一、WBJS8000G計量專(zhuan)用變頻介(jie)質損耗(hao)測試儀概述

介(jie)損(sun)測量(liang)是(shi)絕緣(yuan)試(shi)驗中很(hen)基本(ben)的(de)方法，可以有效地發現電(dian)(dian)器(qi)設(she)備絕緣(yuan)的(de)整體受潮劣化變(bian)質，以及局部缺陷(xian)等(deng)。在電(dian)(dian)工(gong)制造、電(dian)(dian)氣設(she)備安(an)裝、交(jiao)接(jie)和預防性(xing)試(shi)驗中都廣泛應用。變(bian)壓器(qi)、互(hu)感器(qi)、電(dian)(dian)抗器(qi)、電(dian)(dian)容器(qi)以及套管(guan)、避(bi)雷器(qi)等(deng)介(jie)損(sun)的(de)測量(liang)是(shi)衡量(liang)其絕緣(yuan)性(xing)能的(de)*基本(ben)方法。LYJS9000F變頻(pin)介質損耗測(ce)試(shi)儀突破了傳統的電(dian)橋測(ce)量方式，采用變頻(pin)電(dian)源技術(shu)，利用單(dan)片機、和現代化(hua)電(dian)子技術(shu)進行自動頻(pin)率變換、模/數(shu)轉(zhuan)換和數(shu)據運算；達到(dao)抗干擾能力強、測試速度快(kuai)、精(jing)度高、全自動(dong)數(shu)字化、操作簡(jian)便(bian)；電源采用大(da)功率開關電源，輸(shu)出45Hz和55Hz純正弦波(bo)，自(zi)動(dong)加壓，可提供*高10千伏(fu)的電壓；自動濾(lv)除50Hz干擾，適用(yong)于(yu)變電(dian)站等(deng)電(dian)磁(ci)干擾大的現場(chang)測(ce)(ce)試。廣泛(fan)適用(yong)于(yu)電(dian)力行業中變壓器(qi)、互感器(qi)、套管、電(dian)容(rong)器(qi)、避(bi)雷器(qi)等(deng)設備的介損測(ce)(ce)量。

二、WBJS8000G計(ji)量專(zhuan)用變頻介(jie)質(zhi)損耗(hao)測(ce)試儀(yi)**措施(shi)

1、使用本儀(yi)器前(qian)一定(ding)要認真閱讀(du)本手冊。

2、儀器(qi)(qi)的(de)操作者應具備一般電氣設備或儀器(qi)(qi)的(de)使(shi)用常識。

3、本(ben)儀器戶內外均可(ke)使用，但應避開雨淋、腐蝕氣體、塵(chen)埃過濃、高溫(wen)、陽光直射(she)等場(chang)所(suo)使用。

儀表(biao)應避免(mian)劇(ju)烈振動。

5、對儀(yi)器的維(wei)修(xiu)、護理和調整應由(you)專業人員進行。

6、在任何接(jie)(jie)線之前必須(xu)用(yong)接(jie)(jie)地電纜把儀器接(jie)(jie)地端子與大地可靠連接(jie)(jie)起來(lai)。

7、由于測(ce)試(shi)(shi)設備(bei)產生高(gao)(gao)電壓(ya)，所以測(ce)試(shi)(shi)人員必須(xu)完全(quan)嚴格遵守**操(cao)作規程，防(fang)止他人接觸高(gao)(gao)壓(ya)部件和電路(lu)。直(zhi)接從事(shi)(shi)測(ce)試(shi)(shi)的人員必須(xu)完全(quan)了(le)解高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)線路(lu)，及(ji)儀器操(cao)作要點。非(fei)從事(shi)(shi)測(ce)試(shi)(shi)人員必須(xu)遠離高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)區，測(ce)試(shi)(shi)區必須(xu)用柵欄或繩(sheng)索、警(jing)視(shi)牌等清楚表示出來。

8、儀(yi)器的調整維(wei)修和(he)維(wei)護，必須在不加電情況下進行(xing)，如果必須加電，則操作者必須非常熟悉(xi)本(ben)儀(yi)器高(gao)壓(ya)危(wei)險(xian)部件。

9、保險管損壞時，必須(xu)確保更(geng)換同(tong)樣的保險，禁止更(geng)換不同(tong)型號保險或將(jiang)保險直接(jie)短路使(shi)用。

