**章 WBTCD-9308出廠試驗局部放電(dian)試驗儀局放(fang)理論概(gai)述(shu)

在(zai)開始我們的(de)實驗以(yi)前，我們首(shou)先應該對局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電有(you)個(ge)初步的(de)了(le)解，為什么(me)要測量局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電？局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電有(you)什么(me)危害？怎樣準(zhun)確測量局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電？有(you)了(le)上述理論基礎可以(yi)幫助(zhu)我們理解測量過程中的(de)正確操作。

一、局部放電的(de)定(ding)義及(ji)產生原(yuan)因

在(zai)(zai)電(dian)(dian)場作用下，絕緣(yuan)系統(tong)中(zhong)只有部(bu)(bu)(bu)(bu)分區域(yu)發生(sheng)(sheng)放電(dian)(dian)，但尚(shang)未擊穿(chuan)，（即在(zai)(zai)施加電(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)(de)導體(ti)之間沒有擊穿(chuan)）。這種(zhong)現象稱(cheng)之為(wei)(wei)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放電(dian)(dian)。局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放電(dian)(dian)可(ke)能發生(sheng)(sheng)在(zai)(zai)導體(ti)邊(bian)上，也可(ke)能發生(sheng)(sheng)在(zai)(zai)絕緣(yuan)體(ti)的(de)(de)(de)表面(mian)上和內(nei)部(bu)(bu)(bu)(bu)，發生(sheng)(sheng)在(zai)(zai)表面(mian)的(de)(de)(de)稱(cheng)為(wei)(wei)表面(mian)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放電(dian)(dian)。發生(sheng)(sheng)在(zai)(zai)內(nei)部(bu)(bu)(bu)(bu)的(de)(de)(de)稱(cheng)為(wei)(wei)內(nei)部(bu)(bu)(bu)(bu)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放電(dian)(dian)。而對于被氣體(ti)包圍(wei)的(de)(de)(de)導體(ti)附近發生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放電(dian)(dian)，稱(cheng)之為(wei)(wei)電(dian)(dian)暈。由此 總(zong)結一下局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放電(dian)(dian)的(de)(de)(de)定義，指(zhi)部(bu)(bu)(bu)(bu)分的(de)(de)(de)橋接導體(ti)間絕緣(yuan)的(de)(de)(de)一種(zhong)電(dian)(dian)氣放電(dian)(dian)，局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放電(dian)(dian)產(chan)生(sheng)(sheng)原因主要有以下幾種(zhong)：

電場不均勻。

電(dian)介質不均勻。

制造過(guo)程的氣(qi)泡(pao)或(huo)雜(za)質。*經常發生放電的原(yuan)因是絕緣體內部或(huo)表面存在氣(qi)泡(pao)；其次是有些設備(bei)的運(yun)行過(guo)程中會發生熱(re)脹冷(leng)縮,不(bu)(bu)同材料(liao)特(te)別是(shi)導體與介質的膨脹系(xi)數不(bu)(bu)同，也會逐(zhu)漸(jian)出(chu)現裂縫；再有一些(xie)是(shi)在(zai)運行過程中(zhong)有機高(gao)分子的老化，分解出(chu)各(ge)種(zhong)揮(hui)發物，在(zai)高(gao)場強(qiang)的作用下，電荷不(bu)(bu)斷地由導體進入(ru)介質中(zhong)， 在(zai)注(zhu)入(ru)點上就會使介質氣化。

二 、WBTCD-9308出廠試驗(yan)(yan)局部放電(dian)試驗(yan)(yan)儀局部放(fang)電的模擬電路(lu)及放(fang)電過(guo)程(cheng)簡(jian)介(jie)

介(jie)質內(nei)部(bu)含有(you)氣泡(pao)，在交流電壓下產生的內(nei)部(bu)放電特性可由圖1—1的模擬電路(lu)(a b c等值電路)予以表示；其中Cc是(shi)模擬介質中產生放電(dian)間隙(如氣泡)的電容；Cb代表(biao)與Cc串聯部(bu)分介(jie)質的合成電(dian)容；Ca表示其余(yu)部分介(jie)質的(de)電容。

I——介質有(you)缺陷(氣泡)的部份(虛線表示)

II——介(jie)質無缺陷部份(fen)

