**章(zhang) WBTCD-9308智能局(ju)放(fang)檢定裝置(zhi)局(ju)放理論概(gai)述

在開始我們的實(shi)驗(yan)以(yi)前，我們首先應該對局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)電有個初步(bu)的了(le)解，為什么要(yao)測量(liang)局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)電？局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)電有什么危害？怎樣準確(que)(que)測量(liang)局(ju)(ju)(ju)部(bu)放(fang)電？有了(le)上述理論基(ji)礎可以(yi)幫(bang)助我們理解測量(liang)過(guo)程中的正確(que)(que)操(cao)作。

一、局部(bu)放電的定義及產生原(yuan)因

在(zai)(zai)(zai)電(dian)場(chang)作用下，絕緣(yuan)(yuan)系統中只有部(bu)分區(qu)域發(fa)生(sheng)(sheng)放(fang)(fang)電(dian)，但尚未擊穿，（即(ji)在(zai)(zai)(zai)施(shi)加電(dian)壓(ya)的(de)導體之(zhi)間沒有擊穿）。這種(zhong)現象(xiang)稱之(zhi)為局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)。局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)可(ke)能(neng)發(fa)生(sheng)(sheng)在(zai)(zai)(zai)導體邊上，也可(ke)能(neng)發(fa)生(sheng)(sheng)在(zai)(zai)(zai)絕緣(yuan)(yuan)體的(de)表面上和內(nei)部(bu)，發(fa)生(sheng)(sheng)在(zai)(zai)(zai)表面的(de)稱為表面局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)。發(fa)生(sheng)(sheng)在(zai)(zai)(zai)內(nei)部(bu)的(de)稱為內(nei)部(bu)局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)。而對于被氣體包圍的(de)導體附近(jin)發(fa)生(sheng)(sheng)的(de)局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)，稱之(zhi)為電(dian)暈。由此(ci) 總結一(yi)下局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)的(de)定義，指部(bu)分的(de)橋接導體間絕緣(yuan)(yuan)的(de)一(yi)種(zhong)電(dian)氣放(fang)(fang)電(dian)，局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)產(chan)生(sheng)(sheng)原因主要(yao)有以下幾種(zhong)：

電場不(bu)均勻。

電(dian)介質不均勻。

制造過(guo)程的(de)氣泡或雜質。*經常發(fa)生放電的(de)原(yuan)因(yin)是(shi)絕緣體(ti)內部或表面存在氣泡；其次是(shi)有些設備的(de)運行(xing)過(guo)程中會(hui)發(fa)生熱脹(zhang)冷縮,不同材料特別是(shi)導(dao)(dao)體(ti)(ti)與介(jie)質的膨脹(zhang)系數不同，也會逐漸出現裂縫；再(zai)有一些是(shi)在運行過程中(zhong)有機(ji)高分(fen)子的老(lao)化(hua)，分(fen)解出各種揮發物，在高場強(qiang)的作(zuo)用(yong)下(xia)，電荷不斷地由導(dao)(dao)體(ti)(ti)進入介(jie)質中(zhong)， 在注入點上就會使介(jie)質氣(qi)化(hua)。

二 、WBTCD-9308智能局(ju)放檢(jian)定裝置(zhi)局部放電的模擬電路及放電過程簡介

介(jie)質內部含有氣泡(pao)，在交(jiao)流(liu)電(dian)壓下產生的內部放電(dian)特性(xing)可由圖1—1的模擬電路(lu)(a b c等值電路)予以表示；其中Cc是模擬介質(zhi)中產生放電間隙(如氣泡)的電容；Cb代表與Cc串聯部分(fen)介質的合成電容；Ca表示其余部(bu)分介質的(de)電(dian)容(rong)。

I——介(jie)質有(you)缺陷(氣泡)的部份(fen)(虛(xu)線表示)

II——介質無缺(que)陷部份

圖(tu)1—1  表示具有內(nei)部放電的模擬電路(lu)

圖1—1中以(yi)并聯有—對(dui)火花(hua)間隙的電容Cc來模擬產生局部(bu)放電的內部(bu)氣(qi)泡。圖(tu)1—2表示了在交流電(dian)壓下局部放電(dian)的發生過程(cheng)。

U(t)一(yi)一(yi)外施交流電壓

Uc(t)一(yi)一(yi)氣泡(pao)不(bu)擊穿時在氣泡(pao)上的電壓

Uc’(t)一(yi)一(yi)有局部放(fang)電時氣泡(pao)上(shang)的實際電壓

Vc一一氣(qi)泡的擊穿電壓(ya)

Y r一一氣泡的殘余電(dian)壓   

Us—局部放電(dian)起始電(dian)壓(瞬時值)

