**章(zhang) WBTCD-9308智能局(ju)部放電檢測(ce)儀局放理論概述

在開始我(wo)(wo)們(men)(men)的實驗以(yi)前，我(wo)(wo)們(men)(men)首先(xian)應該對局(ju)(ju)部(bu)放電有個初步的了(le)解，為什(shen)么(me)要(yao)測(ce)量(liang)局(ju)(ju)部(bu)放電？局(ju)(ju)部(bu)放電有什(shen)么(me)危害(hai)？怎(zen)樣準確測(ce)量(liang)局(ju)(ju)部(bu)放電？有了(le)上述(shu)理論基(ji)礎(chu)可以(yi)幫助我(wo)(wo)們(men)(men)理解測(ce)量(liang)過(guo)程中的正確操作。

一(yi)、局(ju)部(bu)放電的定(ding)義及(ji)產生原因

在(zai)電(dian)(dian)場作用下(xia)，絕緣(yuan)系統(tong)中只有(you)部(bu)(bu)分(fen)區(qu)域發(fa)生(sheng)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)，但尚未擊穿，（即在(zai)施加電(dian)(dian)壓的(de)(de)導(dao)(dao)體(ti)之(zhi)間沒有(you)擊穿）。這種現(xian)象稱(cheng)之(zhi)為(wei)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)。局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)可能(neng)發(fa)生(sheng)在(zai)導(dao)(dao)體(ti)邊上，也可能(neng)發(fa)生(sheng)在(zai)絕緣(yuan)體(ti)的(de)(de)表面上和內(nei)部(bu)(bu)，發(fa)生(sheng)在(zai)表面的(de)(de)稱(cheng)為(wei)表面局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)。發(fa)生(sheng)在(zai)內(nei)部(bu)(bu)的(de)(de)稱(cheng)為(wei)內(nei)部(bu)(bu)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)。而對于被氣(qi)體(ti)包圍的(de)(de)導(dao)(dao)體(ti)附近(jin)發(fa)生(sheng)的(de)(de)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)，稱(cheng)之(zhi)為(wei)電(dian)(dian)暈。由此 總結一下(xia)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)的(de)(de)定(ding)義，指部(bu)(bu)分(fen)的(de)(de)橋接導(dao)(dao)體(ti)間絕緣(yuan)的(de)(de)一種電(dian)(dian)氣(qi)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)，局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(dian)產生(sheng)原因主要有(you)以下(xia)幾種：

電場不均勻(yun)。

電介質不(bu)均勻。

制造(zao)過(guo)程的氣泡或雜質。*經(jing)常(chang)發生放電的原因是絕緣體(ti)內部或表面存在(zai)氣泡；其次(ci)是有些設(she)備的運行(xing)過(guo)程中會發生熱脹(zhang)冷縮,不同材料特別(bie)是導體與(yu)介(jie)(jie)質(zhi)的膨脹(zhang)系數不同，也會(hui)逐漸出現(xian)裂縫；再有一(yi)些是在運(yun)行過程中(zhong)有機高(gao)分子(zi)的老化，分解出各種揮發(fa)物，在高(gao)場強的作用下，電荷不斷地由導體進入(ru)介(jie)(jie)質(zhi)中(zhong)， 在注入(ru)點上就會(hui)使介(jie)(jie)質(zhi)氣化。

二(er) 、WBTCD-9308智能局部放電檢測儀(yi)局(ju)部放(fang)電的模擬電路及(ji)放(fang)電過程(cheng)簡(jian)介

介質內部含有氣泡，在交流(liu)電壓下產生的內部放(fang)電特性可由(you)圖1—1的模擬電路(a b c等(deng)值電路)予以表示；其中Cc是模擬介質中(zhong)產生放電間隙(如氣泡)的電容；Cb代(dai)表(biao)與Cc串聯部(bu)分介質的合成電(dian)容；Ca表示其余部分介(jie)質的電容(rong)。

I——介質有缺陷(氣泡)的部份(虛線表示)

II——介質(zhi)無缺陷部(bu)份(fen)

圖1—1  表示具有內部放電的模擬電路(lu)

圖1—1中以并聯有(you)—對火(huo)花(hua)間隙的電容Cc來模擬產生局部(bu)(bu)放電的(de)內部(bu)(bu)氣泡。圖1—2表示了在交流電壓下局(ju)部放電的發生過程。

U(t)一一外施交流電壓

Uc(t)一(yi)一(yi)氣泡(pao)不擊穿時在(zai)氣泡(pao)上(shang)的電(dian)壓

Uc’(t)一一有局部(bu)放電(dian)時(shi)氣泡上的(de)實際電(dian)壓(ya)

Vc一一氣泡的擊穿電壓(ya)

Y r一一氣泡的殘余電壓   

Us—局部放電起始電壓(ya)(瞬時值)

