**章(zhang) WBTCD-9308出(chu)廠(chang)試(shi)驗局部放電測試(shi)儀局放理論概述

在開始我們的(de)實驗以(yi)前，我們首(shou)先應該對局部放(fang)電(dian)有個初步的(de)了(le)解(jie)，為什么(me)要測量(liang)局部放(fang)電(dian)？局部放(fang)電(dian)有什么(me)危害？怎樣準確(que)測量(liang)局部放(fang)電(dian)？有了(le)上述理論基礎(chu)可以(yi)幫助(zhu)我們理解(jie)測量(liang)過程中的(de)正確(que)操(cao)作。

一(yi)、局部放電(dian)的定義及產生原因

在(zai)電(dian)(dian)(dian)場(chang)作用下，絕(jue)緣系(xi)統(tong)中(zhong)只(zhi)有部(bu)(bu)(bu)分(fen)(fen)區域發(fa)生放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)，但(dan)尚未擊穿(chuan)，（即在(zai)施加電(dian)(dian)(dian)壓的(de)(de)(de)(de)導(dao)體(ti)(ti)之(zhi)間沒(mei)有擊穿(chuan)）。這種現象稱(cheng)(cheng)之(zhi)為(wei)局(ju)(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)。局(ju)(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)可能發(fa)生在(zai)導(dao)體(ti)(ti)邊上(shang)，也(ye)可能發(fa)生在(zai)絕(jue)緣體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)上(shang)和內部(bu)(bu)(bu)，發(fa)生在(zai)表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)表(biao)(biao)(biao)面(mian)局(ju)(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)。發(fa)生在(zai)內部(bu)(bu)(bu)的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)內部(bu)(bu)(bu)局(ju)(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)。而對于被氣體(ti)(ti)包圍的(de)(de)(de)(de)導(dao)體(ti)(ti)附近發(fa)生的(de)(de)(de)(de)局(ju)(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)，稱(cheng)(cheng)之(zhi)為(wei)電(dian)(dian)(dian)暈。由此 總結一下局(ju)(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)的(de)(de)(de)(de)定義，指部(bu)(bu)(bu)分(fen)(fen)的(de)(de)(de)(de)橋(qiao)接導(dao)體(ti)(ti)間絕(jue)緣的(de)(de)(de)(de)一種電(dian)(dian)(dian)氣放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)，局(ju)(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)產生原因主要有以下幾(ji)種：

電場不(bu)均勻。

電介質不均勻。

制(zhi)造過程的氣泡(pao)或雜質。*經常發生放電的原(yuan)因是絕緣體內部或表面存在(zai)氣泡(pao)；其次是有些(xie)設備(bei)的運行過程中會發生熱脹冷(leng)縮,不同(tong)材料特(te)別是導體(ti)與介質(zhi)的膨脹系數(shu)不同(tong)，也(ye)會逐漸出(chu)現(xian)裂縫；再有(you)一些是在(zai)運行(xing)過(guo)程中(zhong)有(you)機高分(fen)子的老化，分(fen)解出(chu)各種揮發(fa)物，在(zai)高場強的作(zuo)用(yong)下，電荷不斷(duan)地由(you)導體(ti)進入介質(zhi)中(zhong)， 在(zai)注入點(dian)上就會使介質(zhi)氣化。

二(er) 、WBTCD-9308出廠試(shi)(shi)驗局部(bu)放電測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)局部放電(dian)的模擬電(dian)路(lu)及放電(dian)過(guo)程簡介

介質內部含有氣泡(pao)，在交流電(dian)壓下產生的內部放(fang)電(dian)特性可由圖1—1的模擬電路(a b c等值電路)予以表(biao)示；其(qi)中Cc是模擬(ni)介質中產生(sheng)放(fang)電間(jian)隙(如氣泡)的電容；Cb代(dai)表與Cc串(chuan)聯部分介(jie)質的(de)合(he)成電(dian)容；Ca表(biao)示其(qi)余部分介質的電容(rong)。

I——介質有缺(que)陷(xian)(氣泡(pao))的部份(虛線表示)

II——介質(zhi)無缺陷部份

圖(tu)1—1  表示具有內部放電的模(mo)擬電路(lu)

圖1—1中以(yi)并聯(lian)有—對火花間隙的電容(rong)Cc來模擬(ni)產生(sheng)局部放(fang)電的內(nei)部氣泡。圖1—2表示了在交流電壓下局部(bu)放電的發生過程(cheng)。

U(t)一一外施交流電(dian)壓

Uc(t)一一氣(qi)泡不擊穿時在(zai)氣(qi)泡上(shang)的電(dian)壓(ya)

Uc’(t)一一有局部放電時(shi)氣泡上的實際電壓

Vc一一氣(qi)泡的擊穿(chuan)電壓

Y r一(yi)一(yi)氣(qi)泡(pao)的殘余(yu)電壓   

Us—局部放(fang)電起(qi)始電壓(瞬時值(zhi))

Ur一(yi)一(yi)與氣泡殘余電壓v r對應(ying)的外施電壓(ya)