儀器出(chu)現故障時，關閉電(dian)源開關，等待一分鐘之(zhi)后(hou)再檢查。

三、WBJS8000G計量專用變頻介質損耗測(ce)試儀可(ke)測試參數(shu)

儀器可(ke)測量下列參數(shu)并數(shu)字顯示(shi)：

被測試品(pin)的(de)電容(rong)量值CX，以pF或nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被(bei)測試品的介質損耗值tgδ，以(yi)%顯示。

四、WBJS8000G計量專(zhuan)用變頻介質損耗測試儀性能特點

1、儀(yi)器采(cai)用復(fu)數(shu)電流法，測(ce)量電容(rong)、介質(zhi)損耗及其它參數(shu)。測(ce)試結(jie)果精度高(gao)，便于(yu)實現自動(dong)化測(ce)量。

2、儀器(qi)采用了變頻技術來消除現場(chang)50Hz工頻干擾(rao)，即使在強電磁干擾(rao)的(de)環(huan)境下也能測得(de)可靠的(de)數據。

3、儀器(qi)采用大屏(ping)幕液晶顯示器(qi)，測試過(guo)程通過(guo)漢字菜單(dan)提(ti)示既直觀又便于操作。

4、儀器操作(zuo)簡便，測量過程由(you)微處(chu)理(li)器控制(zhi)，只要選(xuan)擇好(hao)合適的測量方式，數據的測量就可(ke)在微處(chu)理(li)器控制(zhi)下自(zi)動完成(cheng)。

5、一體化機型，內(nei)附標準電容和高(gao)壓(ya)電源，便于現場測試，減(jian)少現場接(jie)線。

6、儀(yi)器測量(liang)準(zhun)確度高，可滿足油介損測量(liang)要求，因此只需配備標(biao)準(zhun)油杯，和專用測試(shi)線即可實(shi)現油介損測量(liang)。

7、設CVT測(ce)試功能，可實現CVT的自激(ji)法測(ce)試，無需外(wai)置附件，只需一次測(ce)量，C1,C2的電容和介損(sun)全部(bu)測(ce)出。

8、反接線(xian)測試采用ivddv技術,消除了以往反接線(xian)數(shu)據不穩定的現象。

9、具有反接線低壓屏蔽(bi)功能，在(zai)220kV CVT 母線(xian)接地情況(kuang)下，對(dui)C11 可進行不拆線10kV 反接(jie)線介損(sun)測(ce)量

10、具有測量高電壓介損功(gong)能，能夠使用高壓變壓器或串聯諧振進行超過10kV電壓的介(jie)損試(shi)驗。

12、接(jie)地保護功能，當(dang)儀(yi)器(qi)不接(jie)地線或(huo)(huo)接(jie)地**時，儀(yi)器(qi)不進(jin)入正常程序，不輸出高壓。過(guo)流(liu)保護功能，在試品短路或(huo)(huo)擊穿時儀(yi)器(qi)不受損壞。

13、觸電(dian)保護功(gong)能，當儀器操作人員(yuan)不小(xiao)心(xin)觸電(dian)時候，儀器會立即切斷高壓，保障試驗人員(yuan)的**.

五、WBJS8000G計量專(zhuan)用變頻介質損耗測試儀技術指標

準(zhun)確度：

Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指(zhi)標(biao)：  變頻抗干擾，在200%干擾(rao)下(xia)仍能(neng)達到上述準確度

電容量(liang)范圍：  內施高壓(ya)：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位(wei)有效數(shu)字

tgδ范圍(wei)：     不限，分辨率0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻三種試品自動識別。

試驗電流范圍：10μA～1A

內施高壓：    設定(ding)電壓范圍：0.5～10kV

*大(da)輸出電流：200mA

升降壓方式：連續平滑調節

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dong)雙變頻

頻率精度(du)：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試驗(yan)電流1A，工(gong)頻或(huo)變(bian)頻40-70Hz

反接線時*大試驗電流10kV/1A，工頻(pin)或(huo)變頻(pin)40-70Hz

CVT自激法低(di)壓(ya)輸出(chu)：輸出(chu)電(dian)壓(ya)3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測(ce)量：

