**章 WBTCD-9308智能局放儀(yi)局(ju)放理論概述

在開始我們的(de)實(shi)驗(yan)以前，我們首先應(ying)該對局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)電(dian)有(you)個初步的(de)了解，為(wei)什(shen)么要測量局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)電(dian)？局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)電(dian)有(you)什(shen)么危(wei)害？怎樣準確測量局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)電(dian)？有(you)了上述理論基礎(chu)可(ke)以幫(bang)助我們理解測量過程中的(de)正確操(cao)作。

一、局部放電的定(ding)義及產生原因

在(zai)(zai)(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場作用下(xia)，絕緣系統中只(zhi)有部(bu)(bu)(bu)(bu)分區(qu)域發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，但尚未擊(ji)穿(chuan)，（即(ji)在(zai)(zai)(zai)施(shi)加電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)導(dao)體(ti)(ti)(ti)(ti)之(zhi)間沒有擊(ji)穿(chuan)）。這種(zhong)(zhong)現象稱之(zhi)為(wei)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)可能發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)在(zai)(zai)(zai)導(dao)體(ti)(ti)(ti)(ti)邊上，也可能發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)在(zai)(zai)(zai)絕緣體(ti)(ti)(ti)(ti)的(de)表面上和內(nei)部(bu)(bu)(bu)(bu)，發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)在(zai)(zai)(zai)表面的(de)稱為(wei)表面局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)在(zai)(zai)(zai)內(nei)部(bu)(bu)(bu)(bu)的(de)稱為(wei)內(nei)部(bu)(bu)(bu)(bu)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。而對(dui)于被(bei)氣體(ti)(ti)(ti)(ti)包圍的(de)導(dao)體(ti)(ti)(ti)(ti)附近(jin)發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)的(de)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，稱之(zhi)為(wei)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)暈。由此 總結一下(xia)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)的(de)定義，指部(bu)(bu)(bu)(bu)分的(de)橋(qiao)接(jie)導(dao)體(ti)(ti)(ti)(ti)間絕緣的(de)一種(zhong)(zhong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)氣放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)產生(sheng)(sheng)(sheng)原因主要(yao)有以下(xia)幾種(zhong)(zhong)：

電(dian)場不均勻(yun)。

電介(jie)質不均勻(yun)。

制造(zao)過程的氣(qi)泡或(huo)雜質。*經常發生放電的原因是(shi)絕緣體內(nei)部或(huo)表面存在氣(qi)泡；其次是(shi)有些設備的運行過程中會發生熱(re)脹冷縮,不同(tong)材(cai)料特別是導體與介質的(de)膨脹(zhang)系數不同(tong)，也(ye)會逐漸出現裂縫；再(zai)有一些是在運行過程(cheng)中(zhong)(zhong)有機高(gao)(gao)分子(zi)的(de)老化(hua)，分解出各(ge)種揮發(fa)物，在高(gao)(gao)場強的(de)作用下(xia)，電荷不斷地由導體進(jin)入(ru)介質中(zhong)(zhong)， 在注入(ru)點上就會使介質氣(qi)化(hua)。

二 、WBTCD-9308智能局放儀局部放電的模(mo)擬電路及放電過程簡介(jie)

介質內部含有(you)氣泡，在(zai)交流電壓下(xia)產生的內部放電特性可由圖1—1的模(mo)擬電路(a b c等值電路)予以表示；其中(zhong)Cc是模(mo)擬介質(zhi)中(zhong)產生放電間隙(如氣泡)的(de)電(dian)容；Cb代表與Cc串聯部分介質的合成電容；Ca表示其(qi)余部分介質的電(dian)容(rong)。

I——介質有缺陷(xian)(氣泡(pao))的部份(fen)(虛線表示)

II——介質(zhi)無(wu)缺陷部(bu)份

圖(tu)1—1  表(biao)示具有內(nei)部放(fang)電的模擬電路

圖1—1中以并聯有—對(dui)火花間(jian)隙的(de)電容Cc來模擬產生局部放電的內部氣泡。圖1—2表示了在交(jiao)流電壓下局(ju)部放電的發生過(guo)程(cheng)。

U(t)一(yi)一(yi)外施交流電壓

Uc(t)一(yi)(yi)一(yi)(yi)氣(qi)泡不(bu)擊穿時在氣(qi)泡上的(de)電壓

Uc’(t)一(yi)一(yi)有局(ju)部放電時氣泡上的實(shi)際(ji)電壓(ya)

Vc一一氣泡的擊穿(chuan)電壓

Y r一一氣泡(pao)的(de)殘余電壓   

Us—局部(bu)放(fang)電(dian)起始電(dian)壓(瞬時(shi)值)