Ir一(yi)一(yi)氣泡中的放(fang)電電流

電極間總電容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電極間(jian)施加交流電壓 u(t)時(shi)，氣(qi)泡電(dian)容Cc上對應的(de)電壓(ya)為Uc(t)。如圖(tu)2—1所(suo)示，此時的Uc(t)所代表的是氣泡理想(xiang)狀態下的電壓（既氣泡不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外(wai)施電壓(ya)U(t)上升時(shi)，氣泡上電壓Uc(t)也上升，當(dang)U(t)上升到Us時，氣泡上電壓Uc達(da)到氣泡擊穿電壓,氣(qi)(qi)泡(pao)擊穿，產生大量的正、負離子，在(zai)電場作用下(xia)各自遷移到氣(qi)(qi)泡(pao)上(shang)下(xia)壁，形成(cheng)空間(jian)電菏(he)，建(jian)立反電場，削弱了氣(qi)(qi)泡(pao)內的總電場強度，使放(fang)電熄(xi)滅，氣(qi)(qi)泡(pao)又恢(hui)復絕(jue)緣性能。這樣的一次放(fang)電持續時間(jian)是極短(duan)暫的，對一般的空氣(qi)(qi)氣(qi)(qi)泡(pao)來說，大約只(zhi)有(you)幾個毫(hao)微秒(10的負8次方(fang)到(dao)10的負(fu)9次方秒(miao))。所以電壓Uc(t)幾乎瞬間(jian)地從(cong)Vc降到Vr，Vr是殘余電壓；而氣泡上電壓Uc‘(t)將隨U(t)的(de)增大而(er)繼續由Vr升高(gao)到Vc時，氣泡再—次擊穿，發(fa)生又(you)—次局部放電，但此時相(xiang)應的外施電壓比Us小，為(Us-Ur)，這是因為(wei)氣泡上有殘余電壓Vr的內電場作用的結果。Vr是與氣泡殘余電壓Yr相應的(de)外(wai)施(shi)電(dian)壓，如此反復(fu)上述過程，即外(wai)施(shi)電(dian)壓每增(zeng)加(jia)(Us-Ur)，就(jiu)產生一次(ci)局(ju)部放電．直(zhi)到前—次放(fang)電熄滅后，Uc’(t)上升到峰(feng)值時(shi)共增(zeng)量(liang)不足以達(da)Vc(相當于外施電壓的增(zeng)量Δ比(Us-Ur)小)為止。

此后，隨著外施電壓U(t)經過(guo)峰值Um后減小，外施電(dian)壓(ya)在氣(qi)泡中(zhong)建立(li)反(fan)方向(xiang)電(dian)場，由于氣(qi)泡中(zhong)殘(can)存的內電(dian)場電(dian)壓(ya)方向(xiang)與外電(dian)場方向(xiang)相反(fan)，故(gu)外施電(dian)壓(ya)須經(Us+Ur))的電壓變化，才(cai)能使氣泡上的電壓達到擊穿電壓Vc，(假定正(zheng)、負方向擊(ji)穿電壓Vc相等)，產生一次局部放電(dian)。放電(dian)很(hen)快熄滅，氣泡中電(dian)壓瞬(shun)時降到殘余電(dian)壓Vr(也假定正、負方向相(xiang)同)。外施電(dian)壓(ya)繼續下降(jiang)，當再下降(jiang)(Us-Ur)時(shi)，氣泡電壓(ya)就又達到Vc從而又產(chan)生一(yi)次局部放電。如此重(zhong)復上述過程(cheng)，直到外施電壓升到反向蜂值一(yi)Um的增量Δ不足以(yi)達到(Us-Ur)為(wei)止(zhi)。外施電壓經過一Um峰值后，氣泡上(shang)的(de)外電場方向又變為正(zheng)方向，與氣泡殘(can)余(yu)電壓方向相反，故外施(shi)電壓又須上(shang)升(Us+Ur)產生第—次(ci)放電，熄滅后，每經過(guo)Us—Ur的(de)電壓上升就(jiu)產(chan)生一次(ci)放電，重復前面所介紹的(de)過程。如圖1—2所示。

由以(yi)(yi)上(shang)局部放(fang)(fang)電(dian)過程分析，同(tong)時根據局部放(fang)(fang)電(dian)的(de)(de)特點（同(tong)種試品(pin)，同(tong)樣的(de)(de)環境下，電(dian)壓越高局部放(fang)(fang)電(dian)量越大(da)）可以(yi)(yi)知道：一般情況下，同(tong)一試品(pin)在一、三(san)象(xiang)限(xian)的(de)(de)局部放(fang)(fang)電(dian)量大(da)于二、四象(xiang)限(xian)的(de)(de)局部放(fang)(fang)電(dian)量。那是(shi)因為(wei)它們是(shi)電(dian)壓的(de)(de)上(shang)升沿。（第三(san)象(xiang)限(xian)是(shi)電(dian)壓負(fu)的(de)(de)上(shang)升沿）。這(zhe)就(jiu)是(shi)我們測量中為(wei)什么把時間窗刻(ke)意擺在一、三(san)象(xiang)限(xian)的(de)(de)原因。

三、WBTCD-9308出廠試(shi)驗局(ju)部放電測(ce)試(shi)儀局部放電的測量原(yuan)理：

四(si)、WBTCD-9308出廠試(shi)驗(yan)局部(bu)放電測試(shi)儀局部(bu)放電(dian)的(de)表(biao)征參數

局部放電(dian)是(shi)比較復雜(za)的物理(li)現象，必須通過(guo)多種表(biao)征參(can)數才能**的描繪其狀態，同時局部放電(dian)對絕緣(yuan)(yuan)破壞的機理(li)也是(shi)很復雜(za)的，也需要通過(guo)不同的參(can)數來評定它對絕緣(yuan)(yuan)的損害(hai)，目(mu)前我們只關心兩個基本參(can)數。

視(shi)在放電(dian)電(dian)荷——在(zai)絕緣(yuan)體(ti)中發生(sheng)局部放電時，絕緣(yuan)體(ti)上施加電壓(ya)的兩端出現的脈動電荷稱之為(wei)視(shi)在(zai)放電電荷，單位用(yong)皮庫（pc）表示，通常以(yi)穩定出(chu)現的*大視在放電電荷作為該試品的放電量。

放電重復(fu)率——在測量時(shi)間內每秒中出現的(de)放電(dian)次數(shu)的(de)平均值(zhi)稱為(wei)放電(dian)重復(fu)率，單位為(wei)次/秒(miao)，放電重復率越(yue)高，對絕緣(yuan)的損害越(yue)大(da)。

**章  局放測試的(de)試驗系統接線。

在了解了局部放電的基本理(li)論(lun)之后，在本章我們(men)的重點轉向實際操作，我們(men)先介紹局部放電測(ce)試中(zhong)常用的三種(zhong)(zhong)接(jie)法，隨(sui)后我們(men)再(zai)介紹整個(ge)系統的接(jie)線電路(lu)，*后我們(men)再(zai)分別介紹幾種(zhong)(zhong)典型的試品(pin)的試驗(yan)線路(lu)。