變比測量(liang)精度：±讀數×1%     變比測量(liang)范圍：10～99999

相位(wei)測量精(jing)度(du)：±0.1°           相位測量范圍：0～359.9°

測(ce)量(liang)時(shi)間(jian)：    約40s，與測(ce)量方式有(you)關

輸入(ru)電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或(huo)發電(dian)機供電(dian)

計算(suan)機(ji)接口：  標準RS232接(jie)口(kou)

打(da)印機(ji)：         煒煌A7熱敏微型打(da)印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外(wai)形尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器(qi)重量(liang)：28kg

六(liu)、WBJS8000G計量(liang)專用變頻介(jie)質(zhi)損耗測試儀測量方式及(ji)原理

按被測(ce)試品是否接(jie)地(di)分兩種測(ce)量方(fang)式(shi)，即(ji)正接(jie)線測(ce)量方(fang)式(shi)和(he)反接(jie)線測(ce)量方(fang)式(shi)。兩種測(ce)量方(fang)式(shi)的原理如圖一(yi)所示：

在高壓電(dian)(dian)源的10kV側，高壓分(fen)兩路，一路給機內標準(zhun)電(dian)(dian)容CN，此電(dian)(dian)容介損非常(chang)小，可以認為介損為零，即為純(chun)容性電(dian)(dian)流，此電(dian)(dian)流ICN 可做(zuo)為容性電(dian)(dian)流基準(zhun)。在Cx試品一側，試品電(dian)(dian)流Icx通過(guo)采樣電(dian)(dian)阻(zu)R采入機內，此Icx可分(fen)解成水平分(fen)量和垂直(zhi)分(fen)量見圖(tu)二所示，通過(guo)計(ji)算水平分(fen)量與垂直(zhi)分(fen)量的比值即可得到tgδ值。

在(zai)圖(tu)一（a）中Cx為非接(jie)地試(shi)(shi)品，試(shi)(shi)品電(dian)流Icx從(cong)試(shi)(shi)品末端(duan)進入采(cai)樣電(dian)阻(zu)R，得到全電(dian)流值，在(zai)圖(tu)一（b）中Cx為接(jie)地試(shi)(shi)品，機內Cx端(duan)直接(jie)接(jie)地，電(dian)流Icx從(cong)試(shi)(shi)品高壓端(duan)到機內采(cai)樣電(dian)阻(zu)取得全電(dian)流值。

七、WBJS8000G計(ji)量專用變頻介(jie)質(zhi)損耗測試儀常見設備的接線(xian)方(fang)法

1．儀器引出(chu)端(duan)子(zi)說明(ming)：

HV ——  儀器的測量引(yin)線高(gao)壓端（帶(dai)危險電壓） 。

CX ——  正(zheng)接線時試品電流輸(shu)入端(duan)。

——  儀器的接地(di)端，使用時與大地(di)可靠相接

2.參考接線

2.1正接線、內(nei)標準電(dian)容(rong)、內(nei)高壓（常(chang)規正接線）：

2.2反接(jie)線、內標準電容、內高壓（常規(gui)反接(jie)線）

2.3正接線、外標準電容、內高壓：

2.4反(fan)接線、外標(biao)準(zhun)電(dian)容、內高壓：

2.5正接線、內標準電容、外高壓：

2.6反接線、內標準電容、外高壓：

2.7正接(jie)線、外標準電容(rong)、外高(gao)(gao)壓(ya)（高(gao)(gao)電壓(ya)介損）：

2.8反接線、外標(biao)準電容、外高壓：

2.9  CVT自激法(fa)測量：

CVT自激(ji)法(fa)可(ke)按下圖(tu)接(jie)線。如果(guo)C1是單節電(dian)容，母線不能接(jie)地(di)；如果(guo)C1是多(duo)節電(dian)容，母線可(ke)接(jie)地(di)，C11和(he)C12可(ke)用常規(gui)正反(fan)接(jie)線測(ce)量，C13和(he)C2用自激(ji)法(fa)測(ce)量。

CVT自(zi)激法測量中，儀器先測量C1，然后(hou)自(zi)動(dong)倒線測量C2，并自(zi)動(dong)校(xiao)準分壓影響。

應注意，高壓線(xian)應懸(xuan)空不能接觸(chu)地(di)(di)面，否則(ze)其對(dui)地(di)(di)附加介損會(hui)引起誤差，可用細電纜連接高壓插座與CVT試(shi)品并吊起。強烈(lie)建議使用高壓插座使用的高壓線用黑色(se)Cx線(xian)。