圖1—1  表示具有內部放電(dian)的模(mo)擬電(dian)路

圖1—1中(zhong)以(yi)并聯有—對(dui)火(huo)花間隙的電(dian)容Cc來模擬產生局部放電的內部氣泡。圖(tu)1—2表示了在交(jiao)流電壓下局(ju)部放電的(de)發生過程。

U(t)一(yi)(yi)一(yi)(yi)外(wai)施交(jiao)流電壓

Uc(t)一一氣(qi)泡不(bu)擊穿時在氣(qi)泡上的(de)電壓

Uc’(t)一一有局部(bu)放(fang)電時氣泡(pao)上的實際電壓(ya)

Vc一一氣泡(pao)的擊穿電壓

Y r一一氣(qi)泡的殘余電(dian)壓(ya)   

Us—局部放電(dian)起始電(dian)壓(瞬時值)

Ur一一與氣泡殘(can)余電壓v r對應的外施電壓

Ir一(yi)一(yi)氣泡中的(de)放電電流

電極(ji)間總電容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電(dian)極間施(shi)加交流(liu)電(dian)壓 u(t)時，氣泡電(dian)容Cc上(shang)對應(ying)的電壓為Uc(t)。如圖2—1所示，此(ci)時的Uc(t)所(suo)代表(biao)的是氣泡理想(xiang)狀態(tai)下的電壓(ya)（既氣泡不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施(shi)電壓U(t)上升時，氣泡上電壓Uc(t)也上(shang)升，當U(t)上(shang)升到Us時，氣泡上電壓Uc達到(dao)氣泡擊穿電壓,氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)擊穿，產生大量的(de)正、負(fu)離子，在電(dian)(dian)(dian)場(chang)(chang)作用下各(ge)自(zi)遷移到氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)上下壁，形成空(kong)間(jian)電(dian)(dian)(dian)菏，建立反電(dian)(dian)(dian)場(chang)(chang)，削弱了(le)氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)內的(de)總電(dian)(dian)(dian)場(chang)(chang)強(qiang)度(du)，使放電(dian)(dian)(dian)熄滅，氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)又恢復絕緣性能。這樣的(de)一次放電(dian)(dian)(dian)持續時間(jian)是極(ji)短暫的(de)，對一般的(de)空(kong)氣(qi)(qi)(qi)氣(qi)(qi)(qi)泡(pao)(pao)來說，大約只有幾個毫微秒(10的(de)負8次方到10的負9次方秒)。所以電壓(ya)Uc(t)幾(ji)乎瞬(shun)間地(di)從Vc降到Vr，Vr是殘(can)余電壓(ya)；而(er)氣泡上電壓(ya)Uc‘(t)將隨U(t)的(de)增大而繼(ji)續由Vr升高到Vc時，氣泡再—次擊穿，發生又(you)—次局部放電，但此時相應(ying)的外(wai)施電壓(ya)比Us小，為(Us-Ur)，這是因為氣泡上有殘余電壓(ya)Vr的(de)內(nei)電(dian)場作用(yong)的(de)結果。Vr是(shi)與氣(qi)泡殘余電(dian)壓Yr相(xiang)應的外施電壓(ya)，如此(ci)反復上述過程，即外施電壓(ya)每(mei)增加(Us-Ur)，就產(chan)生(sheng)一次局部放電．直到前—次放(fang)電熄(xi)滅(mie)后，Uc’(t)上升到峰值時共增量不足(zu)以(yi)達Vc(相當于外施電壓的增(zeng)量Δ比(Us-Ur)小)為止。

