內(nei)采樣(yang)電(dian)阻取得全(quan)電(dian)流(liu)值。

七(qi)、WBJS8000GAI6000D變頻介質損耗測(ce)試儀常見設備的接線方(fang)法

1．儀器(qi)引出端子(zi)說明：

HV ——  儀器(qi)的(de)測量引線高(gao)壓端（帶危險(xian)電壓） 。

CX ——  正接線(xian)時試品(pin)電流輸入端(duan)。

——  儀器的接地(di)端，使用時與大地(di)可(ke)靠相接

2.參考接線

2.1正接(jie)線、內標準(zhun)電(dian)容、內高壓（常(chang)規(gui)正接(jie)線）：

2.2反接線、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規(gui)反接線）

2.3正(zheng)接線、外標(biao)準電容、內高壓：

2.4反接線(xian)、外標準(zhun)電(dian)容、內(nei)高(gao)壓：

2.5正接線、內(nei)標準(zhun)電容、外高壓(ya)：

2.6反接(jie)線、內標準電(dian)容、外高壓：

2.7正接線、外(wai)(wai)標(biao)準電容、外(wai)(wai)高壓（高電壓介(jie)損(sun)）：

2.8反接(jie)線(xian)、外標準(zhun)電容、外高壓：

2.9  CVT自激法測(ce)量(liang)：

CVT自(zi)激法(fa)可(ke)按下圖接線(xian)(xian)。如果C1是單節(jie)電容，母線(xian)(xian)不能(neng)接地；如果C1是多節(jie)電容，母線(xian)(xian)可(ke)接地，C11和C12可(ke)用常規正反接線(xian)(xian)測量，C13和C2用自(zi)激法(fa)測量。

CVT自(zi)激(ji)法(fa)測量中，儀器先測量C1，然后自(zi)動倒(dao)線測量C2，并(bing)自(zi)動校(xiao)準分(fen)壓影響。

應(ying)注意，高壓線(xian)應(ying)懸空不能接觸地面，否則其對地附加介(jie)損會(hui)引起誤差(cha)，可用(yong)細電(dian)纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。強烈(lie)建議使(shi)用(yong)高壓(ya)(ya)插座使(shi)用(yong)的高壓(ya)(ya)線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀器高(gao)壓線(xian)的芯線(xian)紅夾子接(jie)CVT的(de)上端，母線(xian)拆地。CVT下端接(jie)地，低壓(ya)線紅黑(hei)夾子接(jie)二次繞組，注意:如(ru)果(guo)測試(shi)角(jiao)度接近180度，應(ying)將(jiang)紅黑夾(jia)子顛(dian)倒。

3.附加功能

3.1光標在 電壓：10kV上面時候，按(an)“確認”鍵在儀器屏幕的左下角(jiao)會(hui)出現(xian)圖標，代表(biao)測試(shi)結(jie)束自動打印。如果再(zai)按(an)確認(ren)鍵，圖標消失(shi)，代表(biao)測試(shi)結(jie)束必須手動才能打印。

3.2光(guang)標在 反接 上面時(shi)候，在反接線，內(nei)Cn，內Un，情(qing)況下，按確認鍵在儀器屏幕右下角會出現(xian)圖標，代表反(fan)接線(xian)低(di)壓屏蔽(bi)測(ce)試。如果再按確認(ren)鍵，圖標消失，代表取(qu)消反(fan)接線(xian)低(di)壓屏蔽(bi)。

反(fan)接(jie)線低壓屏蔽功能，一(yi)次接(jie)線可同時(shi)測出C1和C2的電容量和介損(sun)

在反(fan)接線、內標準(zhun)和內高壓方式(shi)，光標移到(dao)“反接”處，按“確認”右下角顯(xian)示“M”。

打(da)開反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽，可在(zai)上端電(dian)容C1不(bu)拆母線(xian)(xian)(xian)的情況下，對其進行不(bu)拆線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)介損(sun)(sun)測(ce)量。如下圖所示：母線(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)，C1上端不(bu)拆線(xian)(xian)(xian)，C1下端接(jie)(jie)高壓(ya)線(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)，C2末端接(jie)(jie)Cx芯(xin)線(xian)(xian)(xian)。儀器采用反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)/10kV/M測(ce)量方式，可同(tong)時測(ce)出C11和下端屏蔽部(bu)分的電(dian)容量和介損(sun)(sun)值(zhi)。

3.3光標在 正(zheng)接 上面時候，按確認鍵則測試打(da)印機，換紙。

3.4光標在 啟動 上面時候，按減(jian)小鍵則代表取出存(cun)儲的數據。

3.5測試完畢(bi)，如果按減小鍵，則代(dai)表(biao)存(cun)儲(chu)測試的數(shu)據(ju)