2.10 CVT變比測試

儀器高壓線的(de)芯線紅夾子接CVT的上(shang)端，母線拆地(di)。CVT下端(duan)接地，低壓線紅黑夾子接二(er)次繞(rao)組，注(zhu)意:如果測試角度接近180度，應將紅黑(hei)夾子顛倒(dao)。

3.附(fu)加功能

3.1光標在 電壓：10kV上(shang)面時候(hou)，按(an)“確認”鍵在(zai)儀器屏(ping)幕的左下角會出(chu)現圖標，代(dai)表(biao)測(ce)試結束自動(dong)打印(yin)。如果再按確認鍵，圖標消失，代(dai)表(biao)測(ce)試結束必須手動(dong)才能打印(yin)。

3.2光標在 反接 上面時(shi)候(hou)，在反接線，內Cn，內Un，情(qing)況下，按(an)確認(ren)鍵在儀器屏幕右下角會出(chu)現(xian)圖(tu)標(biao)，代(dai)表反(fan)接(jie)線低壓屏蔽測試。如果再(zai)按確認鍵，圖(tu)標(biao)消(xiao)失，代(dai)表取消(xiao)反(fan)接(jie)線低壓屏蔽。

反接線(xian)低壓屏蔽(bi)功能(neng)，一次(ci)接線(xian)可同(tong)時測出C1和C2的電(dian)容量和介損

在反接線(xian)、內標準和(he)內高(gao)壓方式，光標移(yi)到“反(fan)接”處(chu)，按“確(que)認”右下角顯(xian)示“M”。

打開(kai)反(fan)(fan)接(jie)線(xian)低壓(ya)(ya)屏蔽，可在上(shang)端(duan)電容(rong)C1不(bu)拆(chai)母線(xian)的情況下(xia)，對(dui)其進行不(bu)拆(chai)線(xian)10kV反(fan)(fan)接(jie)線(xian)介損測量。如(ru)下(xia)圖所示：母線(xian)掛地線(xian)，C1上(shang)端(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)，C1下(xia)端(duan)接(jie)高壓(ya)(ya)線(xian)芯(xin)線(xian)，C2末(mo)端(duan)接(jie)Cx芯(xin)線(xian)。儀器采用反(fan)(fan)接(jie)線(xian)/10kV/M測量方式，可同時測出C11和下(xia)端(duan)屏蔽部(bu)分的電容(rong)量和介損值(zhi)。

3.3光標在 正接(jie) 上面時候，按確認(ren)鍵則測(ce)試打(da)印機(ji)，換紙(zhi)。

3.4光標在 啟動 上面時候，按減小(xiao)鍵則代表取出存儲的數據。

3.5測試(shi)完(wan)畢，如果按減小鍵(jian)，則代(dai)表存儲測試(shi)的數(shu)據

八、WBJS8000G計量專用變頻介質損(sun)耗測試(shi)儀功能(neng)簡介(jie)

儀器面板見圖九所示(shi)：

打印機——打印測量數據(ju)。

顯示器——128×64點陣(zhen)液晶顯(xian)示器，顯(xian)示菜單和各種提(ti)示信息及測量結(jie)果。

  鍵(jian)——選(xuan)擇(ze)菜單項，被選(xuan)中項反(fan)白字體顯(xian)示。

▲  鍵(jian)——修改菜單內容，采(cai)用循環滾動方式。

▼ 鍵(jian)——修改菜單內(nei)容，采用循環滾動方式。

確認鍵——在(zai)“測(ce)試”選項上按此鍵進入測(ce)試狀(zhuang)態。

電(dian)源(yuan)(yuan)開關——整機(ji)電(dian)源(yuan)(yuan)的(de)開啟和關閉。

電源(yuan)座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保險倉(cang)。

9．自激法電流(liu)輸出端(duan)——測(ce)量CVT的(de)專(zhuan)用端子。

10．地——為接地線(xian)接線(xian)端子(zi)。

11．CX插座——是試品(pin)信號(hao)的測量輸入端，正接(jie)線時由專用低壓電纜(lan)連接(jie)，此電纜(lan)單層屏蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接試品低端。反(fan)接線時此端空置。