此(ci)后，隨著外施電壓(ya)U(t)經(jing)過峰值Um后減小，外施電(dian)壓在(zai)氣(qi)泡中建立反方向電(dian)場(chang)，由于氣(qi)泡中殘存的內電(dian)場(chang)電(dian)壓方向與(yu)外電(dian)場(chang)方向相(xiang)反，故外施電(dian)壓須(xu)經(Us+Ur))的電壓變化，才(cai)能使氣泡上的電壓達到擊穿電壓Vc，(假定(ding)正、負方向擊(ji)穿(chuan)電(dian)壓Vc相等)，產(chan)生(sheng)一次局部放(fang)電。放(fang)電很快(kuai)熄(xi)滅(mie)，氣泡中電壓瞬(shun)時(shi)降(jiang)到殘余電壓Vr(也(ye)假定正、負方(fang)向相同)。外施電壓繼續下降(jiang)，當(dang)再下降(jiang)(Us-Ur)時，氣泡電壓(ya)就(jiu)又達(da)到Vc從而又產(chan)生一(yi)次(ci)局部放電(dian)。如此重復上述過程，直到外施(shi)電(dian)壓升(sheng)到反向蜂值一(yi)Um的增量Δ不足以達到(Us-Ur)為止。外施電壓經過一Um峰值后，氣泡上(shang)的外(wai)電場方向又變為正方向，與氣泡殘(can)余(yu)電壓(ya)方向相反，故外(wai)施電壓(ya)又須上(shang)升(Us+Ur)產生第(di)—次放電，熄滅后(hou)，每經過Us—Ur的(de)電壓上升(sheng)就產生一次(ci)放電，重復前(qian)面所介紹的(de)過程。如圖1—2所(suo)示。

由以(yi)上(shang)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)過程分析，同(tong)時根據局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)的(de)(de)特點（同(tong)種試品，同(tong)樣的(de)(de)環(huan)境下，電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)越高(gao)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)量越大(da)）可以(yi)知道：一(yi)般情況下，同(tong)一(yi)試品在(zai)一(yi)、三(san)象限(xian)的(de)(de)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)量大(da)于二、四象限(xian)的(de)(de)局(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)量。那是(shi)(shi)因為它們是(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)的(de)(de)上(shang)升(sheng)(sheng)沿。（第(di)三(san)象限(xian)是(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)負的(de)(de)上(shang)升(sheng)(sheng)沿）。這就是(shi)(shi)我們測量中為什么把時間窗刻意擺在(zai)一(yi)、三(san)象限(xian)的(de)(de)原因。

三、WBTCD-9308出廠(chang)試驗局部放電試驗儀(yi)局部(bu)放電的測量原理：

四、WBTCD-9308出(chu)廠試驗(yan)局部放電試驗(yan)儀(yi)局部放電(dian)的表征參數

局部(bu)放電是(shi)比較復雜的(de)物(wu)理現象，必須(xu)通過(guo)多種表征參數(shu)才能**的(de)描(miao)繪其狀態(tai)，同(tong)時局部(bu)放電對(dui)絕(jue)(jue)緣(yuan)破壞的(de)機理也(ye)是(shi)很(hen)復雜的(de)，也(ye)需要通過(guo)不同(tong)的(de)參數(shu)來評(ping)定它對(dui)絕(jue)(jue)緣(yuan)的(de)損(sun)害(hai)，目前我們只關心兩個基本參數(shu)。

視在放電(dian)電(dian)荷——在(zai)絕緣(yuan)體中發(fa)生局部放電(dian)時，絕緣(yuan)體上施加電(dian)壓的兩端出現的脈動電(dian)荷稱之(zhi)為視在(zai)放電(dian)電(dian)荷，單位(wei)用(yong)皮庫(ku)（pc）表示，通常以穩定(ding)出現的*大(da)視在放電(dian)電(dian)荷作為(wei)該試品(pin)的放電(dian)量(liang)。

放(fang)電(dian)重復率——在(zai)測量時間內每秒中(zhong)出現的放電(dian)次(ci)數的平均值稱為放電(dian)重復率，單位為次(ci)/秒，放電(dian)重(zhong)復率越高，對絕緣(yuan)的損害越大(da)。

**章  局放測(ce)試的試驗系統接線。

在了(le)解了(le)局(ju)部放電的(de)(de)基本理論之后，在本章(zhang)我(wo)們(men)的(de)(de)重點轉向實(shi)際(ji)操(cao)作(zuo)，我(wo)們(men)先介紹(shao)局(ju)部放電測試中常用的(de)(de)三種接法(fa)，隨(sui)后我(wo)們(men)再(zai)(zai)介紹(shao)整個(ge)系統的(de)(de)接線電路，*后我(wo)們(men)再(zai)(zai)分別介紹(shao)幾種典型的(de)(de)試品的(de)(de)試驗線路。

一、局放電測試電路的三種基本(ben)接(jie)法及優缺點。

（1）   標準試驗電路，又稱并聯法。適合(he)于必須接地的試品。其缺點(dian)是高壓引線對地雜散電容(rong)并(bing)聯(lian)在 CX上，會降(jiang)低測試(shi)靈(ling)敏度。

