**章 WBTCD-9308電力變壓(ya)器局放(fang)儀局(ju)放理論概述

在開始我(wo)們的實(shi)驗(yan)以前，我(wo)們首先應(ying)該對局部(bu)放(fang)電(dian)(dian)有個初步的了解，為什(shen)么要(yao)測(ce)量(liang)局部(bu)放(fang)電(dian)(dian)？局部(bu)放(fang)電(dian)(dian)有什(shen)么危害？怎樣準確測(ce)量(liang)局部(bu)放(fang)電(dian)(dian)？有了上述理(li)論基(ji)礎可以幫助我(wo)們理(li)解測(ce)量(liang)過程中(zhong)的正(zheng)確操作。

一、局(ju)部放(fang)電(dian)的定義及產生(sheng)原因

在電(dian)(dian)場作用下(xia)，絕緣系統(tong)中(zhong)只有(you)部(bu)(bu)分(fen)區域(yu)發(fa)生(sheng)(sheng)放電(dian)(dian)，但尚未擊(ji)穿(chuan)(chuan)，（即(ji)在施(shi)加電(dian)(dian)壓的導體(ti)之(zhi)間沒有(you)擊(ji)穿(chuan)(chuan)）。這種(zhong)現象稱(cheng)之(zhi)為局(ju)部(bu)(bu)放電(dian)(dian)。局(ju)部(bu)(bu)放電(dian)(dian)可能發(fa)生(sheng)(sheng)在導體(ti)邊上，也可能發(fa)生(sheng)(sheng)在絕緣體(ti)的表(biao)面上和內部(bu)(bu)，發(fa)生(sheng)(sheng)在表(biao)面的稱(cheng)為表(biao)面局(ju)部(bu)(bu)放電(dian)(dian)。發(fa)生(sheng)(sheng)在內部(bu)(bu)的稱(cheng)為內部(bu)(bu)局(ju)部(bu)(bu)放電(dian)(dian)。而對于被氣(qi)體(ti)包(bao)圍的導體(ti)附近發(fa)生(sheng)(sheng)的局(ju)部(bu)(bu)放電(dian)(dian)，稱(cheng)之(zhi)為電(dian)(dian)暈。由此 總結一(yi)下(xia)局(ju)部(bu)(bu)放電(dian)(dian)的定(ding)義(yi)，指部(bu)(bu)分(fen)的橋接導體(ti)間絕緣的一(yi)種(zhong)電(dian)(dian)氣(qi)放電(dian)(dian)，局(ju)部(bu)(bu)放電(dian)(dian)產生(sheng)(sheng)原因主要有(you)以下(xia)幾種(zhong)：

電場不均勻。

電介(jie)質不(bu)均勻(yun)。

制造過(guo)程(cheng)的氣泡或雜質。*經常發生(sheng)放(fang)電的原因是絕(jue)緣體(ti)內部或表面存在氣泡；其次是有些設(she)備的運行過(guo)程(cheng)中會發生(sheng)熱(re)脹冷縮,不(bu)同材料特(te)別是(shi)導體與介(jie)質的(de)膨脹系數不(bu)同，也會逐漸(jian)出現裂(lie)縫；再有一些是(shi)在(zai)運(yun)行過(guo)程(cheng)中有機高(gao)分子(zi)的(de)老化，分解出各種揮發物，在(zai)高(gao)場(chang)強的(de)作用下(xia)，電荷不(bu)斷地由導體進入介(jie)質中， 在(zai)注(zhu)入點上就會使介(jie)質氣(qi)化。

二(er) 、WBTCD-9308電力(li)變壓(ya)器局放儀局部放電的(de)模擬電路(lu)及放電過程簡介

介(jie)質內部含(han)有(you)氣泡，在交流電壓(ya)下產生的內部放(fang)電特性可由圖1—1的模擬(ni)電路(a b c等值電路)予以表示；其中Cc是模擬(ni)介(jie)質中產生放電間(jian)隙(xi)(如氣泡)的(de)電容；Cb代表與Cc串聯部分介質的合成電(dian)容；Ca表示(shi)其余部(bu)分介質的電容。

I——介質有缺陷(氣泡(pao))的部份(虛(xu)線表(biao)示(shi))

II——介質無缺陷部份

圖1—1  表示具有內部放電的模擬電路

圖1—1中以并(bing)聯有—對火花間隙的電容Cc來(lai)模擬產生局部(bu)放電的內部(bu)氣泡(pao)。圖(tu)1—2表示(shi)了(le)在交流電壓(ya)下(xia)局部放電的發生過程(cheng)。

U(t)一一外施(shi)交(jiao)流(liu)電壓

Uc(t)一一氣(qi)泡不(bu)擊穿時在氣(qi)泡上的電壓(ya)

Uc’(t)一一有局部放電時氣(qi)泡上的實際電壓(ya)

Vc一一氣泡(pao)的擊穿電壓

Y r一一氣泡的殘余電壓   

Us—局部放電起始電壓(瞬時值)