Ur一一與氣(qi)泡(pao)殘余(yu)電壓v r對應(ying)的外(wai)施電壓

Ir一一氣泡中(zhong)的放電電流

電極(ji)間總電容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電(dian)極間施加(jia)交流(liu)電(dian)壓(ya) u(t)時，氣泡電容Cc上對應的電壓為Uc(t)。如圖2—1所(suo)示，此時的Uc(t)所代(dai)表(biao)的是氣(qi)泡(pao)理想狀態下的電(dian)壓(ya)（既氣(qi)泡(pao)不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施電壓(ya)U(t)上升時，氣泡上電(dian)壓(ya)Uc(t)也上升，當U(t)上升到Us時，氣泡上電壓(ya)Uc達到氣泡擊穿電壓,氣(qi)(qi)泡擊穿，產生大量的(de)(de)(de)正、負離(li)子(zi)，在電(dian)場作用(yong)下各自(zi)遷(qian)移到氣(qi)(qi)泡上下壁，形(xing)成空間電(dian)菏(he)，建立反(fan)電(dian)場，削弱了氣(qi)(qi)泡內的(de)(de)(de)總電(dian)場強度，使(shi)放電(dian)熄滅，氣(qi)(qi)泡又恢復絕緣性能。這樣的(de)(de)(de)一(yi)次放電(dian)持續時間是極短暫的(de)(de)(de)，對一(yi)般的(de)(de)(de)空氣(qi)(qi)氣(qi)(qi)泡來說，大約(yue)只有幾個(ge)毫微(wei)秒(10的負8次方到10的(de)負(fu)9次方秒)。所以(yi)電壓Uc(t)幾乎瞬(shun)間地從Vc降到Vr，Vr是殘余電壓(ya)；而氣泡上電壓(ya)Uc‘(t)將隨U(t)的增大而(er)繼續由Vr升高到Vc時(shi)，氣泡再—次擊(ji)穿，發生又—次(ci)局部放電(dian)，但此時相(xiang)應的(de)外施電(dian)壓比Us小，為(wei)(Us-Ur)，這是因為氣泡(pao)上(shang)有殘余電壓Vr的(de)內電場作用的(de)結(jie)果。Vr是與氣(qi)泡殘(can)余電壓(ya)Yr相應的外施(shi)電壓，如此(ci)反(fan)復上述過程，即外施(shi)電壓每(mei)增(zeng)加(Us-Ur)，就產生一次局部放(fang)電．直(zhi)到前—次(ci)放電熄滅后，Uc’(t)上(shang)升到峰(feng)值時共增量不足以達Vc(相當于外(wai)施電壓的增量Δ比(Us-Ur)小)為止(zhi)。

此(ci)后，隨著外施電壓U(t)經過峰值Um后減小，外施電壓(ya)在氣(qi)泡(pao)中建(jian)立(li)反方向(xiang)電場，由于氣(qi)泡(pao)中殘存的(de)內電場電壓(ya)方向(xiang)與外電場方向(xiang)相反，故外施電壓(ya)須經(Us+Ur))的電(dian)(dian)壓變化，才能使氣(qi)泡上的電(dian)(dian)壓達到(dao)擊(ji)穿電(dian)(dian)壓Vc，(假定正、負方向擊(ji)穿電壓Vc相(xiang)等)，產生一次局部放電(dian)。放電(dian)很(hen)快熄(xi)滅，氣泡中電(dian)壓瞬時降到殘余電(dian)壓Vr(也假(jia)定正、負方向相同)。外施電壓(ya)繼續下(xia)降，當再(zai)下(xia)降(Us-Ur)時，氣泡電(dian)壓就又達到Vc從而(er)又產(chan)生一次局(ju)部放電(dian)。如此重復上(shang)述過(guo)程，直到外施電(dian)壓升到反向蜂(feng)值一Um的增量Δ不足以達到(Us-Ur)為(wei)止。外施電壓經過一Um峰值后，氣泡(pao)上(shang)的外(wai)電場方向(xiang)又(you)變為(wei)正(zheng)方向(xiang)，與氣泡(pao)殘余電壓方向(xiang)相反，故外(wai)施電壓又(you)須上(shang)升(Us+Ur)產(chan)生第—次放電，熄滅后，每經過Us—Ur的電(dian)壓上升(sheng)就產生一次放電(dian)，重復前(qian)面(mian)所(suo)介紹的過程。如圖1—2所示。

由以上局(ju)(ju)部(bu)(bu)放電(dian)過程分析，同時根據局(ju)(ju)部(bu)(bu)放電(dian)的(de)特點(dian)（同種(zhong)試(shi)品，同樣的(de)環境下，電(dian)壓越高局(ju)(ju)部(bu)(bu)放電(dian)量越大(da)）可(ke)以知道：一般情況(kuang)下，同一試(shi)品在一、三象(xiang)限(xian)(xian)(xian)的(de)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放電(dian)量大(da)于(yu)二、四象(xiang)限(xian)(xian)(xian)的(de)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放電(dian)量。那是因為它們是電(dian)壓的(de)上升沿。（第三象(xiang)限(xian)(xian)(xian)是電(dian)壓負的(de)上升沿）。這就是我們測(ce)量中(zhong)為什么把(ba)時間窗(chuang)刻意擺在一、三象(xiang)限(xian)(xian)(xian)的(de)原因。

三(san)、WBTCD-9308智能局部放電檢測儀局部(bu)放(fang)電的測量原理(li)：

四、WBTCD-9308智能(neng)局部放電檢(jian)測(ce)儀局部放電(dian)的表征參數

局部放電(dian)是比較(jiao)復(fu)雜(za)(za)的(de)物理現象，必須(xu)通過多種表(biao)征參數(shu)才(cai)能**的(de)描(miao)繪其狀態(tai)，同時(shi)局部放電(dian)對絕緣破壞的(de)機理也(ye)是很(hen)復(fu)雜(za)(za)的(de)，也(ye)需要通過不(bu)同的(de)參數(shu)來(lai)評定它對絕緣的(de)損害(hai)，目前我們(men)只關心兩個基(ji)本(ben)參數(shu)。

視(shi)在放電電荷——在絕緣體中發生局部放電時(shi)，絕緣體上施(shi)加電壓的兩端出現的脈動電荷稱之為視(shi)在放電電荷，單位用皮庫（pc）表示，通常以穩(wen)定出現(xian)的*大(da)視在放(fang)電電荷作為該試品的放(fang)電量。

放(fang)電重復率(lv)——在測量(liang)時間內每(mei)秒中出(chu)現(xian)的(de)放電(dian)次數的(de)平均(jun)值稱為(wei)放電(dian)重復率，單位為(wei)次/秒，放電重復率越高，對(dui)絕緣的(de)損害越大。