（2）接法的串聯(lian)法，其要求試品低壓端對地浮置。其(qi)優點是變壓器(qi)入(ru)口電(dian)容、高壓線對地雜(za)散(san)電(dian)容與耦合電(dian)容CK并聯，有(you)利于提高試驗(yan)靈(ling)敏度(du)。缺(que)點是試樣損壞時會損壞輸(shu)入(ru)單元。

（3）平衡法試(shi)(shi)驗(yan)電路：要(yao)求兩個(ge)試(shi)(shi)品相接近，至(zhi)少電容(rong)量(liang)為同一數(shu)量(liang)級其優(you)點是外干(gan)擾(rao)強烈(lie)的(de)(de)(de)情況下，可(ke)取得較好抑制干(gan)擾(rao)的(de)(de)(de)效果，并可(ke)消(xiao)除變壓器雜散電容(rong)的(de)(de)(de)影響，而且(qie)(qie)可(ke)做(zuo)大(da)電容(rong)試(shi)(shi)驗(yan)。缺點是須要(yao)兩個(ge)相似的(de)(de)(de)試(shi)(shi)品，且(qie)(qie)當(dang)產生(sheng)放電時，需設法判別是哪(na)個(ge)試(shi)(shi)品放電。

值(zhi)得提出的是(shi)：由于現(xian)(xian)場試驗條(tiao)件的限制（找到兩個相似的試品且(qie)要(yao)保證一個試品無放電不太容易(yi)），所以在(zai)現(xian)(xian)場平(ping)衡法比較(jiao)難實現(xian)(xian)，另外，由于(yu)采用(yong)串(chuan)聯(lian)法時，如果試(shi)品擊穿，將會(hui)對設備造成比(bi)較大的損(sun)害，所以出于(yu)對設備保護(hu)的想法，在現場(chang)試(shi)驗時一般采用(yong)并聯(lian)法。

二、WBTCD-9308出(chu)廠試驗局部放(fang)電試驗儀采用并(bing)聯(lian)法的整(zheng)個系統的接線原(yuan)理圖。

該(gai)系統(tong)(tong)(tong)采(cai)用脈沖電(dian)(dian)流法檢測(ce)高壓(ya)(ya)(ya)試(shi)品(pin)的(de)局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)量，由控制(zhi)臺控制(zhi)調壓(ya)(ya)(ya)器和(he)(he)變壓(ya)(ya)(ya)器在(zai)試(shi)品(pin)的(de)高壓(ya)(ya)(ya)端產生測(ce)試(shi)局放(fang)(fang)所(suo)需的(de)預加電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)和(he)(he)測(ce)試(shi)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)，通(tong)過(guo)(guo)無局放(fang)(fang)藕合電(dian)(dian)容器和(he)(he)檢測(ce)阻抗將局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)信號取出并送至局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)檢測(ce)儀顯示并判斷和(he)(he)測(ce)量。系統(tong)(tong)(tong)中的(de)高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)阻為了(le)防止在(zai)測(ce)試(shi)過(guo)(guo)程中試(shi)品(pin)擊穿而損壞(huai)其(qi)他設(she)備(bei)，兩個(ge)電(dian)(dian)源濾波器是將電(dian)(dian)源的(de)干擾和(he)(he)整個(ge)測(ce)試(shi)系統(tong)(tong)(tong)分開，降低整個(ge)測(ce)試(shi)系統(tong)(tong)(tong)的(de)背景干擾。

根據(ju)上述(shu)原(yuan)理圖可以(yi)(yi)看出(chu)，局部(bu)放(fang)(fang)電測試(shi)的(de)靈敏度和準確度和整(zheng)個(ge)系統密切相關(guan)，要想順利(li)和準確的(de)進行局部(bu)放(fang)(fang)電測試(shi)，就必須(xu)將整(zheng)個(ge)系統考濾周到，包括系統的(de)參(can)數選取和連(lian)接方式。另外，在現場試(shi)驗時(shi)，由于是(shi)驗證性試(shi)驗，高壓限流(liu)電阻可以(yi)(yi)省掉。