Ur一一與氣泡殘余電壓v r對應(ying)的外(wai)施電(dian)壓

Ir一一氣泡(pao)中的放電電流

電(dian)極間總電(dian)容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電(dian)極間施加交流電(dian)壓 u(t)時，氣泡電容Cc上對應的(de)電壓(ya)為Uc(t)。如圖2—1所示(shi)，此時的(de)Uc(t)所(suo)代表的是氣(qi)泡理想(xiang)狀態下的電壓（既(ji)氣(qi)泡不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施電壓U(t)上升時，氣(qi)泡上電壓Uc(t)也(ye)上(shang)升(sheng)，當U(t)上升到Us時，氣(qi)泡上電壓(ya)Uc達到氣泡擊穿電壓,氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)(pao)(pao)擊(ji)穿(chuan)，產(chan)生大量的正、負(fu)離子，在電(dian)場(chang)作用下(xia)各自(zi)遷移(yi)到氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)(pao)(pao)上下(xia)壁(bi)，形成空間電(dian)菏，建立反電(dian)場(chang)，削弱了氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)(pao)(pao)內(nei)的總電(dian)場(chang)強度，使(shi)放電(dian)熄滅(mie)，氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)(pao)(pao)又恢復絕緣性能。這(zhe)樣的一(yi)次放電(dian)持續時(shi)間是極短暫(zan)的，對一(yi)般的空氣(qi)(qi)(qi)氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)(pao)(pao)來(lai)說，大約只有幾個(ge)毫微(wei)秒(miao)(10的負8次方(fang)到10的負9次方秒)。所以(yi)電(dian)壓(ya)Uc(t)幾(ji)乎瞬間(jian)地(di)從Vc降到Vr，Vr是殘余電(dian)壓；而氣泡(pao)上(shang)電(dian)壓Uc‘(t)將隨U(t)的(de)增大而繼(ji)續由Vr升高到Vc時，氣(qi)泡再(zai)—次擊穿，發(fa)生又—次局部放電(dian)，但此時相應的外施(shi)電(dian)壓比(bi)Us小，為(Us-Ur)，這(zhe)是因(yin)為氣泡(pao)上有殘余電(dian)壓Vr的內電(dian)場作用的結果。Vr是與氣泡殘余(yu)電壓Yr相(xiang)應(ying)的外施電(dian)壓，如此反復上述過程，即外施電(dian)壓每增加(Us-Ur)，就(jiu)產生一(yi)次局部(bu)放電．直到(dao)前—次(ci)放電(dian)熄滅后(hou)，Uc’(t)上升(sheng)到(dao)峰值時(shi)共增量(liang)不足以(yi)達(da)Vc(相當于外(wai)施電壓的增(zeng)量Δ比(Us-Ur)小)為止。

此后，隨著外施電(dian)壓U(t)經過(guo)峰值Um后減小，外(wai)施(shi)電壓在氣泡中建立反方向(xiang)電場(chang)，由于(yu)氣泡中殘存的內電場(chang)電壓方向(xiang)與外(wai)電場(chang)方向(xiang)相反，故外(wai)施(shi)電壓須經(Us+Ur))的(de)電壓(ya)變化，才能使氣泡上的(de)電壓(ya)達(da)到(dao)擊(ji)穿電壓(ya)Vc，(假(jia)定(ding)正、負方(fang)向(xiang)擊(ji)穿(chuan)電(dian)壓Vc相(xiang)等)，產(chan)生一次(ci)局部(bu)放電(dian)。放電(dian)很快熄(xi)滅，氣泡中電(dian)壓瞬時降到(dao)殘(can)余電(dian)壓Vr(也(ye)假(jia)定正、負方(fang)向相(xiang)同)。外施電壓繼續下降，當再下降(Us-Ur)時，氣泡電壓就(jiu)又達到Vc從而又產生一(yi)次局部放電。如此重復上述過(guo)程，直到外(wai)施(shi)電壓升到反(fan)向蜂(feng)值一(yi)Um的增量Δ不足以達到(Us-Ur)為止。外施電(dian)壓經過一(yi)Um峰值(zhi)后，氣泡上的外電(dian)場方(fang)向又變為正(zheng)方(fang)向，與氣泡殘余電(dian)壓(ya)方(fang)向相反，故(gu)外施電(dian)壓(ya)又須(xu)上升(Us+Ur)產生第—次放電，熄滅(mie)后，每(mei)經過Us—Ur的(de)電(dian)壓上升(sheng)就產生(sheng)一(yi)次放電(dian)，重復前面所介紹的(de)過(guo)程(cheng)。如圖(tu)1—2所示。

由以上(shang)局(ju)部(bu)放電(dian)過程分析，同時根據局(ju)部(bu)放電(dian)的(de)(de)特點（同種試品，同樣(yang)的(de)(de)環境(jing)下(xia)，電(dian)壓越高局(ju)部(bu)放電(dian)量(liang)越大(da)）可以知(zhi)道：一般情況下(xia)，同一試品在一、三象限(xian)的(de)(de)局(ju)部(bu)放電(dian)量(liang)大(da)于(yu)二、四象限(xian)的(de)(de)局(ju)部(bu)放電(dian)量(liang)。那是因為它們是電(dian)壓的(de)(de)上(shang)升沿。（第三象限(xian)是電(dian)壓負的(de)(de)上(shang)升沿）。這(zhe)就是我們測量(liang)中為什么把時間窗(chuang)刻(ke)意擺在一、三象限(xian)的(de)(de)原(yuan)因。

三、WBTCD-9308智能局(ju)放(fang)儀(yi)局部放電(dian)的測量原理：

四(si)、WBTCD-9308智能(neng)局放儀(yi)局部放電(dian)的表(biao)征(zheng)參數

局部放(fang)電(dian)是比(bi)較(jiao)復雜的(de)(de)物理現(xian)象，必(bi)須通過(guo)多種表征參數(shu)才能**的(de)(de)描繪其狀態，同時局部放(fang)電(dian)對絕緣破(po)壞的(de)(de)機理也(ye)是很(hen)復雜的(de)(de)，也(ye)需要(yao)通過(guo)不同的(de)(de)參數(shu)來評(ping)定它對絕緣的(de)(de)損害(hai)，目(mu)前我(wo)們只關心兩個(ge)基本參數(shu)。

視在(zai)放電電荷——在絕緣體中(zhong)發生局部放電(dian)時，絕緣體上(shang)施加電(dian)壓的兩端出現的脈(mo)動(dong)電(dian)荷稱之為視在放電(dian)電(dian)荷，單位用皮庫(ku)（pc）表示，通常以穩(wen)定出現的*大視(shi)在(zai)放(fang)(fang)電(dian)電(dian)荷(he)作為該(gai)試品的放(fang)(fang)電(dian)量。

放電重復率——在測量時(shi)間內每(mei)秒(miao)中(zhong)出現的(de)放電(dian)次(ci)數(shu)的(de)平均值稱為放電(dian)重復率，單位為次(ci)/秒，放電重(zhong)復率越(yue)高，對絕(jue)緣的損害越(yue)大(da)。