Ur一(yi)一(yi)與氣泡殘(can)余電(dian)壓v r對應的外施電壓

Ir一一氣泡中的放電電流

電極間總電容(rong)Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電極間施(shi)加交(jiao)流電壓 u(t)時，氣泡電容Cc上(shang)對應的電(dian)壓為Uc(t)。如圖2—1所示，此時的Uc(t)所代表(biao)的是氣泡(pao)理想(xiang)狀(zhuang)態下的電壓(ya)（既(ji)氣泡(pao)不發生擊(ji)穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施(shi)電壓U(t)上升時，氣泡上電(dian)壓Uc(t)也上升，當(dang)U(t)上升(sheng)到(dao)Us時，氣泡上電壓Uc達到氣泡擊穿電壓,氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)擊(ji)穿，產生大量的正、負離子(zi)，在(zai)電場作用下(xia)(xia)各自遷(qian)移到(dao)氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)上下(xia)(xia)壁，形成空(kong)間(jian)電菏，建立(li)反電場，削(xue)弱了氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)內的總(zong)電場強(qiang)度，使放電熄(xi)滅，氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)又恢復絕緣性(xing)能。這樣(yang)的一次放電持續時間(jian)是極短暫的，對(dui)一般(ban)的空(kong)氣(qi)(qi)氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)來說，大約(yue)只有幾個毫(hao)微秒(10的負8次方(fang)到10的(de)負9次方秒(miao))。所以(yi)電(dian)壓Uc(t)幾乎瞬(shun)間地從Vc降到Vr，Vr是殘余(yu)電壓；而氣泡上電壓Uc‘(t)將隨U(t)的(de)增大(da)而繼續(xu)由(you)Vr升(sheng)高到Vc時，氣泡再—次擊(ji)穿，發生又—次局(ju)部(bu)放電，但此時相應的外施電壓比(bi)Us小，為(Us-Ur)，這是(shi)因為氣泡上有(you)殘余電壓Vr的內電場作用(yong)的結果。Vr是與氣泡殘余(yu)電(dian)壓Yr相應的外施(shi)電(dian)壓，如此反復上述過程，即外施(shi)電(dian)壓每增加(jia)(Us-Ur)，就產生一次(ci)局部(bu)放電．直(zhi)到前—次放電熄(xi)滅后，Uc’(t)上升到峰(feng)值時共增量不足以達Vc(相(xiang)當于外施電壓的(de)增(zeng)量Δ比(bi)(Us-Ur)小)為止。

此(ci)后，隨著外施電壓U(t)經過峰(feng)值(zhi)Um后(hou)減小，外(wai)施電(dian)壓在氣泡(pao)中建立反方(fang)(fang)向電(dian)場，由于氣泡(pao)中殘存(cun)的(de)內電(dian)場電(dian)壓方(fang)(fang)向與外(wai)電(dian)場方(fang)(fang)向相反，故外(wai)施電(dian)壓須(xu)經(Us+Ur))的(de)電壓變化，才能使氣泡上的(de)電壓達(da)到擊穿電壓Vc，(假定正、負方向擊穿電(dian)壓Vc相等)，產生一次局部放電(dian)。放電(dian)很快熄滅，氣泡(pao)中電(dian)壓瞬時降(jiang)到殘余電(dian)壓Vr(也假(jia)定正、負方向(xiang)相(xiang)同(tong))。外施(shi)電壓繼續下降(jiang)，當再(zai)下降(jiang)(Us-Ur)時，氣泡電壓就又(you)達(da)到Vc從而又(you)產生一次局(ju)部(bu)放(fang)電。如(ru)此重復上述(shu)過程，直(zhi)到(dao)外施電壓升(sheng)到(dao)反向蜂值一Um的增量(liang)Δ不足以(yi)達到(Us-Ur)為止(zhi)。外施電壓經過(guo)一(yi)Um峰(feng)值后，氣泡上的外電場方向又變為(wei)正方向，與(yu)氣泡殘余電壓方向相(xiang)反，故外施電壓又須上升(sheng)(Us+Ur)產(chan)生(sheng)第—次放電，熄滅后，每經過Us—Ur的(de)電(dian)壓上升(sheng)就產生一次放電(dian)，重復前面所介紹(shao)的(de)過程。如圖1—2所示(shi)。

由以上局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)過程(cheng)分析，同(tong)時根據(ju)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)的(de)特點（同(tong)種試品，同(tong)樣(yang)的(de)環境(jing)下，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)越高(gao)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)量(liang)越大(da)(da)）可以知道(dao)：一(yi)般情況下，同(tong)一(yi)試品在一(yi)、三象限(xian)(xian)(xian)的(de)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)量(liang)大(da)(da)于二、四象限(xian)(xian)(xian)的(de)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)量(liang)。那(nei)是(shi)因(yin)為它們(men)是(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)上升沿(yan)。（第三象限(xian)(xian)(xian)是(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)負(fu)的(de)上升沿(yan)）。這就是(shi)我們(men)測量(liang)中為什么(me)把時間(jian)窗刻意(yi)擺(bai)在一(yi)、三象限(xian)(xian)(xian)的(de)原因(yin)。

三、WBTCD-9308電力(li)變壓器局(ju)放儀局部放電的測量原理(li)：

四、WBTCD-9308電力變(bian)壓器局(ju)放儀(yi)局部放電(dian)的表征參(can)數

局(ju)部放(fang)電(dian)是比較復雜的(de)物理現(xian)象，必(bi)須通(tong)過(guo)多種表征(zheng)參(can)數(shu)才(cai)能**的(de)描繪其狀態，同時局(ju)部放(fang)電(dian)對(dui)絕緣破壞的(de)機理也(ye)是很復雜的(de)，也(ye)需(xu)要通(tong)過(guo)不同的(de)參(can)數(shu)來評定(ding)它對(dui)絕緣的(de)損害，目(mu)前我們只關心兩個基本參(can)數(shu)。

視(shi)在放電電荷——在絕(jue)緣(yuan)體(ti)中發生局部放電(dian)時，絕(jue)緣(yuan)體(ti)上施加電(dian)壓的(de)(de)兩端出現的(de)(de)脈動電(dian)荷(he)稱之(zhi)為視在放電(dian)電(dian)荷(he)，單位用皮庫（pc）表示(shi)，通常(chang)以穩(wen)定出現的*大視在放電(dian)電(dian)荷作(zuo)為該(gai)試品的放電(dian)量。

放電重復率(lv)——在測量時間內每秒中(zhong)出現的(de)放電次數的(de)平均值稱(cheng)為(wei)(wei)放電重復率(lv)，單位為(wei)(wei)次/秒，放電重復(fu)率越(yue)高，對絕緣的損害(hai)越(yue)大(da)。

**章  局放測(ce)試(shi)的試(shi)驗系(xi)統接線。

在了(le)解了(le)局(ju)部(bu)放電的(de)基(ji)本理論(lun)之后(hou)(hou)，在本章我們(men)的(de)重(zhong)點轉向實(shi)際操(cao)作，我們(men)先介(jie)(jie)紹局(ju)部(bu)放電測試(shi)中(zhong)常用的(de)三(san)種接(jie)法，隨(sui)后(hou)(hou)我們(men)再介(jie)(jie)紹整(zheng)個(ge)系統的(de)接(jie)線電路，*后(hou)(hou)我們(men)再分別介(jie)(jie)紹幾種典型的(de)試(shi)品(pin)的(de)試(shi)驗(yan)線路。