12．CN插座——是外標準(zhun)電容信號的測量(liang)輸(shu)入端，使用內標準(zhun)時此端空置。

13．HV插(cha)座——高壓引(yin)出端(duan)子，由高壓電(dian)纜連接，接試品高壓端(duan)。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口，用(yong)來連接電(dian)腦，上(shang)傳數據。

九、儀器操作步(bu)驟

1．測(ce)量前準(zhun)備：

1）用接(jie)地(di)線(xian)一(yi)端(duan)接(jie)儀器的(de)接(jie)地(di)柱，另一(yi)端(duan)接(jie)可靠的(de)大地(di)，保證儀器外殼(ke)處在地(di)電位上。

2）正接線時：將高壓電纜插頭(tou)插入(ru)后(hou)門(men)HV插座(zuo)中，將另一端的(de)紅(hong)色(se)大鉗(qian)子夾(jia)到被測試品的(de)**引線(xian)上，黑色(se)小鉗(qian)子懸空或夾(jia)在(zai)紅(hong)色(se)大鉗(qian)子上。將CX低壓電纜(lan)插入CX插座中，另一端(duan)的紅色夾(jia)子(zi)夾(jia)試品的低端(duan)，黑色夾(jia)子(zi)懸(xuan)空或接屏蔽裝置。

3）反接線時：將高壓(ya)電(dian)纜插(cha)頭插(cha)入(ru)后(hou)門HV插座中，將另一端的(de)紅(hong)色大(da)鉗子夾到(dao)被(bei)測試(shi)品的(de)**引線(xian)上，紅(hong)色小鉗子懸空(kong)或接屏蔽(bi)裝置(zhi)。Cx插座不(bu)用。

2．打(da)開電源開關，儀(yi)器進行自檢，若(ruo)自檢良好，液晶屏顯示中文(wen)主菜(cai)單(dan)如(ru)

圖十所示。

3．菜單(dan)選擇：

按鍵(jian)(jian)可(ke)移動(dong)光標(biao)至各菜單(dan)項(xiang)，并(bing)循環指示(shi)。被選(xuan)中(zhong)項(xiang)反(fan)白字(zi)體(ti)顯示(shi)。選(xuan)擇鍵(jian)(jian)的(de)流程(cheng)見圖十一所示(shi)。

在光標當前(qian)所示(shi)項目，按▼ ▲鍵鍵可進行該(gai)項菜(cai)單的變更，并(bing)循環(huan)指示(shi)，流程見圖十二所示(shi)。

將菜單變更至與測試要(yao)求相(xiang)對應后即可按選擇鍵進行下個項目的選擇。

4、 頻率：光標在頻率上，按↑↓鍵選擇定頻和變頻：

光標(biao)在定頻(pin)上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇(ze)，按↑↓鍵循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)(liang)，此設置(zhi)不能抗干擾，在(zai)試驗室內測量(liang)(liang)或(huo)校(xiao)驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為(wei)單(dan)頻率(lv)測(ce)量，研究不同(tong)頻率(lv)下介損的(de)變化時選用。

光(guang)標在(zai)變頻上：按住“啟停”鍵1s以上(shang)切(qie)換到全頻率選擇，按(an)↑↓鍵循環(huan)顯示(shi)5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動(dong)變頻，適(shi)合(he)50Hz電網工頻干擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動(dong)變頻(pin)，適合60Hz電(dian)網(wang)工頻(pin)干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自(zi)動變頻，適(shi)合(he)50Hz電網工頻干擾下測量。

5、測(ce)試(shi)：當光(guang)標在  測(ce)試(shi) 項(xiang)目(mu)上時，按確認鍵大約3秒鐘開始測試。測試過(guo)程中顯(xian)示的畫面如圖(tu)十(shi)三（正接線，變頻）所示，當下(xia)面的進程到100%時候測試(shi)完畢，然后顯(xian)示測量(liang)結果(guo)見圖十(shi)四所示，此時光(guang)標指示打印(yin)機(ji)圖標，按確(que)認鍵打印(yin)報告。測量(liang)結果(guo)的(de)意(yi)義(yi)如下：

tgδ： 試品的損(sun)耗因(yin)數tgδ值

CX： 測量的電容值

V：施加電壓(ya)值

I：試(shi)品流過(guo)的電流

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束后，關(guan)閉電(dian)源開關(guan)，測試完畢(bi)。