八(ba)、WBJS8000GAI6000D變(bian)頻介質損(sun)耗測試儀(yi)功能簡介

儀器面板見圖九所(suo)示：

打印機——打印測(ce)量數據。

顯示器(qi)——128×64點陣(zhen)液晶顯示(shi)器，顯示(shi)菜(cai)單和各種(zhong)提示(shi)信息(xi)及(ji)測量結果。

  鍵(jian)——選(xuan)擇菜單項(xiang)，被(bei)選(xuan)中項(xiang)反白字體(ti)顯示(shi)。

▲  鍵(jian)——修改菜單內容，采用循環滾動(dong)方式。

▼ 鍵——修改菜單內(nei)容(rong)，采用循環滾動方(fang)式。

確認(ren)鍵——在“測(ce)試”選項(xiang)上按此鍵進入測(ce)試狀態。

電源開(kai)關——整機電源的開(kai)啟和關閉。

電源(yuan)座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸入(ru)口，帶保(bao)險倉。

9．自激法電流輸(shu)出端——測量CVT的(de)專用端子。

10．地(di)——為(wei)接(jie)地(di)線接(jie)線端(duan)子。

11．CX插座——是試品(pin)信號的測量輸入端，正接(jie)線時(shi)由專用(yong)低壓電纜(lan)連接(jie)，此電纜(lan)單層屏(ping)蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接(jie)試品低端(duan)。反(fan)接(jie)線時此端(duan)空置。

12．CN插座(zuo)——是(shi)外標(biao)準電容信(xin)號的測量輸入端(duan)，使(shi)用(yong)內標(biao)準時此端(duan)空置。

13．HV插座——高壓(ya)(ya)引出端(duan)子，由高壓(ya)(ya)電纜連接(jie)，接(jie)試品高壓(ya)(ya)端(duan)。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口，用來(lai)連接電腦(nao)，上傳數據。

九、儀器(qi)操作步驟

1．測量前(qian)準備：

1）用接(jie)(jie)地(di)線一端接(jie)(jie)儀(yi)(yi)器的(de)接(jie)(jie)地(di)柱，另(ling)一端接(jie)(jie)可靠的(de)大地(di)，保證儀(yi)(yi)器外(wai)殼(ke)處在地(di)電(dian)位上。

2）正接線時：將高壓電纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座(zuo)中，將(jiang)另一端(duan)的紅色大鉗子夾(jia)到被測試品的**引線上(shang)，黑(hei)色小鉗子懸空或夾(jia)在紅色大鉗子上(shang)。將(jiang)CX低壓電(dian)纜(lan)插入CX插座(zuo)中，另一端的(de)(de)紅(hong)色夾(jia)(jia)子夾(jia)(jia)試品(pin)的(de)(de)低端，黑色夾(jia)(jia)子懸(xuan)空或(huo)接屏蔽裝置(zhi)。

3）反接線時(shi)：將高壓電纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座中，將另(ling)一端的紅色(se)大(da)鉗子(zi)夾(jia)到被測(ce)試品的**引線上，紅色(se)小鉗子(zi)懸空或接屏蔽裝置。Cx插(cha)座不用。

2．打開電源開關，儀器(qi)進(jin)行自檢，若自檢良好，液晶屏顯示中文主菜(cai)單如

圖十所示。

3．菜單選擇：

按鍵可(ke)移動光標至各(ge)菜(cai)單項，并循(xun)環指示(shi)。被(bei)選(xuan)(xuan)中項反白字體顯示(shi)。選(xuan)(xuan)擇(ze)鍵的流程見圖(tu)十一所示(shi)。

在光標當前所(suo)示項目，按▼ ▲鍵鍵可進行該項菜單的變更，并循環指示，流程見圖十二(er)所(suo)示。

將菜單變更至與測試要(yao)求(qiu)相對應后(hou)即(ji)可按選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)鍵進行下個項目(mu)的(de)選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)。

4、 頻(pin)(pin)率：光標在頻(pin)(pin)率上，按↑↓鍵選擇(ze)定(ding)頻(pin)(pin)和(he)變頻(pin)(pin)：

光標在定(ding)頻上：按住“啟(qi)停”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵(jian)循環(huan)顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此(ci)設(she)置不能(neng)抗干擾，在試驗室(shi)內測量或校驗時(shi)選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量，研究不(bu)同頻率(lv)下介(jie)損的變(bian)化時選(xuan)用。

光標在變(bian)頻上：按住“啟停”鍵1s以(yi)上切換(huan)到全頻率(lv)選擇，按↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為(wei)45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網(wang)工頻干擾(rao)下(xia)測量(liang)。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變(bian)頻，適合60Hz電網工頻干擾(rao)下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動(dong)變頻，適(shi)合50Hz電(dian)網工頻(pin)干(gan)擾下(xia)測(ce)量。