**章  局放測試的試驗(yan)系統接線。

在(zai)了解了局部(bu)(bu)放電的(de)基本理論(lun)之后(hou)(hou)(hou)，在(zai)本章我(wo)們的(de)重點轉(zhuan)向實(shi)際(ji)操作(zuo)，我(wo)們先介(jie)紹局部(bu)(bu)放電測試(shi)中常用(yong)的(de)三種(zhong)接(jie)法，隨后(hou)(hou)(hou)我(wo)們再(zai)介(jie)紹整(zheng)個系(xi)統(tong)的(de)接(jie)線電路，*后(hou)(hou)(hou)我(wo)們再(zai)分別介(jie)紹幾種(zhong)典型的(de)試(shi)品的(de)試(shi)驗(yan)線路。

一(yi)、局(ju)放電測試電路的(de)三種基本接法(fa)及(ji)優缺點。

（1）   標準(zhun)試驗(yan)電路，又稱(cheng)并聯法。適合(he)于必須接地(di)的試品。其缺點是高壓引線對地雜(za)散電容并(bing)聯在 CX上，會降低測試靈敏度(du)。

（2）接法的串聯法，其要求試品低壓端對(dui)地浮(fu)置。其(qi)優點是變壓(ya)器入口電容、高壓(ya)線(xian)對地雜散電容與(yu)耦(ou)合電容CK并(bing)聯，有利于提高試(shi)驗靈敏度。缺點是試(shi)樣損壞(huai)時會損壞(huai)輸入單元。

（3）平衡法(fa)(fa)試驗電(dian)路(lu)：要求兩個(ge)試品相接近，至少電(dian)容量為同一數量級其優(you)點是外干擾強烈的(de)情況下，可(ke)取(qu)得較好抑(yi)制干擾的(de)效果，并可(ke)消除(chu)變壓(ya)器雜散電(dian)容的(de)影(ying)響，而且可(ke)做大電(dian)容試驗。缺(que)點是須要兩個(ge)相似的(de)試品，且當產生放電(dian)時(shi)，需設(she)法(fa)(fa)判別(bie)是哪(na)個(ge)試品放電(dian)。

值得提(ti)出的(de)是(shi)：由于現場(chang)(chang)試驗(yan)條件的(de)限制（找到兩(liang)個相似的(de)試品(pin)且要保證一個試品(pin)無放(fang)電不(bu)太容易），所以在現場(chang)(chang)平衡法比較(jiao)難實現，另外(wai)，由于采用串(chuan)聯法(fa)時(shi)，如果(guo)試品擊穿(chuan)，將會對設(she)備造成比較大的損害，所以出于對設(she)備保(bao)護的想法(fa)，在現場試驗時(shi)一(yi)般采用并聯法(fa)。

二、WBTCD-9308智能局部放電(dian)檢測(ce)儀采用并聯(lian)法的整個系統的接線原理(li)圖。

該(gai)系統采(cai)用脈沖電流(liu)法(fa)檢測高壓(ya)試(shi)品(pin)的(de)局(ju)(ju)部放(fang)(fang)(fang)電量(liang)，由控(kong)制(zhi)臺控(kong)制(zhi)調壓(ya)器(qi)和(he)變壓(ya)器(qi)在(zai)試(shi)品(pin)的(de)高壓(ya)端(duan)產(chan)生測試(shi)局(ju)(ju)放(fang)(fang)(fang)所需的(de)預加電壓(ya)和(he)測試(shi)電壓(ya)，通過無局(ju)(ju)放(fang)(fang)(fang)藕(ou)合電容(rong)器(qi)和(he)檢測阻(zu)抗將局(ju)(ju)部放(fang)(fang)(fang)電信號取出(chu)并送至局(ju)(ju)部放(fang)(fang)(fang)電檢測儀顯示并判(pan)斷和(he)測量(liang)。系統中的(de)高壓(ya)電阻(zu)為了防(fang)止在(zai)測試(shi)過程中試(shi)品(pin)擊穿而損壞其(qi)他設備，兩個(ge)電源(yuan)濾波器(qi)是將電源(yuan)的(de)干(gan)擾和(he)整個(ge)測試(shi)系統分(fen)開，降(jiang)低整個(ge)測試(shi)系統的(de)背景(jing)干(gan)擾。

根據上述原理圖(tu)可以(yi)看出，局部放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)的(de)靈敏度(du)和準(zhun)確度(du)和整(zheng)個系統密切(qie)相關，要想順利和準(zhun)確的(de)進行局部放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)，就必須(xu)將整(zheng)個系統考濾周到，包括系統的(de)參數(shu)選取(qu)和連接方(fang)式(shi)。另外(wai)，在現(xian)場試(shi)驗(yan)時，由于是驗(yan)證性試(shi)驗(yan)，高壓限流電(dian)阻可以(yi)省掉(diao)。

三、幾種典型試品(pin)的接線原理圖。

（1）電流(liu)互感器的局放測試接線原理(li)圖

（2）電(dian)壓互感器的(de)局放測試接(jie)線原理圖

A．工(gong)頻加壓方式接線原理圖

為了(le)防止電(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感器(qi)(qi)在工頻電(dian)壓(ya)(ya)下產生大的(de)勵磁(ci)電(dian)流(liu)而損壞，高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感器(qi)(qi)一般采取自激勵的(de)加壓(ya)(ya)方式。在電(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感器(qi)(qi)的(de)低壓(ya)(ya)側(ce)加一倍(bei)頻電(dian)源，在電(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感器(qi)(qi)的(de)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)端感應出(chu)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)來進(jin)行(xing)局部放電(dian)實驗。這就是通常所說的(de)三倍(bei)頻實驗。其接線原(yuan)理圖如(ru)下：