Ur一一與(yu)氣泡(pao)殘余電壓v r對應的(de)外施電壓

Ir一一氣(qi)泡中的放電電流

電(dian)極(ji)間總電(dian)容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電(dian)極間(jian)施加交流電(dian)壓 u(t)時，氣泡電容(rong)Cc上對(dui)應的電壓為Uc(t)。如圖2—1所示，此時的Uc(t)所代表的(de)是氣(qi)泡理想狀態(tai)下的(de)電壓（既氣(qi)泡不(bu)發生擊(ji)穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外(wai)施(shi)電壓U(t)上升(sheng)時(shi)，氣(qi)泡上電壓Uc(t)也上升，當U(t)上升(sheng)到Us時，氣泡上電壓Uc達(da)到(dao)氣(qi)泡擊穿電(dian)壓,氣(qi)(qi)泡擊穿(chuan)，產生大量(liang)的(de)正、負(fu)離子，在電(dian)(dian)場作用下各自遷移到氣(qi)(qi)泡上(shang)下壁，形(xing)成空間電(dian)(dian)菏，建立反電(dian)(dian)場，削弱了(le)氣(qi)(qi)泡內的(de)總電(dian)(dian)場強度，使放電(dian)(dian)熄滅，氣(qi)(qi)泡又恢復(fu)絕緣性能。這樣的(de)一(yi)次(ci)放電(dian)(dian)持(chi)續(xu)時(shi)間是(shi)極短暫的(de)，對(dui)一(yi)般的(de)空氣(qi)(qi)氣(qi)(qi)泡來說，大約只有(you)幾個毫微秒(10的(de)負(fu)8次方到10的負9次方(fang)秒)。所(suo)以電壓Uc(t)幾乎瞬間地從Vc降到Vr，Vr是殘(can)余電壓；而氣泡上電壓Uc‘(t)將(jiang)隨U(t)的(de)增大而繼(ji)續由(you)Vr升高到Vc時，氣泡再—次擊穿(chuan)，發生又(you)—次(ci)局部放電，但(dan)此時相應的(de)外施電壓比Us小，為(Us-Ur)，這是因為氣泡上有殘余電壓(ya)Vr的(de)內電(dian)場(chang)作用的(de)結果。Vr是與(yu)氣泡(pao)殘余電壓Yr相(xiang)應(ying)的外(wai)施電壓(ya)，如此反復上述過(guo)程(cheng)，即外(wai)施電壓(ya)每增(zeng)加(Us-Ur)，就產生一次(ci)局部放電．直到前—次放電熄滅后，Uc’(t)上升到(dao)峰值時共增(zeng)量不(bu)足以達(da)Vc(相當于外施電(dian)壓的增量Δ比(Us-Ur)小)為止。

此(ci)后(hou)，隨著外施電(dian)壓U(t)經過峰值Um后(hou)減小(xiao)，外施電(dian)(dian)壓在(zai)氣泡(pao)中建立(li)反(fan)方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)場(chang)，由(you)于氣泡(pao)中殘存的(de)內電(dian)(dian)場(chang)電(dian)(dian)壓方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)與(yu)外電(dian)(dian)場(chang)方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)相反(fan)，故外施電(dian)(dian)壓須經(Us+Ur))的電壓變化，才能使氣泡上(shang)的電壓達到擊穿電壓Vc，(假(jia)定正(zheng)、負方(fang)向擊穿(chuan)電壓Vc相等)，產(chan)生一次局(ju)部(bu)放(fang)電。放(fang)電很快熄滅，氣泡中(zhong)電壓瞬時降(jiang)到殘(can)余電壓Vr(也(ye)假定正、負方向相同)。外(wai)施(shi)電壓繼續下降，當再下降(Us-Ur)時，氣泡電壓就又達到Vc從而又產生一(yi)次(ci)局部(bu)放電。如此重復上述過程(cheng)，直到外施電壓(ya)升到反(fan)向蜂(feng)值一(yi)Um的(de)增(zeng)量(liang)Δ不足以達到(Us-Ur)為止。外施電壓(ya)經過一Um峰(feng)值后，氣泡上(shang)的外電(dian)場方向又變為(wei)正(zheng)方向，與氣泡殘(can)余電(dian)壓方向相反，故外施電(dian)壓又須上(shang)升(Us+Ur)產生第—次放(fang)電(dian)，熄(xi)滅后，每經過Us—Ur的電(dian)壓上(shang)升(sheng)就產(chan)生一次放電(dian)，重復前面所介(jie)紹的過(guo)程。如圖1—2所示。

由以上(shang)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)過程分析，同(tong)時根據局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)的(de)(de)(de)特點（同(tong)種試品，同(tong)樣的(de)(de)(de)環境下(xia)，電(dian)(dian)(dian)壓(ya)越高局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)量(liang)越大(da)）可以知道：一般情況下(xia)，同(tong)一試品在(zai)一、三象(xiang)限(xian)(xian)的(de)(de)(de)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)量(liang)大(da)于二、四象(xiang)限(xian)(xian)的(de)(de)(de)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)量(liang)。那是(shi)(shi)因為它們是(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)上(shang)升沿(yan)。（第三象(xiang)限(xian)(xian)是(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)負的(de)(de)(de)上(shang)升沿(yan)）。這就是(shi)(shi)我們測量(liang)中為什么把(ba)時間窗刻意擺在(zai)一、三象(xiang)限(xian)(xian)的(de)(de)(de)原因。

三、WBTCD-9308智能局放(fang)檢定裝置(zhi)局部放電的(de)測量原理：

四、WBTCD-9308智能(neng)局放(fang)檢定(ding)裝置局(ju)部(bu)放電的(de)表征參數

局(ju)部(bu)放電(dian)是(shi)比(bi)較復雜(za)的(de)物理(li)現(xian)象，必須通過(guo)多種表征參數(shu)才(cai)能**的(de)描繪其狀(zhuang)態，同(tong)時局(ju)部(bu)放電(dian)對絕(jue)緣(yuan)破(po)壞的(de)機理(li)也是(shi)很復雜(za)的(de)，也需要通過(guo)不同(tong)的(de)參數(shu)來評定它對絕(jue)緣(yuan)的(de)損害，目前我們只關心兩個(ge)基本參數(shu)。

視在放電電荷——在絕緣(yuan)體(ti)中發生局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)時(shi)，絕緣(yuan)體(ti)上施加電(dian)(dian)壓(ya)的(de)兩端出現的(de)脈動電(dian)(dian)荷(he)稱之為視在放(fang)(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)荷(he)，單位用皮庫（pc）表示，通常(chang)以穩定出現的(de)*大(da)視在放電(dian)(dian)電(dian)(dian)荷作為該試品的(de)放電(dian)(dian)量。

放電(dian)重復(fu)率——在測(ce)量(liang)時間內每秒中出(chu)現(xian)的放(fang)電(dian)(dian)次數的平均值稱為(wei)放(fang)電(dian)(dian)重復率，單位(wei)為(wei)次/秒，放電重復(fu)率越高(gao)，對絕緣的損害越大(da)。