十、現場試(shi)驗注(zhu)意事(shi)項

如果使用中出現測試數據明(ming)顯不合理，請從(cong)以下(xia)方面查找(zhao)原因：

1、搭鉤接觸**

現(xian)場測(ce)量使用(yong)搭鉤(gou)連接(jie)試品時，搭鉤(gou)務必與試品接(jie)觸良好(hao)，否(fou)則接(jie)觸點(dian)放電會引起數據嚴重波動(dong)！尤(you)其(qi)是引流線氧化層(ceng)太厚，或風(feng)吹線擺(bai)動(dong)，易(yi)造成接(jie)觸**。

2、接地接觸(chu)**

接地**會引起(qi)儀器保護(hu)或(huo)數(shu)據嚴重波(bo)動。應刮凈接地點(dian)上(shang)的(de)油漆和銹蝕，務必(bi)保證0電阻接地(di)！

3、直接測量CVT或末端屏蔽法測量電磁式PT

直接測量(liang)CVT的下節耦合電容會出現(xian)負介(jie)損，應改用(yong)自(zi)激法。

用末(mo)端屏蔽法測量(liang)電磁式PT時(shi)，由于受潮引起“T形(xing)網絡(luo)干擾”出現負(fu)介損，吹干下面三裙瓷套(tao)和接線端子(zi)盤即可。也可改(gai)用(yong)常(chang)規(gui)法或末端加(jia)壓法測量。

4、空氣濕度過大(da)

空(kong)氣濕度大(da)使介損測量值異常增(zeng)大(da)（或減小甚至為負）且不穩定，必要時(shi)可加屏(ping)蔽(bi)環。因人為加屏(ping)蔽(bi)環改(gai)變了試品(pin)電(dian)場(chang)分布，此法有(you)爭議，可參照有(you)關規程。

5、發電(dian)機供電(dian)

發電(dian)機供電(dian)時輸入頻率不穩定，可采用定頻50Hz模式工(gong)作(zuo)。

6、測試(shi)線

由于長期(qi)使用，易造成測試線(xian)(xian)隱性(xing)斷路，或芯線(xian)(xian)和(he)屏(ping)蔽短路，或插頭接觸**，用戶應經常維護測試線(xian)(xian)；

測(ce)試標準電容試品(pin)時，應使用全(quan)屏蔽插頭連接，以消(xiao)除(chu)附加(jia)雜散電容影響，否則不能(neng)反映出儀器(qi)精度；

自激法測量CVT時，非專(zhuan)用的高壓線應(ying)吊起懸(xuan)空，否則(ze)對地附(fu)加(jia)雜(za)散(san)電容和介損會引起測量誤差。

7、工作(zuo)模式(shi)選(xuan)擇

接好線后請選(xuan)擇正(zheng)確(que)的測量工作模式（正(zheng)、反和CVT），不可選錯(cuo)。特別是干擾(rao)環(huan)境下應選用變頻(pin)抗干擾(rao)模式。

8、試驗(yan)方法影響

由于(yu)介損(sun)測量(liang)受(shou)試驗方法(fa)影響較大，應區(qu)分是(shi)(shi)試驗方法(fa)誤(wu)差還是(shi)(shi)儀(yi)器誤(wu)差。出(chu)現問題(ti)時可首先(xian)檢查接(jie)線，然后檢查是(shi)(shi)否為儀(yi)器故障。

9、儀(yi)器故障

用(yong)萬用(yong)表測量一下測試線是否斷路，或(huo)芯線和屏蔽是否短路；輸入電源220V過高或過低；接(jie)地(di)是否良好(hao)。

用(yong)正(zheng)(zheng)、反接(jie)線(xian)測一下標(biao)準電(dian)(dian)容(rong)(rong)(rong)器(qi)或(huo)已知容(rong)(rong)(rong)量和介(jie)損的電(dian)(dian)容(rong)(rong)(rong)試品，如果結果正(zheng)(zheng)確，即(ji)可判(pan)斷儀(yi)器(qi)沒有問題；