(3)高壓(ya)電容器.絕緣子的局(ju)放(fang)測試(shi)接線原理圖

(4) 發電機的(de)局(ju)放測試(shi)接(jie)線原理圖

（5）變壓器的局部放(fang)電測試接線原(yuan)理圖

我(wo)(wo)們僅僅是(shi)在原(yuan)理性(xing)的(de)總結了幾種典型試(shi)品(pin)的(de)接線原(yuan)理圖，至于各種試(shi)品(pin)的(de)加壓(ya)方(fang)式和(he)加壓(ya)值(zhi)的(de)多少，我(wo)(wo)們在做試(shi)驗的(de)時侯要嚴格遵守每種試(shi)品(pin)的(de)出廠(chang)檢驗標準或交接檢驗標準。

第(di)三章  概述

WBTCD-9308智(zhi)能(neng)局(ju)部放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)儀(yi)是我(wo)公(gong)司*新推向市場的新一代數(shu)字(zi)智(zhi)能(neng)儀(yi)器，該儀(yi)器在(zai)原有(you)(you)產品WBJF-2010、JF-2020局(ju)放(fang)儀(yi)的基礎上采(cai)用(yong)嵌入式ARM系統作為(wei)中央(yang)處理單元，控(kong)制12位(wei)分辨率的高速模數(shu)轉換芯片進(jin)行(xing)數(shu)據采(cai)集，將采(cai)集到的數(shu)據存放(fang)在(zai)雙端口(kou)RAM中。實(shi)現從模擬到數(shu)字(zi)的跨越。使用(yong)26萬色高分辨率TFT-LCD數(shu)字(zi)液晶顯示模組(zu)實(shi)時顯示放(fang)電(dian)脈沖波形，配(pei)備(bei)VGA接口(kou)，可(ke)外接顯示器。與傳(chuan)統的模擬式示波管顯示局(ju)部放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)儀(yi)相比有(you)(you)以下(xia)特點：

1.彩色(se)顯示器，雙色(se)顯示波形，更清晰直觀；

2.可鎖(suo)定波形(xing)(xing)，更方便(bian)仔細查(cha)看放(fang)電(dian)波形(xing)(xing)細節；

3.自動(dong)測量并顯示試驗電(dian)源時(shi)基頻率，無需(xu)手動(dong)切換(huan)；

4.配(pei)備VGA接(jie)口，可(ke)外接(jie)大尺寸(cun)顯(xian)示器；

5.與示波(bo)管相比壽命更長。

6.具(ju)有波形鎖定、打(da)印試驗報告功能

本儀(yi)器檢測靈敏度高，試樣電容(rong)覆(fu)蓋范圍大，適用試品范圍廣，輸入單元（檢測阻抗）配備齊全，頻帶組合多（九種）。儀(yi)器經適當定(ding)標后(hou)能直(zhi)讀放電脈沖的放電量(liang)。

本儀(yi)器(qi)是(shi)電力部門、制(zhi)造廠家(jia)和(he)科研(yan)單位(wei)等(deng)廣泛使用(yong)的局部放電測試儀(yi)器(qi)。

第四(si)章  主要技(ji)術指標：

1．可測(ce)試品的電容范(fan)圍： 6PF—250uF。

2．檢(jian)測靈敏度（見(jian)表一）：

表一

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器增益調(diao)節：

粗調六(liu)檔，檔間(jian)增益20±1dB；細調范圍≥20dB。每檔之(zhi)間(jian)數(shu)據(ju)為(wei)10倍關系：如第三檔檢測數(shu)據(ju)為(wei)98，則**檔顯(xian)示數(shu)據(ju)為(wei)9.8，如在第三檔檢測數(shu)據(ju)超過120，則應調至(zhi)**檔來檢測數(shu)據(ju)，所得數(shu)據(ju)應乘以10才為(wei)實際測量值。

5、時間窗：

（1）窗(chuang)寬：可調范圍15°-175°；

（2）窗位(wei)置：每一窗可旋轉0°- 180°；

（3）兩個時(shi)(shi)間窗可(ke)分別開(kai)或同時(shi)(shi)開(kai)。

6、放電(dian)量表：

0-100誤差<±3％（以滿(man)度計）。

7、橢(tuo)圓時基：

（1）頻(pin)率：50HZ、或外部(bu)電源同步(bu)（任意(yi)頻(pin)率）

（2）橢圓(yuan)旋轉：以30°為(wei)一檔，可作360°旋轉。

（3）顯示方式(shi)：橢(tuo)圓(yuan)—直線。

8、試驗電壓表：

精度：優于±3％（以滿度計）。

9、體(ti)積： 320×480×190（寬×深×高）mm³。

10、重量：約15Kg。

三、系統工作原理：

本機的局部放電(dian)測(ce)試(shi)原理是(shi)高頻脈沖電(dian)流(liu)測(ce)量法（ERA法）。

試(shi)品Ca在(zai)試(shi)驗電(dian)(dian)壓下產生(sheng)局部放(fang)電(dian)(dian)時(shi)(shi)，放(fang)電(dian)(dian)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)信號經(jing)藕(ou)合(he)電(dian)(dian)容Ca送入輸入單元，由輸入單元拾(shi)取到脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)信號，經(jing)低噪聲前置放(fang)大(da)(da)器放(fang)大(da)(da)，濾波放(fang)大(da)(da)器選(xuan)擇所需(xu)頻帶及主(zhu)放(fang)大(da)(da)器放(fang)大(da)(da)（達到所需(xu)幅值與產生(sheng)零標志(zhi)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)）后，在(zai)示波屏的(de)橢(tuo)圓掃描基線上產生(sheng)可見的(de)放(fang)電(dian)(dian)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)，同(tong)時(shi)(shi)也送至(zhi)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)峰值表顯示其峰值。