5、測試：當(dang)光標在 測試 項目(mu)上時，按(an)確(que)認鍵大約3秒鐘開始測試。測試過(guo)程中顯示的畫面如圖十三（正接線，變頻）所示，當(dang)下面的進(jin)程到100%時(shi)候測(ce)試完畢，然后顯示測(ce)量(liang)結果見圖(tu)十四(si)所示，此時(shi)光標(biao)指(zhi)示打(da)印(yin)機圖(tu)標(biao)，按確認鍵(jian)打(da)印(yin)報告。測(ce)量(liang)結果的意義如下：

tgδ： 試品的損耗因數tgδ值(zhi)

CX： 測量(liang)的電容值

V：施加電(dian)壓值

I：試品流過(guo)的電流

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束后，關閉電源(yuan)開關，測(ce)試完畢。

十(shi)、現場(chang)試驗注意事項

如果使(shi)用中出現測試數據明顯不合理，請(qing)從以下(xia)方面查(cha)找原因：

1、搭鉤接(jie)觸**

現場測量使用搭鉤(gou)連接試品(pin)時，搭鉤(gou)務必與(yu)試品(pin)接觸(chu)良(liang)好(hao)，否則接觸(chu)點放電會(hui)引起數據嚴(yan)重波動！尤其是引流(liu)線氧化層(ceng)太厚，或風吹線擺動，易造成接觸(chu)**。

2、接地接觸**

接(jie)地**會(hui)引起儀器保護或(huo)數據(ju)嚴(yan)重波動。應刮凈(jing)接(jie)地點上的油漆和(he)銹蝕，務必保證0電阻(zu)接地！

3、直接測量CVT或(huo)末端屏(ping)蔽(bi)法測(ce)量電磁式PT

直(zhi)接測量CVT的下節耦(ou)合電容會出現負介損，應(ying)改用自激法。

用(yong)末端屏(ping)蔽法測量(liang)電磁式PT時，由于受潮引起“T形(xing)網(wang)絡干(gan)擾”出(chu)現負介損(sun)，吹干下面三裙(qun)瓷套和接線端子盤即可。也可改(gai)用常規法或末端加壓法測(ce)量。

4、空氣(qi)濕度過大

空氣濕度大使介損測(ce)量值異常增大（或減小甚(shen)至(zhi)為(wei)負）且不穩(wen)定，必(bi)要(yao)時可加屏蔽環。因(yin)人為(wei)加屏蔽環改變了試(shi)品電場(chang)分布(bu)，此法有爭議，可參照有關規程(cheng)。

5、發電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)

發電機供電時輸入(ru)頻(pin)率不(bu)穩(wen)定(ding)，可采用定(ding)頻(pin)50Hz模式(shi)工(gong)作。

6、測試線

由于長期(qi)使用，易造成測(ce)試(shi)線隱(yin)性斷路(lu)，或芯線和屏蔽短路(lu)，或插頭接觸(chu)**，用戶應經常維護測(ce)試(shi)線；

測(ce)試標準(zhun)電容(rong)試品(pin)時，應(ying)使用全屏蔽插頭連接，以消(xiao)除附加雜散電容(rong)影響，否則不能反映出儀器精度；

自激法測量CVT時(shi)，非專(zhuan)用的高(gao)壓線應吊起懸空，否(fou)則對地附加雜(za)散(san)電容(rong)和介損會引起測(ce)量誤差。

7、工作模式選(xuan)擇

接好(hao)線后請(qing)選擇正(zheng)確的(de)測量(liang)工(gong)作(zuo)模(mo)式（正(zheng)、反和CVT），不可選錯。特別(bie)是干擾(rao)環境(jing)下(xia)應選用變頻抗(kang)干擾(rao)模式。

8、試驗(yan)方(fang)法影響

由于介損(sun)測量受試驗方(fang)(fang)法(fa)影響較大(da)，應(ying)區分是(shi)試驗方(fang)(fang)法(fa)誤(wu)差還是(shi)儀器誤(wu)差。出現問題時(shi)可首(shou)先檢查接(jie)線，然(ran)后檢查是(shi)否為儀器故障(zhang)。

9、儀器故(gu)障

用(yong)萬用(yong)表測量一下(xia)測試線(xian)(xian)是否斷路(lu)，或(huo)芯線(xian)(xian)和屏蔽是否短路(lu)；輸入電(dian)源220V過高(gao)或過低；接地是否良好。