**章  局放(fang)測試的試驗系(xi)統(tong)接(jie)線。

在了解了局(ju)部(bu)放電的(de)(de)基(ji)本理論之后，在本章我(wo)們的(de)(de)重點轉向實際(ji)操作(zuo)，我(wo)們先介紹局(ju)部(bu)放電測試中常用的(de)(de)三種接法，隨后我(wo)們再介紹整個系統(tong)的(de)(de)接線電路，*后我(wo)們再分(fen)別介紹幾種典型(xing)的(de)(de)試品的(de)(de)試驗(yan)線路。

一、局放(fang)電測試電路的三種(zhong)基本接法及優缺(que)點。

（1）   標準試驗電(dian)路，又稱并(bing)聯法。適(shi)合(he)于必須接(jie)地的(de)試品。其缺(que)點是高壓引線對地雜散電容并聯在 CX上，會降(jiang)低測試靈敏度。

（2）接法的串(chuan)聯法，其要求試品低壓端對地浮置(zhi)。其優點是(shi)變壓器入(ru)口電(dian)容(rong)、高壓線對地(di)雜(za)散電(dian)容(rong)與耦合(he)電(dian)容(rong)CK并聯(lian)，有(you)利(li)于提高試驗靈(ling)敏(min)度。缺點是(shi)試樣損壞時會損壞輸入(ru)單元。

（3）平衡法(fa)試(shi)(shi)驗(yan)電路：要(yao)求(qiu)兩(liang)個試(shi)(shi)品(pin)相接近(jin)，至少電容(rong)量為同一數(shu)量級其優點是(shi)外(wai)干擾強烈的情況下，可取得較好抑制干擾的效果，并可消除變壓(ya)器(qi)雜(za)散電容(rong)的影響(xiang)，而(er)且可做大電容(rong)試(shi)(shi)驗(yan)。缺點是(shi)須要(yao)兩(liang)個相似(si)的試(shi)(shi)品(pin)，且當(dang)產生放(fang)電時，需設法(fa)判(pan)別是(shi)哪個試(shi)(shi)品(pin)放(fang)電。

值得提(ti)出的(de)是：由于(yu)現(xian)場試驗條件的(de)限(xian)制（找(zhao)到(dao)兩個相似的(de)試品(pin)且要保(bao)證一個試品(pin)無放電(dian)不太容(rong)易），所(suo)以在現(xian)場平衡法比較(jiao)難實現(xian)，另外，由(you)于(yu)(yu)采(cai)用(yong)串聯法時，如(ru)果試(shi)品擊(ji)穿，將會對(dui)設備造成(cheng)比較大(da)的損害(hai)，所以出于(yu)(yu)對(dui)設備保護的想法，在現場試(shi)驗時一般采(cai)用(yong)并聯法。

二(er)、WBTCD-9308智能(neng)局放檢(jian)定裝置采(cai)用(yong)并(bing)聯法的整(zheng)個系統的接線原(yuan)理圖。

該系(xi)(xi)統采用脈(mo)沖(chong)電(dian)流法檢(jian)測(ce)(ce)高壓(ya)(ya)(ya)試品(pin)的(de)局(ju)(ju)部放(fang)電(dian)量，由(you)控(kong)(kong)制臺控(kong)(kong)制調壓(ya)(ya)(ya)器和變壓(ya)(ya)(ya)器在試品(pin)的(de)高壓(ya)(ya)(ya)端產生測(ce)(ce)試局(ju)(ju)放(fang)所需(xu)的(de)預(yu)加電(dian)壓(ya)(ya)(ya)和測(ce)(ce)試電(dian)壓(ya)(ya)(ya)，通過(guo)無局(ju)(ju)放(fang)藕合電(dian)容器和檢(jian)測(ce)(ce)阻(zu)抗將局(ju)(ju)部放(fang)電(dian)信號取(qu)出并送至局(ju)(ju)部放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)(ce)儀顯示并判斷和測(ce)(ce)量。系(xi)(xi)統中的(de)高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)阻(zu)為(wei)了防止(zhi)在測(ce)(ce)試過(guo)程中試品(pin)擊穿而(er)損壞其他設備，兩個電(dian)源濾波(bo)器是將電(dian)源的(de)干擾和整(zheng)個測(ce)(ce)試系(xi)(xi)統分開，降低(di)整(zheng)個測(ce)(ce)試系(xi)(xi)統的(de)背(bei)景干擾。

根(gen)據(ju)上述原理圖可(ke)以看出，局(ju)部(bu)放電(dian)測試的(de)(de)靈(ling)敏度(du)和(he)(he)(he)準確度(du)和(he)(he)(he)整個系(xi)統密切相關(guan)，要想順利和(he)(he)(he)準確的(de)(de)進(jin)行局(ju)部(bu)放電(dian)測試，就必須將(jiang)整個系(xi)統考濾周到，包括系(xi)統的(de)(de)參數選(xuan)取和(he)(he)(he)連(lian)接方式。另外，在現場(chang)試驗(yan)時，由于是驗(yan)證(zheng)性試驗(yan)，高壓限流電(dian)阻可(ke)以省(sheng)掉。

三、幾種典型試品的(de)接線原理圖。

（1）電流互(hu)感器的局放測試接線原(yuan)理(li)圖

（2）電(dian)壓互感(gan)器的(de)局放測(ce)試接線(xian)原理圖

A．工頻加壓方式(shi)接線原理圖

為了(le)防止(zhi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)在工頻(pin)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)下(xia)產生大的(de)勵(li)磁電(dian)(dian)(dian)流而損壞，高(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)一般采(cai)取(qu)自激勵(li)的(de)加(jia)壓(ya)(ya)(ya)(ya)方(fang)式(shi)。在電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)的(de)低壓(ya)(ya)(ya)(ya)側加(jia)一倍(bei)頻(pin)電(dian)(dian)(dian)源，在電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)互感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)端感(gan)(gan)(gan)應出(chu)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)來進(jin)行局部放電(dian)(dian)(dian)實(shi)驗(yan)。這就是通常(chang)所(suo)說的(de)三倍(bei)頻(pin)實(shi)驗(yan)。其接線原理圖(tu)如下(xia)：