時(shi)(shi)間(jian)窗(chuang)單元控制試驗電壓每一(yi)周(zhou)期內脈沖峰值(zhi)的(de)工作時(shi)(shi)間(jian)，并在這段(duan)時(shi)(shi)間(jian)內將示(shi)波(bo)屏的(de)相(xiang)應顯示(shi)區加亮，用它可以(yi)排除固定(ding)相(xiang)位(wei)的(de)干擾。

試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)(ya)表經電(dian)容(rong)分壓(ya)(ya)器產生試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)(ya)過(guo)零標志訊號，在示(shi)波屏(ping)上顯示(shi)零標脈沖，橢圓時(shi)基(ji)上兩個零標脈沖，通(tong)過(guo)時(shi)間(jian)窗(chuang)的(de)寬窄調節(jie)可(ke)確定試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)(ya)的(de)相位，試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)(ya)大小由(you)數字電(dian)壓(ya)(ya)表指示(shi)。

整(zheng)個系統的工作原理可(ke)參看(kan)方框圖（圖一）。

四、結構(gou)說明

本儀(yi)器為標準機箱(xiang)結(jie)構(gou)，儀(yi)器分(fen)前(qian)面(mian)板及后面(mian)板兩部(bu)分(fen)，各調節元件的位置及位置和功能見下圖說(shuo)明。

1、4：長按改變門窗的位置

2、3：長按改(gai)變門(men)窗的寬(kuan)度

5：時鐘設置按鈕(niu)

6：按9號鍵鎖(suo)定后再按此鍵，即可打印試驗(yan)報告(gao)

7：分壓比設置按鈕

8：門開(kai)關，重復(fu)按(an)可選(xuan)擇左右門

9：波形(xing)鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯(xian)示方式(shi)按鈕

12：取消按鈕

A、B、C通(tong)道選擇旋鈕與后面板(ban)A、B、C測量(liang)通(tong)道相對應

備注： 如需數據導出(chu)，步驟如下：

（1）在電腦(nao)上安裝(zhuang)好(hao)RS232通用串口(kou)線驅動(dong)(dong)。（驅動(dong)(dong)盤里有(you)安裝(zhuang)介紹）及局放試驗報(bao)告編輯器軟件。

（2）將(jiang)串口線(xian)和局放儀后面(mian)的數據接口連接好。   

（3）將需要保(bao)存的波形鎖定然后點擊 局放試驗報告(gao)編輯(ji)器

（4）點(dian)擊Start鍵生成鎖定后的數據，然后點(dian)擊測(ce)試報告如下圖所示(shi)：

（5）點擊(ji)測試報告(gao)后則會出(chu)現局放(fang)試驗報告(gao)編輯器可以根據(ju)需要(yao)填寫上面的內(nei)容。

（6）填寫好表格后點(dian)擊生成報告數(shu)(shu)據會(hui)以Word文(wen)檔的形式出現，再(zai)將數(shu)(shu)據保存至電(dian)腦，如下(xia)圖所示：

第五(wu)章  操作說明

1、試(shi)驗準(zhun)備：將機器后面板的(de)三個開關(guan)都置于“關(guan)”的(de)狀(zhuang)態

（1）檢(jian)查試(shi)驗場(chang)(chang)地(di)的(de)接(jie)地(di)情況(kuang)，將本儀器后(hou)部的(de)接(jie)地(di)螺栓用粗銅線（*好(hao)用編制銅帶）與試(shi)驗場(chang)(chang)地(di)的(de)接(jie)地(di)妥善相接(jie)，輸入(ru)單元的(de)接(jie)地(di)短路片也要妥善接(jie)地(di)。

（2）根椐試品電容Ca，藕合(he)電容Ck的(de)大小，選取合(he)適(shi)序(xu)號(hao)的(de)輸入單(dan)(dan)元（表一(yi)），表一(yi)中調諧電容量(liang)是指從輸入單(dan)(dan)元初級(ji)繞組(zu)兩端看到的(de)電容（按(an)Cx和(he)Ck的(de)串聯值粗(cu)略估(gu)算）。

輸入單元應盡量靠近被(bei)測試品，輸入單元插座(zuo)經8米長電纜與(yu)后面板(ban)上輸入插座(zuo)相接(jie)。

（3）試品接入輸入單元的方法主要有以下幾種：

圖中(zhong)：Ca——試品    Ck——藕(ou)合電容(rong)    Z——阻塞阻抗  R3、C3、R4、C4——橋式(shi)接(jie)法中(zhong)平(ping)衡調節阻抗。

（4）在高壓端(duan)接(jie)(jie)上電壓表電阻或電容分(fen)壓器，其輸出經測量電纜接(jie)(jie)到(dao)后面板試驗電壓輸入(ru)插座30。

（5）在未加試(shi)驗電壓(ya)的(de)(de)情況下，將JF-2006校正脈沖(chong)發生(sheng)器的(de)(de)輸出接試(shi)品兩端。

2、使(shi)用步驟

（1）開(kai)機準備：將時基顯(xian)示方式置于“橢(tuo)圓”。

（2）放(fang)電量的校(xiao)正(zheng)：按圖(tu)接好線后(hou)，在未加試驗電壓之前用LJF-2006校(xiao)正(zheng)脈沖發生器(qi)予(yu)以校(xiao)正(zheng)。

注意(yi)：方波(bo)測量(liang)盒應盡量(liang)靠近試品的(de)高壓(ya)端。紅端子(zi)引線接高壓(ya)端。

然后調節(jie)放大(da)器增益調節(jie)，使(shi)該(gai)注入(ru)脈沖高(gao)度(du)適當(dang)（示波(bo)屏(ping)上高(gao)度(du)2cm以下），使(shi)數字表(biao)讀數值與(yu)注入(ru)的已知電量相符。調定后放大(da)器細調旋鈕的位置不(bu)能再改變，需(xu)保持(chi)與(yu)校(xiao)正時相同(tong)。