一、局放電(dian)測試電(dian)路的三(san)種基本接法及優(you)缺點。

（1）   標準(zhun)試驗電路，又稱并聯(lian)法。適合于必須接(jie)地的試品。其缺點是高壓引線對地雜散電容并聯(lian)在 CX上，會降低測試靈(ling)敏度。

（2）接法的串(chuan)聯(lian)法，其要求(qiu)試品低壓端對地浮置。其優點是(shi)變壓器(qi)入(ru)口(kou)電(dian)容(rong)、高壓線對地雜散電(dian)容(rong)與耦合(he)電(dian)容(rong)CK并(bing)聯，有利于提高試驗靈(ling)敏度。缺點是(shi)試樣損壞(huai)時會損壞(huai)輸(shu)入(ru)單(dan)元。

（3）平衡法試(shi)驗(yan)電(dian)路(lu)：要(yao)求兩個試(shi)品相接近(jin)，至(zhi)少電(dian)容(rong)(rong)量為同一數量級(ji)其優點(dian)是(shi)外干(gan)擾強烈的情況下(xia)，可(ke)取得較好抑制干(gan)擾的效果，并可(ke)消除變壓(ya)器雜散電(dian)容(rong)(rong)的影響，而且可(ke)做大電(dian)容(rong)(rong)試(shi)驗(yan)。缺點(dian)是(shi)須要(yao)兩個相似的試(shi)品，且當產生放(fang)電(dian)時(shi)，需設法判別是(shi)哪(na)個試(shi)品放(fang)電(dian)。

值得提(ti)出(chu)的是：由(you)于現(xian)場(chang)試(shi)驗條件的限制（找到兩個(ge)相似的試(shi)品且要(yao)保證一個(ge)試(shi)品無(wu)放電(dian)不太容易），所以在現(xian)場(chang)平衡法(fa)比較難實(shi)現(xian)，另外，由于采用串聯法(fa)時，如果(guo)試品擊穿，將會對設備(bei)造成比較大的損害，所以出于對設備(bei)保護的想法(fa)，在(zai)現場試驗時一般采用并(bing)聯法(fa)。

二(er)、WBTCD-9308出廠(chang)試驗局部(bu)放(fang)電(dian)測試儀采(cai)用并(bing)聯法的(de)整個(ge)系(xi)統(tong)的(de)接線原理圖。

該(gai)系(xi)統采用脈沖(chong)電(dian)(dian)(dian)(dian)流法檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)高(gao)壓試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)量，由(you)控制(zhi)臺控制(zhi)調壓器(qi)(qi)和(he)(he)(he)變壓器(qi)(qi)在試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)高(gao)壓端(duan)產生測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)局(ju)放(fang)所(suo)需的(de)(de)(de)預加電(dian)(dian)(dian)(dian)壓和(he)(he)(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓，通過無局(ju)放(fang)藕(ou)合電(dian)(dian)(dian)(dian)容器(qi)(qi)和(he)(he)(he)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)阻抗將(jiang)(jiang)局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)信(xin)號取(qu)出并(bing)送(song)至局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)儀顯示并(bing)判斷和(he)(he)(he)測(ce)(ce)(ce)量。系(xi)統中的(de)(de)(de)高(gao)壓電(dian)(dian)(dian)(dian)阻為了防止(zhi)在測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)過程(cheng)中試(shi)(shi)(shi)品(pin)(pin)擊穿而損壞其他設備，兩個電(dian)(dian)(dian)(dian)源濾(lv)波器(qi)(qi)是將(jiang)(jiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)源的(de)(de)(de)干擾(rao)和(he)(he)(he)整個測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系(xi)統分開，降低(di)整個測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系(xi)統的(de)(de)(de)背景干擾(rao)。

根據上(shang)述原理圖可以(yi)看出，局(ju)部(bu)放電(dian)測試(shi)(shi)的(de)靈敏(min)度(du)和準確(que)度(du)和整個(ge)系統(tong)(tong)密切相關，要想順利和準確(que)的(de)進(jin)行(xing)局(ju)部(bu)放電(dian)測試(shi)(shi)，就必須將整個(ge)系統(tong)(tong)考濾周到(dao)，包括系統(tong)(tong)的(de)參數(shu)選取和連接(jie)方式。另外，在現(xian)場試(shi)(shi)驗(yan)(yan)時(shi)，由于是驗(yan)(yan)證性試(shi)(shi)驗(yan)(yan)，高壓限流電(dian)阻可以(yi)省掉(diao)。

三、幾種(zhong)典型試(shi)品的接(jie)線(xian)原理圖。

（1）電(dian)流互感器的局放測試接線(xian)原理(li)圖(tu)

（2）電壓互感器的局放測試接線原理圖

A．工(gong)頻加壓方式接線原理圖

為了(le)防止電(dian)壓(ya)互感器(qi)在(zai)工頻電(dian)壓(ya)下產生大的(de)勵(li)磁電(dian)流而損壞，高壓(ya)電(dian)壓(ya)互感器(qi)一般采取自(zi)激勵(li)的(de)加壓(ya)方式。在(zai)電(dian)壓(ya)互感器(qi)的(de)低壓(ya)側加一倍頻電(dian)源(yuan)，在(zai)電(dian)壓(ya)互感器(qi)的(de)高壓(ya)端(duan)感應(ying)出高壓(ya)來進行(xing)局部放電(dian)實驗。這就是通常(chang)所說(shuo)的(de)三倍頻實驗。其接線(xian)原理圖如下：