一、局放(fang)電測試電路的三種基本接法及(ji)優缺點。

（1）   標準(zhun)試驗電(dian)路，又稱并聯法。適(shi)合于必須(xu)接(jie)地的試品(pin)。其缺點是高壓引線對地雜散電容并聯在 CX上，會降低測試靈敏(min)度。

（2）接(jie)法的串(chuan)聯法，其要求試品低壓端(duan)對地浮置。其優點(dian)是變壓(ya)器(qi)入口電容、高(gao)(gao)壓(ya)線對地雜(za)散電容與耦合(he)電容CK并(bing)聯，有利于提高(gao)(gao)試驗(yan)靈敏度。缺點(dian)是試樣(yang)損壞(huai)時(shi)會損壞(huai)輸入單元。

（3）平衡法試(shi)驗(yan)電(dian)路(lu)：要求兩個試(shi)品(pin)相接近，至(zhi)少電(dian)容(rong)量為(wei)同(tong)一(yi)數量級(ji)其優點(dian)是(shi)外干擾強烈的(de)情(qing)況下，可取得較好抑制干擾的(de)效果，并可消除變壓器雜散(san)電(dian)容(rong)的(de)影響，而且(qie)可做(zuo)大電(dian)容(rong)試(shi)驗(yan)。缺點(dian)是(shi)須要兩個相似的(de)試(shi)品(pin)，且(qie)當(dang)產生放(fang)電(dian)時(shi)，需設法判別是(shi)哪個試(shi)品(pin)放(fang)電(dian)。

值得提出(chu)的是：由于現場試驗條件(jian)的限(xian)制(zhi)（找到(dao)兩個相似的試品(pin)且要保證一個試品(pin)無放電不太容易），所以在(zai)現場平(ping)衡法比較(jiao)難實現，另外，由于(yu)采用串聯(lian)法時，如果(guo)試品(pin)擊(ji)穿，將會(hui)對(dui)設(she)備(bei)造成比較大的損(sun)害，所以出于(yu)對(dui)設(she)備(bei)保護的想法，在現場試驗時一般采用并聯(lian)法。

二、WBTCD-9308電力變壓器(qi)局放儀采用并(bing)聯法(fa)的整個系統的接(jie)線原理圖。

該系(xi)統(tong)采用脈沖電(dian)流法檢(jian)測(ce)(ce)(ce)高壓(ya)試品的(de)局(ju)(ju)部放電(dian)量，由控制(zhi)臺控制(zhi)調壓(ya)器(qi)(qi)(qi)和(he)(he)變(bian)壓(ya)器(qi)(qi)(qi)在(zai)試品的(de)高壓(ya)端產生測(ce)(ce)(ce)試局(ju)(ju)放所(suo)需的(de)預(yu)加(jia)電(dian)壓(ya)和(he)(he)測(ce)(ce)(ce)試電(dian)壓(ya)，通過(guo)無(wu)局(ju)(ju)放藕(ou)合電(dian)容器(qi)(qi)(qi)和(he)(he)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)阻抗將局(ju)(ju)部放電(dian)信號取(qu)出并(bing)(bing)送至局(ju)(ju)部放電(dian)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)儀顯示并(bing)(bing)判斷和(he)(he)測(ce)(ce)(ce)量。系(xi)統(tong)中的(de)高壓(ya)電(dian)阻為了防(fang)止在(zai)測(ce)(ce)(ce)試過(guo)程中試品擊穿而損壞其(qi)他設(she)備，兩(liang)個(ge)電(dian)源濾波器(qi)(qi)(qi)是將電(dian)源的(de)干(gan)擾和(he)(he)整個(ge)測(ce)(ce)(ce)試系(xi)統(tong)分(fen)開，降低整個(ge)測(ce)(ce)(ce)試系(xi)統(tong)的(de)背景干(gan)擾。

根(gen)據(ju)上述(shu)原(yuan)理圖(tu)可以看(kan)出，局部放電(dian)測試(shi)的(de)(de)靈(ling)敏(min)度和準確(que)度和整個系統密切相關，要(yao)想順利和準確(que)的(de)(de)進行局部放電(dian)測試(shi)，就(jiu)必(bi)須將整個系統考濾周到，包括系統的(de)(de)參(can)數(shu)選取和連(lian)接方(fang)式。另外，在現場試(shi)驗時，由于(yu)是(shi)驗證性(xing)試(shi)驗，高壓限流(liu)電(dian)阻可以省(sheng)掉(diao)。

三、幾種(zhong)典型試品的接線原(yuan)理(li)圖。

（1）電流互感器(qi)的局放測試接線原理圖(tu)

（2）電壓互感器的局放測試接線原理(li)圖

A．工頻加壓方(fang)式接線原(yuan)理(li)圖

為了(le)防止(zhi)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)互(hu)(hu)感(gan)器(qi)在(zai)(zai)(zai)工頻(pin)(pin)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)下產生大(da)的勵磁電(dian)(dian)流而(er)損(sun)壞，高壓(ya)(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)互(hu)(hu)感(gan)器(qi)一般采取自激勵的加(jia)壓(ya)(ya)(ya)(ya)方式。在(zai)(zai)(zai)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)互(hu)(hu)感(gan)器(qi)的低壓(ya)(ya)(ya)(ya)側加(jia)一倍頻(pin)(pin)電(dian)(dian)源(yuan)，在(zai)(zai)(zai)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)互(hu)(hu)感(gan)器(qi)的高壓(ya)(ya)(ya)(ya)端感(gan)應出高壓(ya)(ya)(ya)(ya)來進行局部放電(dian)(dian)實(shi)驗。這就是通常(chang)所說(shuo)的三倍頻(pin)(pin)實(shi)驗。其接線原理圖如下：