校正完(wan)成后必須去掉校正方(fang)波發生器與試驗回路的連接。

（3）測試操作：

第六章  抗干擾措(cuo)施和局部放電圖譜簡介

對于局部放電實驗(yan)我們*怕的就是干擾，下(xia)面簡單介紹一下(xia)實驗(yan)中可能遇到的干擾以(yi)及(ji)抗干擾的方法：

測(ce)量的干擾分類

干(gan)擾有(you)來自電網的(de)(de)和來自空(kong)間的(de)(de)。按表現形式分(fen)又分(fen)為固(gu)定的(de)(de)和移動的(de)(de)。主(zhu)要(yao)的(de)(de)干(gan)擾源(yuan)有(you)以下一(yi)些：

①懸浮電位物體放(fang)電，通過(guo)對地(di)雜散電容耦合(he)

②外部**電暈

③可控硅元件在(zai)鄰(lin)近運行

④繼(ji)電器，接(jie)觸(chu)器，輝(hui)光管等物品

⑤接觸**

⑥無線(xian)電干擾

⑦熒光燈干擾

⑧電(dian)動機干擾

⑨中高頻(pin)工業(ye)設備

（二）抗干擾方(fang)法

采用帶(dai)調壓器(qi)，隔離變壓器(qi)和濾波器(qi)的控(kong)制電源

設置屏蔽室，可只(zhi)屏蔽試(shi)驗回路部分

可靠的單點接地，將試驗(yan)回(hui)路系統設計成單點接地結(jie)構，接地電(dian)阻要小，接地點要與一般試驗(yan)室的地網及電(dian)力網中(zhong)線(xian)分(fen)開。

采用高壓濾波器

用平(ping)衡法或橋式試驗電路

利用時間窗，使固定相位干擾處于亮窗之外

采用(yong)(yong)較窄(zhai)頻(pin)帶(dai)，或用(yong)(yong)頻(pin)帶(dai)躲(duo)開干(gan)擾大的(de)頻(pin)率范(fan)圍

在高壓(ya)端加裝高壓(ya)屏蔽罩或半(ban)導體橡(xiang)膠帽以防(fang)電暈干(gan)擾

試驗電路遠離周圍物體(ti)，尤(you)其是懸浮的金屬固體(ti)！

（三）初做實(shi)驗(yan)者(zhe)對波形辨認還是有一定困難的，下(xia)面就簡單介紹一     放電(dian)類型(xing)和(he)干擾的初步辯認：

1． 典型的(de)(de)內部氣(qi)泡放(fang)電的(de)(de)波形特點：(圖 5—01)

A．放電主要顯示在試驗(yan)電壓由零升到峰值的兩個橢(tuo)圓象(xiang)限內。

B．在起始(shi)電壓Ui時，放電(dian)通常發生(sheng)在(zai)峰值附近，試驗電(dian)壓(ya)超過(guo)Ui時，放電(dian)向零相位延(yan)伸。

C．兩個相反半(ban)周上放(fang)電次(ci)數和幅(fu)值大致(zhi)相同（*大相差至(zhi)3：1）。

D．放電波形可(ke)辯。

E．q與試驗電壓關系(xi)不大，但放電重復(fu)率(lv)n隨(sui)試(shi)驗電(dian)壓上升而(er)加大(da)。

F．局部(bu)放(fang)電起始電壓Ui和熄滅電壓Ue基本(ben)相等。

G．放電量q與時(shi)間(jian)關系不大。

H．如(ru)果(guo)放(fang)電(dian)量隨試(shi)驗電(dian)壓(ya)上升而(er)增大(da)，并且放(fang)電(dian)波形變得模糊(hu)不可分辨，則往(wang)往(wang)是(shi)介質內含有(you)多種(zhong)大(da)小氣泡，或是(shi)介質表面(mian)放(fang)電(dian)。如(ru)果(guo)除了上述情況(kuang)，而(er)且放(fang)電(dian)幅(fu)值隨加壓(ya)時間而(er)迅速增長（可達100倍或更多(duo)），則往(wang)往(wang)是絕(jue)緣液體中的氣(qi)泡放(fang)電(dian)，典型例(li)子是油浸(jin)紙電(dian)容器的放(fang)電(dian)。

2． 金屬(shu)與介質間氣泡(pao)的放電波(bo)形(xing)特點(dian)：&nbsp;              

正半(ban)周有許多(duo)幅值小(xiao)的(de)放(fang)電(dian)，負(fu)半(ban)周有很少幅值大的(de)放(fang)電(dian)。幅值相差可達10﹕1，其他同(tong)上(shang)。

典型例子：絕緣與(yu)導體粘附**的(de)聚(ju)乙(yi)烯電(dian)纜的(de)放電(dian)。q與(yu)試驗電(dian)壓(ya)關系不大。（圖 5—02）

如果隨(sui)試驗(yan)電(dian)壓升(sheng)高，放電(dian)幅值(zhi)也(ye)增大，而且放電(dian)波(bo)形變得模糊(hu)，則往往是(shi)含有(you)不同大小多個(ge)氣泡，或是(shi)外露(lu)的金(jin)屬與(yu)介質表面(mian)(mian)之間出現的表面(mian)(mian)放電(dian)。（圖 5—03）

（四(si)）下面介(jie)紹一些(xie)主要視為干(gan)擾或非正(zheng)常放(fang)電的(de)情況：

（1）懸(xuan)浮電(dian)位物體放電(dian)波形特(te)點：

在(zai)電(dian)壓(ya)峰值(zhi)前(qian)的正負半周(zhou)兩個象限里出現幅值(zhi)。脈沖數和位置均相(xiang)同，成對出現。放(fang)電(dian)可移動，但它(ta)們間(jian)的相(xiang)互間(jian)隔不變，電(dian)壓(ya)升高時，根數增(zeng)加，間(jian)隔縮小，但幅值(zhi)不變。有時電(dian)壓(ya)升到一定值(zhi)時會(hui)消失，但降至此(ci)值(zhi)又重新出現。