(3)高壓電容器.絕緣子的(de)局放測試接線原理(li)圖

(4) 發電機的(de)局放測試接線原(yuan)理圖

（5）變(bian)壓器(qi)的局(ju)部放(fang)電(dian)測試接線(xian)原理(li)圖

我們僅(jin)僅(jin)是在原理性的(de)總結(jie)了幾種(zhong)典(dian)型試(shi)(shi)品(pin)的(de)接線原理圖，至(zhi)于各(ge)種(zhong)試(shi)(shi)品(pin)的(de)加(jia)壓方式和加(jia)壓值的(de)多少，我們在做試(shi)(shi)驗(yan)的(de)時(shi)侯要(yao)嚴格遵守每種(zhong)試(shi)(shi)品(pin)的(de)出廠檢驗(yan)標(biao)準(zhun)或交接檢驗(yan)標(biao)準(zhun)。

第三章  概述

WBTCD-9308智(zhi)能(neng)局部放電(dian)檢測(ce)儀(yi)是我(wo)公司*新(xin)推向市場的新(xin)一(yi)代數(shu)(shu)(shu)字智(zhi)能(neng)儀(yi)器(qi)，該儀(yi)器(qi)在原有產品WBJF-2010、JF-2020局放儀(yi)的基礎上采用嵌入式ARM系統(tong)作為中央(yang)處理單(dan)元，控(kong)制12位(wei)分辨率(lv)的高(gao)速模(mo)數(shu)(shu)(shu)轉換芯片(pian)進行數(shu)(shu)(shu)據采集，將采集到的數(shu)(shu)(shu)據存放在雙(shuang)端口(kou)RAM中。實現從模(mo)擬到數(shu)(shu)(shu)字的跨越。使用26萬色高(gao)分辨率(lv)TFT-LCD數(shu)(shu)(shu)字液晶顯(xian)(xian)(xian)示模(mo)組實時顯(xian)(xian)(xian)示放電(dian)脈沖(chong)波(bo)形(xing)，配(pei)備VGA接口(kou)，可(ke)外接顯(xian)(xian)(xian)示器(qi)。與傳統(tong)的模(mo)擬式示波(bo)管顯(xian)(xian)(xian)示局部放電(dian)檢測(ce)儀(yi)相比有以(yi)下特點：

1.彩色(se)顯示(shi)器(qi)，雙色(se)顯示(shi)波形，更(geng)清晰直觀(guan)；

2.可鎖定(ding)波形(xing)(xing)，更方便(bian)仔細(xi)查(cha)看(kan)放電波形(xing)(xing)細(xi)節；

3.自動(dong)測量并(bing)顯(xian)示試驗電源時基(ji)頻率，無需手動(dong)切換；

4.配備(bei)VGA接口，可外接大尺寸顯示器；

5.與示波管相比壽命更(geng)長。

6.具有波形鎖定(ding)、打印試驗報告功能(neng)

本(ben)儀(yi)器(qi)檢測(ce)靈敏度(du)高，試(shi)樣電容覆蓋(gai)范(fan)圍(wei)大，適用(yong)試(shi)品(pin)范(fan)圍(wei)廣，輸入(ru)單元（檢測(ce)阻抗）配備齊(qi)全，頻帶組合多（九(jiu)種）。儀(yi)器(qi)經適當(dang)定(ding)標后能直讀放電脈沖(chong)的放電量。

本(ben)儀(yi)器(qi)是電力部門、制造廠家和科(ke)研(yan)單位等廣泛使用的局部放電測試儀(yi)器(qi)。

第四章  主(zhu)要技術(shu)指標(biao)：

1．可測試品的(de)電容(rong)范圍(wei)： 6PF—250uF。

2．檢(jian)測靈(ling)敏度（見表一）：

表一

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選(xuan)。

4、放(fang)大器增益調節：

粗調(diao)六檔(dang)，檔(dang)間(jian)增益20±1dB；細調(diao)范圍≥20dB。每檔(dang)之(zhi)間(jian)數(shu)據(ju)(ju)(ju)為10倍(bei)關(guan)系：如第(di)三檔(dang)檢測(ce)數(shu)據(ju)(ju)(ju)為98，則**檔(dang)顯(xian)示數(shu)據(ju)(ju)(ju)為9.8，如在第(di)三檔(dang)檢測(ce)數(shu)據(ju)(ju)(ju)超過120，則應調(diao)至**檔(dang)來檢測(ce)數(shu)據(ju)(ju)(ju)，所得數(shu)據(ju)(ju)(ju)應乘以10才(cai)為實際(ji)測(ce)量值(zhi)。

5、時間窗：

（1）窗(chuang)寬：可調范圍15°-175°；

（2）窗(chuang)位(wei)置：每一窗(chuang)可(ke)旋轉0°- 180°；

（3）兩個時(shi)間窗可分別開或同時(shi)開。

6、放電量表：

0-100誤(wu)差<±3％（以滿度(du)計）。

7、橢圓時基：

（1）頻(pin)率：50HZ、或外(wai)部(bu)電(dian)源同步（任(ren)意頻(pin)率）

（2）橢圓旋轉：以30°為一檔，可作360°旋轉。

（3）顯示方式：橢圓—直線。

8、試驗(yan)電(dian)壓表：

精度：優于±3％（以滿度計）。

9、體積： 320×480×190（寬×深×高）mm³。

10、重(zhong)量：約15Kg。

三、系統工(gong)作(zuo)原理(li)：

本機(ji)的局部放電測試原理是高頻脈沖電流測量法（ERA法）。

試(shi)品Ca在試(shi)驗電(dian)(dian)壓下(xia)產生(sheng)(sheng)(sheng)局(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)時(shi)，放(fang)(fang)電(dian)(dian)脈沖信號經藕合電(dian)(dian)容Ca送入輸入單(dan)元，由輸入單(dan)元拾取到脈沖信號，經低(di)噪(zao)聲(sheng)前置放(fang)(fang)大器(qi)放(fang)(fang)大，濾波放(fang)(fang)大器(qi)選(xuan)擇(ze)所需頻(pin)帶及主放(fang)(fang)大器(qi)放(fang)(fang)大（達到所需幅值(zhi)(zhi)(zhi)與(yu)產生(sheng)(sheng)(sheng)零標志脈沖）后，在示(shi)波屏的橢(tuo)圓掃描基線上產生(sheng)(sheng)(sheng)可見(jian)的放(fang)(fang)電(dian)(dian)脈沖，同時(shi)也送至脈沖峰(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)表(biao)顯示(shi)其(qi)峰(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)。