(3)高壓(ya)電(dian)容器.絕緣子的局放測試(shi)接線原(yuan)理圖

(4) 發(fa)電機的局放(fang)測試接線原理圖

（5）變(bian)壓(ya)器(qi)的局部放電測(ce)試(shi)接線原理圖(tu)

我們僅僅是在原理(li)(li)性的(de)總結(jie)了幾(ji)種典(dian)型試品的(de)接線原理(li)(li)圖，至于各種試品的(de)加(jia)壓方式(shi)和加(jia)壓值的(de)多少，我們在做(zuo)試驗(yan)的(de)時侯要嚴格遵守每(mei)種試品的(de)出廠檢驗(yan)標(biao)準或交接檢驗(yan)標(biao)準。

第(di)三章  概述(shu)

WBTCD-9308智能局部(bu)放電檢(jian)測儀是我公司*新推向市場的新一代數(shu)(shu)字(zi)智能儀器(qi)(qi)，該(gai)儀器(qi)(qi)在原有(you)產品WBJF-2010、JF-2020局放儀的基(ji)礎上采用(yong)嵌(qian)入式(shi)ARM系統(tong)作為中央(yang)處理單元，控制12位分(fen)(fen)辨(bian)率(lv)的高速模(mo)數(shu)(shu)轉(zhuan)換芯片進行(xing)數(shu)(shu)據采集(ji)，將采集(ji)到的數(shu)(shu)據存放在雙端口RAM中。實(shi)現從(cong)模(mo)擬到數(shu)(shu)字(zi)的跨越。使用(yong)26萬色高分(fen)(fen)辨(bian)率(lv)TFT-LCD數(shu)(shu)字(zi)液晶顯示模(mo)組實(shi)時顯示放電脈沖波(bo)形，配備VGA接口，可(ke)外接顯示器(qi)(qi)。與傳(chuan)統(tong)的模(mo)擬式(shi)示波(bo)管顯示局部(bu)放電檢(jian)測儀相比有(you)以(yi)下特點(dian)：

1.彩色顯示器，雙色顯示波形，更清晰直(zhi)觀(guan)；

2.可(ke)鎖定波形(xing)，更(geng)方(fang)便仔(zi)細(xi)查看(kan)放(fang)電(dian)波形(xing)細(xi)節；

3.自動(dong)測量并顯示試驗電源(yuan)時基頻(pin)率(lv)，無需手動(dong)切換(huan)；

4.配備VGA接(jie)口，可外(wai)接(jie)大尺(chi)寸(cun)顯示器；

5.與示波管相比壽(shou)命更(geng)長(chang)。

6.具有(you)波(bo)形(xing)鎖定、打印試驗報告功能

本儀器檢測靈(ling)敏度高，試(shi)樣電容覆(fu)蓋范(fan)圍(wei)大，適用試(shi)品范(fan)圍(wei)廣，輸入(ru)單(dan)元（檢測阻抗(kang)）配備齊全(quan)，頻帶(dai)組(zu)合多（九(jiu)種）。儀器經適當(dang)定標(biao)后能直(zhi)讀放(fang)電脈沖的放(fang)電量(liang)。

本(ben)儀器是電力部(bu)門、制造廠家和科研單位等廣泛使用的局(ju)部(bu)放電測試儀器。

第四章  主要技術(shu)指標：

1．可測試品的電容(rong)范圍： 6PF—250uF。

2．檢測靈敏度（見表一）：

表一

（1）低(di)端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大(da)器增益調節：

粗調六檔(dang)，檔(dang)間增益20±1dB；細調范圍≥20dB。每檔(dang)之間數(shu)(shu)據(ju)為(wei)10倍關系：如(ru)第(di)三(san)檔(dang)檢測數(shu)(shu)據(ju)為(wei)98，則(ze)(ze)**檔(dang)顯示數(shu)(shu)據(ju)為(wei)9.8，如(ru)在第(di)三(san)檔(dang)檢測數(shu)(shu)據(ju)超過120，則(ze)(ze)應調至**檔(dang)來(lai)檢測數(shu)(shu)據(ju)，所得數(shu)(shu)據(ju)應乘以10才為(wei)實際測量值。

5、時間窗(chuang)：

（1）窗寬：可(ke)調范圍(wei)15°-175°；

（2）窗位(wei)置：每一(yi)窗可旋轉0°- 180°；

（3）兩個時間窗可(ke)分別開或同時開。

6、放電(dian)量表(biao)：

0-100誤差<±3％（以滿度計(ji)）。

7、橢(tuo)圓時基：

（1）頻(pin)率：50HZ、或外部電源同步（任(ren)意(yi)頻(pin)率）

（2）橢圓旋(xuan)轉(zhuan)：以30°為(wei)一檔，可作360°旋(xuan)轉(zhuan)。

（3）顯示方式(shi)：橢(tuo)圓—直線。

8、試(shi)驗電壓表：

精(jing)度(du)：優于(yu)±3％（以滿度(du)計(ji)）。

9、體積： 320×480×190（寬×深×高）mm³。

10、重量：約15Kg。

三(san)、系統工(gong)作原理：

本機(ji)的局部(bu)放電(dian)(dian)測(ce)試原理是高(gao)頻脈(mo)沖電(dian)(dian)流(liu)測(ce)量法(fa)（ERA法(fa)）。

試品(pin)Ca在(zai)試驗電(dian)(dian)(dian)壓下產(chan)生(sheng)(sheng)局部(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)時，放(fang)電(dian)(dian)(dian)脈(mo)(mo)沖信號(hao)經(jing)藕合電(dian)(dian)(dian)容Ca送入(ru)(ru)輸(shu)入(ru)(ru)單(dan)元(yuan)，由輸(shu)入(ru)(ru)單(dan)元(yuan)拾取到脈(mo)(mo)沖信號(hao)，經(jing)低噪聲前置放(fang)大器放(fang)大，濾波(bo)放(fang)大器選擇所(suo)需頻帶及主放(fang)大器放(fang)大（達(da)到所(suo)需幅值(zhi)與產(chan)生(sheng)(sheng)零標志脈(mo)(mo)沖）后，在(zai)示(shi)波(bo)屏的(de)橢(tuo)圓掃描基線上產(chan)生(sheng)(sheng)可見(jian)的(de)放(fang)電(dian)(dian)(dian)脈(mo)(mo)沖，同時也送至脈(mo)(mo)沖峰值(zhi)表顯示(shi)其峰值(zhi)。