(3)高壓電(dian)容器.絕緣子的(de)局放測(ce)試接線原理圖(tu)

(4) 發電機的局放測試接(jie)線原理圖

（5）變壓器的(de)局部放電測試接線原理圖

我(wo)們(men)僅僅是(shi)在原理性的(de)總結了幾種(zhong)典型試品的(de)接線原理圖，至于各種(zhong)試品的(de)加(jia)壓方式(shi)和加(jia)壓值的(de)多少，我(wo)們(men)在做試驗(yan)的(de)時侯要嚴格遵守每(mei)種(zhong)試品的(de)出(chu)廠(chang)檢驗(yan)標準(zhun)或(huo)交接檢驗(yan)標準(zhun)。

第三(san)章  概述

WBTCD-9308智能(neng)局(ju)部放電(dian)檢測儀(yi)是我公司*新推(tui)向市場的(de)新一代數(shu)字智能(neng)儀(yi)器，該儀(yi)器在(zai)原(yuan)有產品WBJF-2010、JF-2020局(ju)放儀(yi)的(de)基礎上采(cai)用嵌入式ARM系統作為中(zhong)央(yang)處理單元(yuan)，控制12位分(fen)辨(bian)率的(de)高(gao)速模數(shu)轉換芯片進行數(shu)據采(cai)集(ji)，將采(cai)集(ji)到的(de)數(shu)據存放在(zai)雙端口(kou)RAM中(zhong)。實(shi)現(xian)從模擬到數(shu)字的(de)跨越。使(shi)用26萬(wan)色(se)高(gao)分(fen)辨(bian)率TFT-LCD數(shu)字液晶顯(xian)示(shi)(shi)模組實(shi)時顯(xian)示(shi)(shi)放電(dian)脈沖波形，配備(bei)VGA接口(kou)，可外(wai)接顯(xian)示(shi)(shi)器。與傳統的(de)模擬式示(shi)(shi)波管顯(xian)示(shi)(shi)局(ju)部放電(dian)檢測儀(yi)相比有以(yi)下特(te)點：

1.彩色(se)顯示器，雙色(se)顯示波形，更(geng)清(qing)晰(xi)直觀；

2.可鎖定(ding)波形，更方便(bian)仔細查看(kan)放電波形細節；

3.自(zi)動(dong)測(ce)量并顯示試驗電源時基(ji)頻率，無需手動(dong)切換；

4.配備VGA接口(kou)，可外(wai)接大(da)尺寸顯示器；

5.與示(shi)波管相比壽命更長。

6.具有波形(xing)鎖定、打印試驗報告功能

本儀器檢(jian)測靈敏度高，試(shi)樣電容覆(fu)蓋范(fan)圍大，適(shi)用試(shi)品范(fan)圍廣(guang)，輸入(ru)單元（檢(jian)測阻抗）配(pei)備齊全，頻帶(dai)組合(he)多(duo)（九種(zhong)）。儀器經適(shi)當定標后能直讀放電脈(mo)沖的放電量。

本儀器是電力部門(men)、制造(zao)廠家和科研單位等廣(guang)泛使用的局部放電測試(shi)儀器。

第四(si)章  主要技術指(zhi)標：

1．可測試品的電容范圍： 6PF—250uF。

2．檢測靈敏(min)度（見表(biao)一(yi)）：

表一

（1）低(di)端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器(qi)增益(yi)調節(jie)：

粗(cu)調六檔(dang)(dang)，檔(dang)(dang)間增(zeng)益20±1dB；細調范(fan)圍≥20dB。每(mei)檔(dang)(dang)之間數(shu)據為(wei)10倍關(guan)系：如(ru)第三(san)檔(dang)(dang)檢(jian)測(ce)數(shu)據為(wei)98，則**檔(dang)(dang)顯示(shi)數(shu)據為(wei)9.8，如(ru)在(zai)第三(san)檔(dang)(dang)檢(jian)測(ce)數(shu)據超過120，則應調至**檔(dang)(dang)來檢(jian)測(ce)數(shu)據，所得數(shu)據應乘以10才為(wei)實際測(ce)量值。

5、時間(jian)窗：

（1）窗寬：可調范圍15°-175°；

（2）窗位置：每一窗可旋(xuan)轉0°- 180°；

（3）兩個時間窗可(ke)分別開或同時開。

6、放電量表：

0-100誤差<±3％（以滿度計(ji)）。

7、橢圓(yuan)時基：

（1）頻率(lv)：50HZ、或外部電源同(tong)步（任意頻率(lv)）

（2）橢(tuo)圓旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)：以30°為一檔，可作360°旋(xuan)轉(zhuan)(zhuan)。

（3）顯示方式：橢(tuo)圓(yuan)—直線。

8、試驗電壓表(biao)：

精(jing)度：優于±3％（以滿度計）。

9、體(ti)積： 320×480×190（寬×深×高）mm³。

10、重(zhong)量：約15Kg。

三(san)、系統工作原(yuan)理(li)：

本機(ji)的局部放電測試原理是高頻(pin)脈沖電流測量法(fa)（ERA法(fa)）。

試品Ca在試驗(yan)電(dian)壓(ya)下產(chan)(chan)生局部放(fang)(fang)電(dian)時，放(fang)(fang)電(dian)脈(mo)(mo)沖(chong)信號經藕合(he)電(dian)容Ca送(song)入輸入單元(yuan)，由輸入單元(yuan)拾取(qu)到脈(mo)(mo)沖(chong)信號，經低噪聲前置放(fang)(fang)大器(qi)放(fang)(fang)大，濾波放(fang)(fang)大器(qi)選擇所需(xu)頻帶及主放(fang)(fang)大器(qi)放(fang)(fang)大（達到所需(xu)幅(fu)值與產(chan)(chan)生零(ling)標志脈(mo)(mo)沖(chong)）后(hou)，在示波屏的(de)橢圓掃描基(ji)線上產(chan)(chan)生可見的(de)放(fang)(fang)電(dian)脈(mo)(mo)沖(chong)，同時也送(song)至脈(mo)(mo)沖(chong)峰值表顯示其峰值。