**章  局放測試的試驗系統接線。

在了(le)解(jie)了(le)局部放(fang)電(dian)(dian)的(de)基本(ben)理論之(zhi)后(hou)，在本(ben)章(zhang)我(wo)們(men)的(de)重點轉向實際(ji)操(cao)作(zuo)，我(wo)們(men)先(xian)介紹(shao)局部放(fang)電(dian)(dian)測試中常用(yong)的(de)三種(zhong)接(jie)法，隨(sui)后(hou)我(wo)們(men)再(zai)介紹(shao)整個系統的(de)接(jie)線電(dian)(dian)路(lu)，*后(hou)我(wo)們(men)再(zai)分別介紹(shao)幾種(zhong)典型的(de)試品的(de)試驗(yan)線路(lu)。

一、局放電測(ce)試電路的三種基本接法及(ji)優缺(que)點。

（1）   標準(zhun)試驗(yan)電路(lu)，又稱并聯法(fa)。適合于必須(xu)接(jie)地(di)的試品。其缺點是高(gao)壓引線對地雜(za)散(san)電容(rong)并聯在 CX上，會降低測試靈敏(min)度(du)。

（2）接法(fa)(fa)的(de)串聯法(fa)(fa)，其要求試(shi)品低壓端對地(di)浮置。其優點是(shi)變(bian)壓器(qi)入口電(dian)容(rong)(rong)、高(gao)壓線對(dui)地雜散電(dian)容(rong)(rong)與耦合電(dian)容(rong)(rong)CK并聯，有(you)利于提高(gao)試(shi)驗靈(ling)敏(min)度。缺點是(shi)試(shi)樣損壞時會損壞輸(shu)入單(dan)元。

（3）平衡法(fa)(fa)試驗電(dian)(dian)路：要求兩(liang)個試品相接(jie)近，至(zhi)少(shao)電(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)為同一數(shu)量(liang)(liang)級其優點是(shi)外干擾(rao)強烈的情況下，可取得(de)較好抑(yi)制干擾(rao)的效果(guo)，并可消除變壓器雜散電(dian)(dian)容(rong)的影響，而(er)且可做大(da)電(dian)(dian)容(rong)試驗。缺點是(shi)須要兩(liang)個相似的試品，且當產生放電(dian)(dian)時，需設法(fa)(fa)判別是(shi)哪個試品放電(dian)(dian)。

值得提出(chu)的(de)(de)(de)是：由于現(xian)(xian)場試驗(yan)條件(jian)的(de)(de)(de)限制（找(zhao)到(dao)兩個相似的(de)(de)(de)試品(pin)且要保證一個試品(pin)無(wu)放電不太容易），所以在(zai)現(xian)(xian)場平衡法(fa)比較難實現(xian)(xian)，另外(wai)，由(you)于采用(yong)串(chuan)聯(lian)法(fa)時，如(ru)果試(shi)品(pin)擊穿，將(jiang)會對設(she)備(bei)造成比較大的損害，所以出于對設(she)備(bei)保護的想法(fa)，在(zai)現場試(shi)驗時一(yi)般(ban)采用(yong)并聯(lian)法(fa)。

二、WBTCD-9308智能局放儀采(cai)用并聯法的(de)整個系統的(de)接線原理圖(tu)。

該系統(tong)采用脈(mo)沖電(dian)(dian)(dian)流法(fa)檢測(ce)高壓(ya)(ya)(ya)試(shi)(shi)(shi)品的(de)局(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)量，由(you)控制臺控制調壓(ya)(ya)(ya)器和變壓(ya)(ya)(ya)器在(zai)試(shi)(shi)(shi)品的(de)高壓(ya)(ya)(ya)端產生測(ce)試(shi)(shi)(shi)局(ju)(ju)放(fang)(fang)所需的(de)預加電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)和測(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)，通過無(wu)局(ju)(ju)放(fang)(fang)藕合電(dian)(dian)(dian)容器和檢測(ce)阻抗將局(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)信號取出并(bing)送(song)至局(ju)(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)檢測(ce)儀顯示(shi)并(bing)判斷和測(ce)量。系統(tong)中(zhong)的(de)高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)阻為了防止在(zai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)過程(cheng)中(zhong)試(shi)(shi)(shi)品擊(ji)穿(chuan)而損壞(huai)其他設備，兩個(ge)電(dian)(dian)(dian)源濾(lv)波(bo)器是將電(dian)(dian)(dian)源的(de)干擾(rao)(rao)和整(zheng)(zheng)個(ge)測(ce)試(shi)(shi)(shi)系統(tong)分開，降低整(zheng)(zheng)個(ge)測(ce)試(shi)(shi)(shi)系統(tong)的(de)背景(jing)干擾(rao)(rao)。

根據上述原理(li)圖可(ke)以看出，局(ju)(ju)部(bu)放電測試的靈敏度(du)和準(zhun)確度(du)和整個系統(tong)密(mi)切相關，要想(xiang)順利和準(zhun)確的進行局(ju)(ju)部(bu)放電測試，就必須將整個系統(tong)考濾(lv)周(zhou)到，包括系統(tong)的參數選取和連接方式。另(ling)外，在現場試驗(yan)時，由于(yu)是驗(yan)證性試驗(yan)，高壓限(xian)流電阻(zu)可(ke)以省掉。

三、幾(ji)種典型試品的接(jie)線原理圖。

（1）電流互(hu)感器(qi)的局放測試接線(xian)原理圖

（2）電(dian)壓(ya)互感器的(de)局放測試接線原(yuan)理圖

A．工頻(pin)加壓方式接線原理圖

為了防止電(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)(gan)器(qi)在(zai)工頻(pin)電(dian)壓(ya)(ya)下產生大的(de)勵(li)磁電(dian)流而損壞，高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)(gan)器(qi)一(yi)(yi)般采取自激勵(li)的(de)加壓(ya)(ya)方(fang)式。在(zai)電(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)(gan)器(qi)的(de)低(di)壓(ya)(ya)側加一(yi)(yi)倍頻(pin)電(dian)源，在(zai)電(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)(gan)器(qi)的(de)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)端(duan)感(gan)(gan)應出高(gao)(gao)壓(ya)(ya)來進行局部放電(dian)實驗。這就(jiu)是通常所說(shuo)的(de)三倍頻(pin)實驗。其(qi)接線原理圖如下：