原因(yin)：金(jin)屬間的(de)間隙產(chan)生的(de)放電，間隙可能(neng)是地面上兩個獨(du)立的(de)金(jin)屬體間（通過(guo)雜散電容耦(ou)合）也可能(neng)在樣品內，例如屏蔽(bi)松(song)散。

（2）外部**電暈(yun)放電波(bo)形特點：

起始放電(dian)(dian)僅(jin)出現在試(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓的一個半周上，并對(dui)稱地分布(bu)在峰值兩側。試(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓升高時，放電(dian)(dian)脈沖數(shu)急劇增加，但幅(fu)值不(bu)變，并向兩側伸展。

原因(yin)：空氣中高壓**或邊緣放(fang)電(dian)(dian)。如果放(fang)電(dian)(dian)出現(xian)在(zai)負(fu)半(ban)周，表示(shi)**處于高壓，如果放(fang)電(dian)(dian)出現(xian)在(zai)正半(ban)周則**處于地電(dian)(dian)位。

（3）液體介(jie)質中的(de)**電(dian)暈(yun)放電(dian)波形(xing)特(te)點：

放(fang)電出現(xian)在兩個半周上，對稱地分布(bu)在峰值(zhi)兩側。每一組(zu)放(fang)電均為(wei)等(deng)間隔(ge)，但一組(zu)幅(fu)值(zhi)較大(da)的放(fang)電先出現(xian)，隨試驗電壓升高(gao)而(er)幅(fu)值(zhi)增大(da)，不一定等(deng)幅(fu)值(zhi)；一組(zu)幅(fu)值(zhi)小(xiao)的放(fang)電幅(fu)值(zhi)相等(deng)，并且不隨電壓變(bian)化(hua)。

原因：絕緣(yuan)液體中**或邊(bian)緣(yuan)放電(dian)。如一組大的(de)放電(dian)出(chu)現(xian)在正(zheng)半周(zhou)，則(ze)**處于高壓；如出(chu)現(xian)在負半周(zhou)，則(ze)**地(di)電(dian)位。

（4）接觸**的干擾圖(tu)形。

波形特(te)點(dian)：對稱地分布在實(shi)驗電(dian)壓(ya)零點(dian)兩側，幅值(zhi)大致不(bu)變(bian)，但在實(shi)驗電(dian)壓(ya)峰值(zhi)附近下降為零。波形粗糙不(bu)清晰，低(di)電(dian)壓(ya)下即(ji)出(chu)現。電(dian)壓(ya)升(sheng)高時，幅值(zhi)緩慢增加，有(you)時在電(dian)壓(ya)達到一定值(zhi)后會完全消失。

原因：實驗(yan)回路中金(jin)(jin)屬與(yu)金(jin)(jin)屬**接(jie)觸(chu)的連接(jie)點(dian)；塑料電纜屏蔽層半導體粒子的**接(jie)觸(chu)；電容器鋁箔的插接(jie)片等（可(ke)將電(dian)容器充(chong)電(dian)然后短路來消(xiao)除）。      &nbsp;        

（5）可控硅元件(jian)的干擾圖形(xing)。

波形特(te)點：位置固定，每只元件產(chan)生一個獨立(li)訊號(hao)。電路(lu)接(jie)通，電磁耦(ou)合效應(ying)增(zeng)強時(shi)(shi)訊號(hao)幅(fu)值(zhi)增(zeng)加，試驗調壓時(shi)(shi)，該脈(mo)沖訊號(hao)會發(fa)生高頻波形展寬，從而占(zhan)位增(zeng)加。

原因：鄰近有可控硅(gui)元件在運行。

（6）繼電器、接(jie)觸器、輝光管等動作的干擾。

波形特點(dian)：分布不規則或間斷(duan)出現(xian)，同試驗電壓無關(guan)。

原因(yin)：熱繼(ji)電器(qi)(qi)、接觸器(qi)(qi)和各(ge)種火花試驗器(qi)(qi)及(ji)有(you)火花放電的(de)記錄器(qi)(qi)動(dong)作時產生。

（7）熒光燈的干(gan)擾圖形(xing)。

波形特點：欄柵狀，幅值大(da)致相(xiang)同的脈(mo)沖，伴有正負(fu)半波對稱(cheng)出現的兩簇脈(mo)沖組。

原因：熒(ying)光燈(deng)照(zhao)明                                                                                     

（8）無線電干擾的干擾圖形。

波(bo)形特點：幅值有調制的(de)高頻(pin)正弦波(bo)，同試驗電壓無關。

原(yuan)因：無線電話、廣(guang)播話筒(tong)、載(zai)波通訊(xun)等。

（9）電動機干擾的干擾圖(tu)形（圖(tu)5—12）

波(bo)形特(te)點：放電波(bo)形沿橢圓基線均勻分布，每個單個訊號呈(cheng)“山(shan)”字形。

原因：帶換向器(qi)的(de)電(dian)動機(ji)，如(ru)電(dian)扇、電(dian)吹風(feng)運轉(zhuan)時的(de)干擾。

（10）中高頻工業設備的干擾(rao)圖形。

波形(xing)特(te)點(dian)：連續發生(sheng)，僅出現在電(dian)源波形(xing)的半周內(nei)。

原因：感應加(jia)熱(re)裝置和頻率接近檢測(ce)頻率的超聲波發生器(qi)等。

（11）鐵(tie)芯磁飽(bao)和諧(xie)波的干擾圖(tu)形（圖(tu)5—14）

波(bo)(bo)形特點：較低頻率的諧波(bo)(bo)振(zhen)蕩(dang)，出現(xian)在兩個(ge)半(ban)周上，幅值隨試驗電壓升高而增(zeng)大，不加電壓時消(xiao)失，有重(zhong)現(xian)性(xing)。