時(shi)(shi)間(jian)窗單元控制試驗電(dian)壓(ya)每一周期內脈(mo)沖(chong)峰值的(de)工(gong)作時(shi)(shi)間(jian)，并在這段時(shi)(shi)間(jian)內將示波屏的(de)相(xiang)應顯示區加亮(liang)，用它(ta)可(ke)以(yi)排(pai)除(chu)固定相(xiang)位的(de)干擾。

試驗電(dian)(dian)(dian)壓表經電(dian)(dian)(dian)容分(fen)壓器產生試驗電(dian)(dian)(dian)壓過零(ling)標(biao)志訊號，在示(shi)波屏上顯示(shi)零(ling)標(biao)脈(mo)沖，橢圓時基上兩個(ge)零(ling)標(biao)脈(mo)沖，通過時間窗的寬(kuan)窄調節(jie)可確定試驗電(dian)(dian)(dian)壓的相(xiang)位，試驗電(dian)(dian)(dian)壓大小由數字電(dian)(dian)(dian)壓表指示(shi)。

整個系統的工作原(yuan)理(li)可參看方(fang)框圖(tu)（圖(tu)一）。

四、結(jie)構說明

本儀器為標準機箱結構，儀器分前(qian)面板及后面板兩部(bu)分，各調節元(yuan)件的位置(zhi)及位置(zhi)和功能見(jian)下圖說明。

1、4：長按改變門窗的(de)位置

2、3：長按改變門(men)窗(chuang)的寬度

5：時鐘設(she)置按鈕

6：按9號鍵鎖定后再(zai)按此鍵，即(ji)可打印試(shi)驗報告

7：分壓比設置按鈕

8：門(men)開(kai)關，重(zhong)復按(an)可選(xuan)擇左(zuo)右門(men)

9：波形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕(niu)

11：顯(xian)示方(fang)式按鈕

12：取消按鈕

A、B、C通道(dao)選擇旋鈕(niu)與后面板A、B、C測量通道(dao)相對(dui)應

備(bei)注(zhu)： 如需(xu)數(shu)據導出(chu)，步驟如下：

（1）在電腦(nao)上安裝好RS232通用(yong)串口線驅(qu)動。（驅(qu)動盤里有安裝介紹）及局放試驗報告編輯(ji)器軟件。

（2）將(jiang)串口(kou)線和(he)局放儀后面的數據接(jie)口(kou)連接(jie)好(hao)。   

（3）將需要保存的波形鎖定(ding)然后點擊 局放(fang)試驗(yan)報告(gao)編(bian)輯(ji)器

（4）點(dian)擊Start鍵生成鎖定(ding)后的數據，然后點(dian)擊測(ce)試報告(gao)如下圖所示：

（5）點擊測試報告后則會出(chu)現局(ju)放試驗報告編輯器可以根據需要填寫上面的內容(rong)。

（6）填寫好表格(ge)后點擊生成報告數(shu)據會以(yi)Word文檔的(de)形式出(chu)現，再將(jiang)數(shu)據保(bao)存至電腦，如下圖所示(shi)：

第(di)五章  操作說明(ming)

1、試驗準備：將機器(qi)后面板的(de)(de)三個開(kai)關(guan)都置(zhi)于(yu)“關(guan)”的(de)(de)狀態

（1）檢查試(shi)(shi)驗場(chang)地(di)的接(jie)(jie)(jie)地(di)情況，將本儀器后(hou)部的接(jie)(jie)(jie)地(di)螺栓用粗銅線（*好用編制銅帶）與(yu)試(shi)(shi)驗場(chang)地(di)的接(jie)(jie)(jie)地(di)妥(tuo)善(shan)相接(jie)(jie)(jie)，輸入單元的接(jie)(jie)(jie)地(di)短路片也要(yao)妥(tuo)善(shan)接(jie)(jie)(jie)地(di)。

（2）根椐試品(pin)電(dian)容(rong)Ca，藕(ou)合電(dian)容(rong)Ck的大(da)小，選取(qu)合適(shi)序(xu)號的輸入(ru)單元(yuan)（表(biao)一(yi)），表(biao)一(yi)中(zhong)調(diao)諧電(dian)容(rong)量是指(zhi)從輸入(ru)單元(yuan)初級繞組(zu)兩端看到的電(dian)容(rong)（按Cx和Ck的串聯值粗略(lve)估算）。

輸入(ru)單(dan)元(yuan)應盡量(liang)靠近被(bei)測試(shi)品，輸入(ru)單(dan)元(yuan)插座(zuo)(zuo)經(jing)8米長電(dian)纜(lan)與后面(mian)板(ban)上輸入(ru)插座(zuo)(zuo)相接。

（3）試品接入(ru)輸入(ru)單元(yuan)的方法主要有(you)以下(xia)幾種：

圖中：Ca——試品    Ck——藕合電容  &nbsp; Z——阻塞阻抗  R3、C3、R4、C4——橋式接法中平(ping)衡調節(jie)阻抗。

（4）在高壓(ya)端接上電壓(ya)表電阻或(huo)電容分壓(ya)器，其輸出經測量電纜接到后面板試驗電壓(ya)輸入插座30。

（5）在未加試驗(yan)電(dian)壓的(de)情況下，將JF-2006校正(zheng)脈沖(chong)發生器的(de)輸出接試品兩(liang)端。

2、使用(yong)步驟

（1）開機準(zhun)備(bei)：將時(shi)基(ji)顯示方式置于“橢圓”。

（2）放電量的校正：按(an)圖接好線后，在未(wei)加試驗電壓(ya)之前用LJF-2006校正脈沖發生器予以校正。

注意：方(fang)波測量(liang)盒應(ying)盡量(liang)靠(kao)近(jin)試品(pin)的(de)高(gao)壓端(duan)(duan)。紅端(duan)(duan)子(zi)引線接高(gao)壓端(duan)(duan)。