(3)高壓電容器(qi).絕緣子的(de)局(ju)放測試接線原理(li)圖

(4) 發電機的局(ju)放測(ce)試(shi)接線原理圖

（5）變(bian)壓器的局部放電測(ce)試接線原理圖

我們(men)僅僅是在(zai)原(yuan)理性(xing)的(de)總結(jie)了(le)幾種(zhong)典型試品(pin)的(de)接線原(yuan)理圖，至于各種(zhong)試品(pin)的(de)加壓(ya)方式和加壓(ya)值的(de)多少，我們(men)在(zai)做試驗的(de)時(shi)侯(hou)要嚴(yan)格(ge)遵(zun)守每種(zhong)試品(pin)的(de)出廠(chang)檢驗標準或(huo)交接檢驗標準。

第(di)三章  概述

WBTCD-9308智能局部(bu)放電(dian)檢(jian)測儀(yi)是我公司*新(xin)推向(xiang)市場的(de)新(xin)一代(dai)數字智能儀(yi)器(qi)，該儀(yi)器(qi)在原有(you)產品(pin)WBJF-2010、JF-2020局放儀(yi)的(de)基礎上采(cai)用嵌入式ARM系統(tong)作(zuo)為(wei)中央處理單(dan)元(yuan)，控(kong)制12位分辨率的(de)高速模數轉(zhuan)換芯(xin)片進行數據(ju)(ju)采(cai)集，將(jiang)采(cai)集到的(de)數據(ju)(ju)存放在雙端口(kou)(kou)RAM中。實現從模擬(ni)到數字的(de)跨越。使(shi)用26萬色高分辨率TFT-LCD數字液晶顯(xian)示(shi)(shi)(shi)模組(zu)實時(shi)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)放電(dian)脈沖波(bo)形，配備VGA接口(kou)(kou)，可外接顯(xian)示(shi)(shi)(shi)器(qi)。與傳統(tong)的(de)模擬(ni)式示(shi)(shi)(shi)波(bo)管(guan)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)局部(bu)放電(dian)檢(jian)測儀(yi)相比有(you)以下特點：

1.彩(cai)色顯示(shi)(shi)器，雙色顯示(shi)(shi)波(bo)形，更清晰直觀；

2.可(ke)鎖定波形，更(geng)方便仔細查看放電波形細節；

3.自動(dong)測量并(bing)顯示(shi)試驗電源時(shi)基頻(pin)率(lv)，無需手動(dong)切換；

4.配備VGA接口，可外接大尺(chi)寸顯示器；

5.與示波(bo)管相比(bi)壽命(ming)更(geng)長。

6.具有(you)波形(xing)鎖定、打印試驗報告功能(neng)

本(ben)儀器檢測(ce)靈敏(min)度高(gao)，試樣電(dian)容覆蓋范圍大，適(shi)用試品范圍廣，輸入單(dan)元（檢測(ce)阻抗）配(pei)備齊全，頻帶組合多（九種）。儀器經適(shi)當定(ding)標后能(neng)直(zhi)讀放電(dian)脈沖的放電(dian)量。

本儀器是電力(li)部門(men)、制造廠家和科研單位等(deng)廣(guang)泛使用(yong)的局部放電測(ce)試儀器。

第四章  主要技術(shu)指標：

1．可(ke)測試品的電容范圍： 6PF—250uF。

2．檢測(ce)靈敏度(du)（見(jian)表一）：

表(biao)一

（1）低(di)端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任(ren)選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器(qi)增(zeng)益調節：

粗調(diao)六檔(dang)(dang)(dang)，檔(dang)(dang)(dang)間增益20±1dB；細調(diao)范圍≥20dB。每(mei)檔(dang)(dang)(dang)之間數(shu)據(ju)為(wei)10倍關(guan)系：如(ru)第三檔(dang)(dang)(dang)檢(jian)測(ce)數(shu)據(ju)為(wei)98，則(ze)**檔(dang)(dang)(dang)顯示數(shu)據(ju)為(wei)9.8，如(ru)在第三檔(dang)(dang)(dang)檢(jian)測(ce)數(shu)據(ju)超過120，則(ze)應(ying)調(diao)至**檔(dang)(dang)(dang)來檢(jian)測(ce)數(shu)據(ju)，所得數(shu)據(ju)應(ying)乘以10才為(wei)實際測(ce)量值。

5、時(shi)間窗(chuang)：

（1）窗寬(kuan)：可調(diao)范圍15°-175°；

（2）窗位(wei)置：每一窗可(ke)旋轉0°- 180°；

（3）兩(liang)個時間窗可分別開或同時開。

6、放(fang)電量表：

0-100誤差<±3％（以滿度計(ji)）。

7、橢(tuo)圓(yuan)時基：

（1）頻(pin)(pin)率：50HZ、或(huo)外部電源同步(bu)（任意頻(pin)(pin)率）

（2）橢圓旋轉：以30°為一檔，可作360°旋轉。

（3）顯示方式：橢(tuo)圓(yuan)—直線(xian)。

8、試(shi)驗電壓表：

精度：優于±3％（以滿度計）。

9、體積： 320×480×190（寬×深×高(gao)）mm³。

10、重(zhong)量：約(yue)15Kg。

三、系(xi)統(tong)工作(zuo)原理：

本機(ji)的局(ju)部放電(dian)測試原理是高頻(pin)脈沖電(dian)流測量法（ERA法）。

試品Ca在試驗(yan)電壓下產生局部放(fang)(fang)(fang)(fang)電時(shi)，放(fang)(fang)(fang)(fang)電脈沖(chong)(chong)信號(hao)經藕合電容Ca送(song)入(ru)輸入(ru)單元，由輸入(ru)單元拾取到脈沖(chong)(chong)信號(hao)，經低噪(zao)聲前置放(fang)(fang)(fang)(fang)大(da)器(qi)放(fang)(fang)(fang)(fang)大(da)，濾波放(fang)(fang)(fang)(fang)大(da)器(qi)選擇所(suo)需頻帶(dai)及主(zhu)放(fang)(fang)(fang)(fang)大(da)器(qi)放(fang)(fang)(fang)(fang)大(da)（達到所(suo)需幅值(zhi)(zhi)與(yu)產生零標志脈沖(chong)(chong)）后(hou)，在示波屏的橢圓掃描(miao)基線(xian)上產生可(ke)見的放(fang)(fang)(fang)(fang)電脈沖(chong)(chong)，同時(shi)也送(song)至脈沖(chong)(chong)峰值(zhi)(zhi)表顯示其峰值(zhi)(zhi)。