時間窗單元(yuan)控制試驗電(dian)壓每一周(zhou)期(qi)內脈沖(chong)峰(feng)值的工作時間，并(bing)在這(zhe)段時間內將示波屏的相(xiang)應顯示區加亮，用(yong)它可(ke)以排(pai)除固定相(xiang)位的干擾。

試(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)表經電(dian)容(rong)分壓(ya)器產生試(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)過零標志訊號，在(zai)示波(bo)屏上(shang)顯示零標脈沖，橢圓時基上(shang)兩個零標脈沖，通過時間窗的(de)(de)寬窄調節可確定(ding)試(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)的(de)(de)相位(wei)，試(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)大小由數字電(dian)壓(ya)表指示。

整(zheng)個系統的(de)工作原理可(ke)參(can)看方框圖（圖一）。

四、結(jie)構說明

本(ben)儀(yi)器為標準(zhun)機箱結構(gou)，儀(yi)器分前面板(ban)及(ji)后面板(ban)兩部分，各調節元(yuan)件的(de)位置及(ji)位置和功能見下圖說明。

1、4：長按改變門窗的位置

2、3：長按改(gai)變門窗的寬(kuan)度

5：時(shi)鐘設置按鈕

6：按9號(hao)鍵鎖定(ding)后再按此鍵，即可(ke)打印(yin)試驗報告

7：分壓比設置按鈕

8：門開(kai)關(guan)，重復按(an)可選擇左右(you)門

9：波形鎖定按鍵

10：橢圓(yuan)旋(xuan)轉(zhuan)按鈕

11：顯示方式(shi)按鈕

12：取消(xiao)按(an)鈕

A、B、C通道選擇旋鈕(niu)與后(hou)面板(ban)A、B、C測量(liang)通道相對應

備注： 如需數據導(dao)出，步驟如下：

（1）在電腦上安裝好RS232通用串口線(xian)驅動。（驅動盤里(li)有安裝介紹）及(ji)局放(fang)試驗報告編輯器軟件。

（2）將串(chuan)口線和局放儀后面的數據接口連接好(hao)。   

（3）將需(xu)要保存的波形(xing)鎖定然后點(dian)擊 局放試驗報告編輯器

（4）點擊Start鍵生(sheng)成鎖定后(hou)的數(shu)據，然后(hou)點擊測試(shi)報告如下(xia)圖所(suo)示：

（5）點擊(ji)測試報告(gao)后則會出現局放試驗(yan)報告(gao)編輯器可以(yi)根(gen)據需要(yao)填寫(xie)上面的內容。

（6）填寫好表格(ge)后點擊生成報告數據會(hui)以(yi)Word文檔的(de)形式出現，再將(jiang)數據保(bao)存至(zhi)電腦，如下圖(tu)所(suo)示(shi)：

第五章  操作說明

1、試驗(yan)準備：將機器后面(mian)板的(de)三個(ge)開關都置于“關”的(de)狀態

（1）檢查(cha)試驗場地(di)(di)的(de)接(jie)地(di)(di)情況，將(jiang)本儀(yi)器(qi)后(hou)部的(de)接(jie)地(di)(di)螺栓用粗銅線（*好用編制銅帶）與(yu)試驗場地(di)(di)的(de)接(jie)地(di)(di)妥(tuo)善相(xiang)接(jie)，輸入(ru)單元的(de)接(jie)地(di)(di)短路片也要妥(tuo)善接(jie)地(di)(di)。

（2）根椐試品電(dian)容Ca，藕(ou)合(he)電(dian)容Ck的(de)(de)大小，選取合(he)適序號的(de)(de)輸入單(dan)元（表一(yi)），表一(yi)中調諧電(dian)容量是(shi)指從輸入單(dan)元初級(ji)繞組兩端看到的(de)(de)電(dian)容（按(an)Cx和Ck的(de)(de)串(chuan)聯值粗略估(gu)算）。

輸(shu)入單(dan)元(yuan)應盡(jin)量靠近(jin)被測試(shi)品，輸(shu)入單(dan)元(yuan)插座經8米長電纜與(yu)后面板(ban)上輸(shu)入插座相接。

（3）試品接入輸入單元的方法(fa)主要有(you)以下幾(ji)種：

圖中(zhong)：Ca——試品   ; Ck——藕(ou)合電(dian)容    Z——阻(zu)(zu)塞(sai)阻(zu)(zu)抗(kang)  R3、C3、R4、C4——橋式接法中(zhong)平衡調節阻(zu)(zu)抗(kang)。

（4）在高壓端接上電(dian)壓表電(dian)阻(zu)或電(dian)容分壓器，其輸出(chu)經測量電(dian)纜接到后面板試驗電(dian)壓輸入插座30。

（5）在未加(jia)試(shi)驗電壓的情況下，將JF-2006校正脈沖發生器(qi)的輸(shu)出接(jie)試(shi)品(pin)兩端。

2、使用(yong)步驟

（1）開機準備：將時基顯(xian)示方式置(zhi)于“橢圓”。

（2）放電量的校正(zheng)：按圖接(jie)好線(xian)后，在未(wei)加試驗電壓之前用(yong)LJF-2006校正(zheng)脈沖發生(sheng)器予(yu)以校正(zheng)。

注意：方波測量盒應盡(jin)量靠近試品的高(gao)壓端(duan)(duan)。紅端(duan)(duan)子引線接高(gao)壓端(duan)(duan)。