原因：試驗系統各種鐵芯(xin)設備（試驗變壓器(qi)、濾波電抗器(qi)、隔離(li)變壓器(qi)等）磁飽和(he)產(chan)生的諧振。                                &nbsp;

（12）電(dian)極在(zai)電(dian)場(chang)方向(xiang)機(ji)械移動的(de)干擾圖形。

波形特點(dian)：僅(jin)在試(shi)驗(yan)電壓(ya)的半周（正或(huo)負）上出現的與峰值(zhi)對(dui)稱的兩(liang)個放電響應，幅值(zhi)相等，而脈沖(chong)方向相反，起(qi)始電壓(ya)時兩(liang)個脈沖(chong)在峰值(zhi)處靠得很近，電壓(ya)升高時逐漸分(fen)開，并可能產生新的脈沖(chong)訊號對(dui)。

原因：電極(ji)的部(bu)分（尤其是金屬箔電極(ji)）在電場(chang)作用下運動。 ;   &nbsp;                     

（14）漏電痕跡和樹枝放電

波(bo)(bo)形特點：放電訊(xun)號(hao)波(bo)(bo)形與一般(ban)典型圖象均(jun)不(bu)符合，波(bo)(bo)形不(bu)規則不(bu)確(que)定。

原(yuan)因：玷污了的絕緣(yuan)上漏電(dian)或絕緣(yuan)局部過熱而致的碳(tan)化痕跡或樹(shu)枝通道。

在放電(dian)(dian)測(ce)試(shi)(shi)(shi)中(zhong)(zhong)必須保證測(ce)試(shi)(shi)(shi)回路中(zhong)(zhong)其它元件（試(shi)(shi)(shi)驗變壓器、阻塞線圈、耦合電(dian)(dian)容(rong)器、電(dian)(dian)壓表(biao)電(dian)(dian)阻等）均不(bu)放電(dian)(dian)，常(chang)用的(de)辦法是用與試(shi)(shi)(shi)品電(dian)(dian)容(rong)數(shu)量級相同的(de)無放電(dian)(dian)電(dian)(dian)容(rong)或絕緣結構取代試(shi)(shi)(shi)品試(shi)(shi)(shi)驗，看(kan)(kan)看(kan)(kan)有無放電(dian)(dian)。

了解了各種放電類型的(de)波形特征，來源(yuan)以及識別干(gan)擾(rao)后就可按具(ju)體情況采取措(cuo)施(shi)排除干(gan)擾(rao)和正確地(di)進行放電測量了。

第七章     局部放電(dian)測(ce)試(shi)當(dang)中(zhong)應該注意的問題

實(shi)驗前，試品(pin)的絕緣表面（尤其(qi)是高(gao)壓端）應(ying)作清潔化處理(li)

2、   各連接(jie)點(dian)應(ying)接(jie)觸(chu)良好，尤其是高壓(ya)(ya)端不要留下尖銳的(de)接(jie)點(dian)，高壓(ya)(ya)導(dao)線應(ying)盡可能粗以防電暈(yun)，可用(yong)蛇皮管(guan)。

輸入單元要盡量靠(kao)近試品，而且接地要可靠(kao)，接地線*好用

編織銅帶。主機也須接地(di)，以保證**。

試(shi)驗(yan)回(hui)路盡可能(neng)緊湊。即高(gao)壓連線盡可能(neng)短，試(shi)驗(yan)回(hui)路所圍面 

積盡可能小。

在進行110KV及(ji)以上等級的局放試驗時，試品周圍的懸浮(fu)金屬(shu)

物體(ti)應妥善接(jie)地。

考慮到油浸式試品局部放(fang)電存在滯后效應，因此在局放(fang)試驗前

幾(ji)小時，不要(yao)對(dui)試(shi)品施加超過局部放電試(shi)驗電壓的高電壓。

第八(ba)章  附件

1、專用測量電纜線6米&nbsp;        2根

2、電源線     &nbsp;               1根

3、1.0A保(bao)險絲(si)             &nbsp;   4根

4、使用(yong)說(shuo)明(ming)書            &nbsp;    1份

- WBJF-2020校正脈沖發生器使用說明(ming)

用(yong)途與適用(yong)范圍：

WBJF-2020校正脈沖發生(sheng)器是一個小型的(de)廉(lian)價的(de)電池供電的(de)局(ju)部(bu)放電校正器，它適用于需要(yao)攜帶和使用靈活的(de)場(chang)合。

主要規(gui)格及技術參數(shu)：

輸(shu)出(chu)電荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升(sheng)時間：<100ns

衰減時間：>100us

極性：正、負(fu)極性

重復頻(pin)率：1KHz

頻率(lv)變化：>±100Hz

尺(chi)寸：160×120×50mm

重量：0.5Kg

電池：6F22  9V

操作與作用：

首(shou)先打開WBJF-2020校正脈(mo)沖發生器后蓋(gai)板，裝入電池，蓋(gai)好蓋(gai)板。將輸出紅黑(hei)兩個端(duan)子接上(shang)導(dao)線，紅端(duan)子上(shang)的導(dao)線盡量且靠近(jin)試品(pin)的高(gao)壓端(duan)，黑(hei)端(duan)導(dao)線接試品(pin)和低(di)壓端(duan)，將校正電量開(kai)關置于合適的位置，即可校正，頻率(lv)可在1KHz附近調節(jie)，面板上(shang)電壓表(biao)指(zhi)示機內電源的(de)情況，一般(ban)指(zhi)示8V以上才能保證(zheng)工作，低于(yu)8V則需調換電池。

校正后切(qie)記將校正脈沖發生(sheng)器取(qu)下！

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