然后調(diao)節(jie)放大(da)器(qi)增益(yi)調(diao)節(jie)，使(shi)該(gai)注(zhu)入(ru)脈沖(chong)高(gao)度適當（示(shi)波屏上高(gao)度2cm以下），使(shi)數字表(biao)讀數值(zhi)與注(zhu)入(ru)的已(yi)知(zhi)電量相符。調(diao)定后放大(da)器(qi)細調(diao)旋(xuan)鈕(niu)的位置不(bu)能(neng)再改變，需保持與校正時相同(tong)。

校正(zheng)完成(cheng)后必須去掉校正(zheng)方波發生器與試驗回(hui)路的連(lian)接。

（3）測試操(cao)作：

第六章  抗干擾措(cuo)施和局部(bu)放(fang)電圖譜簡介

對于局部放電實(shi)驗我們(men)*怕的就是(shi)干擾，下面簡單介紹一下實(shi)驗中可能遇到的干擾以及(ji)抗干擾的方法：

測量的干擾分(fen)類

干(gan)擾有(you)來(lai)自(zi)電網的(de)和(he)來(lai)自(zi)空間的(de)。按(an)表現(xian)形式分(fen)又分(fen)為固定(ding)的(de)和(he)移動的(de)。主要的(de)干(gan)擾源有(you)以下一些：

①懸浮電(dian)位(wei)物(wu)體(ti)放電(dian)，通過對地雜散電(dian)容(rong)耦合

②外部**電暈

③可(ke)控硅元件(jian)在鄰近(jin)運行

④繼電器，接觸器，輝(hui)光(guang)管等(deng)物品

⑤接觸**

⑥無線電干擾

⑦熒光燈干擾

⑧電動機干擾

⑨中高(gao)頻工業設備(bei)

（二(er)）抗干(gan)擾方(fang)法

采(cai)用帶調(diao)壓(ya)器(qi)(qi)，隔離變壓(ya)器(qi)(qi)和(he)濾波器(qi)(qi)的控制電(dian)源

設置屏蔽室，可只屏蔽試驗回路部分(fen)

可靠的單(dan)點(dian)接(jie)(jie)地(di)，將試(shi)驗(yan)回路系統(tong)設計成單(dan)點(dian)接(jie)(jie)地(di)結構，接(jie)(jie)地(di)電阻要(yao)(yao)小，接(jie)(jie)地(di)點(dian)要(yao)(yao)與一般試(shi)驗(yan)室的地(di)網及電力網中(zhong)線分開。

采用高壓(ya)濾波(bo)器

用(yong)平衡法或橋式試驗電路

利用時間窗，使固定(ding)相(xiang)位(wei)干(gan)擾處于亮窗之外

采用較窄頻帶，或用頻帶躲開干擾大的頻率(lv)范圍(wei)

在高壓(ya)(ya)端加(jia)裝高壓(ya)(ya)屏蔽罩或(huo)半(ban)導(dao)體橡膠帽(mao)以(yi)防(fang)電暈干擾

試(shi)驗電路遠離周圍物體(ti)(ti)，尤其是懸浮的金屬固體(ti)(ti)！

（三）初做實驗者對波形辨認(ren)還(huan)是有(you)一定困難的，下(xia)面(mian)就(jiu)簡單(dan)介紹一     放電類型和干(gan)擾的初(chu)步辯認：

1． 典(dian)型的內部氣泡放電(dian)的波形特(te)點：(圖 5—01)

A．放電(dian)(dian)主要顯示在試(shi)驗電(dian)(dian)壓由零(ling)升到峰值(zhi)的(de)兩個橢(tuo)圓(yuan)象限內。

B．在起始電壓Ui時，放(fang)電(dian)(dian)通常發生在峰值附(fu)近，試驗電(dian)(dian)壓(ya)超過Ui時，放電(dian)向零相(xiang)位延伸(shen)。

C．兩(liang)個相反半(ban)周上放電次(ci)數(shu)和幅(fu)值(zhi)大致相同(tong)（*大相差至3：1）。

D．放電波形(xing)可辯。

E．q與試驗電壓關系(xi)不大，但(dan)放電重(zhong)復(fu)率n隨試驗電壓上升而加大。

F．局部放電起始電壓Ui和熄滅(mie)電壓Ue基本相等(deng)。

G．放電(dian)量q與時間關系(xi)不大。

H．如(ru)果(guo)放電(dian)量隨試驗電(dian)壓上(shang)升而(er)(er)增大(da)，并且放電(dian)波形變得(de)模糊不可分辨(bian)，則往(wang)往(wang)是(shi)介(jie)質(zhi)內含有多種大(da)小氣泡，或是(shi)介(jie)質(zhi)表面放電(dian)。如(ru)果(guo)除了上(shang)述情況，而(er)(er)且放電(dian)幅值隨加壓時間而(er)(er)迅(xun)速增長（可達100倍或更多(duo)），則往往是絕緣液體(ti)中的氣泡放電，典型例子是油浸紙電容器的放電。

2． 金(jin)屬與介質(zhi)間氣泡的放電波形特點：               

正半周(zhou)有許(xu)多幅值(zhi)(zhi)小的放(fang)電，負半周(zhou)有很少(shao)幅值(zhi)(zhi)大的放(fang)電。幅值(zhi)(zhi)相差(cha)可達(da)10﹕1，其他同上(shang)。

典(dian)型(xing)例子：絕緣與導體(ti)粘附**的(de)聚(ju)乙(yi)烯電纜的(de)放電。q與試(shi)驗電壓關系不大。（圖 5—02）

如果隨(sui)試驗電(dian)(dian)壓升高(gao)，放電(dian)(dian)幅值(zhi)也增大(da)，而且放電(dian)(dian)波形變得(de)模糊(hu)，則往往是(shi)含有不同大(da)小多個氣泡，或是(shi)外(wai)露(lu)的金屬(shu)與介質表(biao)面之(zhi)間出現的表(biao)面放電(dian)(dian)。（圖(tu) 5—03）