然(ran)后(hou)調節放大器增益調節，使該(gai)注入脈沖(chong)高(gao)度適當（示波屏上高(gao)度2cm以下），使數字表讀數值與注入的(de)已(yi)知電量相符。調定后(hou)放大器細調旋鈕(niu)的(de)位(wei)置(zhi)不能(neng)再(zai)改變，需(xu)保持(chi)與校正時相同。

校正完成(cheng)后必須去掉校正方波發生器與(yu)試驗回路的連(lian)接。

（3）測試操作：

第六章  抗干擾(rao)措施和局部放電圖譜簡介

對(dui)于局部(bu)放電實驗我(wo)們*怕的就是干擾(rao)，下(xia)面簡單介(jie)紹一下(xia)實驗中可能遇(yu)到的干擾(rao)以及抗干擾(rao)的方法：

測(ce)量的(de)干擾分類

干擾(rao)有來自電網的(de)和來自空間的(de)。按表現形式分又分為固定的(de)和移動的(de)。主要(yao)的(de)干擾(rao)源(yuan)有以下一些：

①懸浮電位物體放電，通過對地(di)雜散電容(rong)耦合

②外部(bu)**電(dian)暈(yun)

③可控硅元件在鄰近(jin)運行(xing)

④繼電器(qi)，接(jie)觸(chu)器(qi)，輝光管等物品(pin)

⑤接觸**

⑥無線電干擾

⑦熒光燈干擾

⑧電動機干擾

⑨中(zhong)高頻工業設(she)備

（二(er)）抗(kang)干擾方法(fa)

采用帶調(diao)壓器，隔離(li)變壓器和濾波(bo)器的控(kong)制(zhi)電(dian)源

設置屏蔽室，可只屏蔽試驗回(hui)路部分

可靠(kao)的單點(dian)接(jie)地，將試驗回路系統設計(ji)成單點(dian)接(jie)地結(jie)構(gou)，接(jie)地電阻要小(xiao)，接(jie)地點(dian)要與一般試驗室的地網及電力網中線分開。

采用(yong)高壓(ya)濾(lv)波器

用平衡法或橋式試驗電路

利用(yong)時間窗，使固(gu)定相位干擾處于亮窗之外(wai)

采用(yong)較窄(zhai)頻帶(dai)，或用(yong)頻帶(dai)躲開干擾大的頻率(lv)范(fan)圍

在(zai)高壓(ya)(ya)端加裝高壓(ya)(ya)屏蔽罩或半導體橡膠帽以防電暈(yun)干擾(rao)

試驗(yan)電路遠(yuan)離(li)周圍(wei)物體，尤其是懸浮(fu)的金屬(shu)固體！

（三）初做實(shi)驗(yan)者對(dui)波形辨認還是有一定困(kun)難的，下面(mian)就(jiu)簡單(dan)介紹一     放電類型(xing)和干(gan)擾(rao)的(de)初步辯認：

1． 典型(xing)的內部氣泡放(fang)電的波(bo)形特點：(圖 5—01)

A．放電(dian)主(zhu)要(yao)顯(xian)示在試驗電(dian)壓由零升(sheng)到(dao)峰值的兩個橢圓象限內。

B．在起始(shi)電壓Ui時(shi)，放(fang)電(dian)通(tong)常發生在峰值附近，試(shi)驗(yan)電(dian)壓超過Ui時，放電(dian)向零相位延(yan)伸。

C．兩個相(xiang)反半周上放電次數和幅值大致相(xiang)同(tong)（*大相(xiang)差至3：1）。

D．放電波形可辯。

E．q與(yu)試驗電壓關系不大(da)，但(dan)放電重(zhong)復率n隨試驗電壓(ya)上升而(er)加大。

F．局部(bu)放電(dian)起始電(dian)壓Ui和熄滅電壓Ue基本相等。

G．放電量q與時間關系不大。

H．如果放(fang)電(dian)(dian)量隨(sui)試驗電(dian)(dian)壓(ya)上升而增大，并且(qie)放(fang)電(dian)(dian)波(bo)形(xing)變得模糊(hu)不可分辨，則往往是介質(zhi)內含有多種大小氣泡，或是介質(zhi)表面放(fang)電(dian)(dian)。如果除了(le)上述情況，而且(qie)放(fang)電(dian)(dian)幅值隨(sui)加壓(ya)時間(jian)而迅速增長（可達100倍或更(geng)多(duo)），則往(wang)往(wang)是(shi)絕緣(yuan)液體中的氣(qi)泡(pao)放(fang)電(dian)，典型(xing)例(li)子(zi)是(shi)油浸紙(zhi)電(dian)容器(qi)的放(fang)電(dian)。

2． 金屬與介(jie)質(zhi)間氣泡的放(fang)電波形(xing)特點：               

正半周有許多幅值(zhi)(zhi)小(xiao)的放(fang)電(dian)，負半周有很(hen)少幅值(zhi)(zhi)大的放(fang)電(dian)。幅值(zhi)(zhi)相(xiang)差(cha)可達10﹕1，其(qi)他(ta)同上。

典型例(li)子：絕緣與導體粘附**的聚乙烯電纜(lan)的放電。q與試驗電壓關系(xi)不(bu)大。（圖 5—02）

如果隨(sui)試驗電壓升高，放(fang)電幅值也增大(da)，而且放(fang)電波形變得模糊，則往(wang)往(wang)是(shi)含(han)有不同大(da)小多個氣(qi)泡，或是(shi)外露的金屬與介質表面(mian)之間出(chu)現的表面(mian)放(fang)電。（圖 5—03）

（四）下面介紹一些主要視(shi)為干擾或非正常放電的情況：

（1）懸(xuan)浮(fu)電位物(wu)體(ti)放電波形特點：

在電壓(ya)峰值前的正(zheng)負(fu)半周兩個象限里出(chu)現(xian)幅(fu)值。脈沖數(shu)和(he)位置(zhi)均(jun)相同，成對(dui)出(chu)現(xian)。放(fang)電可移動，但它們間的相互間隔不(bu)變(bian)，電壓(ya)升高時，根數(shu)增加，間隔縮小，但幅(fu)值不(bu)變(bian)。有時電壓(ya)升到一(yi)定(ding)值時會消(xiao)失，但降至(zhi)此值又重(zhong)新出(chu)現(xian)。