時間窗單元控制試驗電(dian)壓每一周期內(nei)脈沖峰值的工作時間，并在這段時間內(nei)將示(shi)波(bo)屏的相應(ying)顯示(shi)區加亮(liang)，用它可以排除固定相位的干擾。

試(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)壓(ya)表(biao)經電(dian)容分壓(ya)器產生試(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)壓(ya)過(guo)零(ling)標志訊號，在示(shi)(shi)波屏上顯示(shi)(shi)零(ling)標脈沖(chong)，橢圓時基(ji)上兩個零(ling)標脈沖(chong)，通(tong)過(guo)時間窗的寬窄調節可確(que)定試(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)壓(ya)的相位(wei)，試(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)壓(ya)大(da)小由數(shu)字電(dian)壓(ya)表(biao)指示(shi)(shi)。

整個系統的工作原理可(ke)參看方框圖(tu)（圖(tu)一(yi)）。

四、結構說明(ming)

本儀器為(wei)標(biao)準機箱結(jie)構(gou)，儀器分前面板(ban)及后面板(ban)兩部分，各調節元件的位置(zhi)(zhi)及位置(zhi)(zhi)和功能(neng)見下(xia)圖說(shuo)明。

1、4：長按改變門窗的位置

2、3：長按改(gai)變門窗的(de)寬(kuan)度

5：時(shi)鐘設置(zhi)按鈕

6：按9號(hao)鍵鎖(suo)定后(hou)再按此鍵，即可(ke)打印(yin)試驗(yan)報告

7：分壓(ya)比(bi)設置(zhi)按鈕(niu)

8：門開關(guan)，重(zhong)復按可(ke)選擇左右門

9：波(bo)形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯示方(fang)式按鈕

12：取(qu)消(xiao)按鈕

A、B、C通道選(xuan)擇(ze)旋鈕與后面板A、B、C測量通道相對(dui)應

備注： 如(ru)需(xu)數據導出，步(bu)驟如(ru)下：

（1）在電腦(nao)上安(an)裝(zhuang)(zhuang)好RS232通(tong)用串口線驅動(dong)。（驅動(dong)盤里有安(an)裝(zhuang)(zhuang)介紹）及局放試(shi)驗報告編輯器(qi)軟件。

（2）將串口線和局(ju)放儀(yi)后面(mian)的數據(ju)接口連接好(hao)。   

（3）將需(xu)要保存(cun)的波形鎖定(ding)然后點擊(ji) 局放試驗報告編輯器

（4）點(dian)擊(ji)Start鍵生成(cheng)鎖定后的數據，然后點(dian)擊(ji)測試報告(gao)如下圖所示：

（5）點擊測試(shi)報告(gao)后則會(hui)出現局放(fang)試(shi)驗報告(gao)編輯器可(ke)以根據需要(yao)填寫上面的(de)內容。

（6）填寫好(hao)表格后點(dian)擊生成(cheng)報告數(shu)據(ju)會以Word文檔(dang)的形式出現，再將數(shu)據(ju)保存至(zhi)電腦，如(ru)下圖所示(shi)：

第五章  操作說明(ming)

1、試驗(yan)準備：將機器(qi)后面板的三個(ge)開(kai)關都置(zhi)于(yu)“關”的狀態

（1）檢(jian)查試驗場(chang)地(di)的(de)(de)接(jie)地(di)情況，將本儀器后部(bu)的(de)(de)接(jie)地(di)螺(luo)栓用粗銅線（*好用編(bian)制銅帶）與試驗場(chang)地(di)的(de)(de)接(jie)地(di)妥善相接(jie)，輸入(ru)單元的(de)(de)接(jie)地(di)短路片也要妥善接(jie)地(di)。

（2）根椐試品(pin)電容(rong)Ca，藕合電容(rong)Ck的(de)大小(xiao)，選(xuan)取(qu)合適(shi)序號的(de)輸入單元（表一(yi)），表一(yi)中調諧電容(rong)量是指(zhi)從輸入單元初級繞組兩端看(kan)到(dao)的(de)電容(rong)（按Cx和Ck的(de)串聯(lian)值粗略(lve)估算）。

輸(shu)入(ru)單元應盡量靠近被測試品，輸(shu)入(ru)單元插座經(jing)8米長電纜(lan)與后面板(ban)上輸(shu)入(ru)插座相接。

（3）試(shi)品(pin)接入輸入單元(yuan)的方法主(zhu)要有以下(xia)幾種(zhong)：

圖中：Ca——試品(pin)    Ck——藕(ou)合電容(rong)    Z——阻塞阻抗  R3、C3、R4、C4——橋式接法中平衡調節阻抗。

（4）在高壓(ya)端接(jie)上電(dian)壓(ya)表電(dian)阻或電(dian)容分壓(ya)器，其輸(shu)出經(jing)測量電(dian)纜接(jie)到后面板試驗電(dian)壓(ya)輸(shu)入插座30。

（5）在未加試驗電(dian)壓的情況(kuang)下，將JF-2006校正脈沖發生器(qi)的輸出接試品(pin)兩端。

2、使用(yong)步(bu)驟

（1）開機準備：將時基顯示方式置于“橢圓”。

（2）放電量的校(xiao)正(zheng)：按圖(tu)接好(hao)線(xian)后，在未(wei)加試驗(yan)電壓之前用LJF-2006校(xiao)正(zheng)脈沖發生器予以校(xiao)正(zheng)。