（四）下(xia)面介(jie)紹一些主要視為干擾或非正常放電的情況：

（1）懸浮電(dian)位(wei)物體放電(dian)波形特點：

在(zai)電壓峰值(zhi)前的正(zheng)負半(ban)周兩個象限里出(chu)現幅值(zhi)。脈沖數(shu)和位置均相同，成(cheng)對出(chu)現。放電可移動(dong)，但(dan)它(ta)們間(jian)的相互間(jian)隔不變，電壓升高(gao)時，根數(shu)增加，間(jian)隔縮小，但(dan)幅值(zhi)不變。有時電壓升到一定(ding)值(zhi)時會消失(shi)，但(dan)降至此值(zhi)又重新出(chu)現。

原(yuan)因(yin)：金(jin)屬(shu)(shu)間的(de)間隙產生(sheng)的(de)放電(dian)，間隙可能是地(di)面(mian)上兩個獨立的(de)金(jin)屬(shu)(shu)體間（通過(guo)雜(za)散電(dian)容耦(ou)合）也可能在(zai)樣品(pin)內(nei)，例如屏蔽松(song)散。

（2）外部**電暈放電波形特點：

起始放電僅出現在(zai)試(shi)驗電壓(ya)的一個(ge)半(ban)周上(shang)，并(bing)對稱地分(fen)布在(zai)峰值兩側。試(shi)驗電壓(ya)升高時，放電脈沖數急(ji)劇(ju)增加，但幅值不變，并(bing)向(xiang)兩側伸展。

原因(yin)：空氣中高壓(ya)**或(huo)邊緣放(fang)電(dian)。如(ru)(ru)果(guo)放(fang)電(dian)出(chu)現在(zai)負半(ban)周，表示**處(chu)于高壓(ya)，如(ru)(ru)果(guo)放(fang)電(dian)出(chu)現在(zai)正半(ban)周則(ze)**處(chu)于地(di)電(dian)位(wei)。

（3）液體介質中的**電暈放電波形特點(dian)：

放電出(chu)現(xian)在(zai)兩個(ge)半周上(shang)，對(dui)稱地分布在(zai)峰值(zhi)兩側。每一組放電均為等間隔(ge)，但一組幅(fu)(fu)值(zhi)較大的放電先出(chu)現(xian)，隨(sui)試驗電壓升高而幅(fu)(fu)值(zhi)增大，不一定等幅(fu)(fu)值(zhi)；一組幅(fu)(fu)值(zhi)小的放電幅(fu)(fu)值(zhi)相等，并(bing)且不隨(sui)電壓變化(hua)。

原因(yin)：絕緣液體中(zhong)**或(huo)邊(bian)緣放電。如一組大的放電出(chu)現在正半周(zhou)，則**處于高壓；如出(chu)現在負半周(zhou)，則**地電位。

（4）接觸**的干(gan)擾圖形。

波(bo)形(xing)特點(dian)：對稱地分布在實(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)零(ling)點(dian)兩側，幅(fu)值大致不變，但(dan)在實(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)峰值附近(jin)下降(jiang)為零(ling)。波(bo)形(xing)粗糙不清晰，低電(dian)(dian)壓(ya)(ya)下即出現。電(dian)(dian)壓(ya)(ya)升高時，幅(fu)值緩慢增(zeng)加，有時在電(dian)(dian)壓(ya)(ya)達到一定值后會(hui)完(wan)全(quan)消失。

原因：實驗(yan)回路中金屬(shu)(shu)與金屬(shu)(shu)**接(jie)觸的(de)(de)連接(jie)點；塑料電(dian)纜屏蔽層半導體粒子的(de)(de)**接(jie)觸；電(dian)容器鋁(lv)箔的(de)(de)插(cha)接(jie)片等（可(ke)將電容器充電然(ran)后短路來消除）。    &nbsp;          

（5）可控硅元(yuan)件的(de)干擾(rao)圖形。

波形特點：位置固定，每只元件產生一個獨(du)立訊(xun)號。電路接通，電磁耦合效應增強時(shi)訊(xun)號幅值增加(jia)，試驗調壓時(shi)，該脈沖(chong)訊(xun)號會發生高頻波形展(zhan)寬(kuan)，從而占位增加(jia)。

原因：鄰(lin)近有可(ke)控硅(gui)元件在運行(xing)。

（6）繼(ji)電器、接觸器、輝光管(guan)等動作(zuo)的干(gan)擾。

波形特點(dian)：分布不規則(ze)或間斷出現，同試(shi)驗電壓(ya)無關。

原因：熱繼電(dian)器、接觸器和各(ge)種火花(hua)試驗器及(ji)有火花(hua)放電(dian)的記錄(lu)器動(dong)作時產生。

（7）熒光燈的干(gan)擾圖(tu)形。

波形特點(dian)：欄柵狀，幅值大致相(xiang)同的脈沖，伴有(you)正(zheng)負半(ban)波對稱出現的兩(liang)簇脈沖組。

原因：熒(ying)光燈(deng)照明                         ;                                                            

（8）無線電干擾的干擾圖(tu)形。

波(bo)形特點：幅值有調(diao)制的(de)高頻正弦波(bo)，同試驗電壓無關。

原因：無線(xian)電話、廣(guang)播(bo)話筒、載波通訊等。

（9）電動(dong)機干擾的干擾圖形（圖5—12）

波(bo)形(xing)特點：放電波(bo)形(xing)沿(yan)橢(tuo)圓基線均勻分布，每個(ge)單個(ge)訊號呈“山(shan)”字形(xing)。

原因：帶換向器的(de)電動機(ji)，如電扇、電吹風運轉時(shi)的(de)干擾。

（10）中高頻工業設(she)備(bei)的干擾圖形。

波形特點：連續發生，僅出現在電(dian)源波形的(de)半周內。

原因：感應加熱裝置和頻率(lv)接近檢測頻率(lv)的(de)超聲(sheng)波發(fa)生器等。

（11）鐵芯磁(ci)飽和諧波的干擾圖形（圖5—14）

波形特點：較低頻率的諧波振蕩，出現在兩個半周(zhou)上，幅值隨(sui)試驗電壓升(sheng)高(gao)而增大(da)，不加電壓時消失，有重現性(xing)。