拔下所有測試導線，進行空(kong)試升壓(ya)，若不能(neng)正(zheng)常(chang)工(gong)作，儀器可(ke)能(neng)有故障。

啟(qi)動CVT測量后測量低壓輸出，應出現2～5V電(dian)壓，否則(ze)儀器(qi)有(you)故障。

十一、 儀器(qi)檢定

1、用標準損(sun)耗器(qi)檢定

用(yong)帶插頭的(de)屏蔽電纜連接標準損耗(hao)器。如果(guo)不(bu)能(neng)保證標準損耗(hao)器的(de)精度(du)，應使用(yong)比對法檢定，建(jian)議用(yong)2801電(dian)橋(qiao)或其(qi)它精(jing)密電(dian)橋(qiao)作比(bi)對標(biao)準(zhun)。儀器應(ying)選用“內(nei)標準”和“RC串聯試品”，可(ke)選(xuan)擇工(gong)頻 50Hz或定頻(pin)50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭的(de)屏蔽電纜(lan)連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入(ru)適(shi)當值。

3、抗干擾能力

設(she)置(zhi)一(yi)個回路(lu)向儀器注入定量(liang)的干擾(rao)電流。

注意(yi)：

1）應考慮(lv)到該回(hui)路可(ke)能成為試品(pin)的一部分。

2）儀器啟動后會使220V供(gong)電電路帶有測量(liang)頻率分量(liang)，如果該(gai)頻率分量(liang)又通過干擾電流進入儀器，則無(wu)法(fa)檢驗儀器的抗干擾能力(li)。

3）不(bu)建議用臨近(jin)高壓(ya)導體施加干擾(rao)，因為(wei)這(zhe)樣(yang)很容易產生近(jin)距離**放電，這(zhe)種放電電阻是非線性的，容易產生同頻(pin)干擾(rao)。

十二、變頻測量討論

1、變頻(pin)測量

干擾十(shi)分嚴重時，變頻測量(liang)能得到準確可靠的結果。例如用55Hz測(ce)量時(shi)，測(ce)量系(xi)統(tong)只允許55Hz信號通過，50Hz干擾信號被有效抑制，原因在于測量系統很容易區別不同頻(pin)率(lv)，由下(xia)述簡單計算可以說(shuo)明(ming)選頻(pin)測量的效果：

兩個頻率相差1倍的(de)正(zheng)弦波(bo)疊(die)加(jia)到一起，高頻的(de)是干擾，幅度為(wei)低頻的(de)10倍：

這剛好是低頻部(bu)分的(de)相位(wei)和幅度，干擾被抑(yi)制。實際波(bo)形的(de)測量(liang)點多達數萬(wan)，計算量(liang)很大，結果反映了波(bo)形的(de)整體特征。

2、頻(pin)率(lv)和介(jie)損的關系

介(jie)損(sun)有RC串聯和并聯兩種理想模型：串聯模型tgδ=2πfRC，并(bing)聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正(zheng)比(bi)和反比(bi)。如圖(tu)所(suo)示，f對完全正比(bi)和完全反比(bi)兩種(zhong)模(mo)型(xing)影響較大。但實際電容器是多種(zhong)模(mo)型(xing)交(jiao)織(zhi)的混合模(mo)型(xing)，此時f的影響就小。

3、自(zi)動變頻(pin)與50Hz等效(xiao)

儀(yi)器(qi)采用自動變頻(pin)在干(gan)擾頻(pin)率50Hz兩(liang)側（45Hz和55Hz）各測一個(ge)點(dian)，然后推算50Hz頻(pin)率下數據。除多個(ge)元件電路(lu)的(de)(de)低(di)頻(pin)諧振外，單個(ge)試品(pin)中的(de)(de)介(jie)質不可能(neng)在低(di)頻(pin)引起能(neng)量(liang)吸收(shou)峰，工頻(pin)附近(jin)介(jie)損總是隨(sui)頻(pin)率單調變(bian)化的(de)(de)。因此這種(zhong)測量(liang)方法(fa)不會帶來明顯誤差。實(shi)際(ji)上，平均(jun)(jun)前(qian)(qian)的(de)(de)兩個(ge)介(jie)損值(zhi)已(yi)十(shi)分接近(jin)，即使(shi)不平均(jun)(jun)也完(wan)全有參考價值(zhi)。目前(qian)(qian)，變(bian)頻(pin)介(jie)損儀已(yi)成為介(jie)損測量(liang)的(de)(de)常(chang)規儀器，其優異的(de)(de)抗干擾能(neng)力和準確度已(yi)經得到(dao)認可。

十三、儀(yi)器的(de)裝箱清單

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