注意：方波測量(liang)盒應盡量(liang)靠近(jin)試品的高壓端。紅端子引線接(jie)高壓端。

然(ran)后(hou)調(diao)(diao)節放(fang)大器增益調(diao)(diao)節，使該注入脈沖高度適當（示波屏上高度2cm以(yi)下），使數(shu)(shu)字(zi)表(biao)讀數(shu)(shu)值與注入的(de)已知電量相(xiang)符。調(diao)(diao)定后(hou)放(fang)大器細調(diao)(diao)旋鈕的(de)位(wei)置不(bu)能再改變，需保持與校正時(shi)相(xiang)同。

校正完(wan)成后必須去掉(diao)校正方波發生器與試驗(yan)回路的(de)連接。

（3）測試操(cao)作：

第六(liu)章(zhang)  抗干(gan)擾措施和局部放電圖譜(pu)簡介

對于局部(bu)放電實驗我(wo)們*怕的就是干擾，下面簡(jian)單介紹一下實驗中(zhong)可(ke)能遇到(dao)的干擾以(yi)及抗(kang)干擾的方法：

測量的干擾分類(lei)

干擾(rao)有來自電(dian)網的和來自空間的。按表現形式(shi)分(fen)又分(fen)為固(gu)定(ding)的和移動的。主要的干擾(rao)源有以下一些：

①懸浮(fu)電(dian)位(wei)物體放(fang)電(dian)，通(tong)過對地雜散(san)電(dian)容耦(ou)合

②外部**電暈

③可(ke)控硅元件在鄰近運行

④繼電器，接觸器，輝光(guang)管等物品(pin)

⑤接觸**

⑥無線電干擾

⑦熒光(guang)燈干擾(rao)

⑧電動機(ji)干(gan)擾

⑨中高頻(pin)工業設(she)備

（二(er)）抗干擾方法

采用帶調(diao)壓(ya)器，隔離變壓(ya)器和(he)濾波器的控制電源

設置屏(ping)蔽室，可只屏(ping)蔽試驗回路部分

可靠的單點接(jie)地，將試驗回路(lu)系(xi)統設(she)計(ji)成(cheng)單點接(jie)地結構，接(jie)地電阻要小，接(jie)地點要與一般試驗室的地網及(ji)電力網中線分開(kai)。

采用高壓(ya)濾(lv)波器

用平衡法或(huo)橋式(shi)試驗電路

利用(yong)時間窗，使(shi)固定相位干擾處于亮窗之外

采用(yong)較(jiao)窄(zhai)頻帶，或用(yong)頻帶躲開干擾大(da)的頻率(lv)范圍

在高(gao)壓端加裝(zhuang)高(gao)壓屏蔽罩或(huo)半導體橡(xiang)膠帽以防電暈干(gan)擾

試(shi)驗(yan)電路遠離周(zhou)圍物(wu)體(ti)，尤其是懸浮的金屬固體(ti)！

（三）初做實驗者對波(bo)形辨(bian)認還是(shi)有(you)一定困難的，下面就簡單介紹一     放電類型和(he)干擾的初(chu)步辯認(ren)：

1． 典型(xing)的內(nei)部氣泡(pao)放電(dian)的波形特點：(圖 5—01)

A．放電主(zhu)要顯示在試驗電壓由零升(sheng)到峰值的兩個橢圓象限內。

B．在起始電(dian)壓(ya)Ui時，放電(dian)通常發生在峰值(zhi)附近，試驗電(dian)壓超過Ui時，放電向零相位延伸。

C．兩(liang)個相(xiang)(xiang)反半周(zhou)上(shang)放電次數(shu)和幅值(zhi)大致相(xiang)(xiang)同（*大相(xiang)(xiang)差至3：1）。

D．放(fang)電(dian)波(bo)形可辯(bian)。

E．q與試驗電(dian)壓關系(xi)不大，但放電(dian)重復率n隨試驗電壓上升而加大(da)。

F．局部放(fang)電起(qi)始(shi)電壓Ui和熄(xi)滅電壓Ue基本相等。

G．放電量q與時間(jian)關系不大。

H．如果放電(dian)量隨試驗電(dian)壓上(shang)升而增大，并(bing)且放電(dian)波(bo)形變得模(mo)糊不可分辨(bian)，則往往是介(jie)質內(nei)含有多種大小氣泡，或(huo)是介(jie)質表(biao)面放電(dian)。如果除了上(shang)述情況，而且放電(dian)幅值隨加壓時間而迅速增長（可達(da)100倍或更多），則往往是(shi)(shi)絕緣液體中的氣泡(pao)放(fang)(fang)電(dian)(dian)，典型例子是(shi)(shi)油浸紙電(dian)(dian)容器的放(fang)(fang)電(dian)(dian)。

2． 金屬與介質間(jian)氣泡的(de)放電波形特點：     ;      ;    

正半(ban)周有(you)許多幅(fu)值小的放(fang)電(dian)，負(fu)半(ban)周有(you)很少(shao)幅(fu)值大的放(fang)電(dian)。幅(fu)值相差可達10﹕1，其他同(tong)上。

典型例子：絕緣與(yu)導體粘附**的(de)聚乙烯(xi)電纜的(de)放(fang)電。q與(yu)試驗電壓關(guan)系不大。（圖 5—02）

如果隨試驗電壓升高(gao)，放電幅值也增(zeng)大，而(er)且放電波形變得模(mo)糊，則往往是含(han)有不同大小多個氣泡，或是外露的金(jin)屬與介質表(biao)(biao)面之間出現的表(biao)(biao)面放電。（圖 5—03）

（四）下面介紹(shao)一(yi)些主要視為干擾或(huo)非(fei)正常放電的(de)情況：

（1）懸浮電位物體(ti)放電波(bo)形特點：

在電(dian)壓峰值(zhi)前的正(zheng)負半周兩個象限里出現幅值(zhi)。脈沖(chong)數(shu)和位(wei)置均相同，成對出現。放電(dian)可移動，但(dan)它(ta)們間的相互間隔不變，電(dian)壓升高(gao)時，根(gen)數(shu)增加，間隔縮(suo)小，但(dan)幅值(zhi)不變。有時電(dian)壓升到一定值(zhi)時會消(xiao)失(shi)，但(dan)降至此值(zhi)又重(zhong)新出現。