時(shi)間窗單元控制試驗(yan)電壓每一周期內(nei)脈沖峰值的工作時(shi)間，并(bing)在(zai)這段時(shi)間內(nei)將示(shi)波(bo)屏的相應顯(xian)示(shi)區加亮，用它可以排除固定相位的干擾。

試(shi)驗電(dian)壓(ya)表(biao)(biao)經電(dian)容(rong)分壓(ya)器產生試(shi)驗電(dian)壓(ya)過(guo)零標(biao)(biao)志訊號，在示(shi)波屏上(shang)顯(xian)示(shi)零標(biao)(biao)脈沖，橢圓時基上(shang)兩個零標(biao)(biao)脈沖，通過(guo)時間窗的寬窄(zhai)調節可確定(ding)試(shi)驗電(dian)壓(ya)的相(xiang)位，試(shi)驗電(dian)壓(ya)大(da)小由數(shu)字電(dian)壓(ya)表(biao)(biao)指示(shi)。

整(zheng)個系統的工作原理(li)可參(can)看(kan)方(fang)框圖（圖一）。

四、結構說明(ming)

本儀器(qi)(qi)為標準機(ji)箱結構，儀器(qi)(qi)分(fen)前(qian)面(mian)板及(ji)后面(mian)板兩部分(fen)，各調節元件的位置及(ji)位置和功能見下圖說明。

1、4：長(chang)按改變門窗的(de)位置

2、3：長按改變門窗的寬度

5：時鐘設置按鈕

6：按9號(hao)鍵鎖定后再按此鍵，即可打印試驗報告

7：分壓(ya)比設置(zhi)按鈕

8：門(men)開關(guan)，重(zhong)復(fu)按(an)可選擇左右門(men)

9：波(bo)形鎖定(ding)按(an)鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯示方(fang)式按(an)鈕

12：取消(xiao)按鈕

A、B、C通道選擇(ze)旋鈕(niu)與后面板A、B、C測(ce)量(liang)通道相對應(ying)

備注： 如需數據導出，步驟如下：

（1）在電腦上安裝好RS232通用(yong)串口線驅動。（驅動盤里有安裝介(jie)紹(shao)）及局放試(shi)驗報告(gao)編輯器軟件。

（2）將串口線和局(ju)放儀后(hou)面的數據接口連接好(hao)。   

（3）將需要保(bao)存的波形鎖定然后點擊 局放試驗報告(gao)編輯(ji)器

（4）點擊Start鍵生成鎖定后的數據，然后點擊測(ce)試(shi)報告如下圖(tu)所示：

（5）點擊測試報告后則會(hui)出現局(ju)放試驗報告編(bian)輯器可以(yi)根據需要填寫上面的內容。

（6）填寫好表(biao)格后(hou)點(dian)擊生成報告(gao)數(shu)(shu)據會(hui)以Word文(wen)檔的形(xing)式出(chu)現(xian)，再將數(shu)(shu)據保(bao)存至電腦，如下(xia)圖(tu)所示：

第五章  操作(zuo)說明

1、試驗準備：將(jiang)機器(qi)后面(mian)板的(de)三個開(kai)關都置于“關”的(de)狀態

（1）檢查(cha)試驗場地(di)的接(jie)(jie)地(di)情況(kuang)，將本(ben)儀(yi)器后部(bu)的接(jie)(jie)地(di)螺(luo)栓用(yong)粗(cu)銅(tong)線(xian)（*好用(yong)編制銅(tong)帶）與試驗場地(di)的接(jie)(jie)地(di)妥(tuo)善相接(jie)(jie)，輸入(ru)單(dan)元的接(jie)(jie)地(di)短路片(pian)也(ye)要妥(tuo)善接(jie)(jie)地(di)。

（2）根椐試品電(dian)容Ca，藕(ou)合電(dian)容Ck的(de)(de)大小，選取(qu)合適序(xu)號的(de)(de)輸(shu)入(ru)單元(yuan)（表一(yi)），表一(yi)中調諧電(dian)容量(liang)是(shi)指從輸(shu)入(ru)單元(yuan)初級(ji)繞組(zu)兩端看到的(de)(de)電(dian)容（按Cx和(he)Ck的(de)(de)串聯值粗略估算）。

輸(shu)入單(dan)元應(ying)盡量靠近被測(ce)試品，輸(shu)入單(dan)元插(cha)(cha)座經8米(mi)長電纜與后面板(ban)上輸(shu)入插(cha)(cha)座相接。

（3）試(shi)品接入輸入單元的方法主要有(you)以下幾(ji)種：

圖中：Ca——試品    Ck——藕合(he)電容(rong)    Z——阻(zu)塞阻(zu)抗  ;R3、C3、R4、C4——橋式接法中平衡(heng)調節(jie)阻(zu)抗。

（4）在高壓(ya)端(duan)接上電(dian)壓(ya)表(biao)電(dian)阻或電(dian)容(rong)分壓(ya)器，其輸出經測(ce)量電(dian)纜接到后(hou)面板試驗電(dian)壓(ya)輸入(ru)插座30。

（5）在未(wei)加試驗電(dian)壓的情況下，將JF-2006校正(zheng)脈沖發生器的輸出(chu)接試品兩端(duan)。

2、使(shi)用步驟

（1）開機準備：將時基顯(xian)示(shi)方式置于“橢圓(yuan)”。

（2）放電量的(de)校正(zheng)：按圖接好線后(hou)，在(zai)未加(jia)試驗(yan)電壓之前用LJF-2006校正(zheng)脈(mo)沖發生器予以校正(zheng)。