用(yong)正、反接線測(ce)一下標準電(dian)容(rong)器或已知容(rong)量和(he)介損的(de)電(dian)容(rong)試品(pin)，如果結果正確，即(ji)可判斷(duan)儀(yi)器沒(mei)有(you)問(wen)題；

拔下所有(you)測試(shi)導線，進(jin)行空試(shi)升壓，若不能正常(chang)工作，儀器可能有(you)故障。

啟(qi)動(dong)CVT測(ce)量后測(ce)量低壓(ya)輸出，應出現2～5V電壓，否則(ze)儀(yi)器有故障。

十一、 儀器(qi)檢定

1、用標準(zhun)損(sun)耗器檢定(ding)

用(yong)帶(dai)插頭的(de)屏蔽電纜連(lian)接標準(zhun)損耗器。如果不能保證標準(zhun)損耗器的(de)精度，應使用(yong)比對法(fa)檢(jian)定，建(jian)議(yi)用(yong)2801電橋或(huo)其它精(jing)密(mi)電橋作比對標(biao)準。儀(yi)器應選用“內標準(zhun)”和“RC串聯試品(pin)”，可選擇工(gong)頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使用(yong)帶插(cha)頭的(de)屏蔽電纜(lan)連接(jie)QSJ3，選擇(ze)“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗干擾能力

設置一個回路向(xiang)儀器注入定量的(de)干(gan)擾電流。

注意(yi)：

1）應(ying)考(kao)慮到該(gai)回(hui)路可能成為(wei)試品的一(yi)部(bu)分。

2）儀器啟動后會使220V供電電路(lu)帶有測量(liang)頻率分量(liang)，如(ru)果(guo)該頻率分量(liang)又通過干擾電流進入儀(yi)器，則無法檢驗儀(yi)器的抗干擾能力。

3）不(bu)建議用臨近高(gao)壓導體(ti)施加干擾(rao)，因為這樣很容易產生(sheng)近距離**放(fang)(fang)電，這種放(fang)(fang)電電阻是非線性的(de)，容易產生(sheng)同頻干擾(rao)。

十二(er)、變頻測量討論

1、變(bian)頻測量

干擾十分嚴重時，變頻測量能得到準確可靠的結果。例如用55Hz測量(liang)時，測量(liang)系統只允許55Hz信號通過，50Hz干(gan)擾信號被有效(xiao)抑制，原因(yin)在于測量(liang)(liang)系統很容(rong)易區別不同頻率，由下述簡單(dan)計算(suan)可以說明選頻測量(liang)(liang)的效(xiao)果：

兩個頻率相差1倍的(de)正弦(xian)波疊加到一起，高(gao)頻的(de)是干(gan)擾，幅度為低頻的(de)10倍(bei)：

這剛好(hao)是(shi)低頻部分的相位和幅度，干擾被(bei)抑制。實(shi)際波形的測(ce)量點多達數萬，計算量很大，結(jie)果反映了(le)波形的整體特征。

2、頻率和(he)介損的(de)關系

介損有RC串聯和并聯兩種理想模(mo)型：串聯模(mo)型tgδ=2πfRC，并聯(lian)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比(bi)和反比(bi)。如圖所示，f對完(wan)全正比(bi)和完(wan)全反比(bi)兩種(zhong)模(mo)型(xing)影(ying)響較大。但實際電(dian)容器是多種(zhong)模(mo)型(xing)交織的混合模(mo)型(xing)，此時f的影響(xiang)就小。

3、自動變頻(pin)與(yu)50Hz等效(xiao)

儀器采用自動變頻(pin)在(zai)干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個點，然后推(tui)算50Hz頻(pin)率(lv)(lv)下數據。除多個(ge)(ge)元件電路的低頻(pin)諧振外，單個(ge)(ge)試品中的介(jie)(jie)質不可能在低頻(pin)引起(qi)能量(liang)吸收峰(feng)，工(gong)頻(pin)附(fu)近介(jie)(jie)損(sun)總是隨頻(pin)率(lv)(lv)單調變化的。因此這種測(ce)量(liang)方法不會帶(dai)來明顯誤差。實際上(shang)，平均前(qian)的兩個(ge)(ge)介(jie)(jie)損(sun)值(zhi)已(yi)十分接近，即(ji)使不平均也完全(quan)有參考價值(zhi)。目前(qian)，變頻(pin)介(jie)(jie)損(sun)儀已(yi)成為介(jie)(jie)損(sun)測(ce)量(liang)的常(chang)規儀器(qi)，其優異的抗干擾能力和(he)準確度已(yi)經得到(dao)認可。

十(shi)三、儀器(qi)的裝箱(xiang)清單(dan)

產品留言

標題

聯系人(ren)

聯(lian)系電話

內容

驗(yan)證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!