原因：金(jin)屬間的(de)(de)間隙產生的(de)(de)放電，間隙可能(neng)(neng)是地面(mian)上兩(liang)個(ge)獨立的(de)(de)金(jin)屬體間（通過雜散電容(rong)耦合）也可能(neng)(neng)在樣品內(nei)，例如屏(ping)蔽松(song)散。

（2）外部**電(dian)暈(yun)放電(dian)波形特(te)點：

起始放(fang)電僅出現在試驗(yan)電壓的一個半(ban)周上，并(bing)對稱(cheng)地分布在峰值(zhi)兩側。試驗(yan)電壓升(sheng)高(gao)時，放(fang)電脈(mo)沖數(shu)急劇增加，但幅值(zhi)不變，并(bing)向兩側伸(shen)展。

原因：空氣中高壓(ya)**或邊緣放電(dian)。如果放電(dian)出現(xian)(xian)在(zai)(zai)負半(ban)周，表示**處(chu)于(yu)(yu)高壓(ya)，如果放電(dian)出現(xian)(xian)在(zai)(zai)正半(ban)周則**處(chu)于(yu)(yu)地電(dian)位(wei)。

（3）液體介(jie)質(zhi)中(zhong)的(de)**電暈放電波形特(te)點：

放(fang)電(dian)(dian)出(chu)現在(zai)兩個半周(zhou)上，對稱地分布(bu)在(zai)峰值(zhi)兩側。每一(yi)(yi)組(zu)(zu)放(fang)電(dian)(dian)均(jun)為等間隔，但一(yi)(yi)組(zu)(zu)幅(fu)值(zhi)較大的放(fang)電(dian)(dian)先(xian)出(chu)現，隨試(shi)驗電(dian)(dian)壓升高而幅(fu)值(zhi)增大，不一(yi)(yi)定等幅(fu)值(zhi)；一(yi)(yi)組(zu)(zu)幅(fu)值(zhi)小的放(fang)電(dian)(dian)幅(fu)值(zhi)相等，并(bing)且不隨電(dian)(dian)壓變化。

原因：絕(jue)緣液體中(zhong)**或邊緣放電(dian)。如一組大(da)的(de)放電(dian)出現在正半周(zhou)，則**處于高(gao)壓；如出現在負半周(zhou)，則**地(di)電(dian)位。

（4）接(jie)觸**的干擾圖形。

波形(xing)特點：對稱地分布在實(shi)驗電(dian)壓(ya)零點兩側，幅(fu)值大致不(bu)變，但(dan)在實(shi)驗電(dian)壓(ya)峰值附近下降為零。波形(xing)粗糙(cao)不(bu)清晰，低電(dian)壓(ya)下即(ji)出現。電(dian)壓(ya)升高時(shi)，幅(fu)值緩慢增(zeng)加(jia)，有時(shi)在電(dian)壓(ya)達到一(yi)定值后會完(wan)全消失。

原(yuan)因：實驗回路中金(jin)屬(shu)與金(jin)屬(shu)**接(jie)觸(chu)的連接(jie)點；塑料電纜屏蔽層半(ban)導(dao)體粒子的**接(jie)觸(chu)；電容(rong)器鋁箔的插接(jie)片等（可將電容器充(chong)電然后(hou)短路來(lai)消除）。          &nbsp;    

（5）可(ke)控硅元件的(de)干擾圖形。

波形特點：位(wei)置固(gu)定，每只元(yuan)件(jian)產生一個獨立(li)訊號(hao)。電路接通，電磁耦合(he)效應(ying)增(zeng)強時訊號(hao)幅值(zhi)增(zeng)加(jia)，試驗調壓(ya)時，該脈沖訊號(hao)會發生高頻(pin)波形展(zhan)寬，從而占位(wei)增(zeng)加(jia)。

原因：鄰(lin)近有可控硅元(yuan)件(jian)在運行。

（6）繼電器(qi)、接(jie)觸器(qi)、輝光(guang)管等動作的干擾。

波(bo)形特(te)點：分布不規則或間斷出現，同(tong)試驗電(dian)壓無關。

原因：熱(re)繼(ji)電器(qi)、接觸器(qi)和各種火花試驗器(qi)及有火花放電的記錄器(qi)動(dong)作時產生。

（7）熒光燈的(de)干擾圖形。

波形特點：欄柵(zha)狀，幅值(zhi)大致相同的脈沖(chong)(chong)，伴有正負(fu)半(ban)波對稱出現的兩簇脈沖(chong)(chong)組。

原因：熒光燈照(zhao)明                       &nbsp;            &nbsp;                                                

（8）無線電干擾的干擾圖形。

波形特點：幅值(zhi)有調制(zhi)的高頻正弦波，同試驗(yan)電壓(ya)無(wu)關。

原(yuan)因：無線電話、廣播話筒(tong)、載波通訊等。

（9）電動機干擾(rao)的干擾(rao)圖形（圖5—12）

波形(xing)(xing)特點(dian)：放電波形(xing)(xing)沿橢圓基線均勻分(fen)布，每(mei)個(ge)單個(ge)訊號呈“山”字形(xing)(xing)。

原因：帶換向器的電動機(ji)，如電扇、電吹(chui)風運轉(zhuan)時的干(gan)擾。

（10）中高頻工業(ye)設(she)備的(de)干(gan)擾圖(tu)形(xing)。

波形特(te)點：連續發生，僅出現(xian)在電源波形的半周內。

原(yuan)因：感應加熱裝置和(he)頻(pin)率接近檢(jian)測頻(pin)率的超聲波發生器(qi)等。

（11）鐵芯磁飽和(he)諧波的干(gan)擾圖(tu)形（圖(tu)5—14）

波形特點：較低頻率的諧波振蕩(dang)，出現在兩(liang)個半(ban)周上，幅(fu)值(zhi)隨試驗電壓升(sheng)高而增大，不加電壓時消(xiao)失，有重(zhong)現性(xing)。