注意：方(fang)波測量(liang)盒應盡量(liang)靠近試品(pin)的高壓端(duan)(duan)。紅(hong)端(duan)(duan)子引線接高壓端(duan)(duan)。

然(ran)后調(diao)節放(fang)大器增益(yi)調(diao)節，使該注入脈沖高度適(shi)當（示波屏上(shang)高度2cm以下），使數字表讀數值與注入的已知電量相符。調(diao)定后放(fang)大器細(xi)調(diao)旋鈕(niu)的位置不能再改變，需保持與校(xiao)正時相同。

校正完(wan)成后必須去掉校正方波發(fa)生器與試驗回路的連接。

（3）測試操作(zuo)：

第六章  抗干擾措施(shi)和局部放電圖譜(pu)簡介

對(dui)于局部放電實(shi)驗(yan)我(wo)們*怕的(de)就是干(gan)(gan)擾，下面簡(jian)單介紹一(yi)下實(shi)驗(yan)中可能遇到的(de)干(gan)(gan)擾以(yi)及抗干(gan)(gan)擾的(de)方(fang)法：

測量的(de)干擾(rao)分類

干擾有來自(zi)電網的(de)和(he)來自(zi)空間(jian)的(de)。按表現形式分又分為固定的(de)和(he)移(yi)動的(de)。主要的(de)干擾源(yuan)有以下一些：

①懸浮(fu)電位物體放電，通過對地雜散(san)電容耦合

②外部**電暈(yun)

③可控硅元(yuan)件在(zai)鄰(lin)近運行

④繼電器(qi)，接觸器(qi)，輝光(guang)管等物品

⑤接觸**

⑥無線(xian)電干擾

⑦熒光(guang)燈干擾

⑧電動機干(gan)擾

⑨中高頻工(gong)業設備

（二）抗(kang)干擾方法(fa)

采用帶調(diao)壓(ya)器，隔(ge)離變(bian)壓(ya)器和濾波器的控(kong)制(zhi)電源

設置(zhi)屏蔽室，可只(zhi)屏蔽試驗回(hui)路(lu)部分(fen)

可靠的單(dan)點(dian)接(jie)地(di)(di)(di)，將(jiang)試(shi)驗回路(lu)系(xi)統(tong)設計成單(dan)點(dian)接(jie)地(di)(di)(di)結構(gou)，接(jie)地(di)(di)(di)電阻(zu)要小，接(jie)地(di)(di)(di)點(dian)要與(yu)一般試(shi)驗室的地(di)(di)(di)網及(ji)電力(li)網中線分開。

采(cai)用高壓(ya)濾波器

用(yong)平衡法或橋式試驗電(dian)路

利用時間窗(chuang)，使固定相位干(gan)擾處(chu)于亮窗(chuang)之(zhi)外

采用較窄頻(pin)帶，或用頻(pin)帶躲開干擾大的(de)頻(pin)率范圍

在高壓端加裝高壓屏蔽(bi)罩或半導體橡膠(jiao)帽以防電暈干擾

試(shi)驗電路(lu)遠離周圍物體(ti)，尤其是懸浮的金屬(shu)固體(ti)！

（三）初做實(shi)驗者對(dui)波形辨認還是有一(yi)定(ding)困難的，下(xia)面就簡單介紹一(yi)     放電(dian)類(lei)型(xing)和干擾的初步辯認：

1． 典型的(de)內部氣泡放電的(de)波形特點：(圖 5—01)

A．放(fang)電(dian)主(zhu)要顯示在試(shi)驗電(dian)壓由零升到峰值的兩個(ge)橢圓象限(xian)內。

B．在起始電(dian)壓Ui時，放電通常發生在峰值附近，試驗(yan)電壓超過Ui時，放電(dian)向零相位延伸。

C．兩個(ge)相(xiang)反半周(zhou)上放電次數和幅(fu)值大致相(xiang)同（*大相(xiang)差至3：1）。

D．放電波形可辯。

E．q與試驗電壓關系(xi)不大(da)，但放電重復率n隨(sui)試(shi)驗電壓上升而(er)加大。

F．局部(bu)放電起始電壓(ya)Ui和(he)熄滅電(dian)壓Ue基本相(xiang)等。

G．放電(dian)量q與時間關(guan)系不(bu)大。

H．如果(guo)(guo)放(fang)(fang)電(dian)量隨(sui)試驗電(dian)壓上升而增大，并且(qie)放(fang)(fang)電(dian)波形變得模糊不可分辨，則(ze)往往是介質內含(han)有多種(zhong)大小氣泡，或(huo)是介質表面(mian)放(fang)(fang)電(dian)。如果(guo)(guo)除(chu)了上述情況，而且(qie)放(fang)(fang)電(dian)幅值隨(sui)加(jia)壓時間(jian)而迅(xun)速增長（可達100倍或更多），則(ze)往(wang)往(wang)是絕緣(yuan)液體中的氣泡放電(dian)(dian)，典型(xing)例子(zi)是油浸紙(zhi)電(dian)(dian)容器(qi)的放電(dian)(dian)。

2． 金(jin)屬與介質間氣泡的放電波形特點：        &nbsp;      

正半周(zhou)有(you)許多幅值(zhi)小(xiao)的放電，負半周(zhou)有(you)很少(shao)幅值(zhi)大的放電。幅值(zhi)相差可達10﹕1，其他同上。

典型例子：絕緣與導體粘附**的(de)聚(ju)乙烯電纜的(de)放電。q與試驗電壓關系不(bu)大。（圖 5—02）

如果隨試驗電壓(ya)升高，放電幅值也增大，而且放電波形變得模糊，則往往是(shi)含有不(bu)同大小多個氣泡，或是(shi)外(wai)露的金屬與介質(zhi)表面(mian)(mian)之間出現的表面(mian)(mian)放電。（圖 5—03）