原因：試(shi)驗系統(tong)各種鐵芯(xin)設(she)備（試(shi)驗變壓(ya)器、濾波電抗器、隔離變壓(ya)器等(deng)）磁飽和產生的(de)諧振(zhen)。&nbsp;                                

（12）電(dian)極在電(dian)場方向機械移動的干擾圖形。

波形(xing)特點(dian)：僅在試(shi)驗電壓的(de)半周（正或負）上出現(xian)的(de)與(yu)峰(feng)值對稱的(de)兩(liang)個(ge)(ge)放電響應(ying)，幅值相等，而(er)脈沖方向相反(fan)，起始(shi)電壓時兩(liang)個(ge)(ge)脈沖在峰(feng)值處靠得很近，電壓升高時逐漸分開，并可能(neng)產生新(xin)的(de)脈沖訊(xun)號對。

原(yuan)因：電極的部(bu)分（尤其是金屬箔電極）在電場作(zuo)用下運動。    &nbsp;              &nbsp;      

（14）漏電(dian)痕跡和樹枝放(fang)電(dian)

波(bo)(bo)形特點(dian)：放(fang)電訊號波(bo)(bo)形與(yu)一般典型圖象(xiang)均不符合，波(bo)(bo)形不規則(ze)不確定。

原(yuan)因：玷污了的絕(jue)緣上(shang)漏(lou)電或絕(jue)緣局(ju)部過熱而致(zhi)的碳化痕跡或樹枝通(tong)道。

在放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)測試(shi)(shi)中必須保證測試(shi)(shi)回路中其(qi)它元件（試(shi)(shi)驗變壓(ya)(ya)器、阻(zu)塞(sai)線圈、耦合電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)表電(dian)(dian)(dian)阻(zu)等）均(jun)不放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)，常用的辦法是用與(yu)試(shi)(shi)品(pin)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)數量級(ji)相同的無(wu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)或(huo)絕緣(yuan)結構取(qu)代試(shi)(shi)品(pin)試(shi)(shi)驗，看看有無(wu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)。

了解了各種(zhong)放電類型(xing)的波形特征，來源以及識(shi)別干(gan)擾(rao)后(hou)就可按具體(ti)情況采取(qu)措(cuo)施排(pai)除(chu)干(gan)擾(rao)和(he)正確地進行放電測量了。

第(di)七章     局部(bu)放電測試當中應(ying)該(gai)注意(yi)的問題

實驗前，試品的絕(jue)緣(yuan)表面（尤(you)其(qi)是高壓端）應作清(qing)潔(jie)化處理

2、   各連接(jie)(jie)點應(ying)(ying)接(jie)(jie)觸良好，尤其是高(gao)壓(ya)端不要(yao)留下(xia)尖銳的接(jie)(jie)點，高(gao)壓(ya)導線應(ying)(ying)盡可能粗以防電(dian)暈，可用(yong)蛇皮管。

輸(shu)入單元要(yao)盡量靠近試品，而(er)且接(jie)地要(yao)可靠，接(jie)地線*好用

編織銅帶。主機也須接地，以(yi)保證**。

試(shi)驗回(hui)路盡可能(neng)(neng)緊湊。即高壓連線盡可能(neng)(neng)短，試(shi)驗回(hui)路所圍面 

積盡可(ke)能(neng)小。

在進行110KV及以上(shang)等級(ji)的局放試(shi)(shi)驗時，試(shi)(shi)品周圍的懸浮(fu)金屬

物體(ti)應妥(tuo)善(shan)接地。

考慮到油(you)浸式試品局(ju)部(bu)放(fang)電存在滯后效應(ying)，因此在局(ju)放(fang)試驗前

幾小時，不要對試(shi)品(pin)施加超(chao)過局部(bu)放(fang)電(dian)試(shi)驗電(dian)壓(ya)的(de)高電(dian)壓(ya)。

第八(ba)章  附件(jian)

1、專用測量(liang)電(dian)纜線6米         2根(gen)

2、電源線  ;          ;         1根

3、1.0A保(bao)險絲 ;              &nbsp; 4根

4、使用說明書          &nbsp;      1份(fen)

- WBJF-2020校正脈沖發生器(qi)使用說明

用途與適用范圍：

WBJF-2020校正脈沖發生器是(shi)一個(ge)小(xiao)型的廉(lian)價的電池供電的局部放(fang)電校正器，它適(shi)用(yong)于需要攜帶和使用(yong)靈活(huo)的場合(he)。

主要規格及技術參數：

輸出電荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升時間：<100ns

衰減時(shi)間：>100us

極性：正、負(fu)極性

重復頻率：1KHz

頻率(lv)變化：>±100Hz

尺寸(cun)：160×120×50mm

重(zhong)量(liang)：0.5Kg

電(dian)池：6F22  9V

操(cao)作(zuo)(zuo)與作(zuo)(zuo)用：

首先打開WBJF-2020校(xiao)正(zheng)脈沖發生器后蓋(gai)板，裝入電池，蓋(gai)好蓋(gai)板。將輸出紅黑兩個端子接(jie)上(shang)(shang)導(dao)線，紅端子上(shang)(shang)的(de)導(dao)線盡量(liang)且靠近試品的(de)高壓端，黑端導(dao)線接(jie)試品和低壓端，將校(xiao)正(zheng)電量(liang)開關(guan)置(zhi)于合適的(de)位置(zhi)，即可(ke)校(xiao)正(zheng)，頻率(lv)可(ke)在1KHz附(fu)近調節，面板上電壓表指示機內電源的情(qing)況，一(yi)般指示8V以上才能保(bao)證工作，低于8V則需調(diao)換電池。

校正后切(qie)記將校正脈沖發(fa)生器取下！

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