原因：金屬間(jian)的(de)(de)(de)間(jian)隙產生的(de)(de)(de)放電(dian)，間(jian)隙可(ke)能是地面上(shang)兩個獨立的(de)(de)(de)金屬體間(jian)（通過雜散電(dian)容耦合）也可(ke)能在樣(yang)品內，例(li)如(ru)屏蔽松散。

（2）外部(bu)**電暈(yun)放(fang)電波形特點：

起始(shi)放電(dian)僅出(chu)現在(zai)試驗(yan)電(dian)壓的一個半周上，并對稱地分布在(zai)峰值兩側(ce)。試驗(yan)電(dian)壓升高(gao)時(shi)，放電(dian)脈沖數急劇增(zeng)加，但幅(fu)值不(bu)變，并向(xiang)兩側(ce)伸展。

原(yuan)因：空氣中高(gao)壓**或邊緣放電(dian)。如(ru)果(guo)(guo)放電(dian)出現(xian)在負半周，表示**處于(yu)高(gao)壓，如(ru)果(guo)(guo)放電(dian)出現(xian)在正半周則**處于(yu)地(di)電(dian)位。

（3）液體介(jie)質(zhi)中的**電暈放電波形特點：

放(fang)(fang)(fang)電(dian)出現(xian)在(zai)兩(liang)個半周(zhou)上，對稱地分布在(zai)峰(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)兩(liang)側。每一組(zu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)均為等(deng)間隔，但一組(zu)幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)較大(da)的(de)放(fang)(fang)(fang)電(dian)先出現(xian)，隨試驗電(dian)壓(ya)升高而幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)增大(da)，不一定等(deng)幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)；一組(zu)幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)小的(de)放(fang)(fang)(fang)電(dian)幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)相(xiang)等(deng)，并且不隨電(dian)壓(ya)變化。

原因：絕緣(yuan)液(ye)體(ti)中(zhong)**或邊(bian)緣(yuan)放(fang)電。如(ru)一組大(da)的放(fang)電出(chu)現(xian)在(zai)正半周，則(ze)**處于高壓；如(ru)出(chu)現(xian)在(zai)負半周，則(ze)**地電位(wei)。

（4）接觸**的干擾圖形(xing)。

波形特(te)點：對稱(cheng)地分布在(zai)實(shi)驗(yan)(yan)電壓(ya)零(ling)點兩側，幅值(zhi)(zhi)大致不變，但在(zai)實(shi)驗(yan)(yan)電壓(ya)峰值(zhi)(zhi)附近(jin)下(xia)降為(wei)零(ling)。波形粗糙(cao)不清(qing)晰(xi)，低電壓(ya)下(xia)即出現。電壓(ya)升高時，幅值(zhi)(zhi)緩慢增加，有時在(zai)電壓(ya)達到一定(ding)值(zhi)(zhi)后會完全消失。

原因：實驗(yan)回(hui)路中金(jin)屬與金(jin)屬**接觸的(de)連接點；塑料電(dian)纜屏(ping)蔽(bi)層半導(dao)體粒子(zi)的(de)**接觸；電(dian)容器鋁箔的(de)插接片等(deng)（可將電容器(qi)充(chong)電然后(hou)短路來消除）。               

（5）可(ke)控硅元件的干擾圖形。

波形(xing)特點：位置固定，每只元件產(chan)生一個(ge)獨立訊(xun)(xun)號。電路接通，電磁耦(ou)合效應增(zeng)強時(shi)訊(xun)(xun)號幅值增(zeng)加，試驗調壓時(shi)，該(gai)脈沖訊(xun)(xun)號會(hui)發生高頻(pin)波形(xing)展(zhan)寬，從而(er)占位增(zeng)加。

原因：鄰近有(you)可控(kong)硅(gui)元件在(zai)運行(xing)。

（6）繼(ji)電器(qi)、接觸器(qi)、輝光管等動作的(de)干擾。

波形特點：分(fen)布不規則或(huo)間斷出現，同試驗電壓無關。

原因：熱繼電(dian)器、接觸器和各種(zhong)火花試驗器及有火花放電(dian)的記(ji)錄器動(dong)作時(shi)產生。

（7）熒光燈的干擾圖形(xing)。

波形(xing)特點：欄(lan)柵狀，幅(fu)值大致相(xiang)同的(de)脈沖(chong)，伴有正負半波對稱出(chu)現(xian)的(de)兩簇脈沖(chong)組。

原因：熒光(guang)燈照明                                      &nbsp;                                 ;             

（8）無線電干(gan)擾的干(gan)擾圖形。

波形(xing)特點：幅值(zhi)有調(diao)制的高頻正弦波，同試(shi)驗電(dian)壓無關。

原因：無線(xian)電話、廣播話筒、載波(bo)通訊等。

（9）電動機(ji)干(gan)擾的(de)干(gan)擾圖形（圖5—12）

波形(xing)(xing)特(te)點：放電(dian)波形(xing)(xing)沿橢(tuo)圓基線均勻分布，每個單(dan)個訊(xun)號呈“山”字形(xing)(xing)。

原(yuan)因(yin)：帶換(huan)向器(qi)的電動機，如電扇(shan)、電吹風運轉時的干擾。

（10）中高頻(pin)工業設備的(de)干擾(rao)圖(tu)形。

波形(xing)特點：連續發(fa)生，僅出現(xian)在電源(yuan)波形(xing)的半周內(nei)。

原因：感應加熱裝置和頻率接(jie)近檢測頻率的超聲波發生器等。

（11）鐵芯磁飽和諧波(bo)的干擾圖形（圖5—14）

波形特(te)點：較低(di)頻率的諧波振蕩(dang)，出現在(zai)兩個半周(zhou)上(shang)，幅值隨(sui)試(shi)驗電壓升高而(er)增(zeng)大，不(bu)加電壓時消失，有重(zhong)現性。