（四）下(xia)面介(jie)紹一些(xie)主要視為(wei)干擾(rao)或非(fei)正常(chang)放電的情況：

（1）懸浮(fu)電位物體放電波形特點：

在電(dian)壓(ya)峰(feng)值(zhi)前的(de)正負半(ban)周兩個(ge)象限(xian)里出現(xian)幅值(zhi)。脈沖數和位置(zhi)均相同，成對出現(xian)。放(fang)電(dian)可移動，但(dan)它們(men)間(jian)的(de)相互間(jian)隔不變，電(dian)壓(ya)升高(gao)時(shi)，根數增加，間(jian)隔縮小，但(dan)幅值(zhi)不變。有時(shi)電(dian)壓(ya)升到一定值(zhi)時(shi)會(hui)消失，但(dan)降至此值(zhi)又重新出現(xian)。

原(yuan)因：金(jin)屬間的(de)間隙(xi)(xi)產生(sheng)的(de)放電，間隙(xi)(xi)可能是地(di)面上兩個(ge)獨立的(de)金(jin)屬體間（通過雜散電容耦合）也可能在樣品內，例如屏蔽松散。

（2）外(wai)部**電(dian)暈放電(dian)波形特點：

起始放(fang)電僅(jin)出(chu)現在試驗(yan)電壓的一個半周上，并對稱地(di)分布在峰值(zhi)兩側。試驗(yan)電壓升高時，放(fang)電脈沖數急劇增加，但幅值(zhi)不(bu)變(bian)，并向兩側伸展。

原因：空氣中高壓(ya)**或邊緣放電。如果放電出現在(zai)負半周，表示(shi)**處(chu)(chu)于高壓(ya)，如果放電出現在(zai)正(zheng)半周則**處(chu)(chu)于地電位(wei)。

（3）液體介(jie)質中的**電暈放(fang)電波形特點：

放電出現在(zai)兩(liang)個(ge)半周上，對稱地分布在(zai)峰(feng)值兩(liang)側。每一(yi)(yi)組(zu)放電均為(wei)等間(jian)隔，但(dan)一(yi)(yi)組(zu)幅(fu)值較大的放電先出現，隨試驗(yan)電壓(ya)升高而幅(fu)值增大，不(bu)一(yi)(yi)定等幅(fu)值；一(yi)(yi)組(zu)幅(fu)值小(xiao)的放電幅(fu)值相等，并且(qie)不(bu)隨電壓(ya)變(bian)化(hua)。

原因：絕緣液體中**或邊緣放(fang)電(dian)。如一組(zu)大的(de)放(fang)電(dian)出現在正半周，則**處于高壓；如出現在負(fu)半周，則**地(di)電(dian)位。

（4）接觸**的干(gan)擾圖形。

波(bo)(bo)形特點(dian)：對稱地分布(bu)在(zai)實(shi)驗電(dian)(dian)壓零(ling)(ling)點(dian)兩側(ce)，幅值(zhi)(zhi)大致不變，但在(zai)實(shi)驗電(dian)(dian)壓峰(feng)值(zhi)(zhi)附近下降為零(ling)(ling)。波(bo)(bo)形粗糙不清晰，低電(dian)(dian)壓下即出現(xian)。電(dian)(dian)壓升(sheng)高(gao)時，幅值(zhi)(zhi)緩慢增加，有(you)時在(zai)電(dian)(dian)壓達到(dao)一定值(zhi)(zhi)后(hou)會(hui)完全消失(shi)。

原因：實驗回(hui)路中(zhong)金(jin)屬與(yu)金(jin)屬**接觸的連(lian)接點(dian)；塑料電纜屏蔽層(ceng)半導體(ti)粒(li)子的**接觸；電容器鋁箔(bo)的插接片(pian)等(deng)（可(ke)將電容器充(chong)電然(ran)后短路來消除）。   ;            

（5）可控(kong)硅元(yuan)件(jian)的干擾圖形。

波形特點：位(wei)置固(gu)定，每只元(yuan)件產生一(yi)個獨立(li)訊(xun)(xun)號(hao)。電路接通，電磁(ci)耦合效應增強時訊(xun)(xun)號(hao)幅值(zhi)增加，試(shi)驗(yan)調壓時，該(gai)脈(mo)沖訊(xun)(xun)號(hao)會發生高(gao)頻(pin)波形展寬，從而占位(wei)增加。

原因：鄰(lin)近有(you)可(ke)控硅元(yuan)件(jian)在(zai)運行。

（6）繼電器、接(jie)觸器、輝光管等動作的干擾。

波形特點：分布不規則或間斷出現，同(tong)試驗電壓(ya)無(wu)關。

原因(yin)：熱繼電器(qi)(qi)、接觸(chu)器(qi)(qi)和各種(zhong)火(huo)花試驗器(qi)(qi)及有火(huo)花放(fang)電的記錄器(qi)(qi)動作(zuo)時產生。

（7）熒光燈(deng)的干(gan)擾圖形。

波(bo)形特點：欄柵狀，幅值大致相同的脈沖，伴有(you)正負半(ban)波(bo)對稱出(chu)現的兩(liang)簇脈沖組。

原(yuan)因(yin)：熒光燈(deng)照(zhao)明                     &nbsp;       &nbsp;                                                       

（8）無線電干(gan)擾的干(gan)擾圖形。

波(bo)形特點：幅值(zhi)有調制的(de)高(gao)頻正弦波(bo)，同(tong)試驗電(dian)壓無關。

原因：無線電話(hua)、廣播(bo)話(hua)筒、載波(bo)通訊等。

（9）電動機干擾的干擾圖形(xing)（圖5—12）

波形特點：放電波形沿(yan)橢圓基線均(jun)勻(yun)分布(bu)，每個單個訊號呈“山”字形。

原因：帶換向器的(de)(de)電動機，如電扇、電吹風運轉時的(de)(de)干擾(rao)。

（10）中高頻工業(ye)設(she)備的(de)干擾圖形。

波形特點：連續發生，僅出現在電源波形的半(ban)周內(nei)。

原因：感應(ying)加熱裝置和(he)頻(pin)率接近檢測(ce)頻(pin)率的超聲波發生器等。

（11）鐵芯(xin)磁飽和諧波的干擾圖形（圖5—14）

波(bo)形(xing)特點(dian)：較低頻率的(de)諧波(bo)振蕩，出現在兩個半周上，幅(fu)值(zhi)隨試(shi)驗(yan)電壓升高而(er)增大，不(bu)加電壓時(shi)消失，有重現性。