原因：試(shi)驗系統(tong)各(ge)種(zhong)鐵芯設備（試(shi)驗變壓(ya)(ya)器(qi)、濾(lv)波電抗器(qi)、隔(ge)離變壓(ya)(ya)器(qi)等(deng)）磁飽和產(chan)生的諧(xie)振。                        &nbsp;        

（12）電極在電場方向機械移(yi)動的干擾圖形。

波(bo)形特點(dian)：僅在試驗電壓(ya)的(de)半周（正或負）上出現的(de)與峰值對稱的(de)兩個放電響應，幅值相等，而脈(mo)沖方向相反，起始電壓(ya)時(shi)兩個脈(mo)沖在峰值處(chu)靠得很近，電壓(ya)升高時(shi)逐漸(jian)分開，并可能產(chan)生新的(de)脈(mo)沖訊(xun)號對。

原因(yin)：電(dian)極的部分（尤其是金屬箔電(dian)極）在(zai)電(dian)場作用下運動。  &nbsp;                       

（14）漏電痕跡和樹(shu)枝放電

波(bo)形(xing)(xing)特點：放電(dian)訊(xun)號波(bo)形(xing)(xing)與一般典型圖象均不符合，波(bo)形(xing)(xing)不規則不確(que)定(ding)。

原因：玷污(wu)了的(de)絕(jue)緣上(shang)漏電或絕(jue)緣局部過熱而(er)致(zhi)的(de)碳化痕跡或樹(shu)枝通道(dao)。

在(zai)放電(dian)測試(shi)中(zhong)必須保(bao)證測試(shi)回路中(zhong)其它元件（試(shi)驗(yan)(yan)變壓器、阻(zu)塞線圈、耦合電(dian)容器、電(dian)壓表電(dian)阻(zu)等）均不放電(dian)，常用的辦法(fa)是用與(yu)試(shi)品(pin)電(dian)容數(shu)量級相同(tong)的無放電(dian)電(dian)容或絕(jue)緣結構(gou)取(qu)代試(shi)品(pin)試(shi)驗(yan)(yan)，看看有無放電(dian)。

了(le)(le)解了(le)(le)各種放(fang)電類型的波形特征(zheng)，來源以及識別干(gan)擾后就可按具體情況采(cai)取措施排除干(gan)擾和(he)正確地進行放(fang)電測量了(le)(le)。

第(di)七(qi)章     局部放電(dian)測試當(dang)中應該(gai)注意的問題(ti)

實(shi)驗(yan)前，試品的絕緣表面(mian)（尤(you)其是(shi)高壓端(duan)）應作清潔(jie)化處理

2、   各連接(jie)點(dian)應接(jie)觸良(liang)好，尤其是高壓(ya)端不要(yao)留下尖銳的(de)接(jie)點(dian)，高壓(ya)導線(xian)應盡可能粗(cu)以防電暈，可用蛇皮管。

輸入(ru)單元(yuan)要盡量(liang)靠近試品，而且接地(di)(di)要可靠，接地(di)(di)線(xian)*好用

編織銅帶。主機也須接地，以(yi)保證**。

試(shi)驗回(hui)路(lu)盡可(ke)能(neng)緊湊。即高壓連線盡可(ke)能(neng)短，試(shi)驗回(hui)路(lu)所(suo)圍(wei)面 

積盡(jin)可能小(xiao)。

在進(jin)行(xing)110KV及以上等級的局放試(shi)驗時(shi)，試(shi)品(pin)周(zhou)圍的懸(xuan)浮金屬

物體應妥善(shan)接地。

考(kao)慮(lv)到油浸式試(shi)品局(ju)(ju)部放電存在(zai)滯后(hou)效應，因此在(zai)局(ju)(ju)放試(shi)驗前

幾(ji)小時(shi)，不要對試品施加超(chao)過(guo)局部放(fang)電試驗(yan)電壓的高電壓。

第八章(zhang)  附件

1、專(zhuan)用測(ce)量(liang)電纜線6米   &nbsp;     2根

2、電源線           ;      &nbsp;   1根

3、1.0A保險絲 &nbsp;         &nbsp;     4根

4、使用說明(ming)書   &nbsp;&nbsp;            1份(fen)

- WBJF-2020校正脈(mo)沖發生器使(shi)用說明

用途與適用范圍(wei)：

WBJF-2020校(xiao)正脈沖發(fa)生(sheng)器是(shi)一個小型(xing)的(de)廉價的(de)電(dian)(dian)池(chi)供電(dian)(dian)的(de)局部放電(dian)(dian)校(xiao)正器，它適用于(yu)需要攜帶和(he)使(shi)用靈活的(de)場合。

主(zhu)要規格(ge)及技術參(can)數：

輸出電荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升時間：<100ns

衰(shuai)減時間：>100us

極性：正、負極性

重(zhong)復頻(pin)率：1KHz

頻率(lv)變(bian)化：>±100Hz

尺(chi)寸：160×120×50mm

重量：0.5Kg

電(dian)池：6F22  9V

操作與(yu)作用：

首先打開WBJF-2020校(xiao)正(zheng)(zheng)脈沖發(fa)生器后(hou)蓋板，裝入電(dian)池，蓋好(hao)蓋板。將(jiang)輸出紅黑兩個(ge)端子(zi)(zi)接上(shang)導線(xian)，紅端子(zi)(zi)上(shang)的(de)導線(xian)盡量(liang)且(qie)靠近試品(pin)的(de)高壓(ya)端，黑端導線(xian)接試品(pin)和低壓(ya)端，將(jiang)校(xiao)正(zheng)(zheng)電(dian)量(liang)開(kai)關置(zhi)于合(he)適(shi)的(de)位置(zhi)，即(ji)可(ke)校(xiao)正(zheng)(zheng)，頻率可(ke)在1KHz附(fu)近調節(jie)，面板上(shang)電壓(ya)表指示(shi)機(ji)內(nei)電源(yuan)的情況，一般指示(shi)8V以(yi)上才能保證工(gong)作(zuo)，低于8V則需調換電池(chi)。

校(xiao)正后切記將校(xiao)正脈沖(chong)發生器取下(xia)！

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