原因：試驗系統各(ge)種鐵芯設備（試驗變壓器(qi)、濾波電抗(kang)器(qi)、隔離變壓器(qi)等(deng)）磁飽(bao)和產生的諧振。                         ;        

（12）電極在電場方向機械移動(dong)的干擾(rao)圖(tu)形(xing)。

波形特點：僅在試驗電(dian)壓的半(ban)周（正或負）上出現(xian)的與峰值對稱的兩(liang)個放電(dian)響應，幅值相等(deng)，而脈沖(chong)(chong)方向相反，起(qi)始電(dian)壓時兩(liang)個脈沖(chong)(chong)在峰值處(chu)靠得很近，電(dian)壓升高時逐漸分(fen)開(kai)，并可能產(chan)生新的脈沖(chong)(chong)訊(xun)號對。

原因：電(dian)極的(de)部(bu)分（尤其是金屬箔電(dian)極）在電(dian)場作用下運動。&nbsp;                         

（14）漏電(dian)痕(hen)跡和樹枝放電(dian)

波形特點：放電訊號波形與一般典型圖(tu)象(xiang)均不符合，波形不規則不確定。

原因：玷(dian)污了的(de)絕(jue)緣上漏電或絕(jue)緣局部過熱而(er)致的(de)碳化痕跡或樹枝通(tong)道。

在放電(dian)(dian)測試(shi)中(zhong)必(bi)須保(bao)證測試(shi)回路中(zhong)其它元件（試(shi)驗變壓器、阻塞線圈、耦合電(dian)(dian)容器、電(dian)(dian)壓表電(dian)(dian)阻等）均不放電(dian)(dian)，常用的(de)辦法是(shi)用與試(shi)品(pin)電(dian)(dian)容數量級相同的(de)無放電(dian)(dian)電(dian)(dian)容或絕緣結構取代(dai)試(shi)品(pin)試(shi)驗，看(kan)看(kan)有(you)無放電(dian)(dian)。

了解了各種放電(dian)(dian)類(lei)型(xing)的(de)波形特征，來源以及識別干(gan)擾后就(jiu)可按具體情況(kuang)采取措施排除干(gan)擾和正確地進行放電(dian)(dian)測量了。

第七章     局部放電測試當中應(ying)該注意的(de)問題

實驗前，試品(pin)的絕緣表(biao)面（尤其是高壓端）應作清潔化處理

2、   各連接點應(ying)(ying)接觸良好(hao)，尤(you)其是高(gao)(gao)壓端不要留下尖(jian)銳的接點，高(gao)(gao)壓導線應(ying)(ying)盡可(ke)能(neng)粗以防(fang)電暈，可(ke)用蛇皮管。

輸入單元要(yao)盡量靠近試品，而且接地(di)(di)要(yao)可靠，接地(di)(di)線*好用

編織(zhi)銅帶(dai)。主(zhu)機也須(xu)接地，以保(bao)證**。

試(shi)驗回(hui)路盡可(ke)能緊湊。即高壓連(lian)線盡可(ke)能短，試(shi)驗回(hui)路所圍面(mian) 

積盡可能小(xiao)。

在進行110KV及以上等級(ji)的(de)局放試驗時，試品周圍(wei)的(de)懸(xuan)浮金屬

物體應妥(tuo)善接(jie)地。

考(kao)慮到油浸式試品局(ju)部放(fang)電存在滯后效應(ying)，因此在局(ju)放(fang)試驗前

幾小時，不要(yao)對試品施加超過局部(bu)放電(dian)試驗電(dian)壓(ya)的高電(dian)壓(ya)。

第八章  附件(jian)

1、專用測量(liang)電纜(lan)線(xian)6米&nbsp;        2根(gen)

2、電源線                    ; 1根

3、1.0A保險絲 &nbsp;           &nbsp;   4根

4、使用說明書     &nbsp;           1份

- WBJF-2020校正脈(mo)沖發(fa)生(sheng)器使用說明(ming)

用(yong)途(tu)與適用(yong)范圍：

WBJF-2020校(xiao)正(zheng)脈沖(chong)發生器(qi)是一個小型的(de)(de)廉(lian)價的(de)(de)電(dian)池供電(dian)的(de)(de)局部放(fang)電(dian)校(xiao)正(zheng)器(qi)，它適用于需要(yao)攜帶(dai)和(he)使用靈(ling)活的(de)(de)場合。

主要規格(ge)及技術參數：

輸出電荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升時間：<100ns

衰(shuai)減時(shi)間(jian)：>100us

極性：正、負極性

重復頻(pin)率：1KHz

頻率變化：>±100Hz

尺寸：160×120×50mm

重量：0.5Kg

電池(chi)：6F22  9V

操作(zuo)與(yu)作(zuo)用：

首先打開WBJF-2020校正(zheng)(zheng)脈沖發生器后蓋(gai)板，裝入電池，蓋(gai)好蓋(gai)板。將(jiang)輸出紅黑兩個(ge)端子接上導(dao)(dao)線(xian)，紅端子上的導(dao)(dao)線(xian)盡量(liang)且(qie)靠近(jin)試品的高壓(ya)端，黑端導(dao)(dao)線(xian)接試品和(he)低壓(ya)端，將(jiang)校正(zheng)(zheng)電量(liang)開關置于(yu)合適的位置，即可(ke)校正(zheng)(zheng)，頻率可(ke)在1KHz附近調節，面板上電壓(ya)表指示機內電源的情況(kuang)，一般(ban)指示8V以上(shang)才能保證(zheng)工(gong)作，低于(yu)8V則需調換電池。

校(xiao)正后切記(ji)將校(xiao)正脈(mo)沖發生器取下！

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