原因(yin)：試(shi)驗系統各種鐵芯(xin)設備（試(shi)驗變壓器、濾波電抗器、隔離(li)變壓器等）磁飽和產(chan)生的諧振。        &nbsp;   &nbsp;                    

（12）電極在電場(chang)方向機械移動的干擾圖(tu)形(xing)。

波(bo)形特(te)點：僅在(zai)試(shi)驗(yan)電壓(ya)的半周（正或負）上(shang)出(chu)現的與峰值對(dui)(dui)稱的兩(liang)個放電響應，幅值相等，而(er)脈沖方向相反，起始電壓(ya)時(shi)兩(liang)個脈沖在(zai)峰值處靠(kao)得很近，電壓(ya)升高(gao)時(shi)逐漸分開，并可能產生(sheng)新的脈沖訊號(hao)對(dui)(dui)。

原因：電(dian)極(ji)的部分(fen)（尤其是金屬箔(bo)電(dian)極(ji)）在電(dian)場作用下運(yun)動。                &nbsp;         

（14）漏電痕跡和樹(shu)枝(zhi)放電

波(bo)形特點：放電訊號波(bo)形與一(yi)般(ban)典型圖象均(jun)不符合，波(bo)形不規則(ze)不確定(ding)。

原因：玷污(wu)了的絕緣上漏電或(huo)絕緣局部過熱而致的碳(tan)化痕(hen)跡或(huo)樹枝通道。

在放電(dian)(dian)(dian)測試中必須(xu)保(bao)證測試回(hui)路中其它元件（試驗(yan)變(bian)壓器、阻塞(sai)線(xian)圈、耦合電(dian)(dian)(dian)容器、電(dian)(dian)(dian)壓表電(dian)(dian)(dian)阻等）均不放電(dian)(dian)(dian)，常用(yong)的辦法是用(yong)與試品(pin)電(dian)(dian)(dian)容數量級相(xiang)同的無(wu)放電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)容或絕緣結構取(qu)代(dai)試品(pin)試驗(yan)，看看有(you)無(wu)放電(dian)(dian)(dian)。

了解了各種放電類型的(de)波形特征，來源以及識別(bie)干擾后就可按具體情況(kuang)采取(qu)措施排(pai)除干擾和正確地進行(xing)放電測量(liang)了。

第(di)七章(zhang)     局部放電測試(shi)當(dang)中(zhong)應該注意的問題

實驗前，試品的絕緣表面（尤其是高壓端(duan)）應(ying)作清(qing)潔化處理

2、   各連接點應(ying)接觸良(liang)好，尤其是高(gao)壓(ya)端不要(yao)留下(xia)尖銳的接點，高(gao)壓(ya)導線(xian)應(ying)盡可能粗以防電暈(yun)，可用(yong)蛇皮管。

輸入單元要(yao)盡量靠近試品，而且接地要(yao)可靠，接地線*好用

編織銅帶。主(zhu)機也須接(jie)地，以保證**。

試(shi)驗回路盡(jin)可(ke)能緊(jin)湊。即高壓連線盡(jin)可(ke)能短(duan)，試(shi)驗回路所(suo)圍面 

積盡可能小(xiao)。

在進行110KV及以上等級的局(ju)放試驗時，試品(pin)周圍的懸浮金屬

物體應妥善接地。

考慮到油浸式試(shi)品局(ju)(ju)部放(fang)(fang)電存在滯后(hou)效應(ying)，因此在局(ju)(ju)放(fang)(fang)試(shi)驗前

幾小(xiao)時(shi)，不要對試(shi)品(pin)施加超過局部放電試(shi)驗(yan)電壓(ya)的(de)高電壓(ya)。

第(di)八(ba)章(zhang)  附(fu)件

1、專用(yong)測(ce)量電纜線6米         2根

2、電源(yuan)線      &nbsp;     &nbsp;        1根

3、1.0A保險絲&nbsp;                4根

4、使用說(shuo)明書        &nbsp;        1份

- WBJF-2020校(xiao)正(zheng)脈沖(chong)發(fa)生器使用說明

用(yong)途(tu)與適用(yong)范圍：

WBJF-2020校正(zheng)脈沖發(fa)生器是一個(ge)小型的(de)(de)廉價的(de)(de)電(dian)池供電(dian)的(de)(de)局部放電(dian)校正(zheng)器，它適用(yong)于需要攜帶和使用(yong)靈活(huo)的(de)(de)場合。

主要(yao)規格及技術參數：

輸(shu)出(chu)電(dian)荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升(sheng)時間：<100ns

衰減時間：>100us

極性(xing)：正(zheng)、負極性(xing)

重(zhong)復頻率：1KHz

頻率變化：>±100Hz

尺寸(cun)：160×120×50mm

重量：0.5Kg

電池(chi)：6F22  9V

操作與作用：

首先打開WBJF-2020校正脈沖發生(sheng)器后蓋(gai)板(ban)(ban)，裝入電池，蓋(gai)好蓋(gai)板(ban)(ban)。將(jiang)輸出紅(hong)黑兩個端(duan)(duan)子(zi)接上導(dao)線(xian)，紅(hong)端(duan)(duan)子(zi)上的(de)導(dao)線(xian)盡量且靠近(jin)試品的(de)高壓端(duan)(duan)，黑端(duan)(duan)導(dao)線(xian)接試品和低壓端(duan)(duan)，將(jiang)校正電量開關置于合(he)適的(de)位置，即可(ke)校正，頻率可(ke)在(zai)1KHz附(fu)近調節，面板(ban)上(shang)電壓表指(zhi)示(shi)機內(nei)電源的(de)情況，一般(ban)指(zhi)示(shi)8V以上才能(neng)保證工作(zuo)，低(di)于8V則需(xu)調換(huan)電池(chi)。

校正后切記將校正脈沖發生器(qi)取下！

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