三、幾種典型(xing)試品的接線(xian)原理圖。

（1）電流互感器的局放測試接線原理圖

（2）電壓(ya)互感器的(de)局放(fang)測試接(jie)線(xian)原理圖

A．工頻加壓方式接(jie)線(xian)原理圖

為了防(fang)止電(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)器(qi)在工頻電(dian)(dian)壓(ya)(ya)下產生(sheng)大的(de)勵磁電(dian)(dian)流而損(sun)壞，高壓(ya)(ya)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)器(qi)一般采(cai)取自(zi)激勵的(de)加(jia)(jia)壓(ya)(ya)方(fang)式。在電(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)器(qi)的(de)低壓(ya)(ya)側加(jia)(jia)一倍頻電(dian)(dian)源，在電(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)器(qi)的(de)高壓(ya)(ya)端感(gan)應出高壓(ya)(ya)來進行局部放電(dian)(dian)實驗。這就是通常所說(shuo)的(de)三(san)倍頻實驗。其接線原理圖如下：

(3)高壓電容器.絕緣(yuan)子的局放測(ce)試接線原理(li)圖(tu)

(4) 發電機的局放測試接線原理圖

（5）變(bian)壓器(qi)的局(ju)部放電測(ce)試接(jie)線(xian)原理圖

我們(men)僅僅是在原理性的(de)(de)(de)(de)總(zong)結了幾種(zhong)典型試(shi)品(pin)的(de)(de)(de)(de)接線(xian)原理圖，至于各種(zhong)試(shi)品(pin)的(de)(de)(de)(de)加壓方式和加壓值的(de)(de)(de)(de)多少，我們(men)在做試(shi)驗的(de)(de)(de)(de)時侯要(yao)嚴(yan)格(ge)遵守(shou)每種(zhong)試(shi)品(pin)的(de)(de)(de)(de)出廠檢(jian)驗標(biao)準(zhun)或(huo)交接檢(jian)驗標(biao)準(zhun)。

第三(san)章(zhang)  概述

WBTCD-9308智能局(ju)部(bu)放電檢測(ce)儀(yi)是我公司(si)*新推向(xiang)市場的(de)新一(yi)代數(shu)(shu)字(zi)智能儀(yi)器，該(gai)儀(yi)器在原有產品WBJF-2010、JF-2020局(ju)放儀(yi)的(de)基礎上(shang)采(cai)用嵌入式(shi)(shi)ARM系統作為中(zhong)(zhong)央處理單元，控制12位(wei)分辨率的(de)高(gao)速(su)模(mo)數(shu)(shu)轉換芯片(pian)進行數(shu)(shu)據(ju)采(cai)集(ji)，將采(cai)集(ji)到的(de)數(shu)(shu)據(ju)存放在雙(shuang)端口RAM中(zhong)(zhong)。實(shi)現從模(mo)擬到數(shu)(shu)字(zi)的(de)跨(kua)越。使(shi)用26萬色(se)高(gao)分辨率TFT-LCD數(shu)(shu)字(zi)液(ye)晶顯示(shi)模(mo)組實(shi)時顯示(shi)放電脈(mo)沖波(bo)形，配備(bei)VGA接口，可外(wai)接顯示(shi)器。與(yu)傳(chuan)統的(de)模(mo)擬式(shi)(shi)示(shi)波(bo)管顯示(shi)局(ju)部(bu)放電檢測(ce)儀(yi)相比(bi)有以下(xia)特(te)點：

1.彩(cai)色顯示(shi)器，雙色顯示(shi)波(bo)形，更清晰直觀(guan)；

2.可鎖定(ding)波(bo)形，更方(fang)便仔細查看放電波(bo)形細節(jie)；

3.自動測量并顯示試驗電源時基(ji)頻率，無(wu)需手(shou)動切換；

4.配備VGA接口，可外接大(da)尺寸顯(xian)示(shi)器；

5.與示波管相比壽命更(geng)長(chang)。

6.具(ju)有波形鎖定(ding)、打印試驗(yan)報告功能

本(ben)儀器檢(jian)測(ce)靈(ling)敏度高，試(shi)(shi)樣電容覆蓋范(fan)圍大，適(shi)用試(shi)(shi)品范(fan)圍廣(guang)，輸入單元（檢(jian)測(ce)阻抗(kang)）配備齊全，頻(pin)帶組合(he)多（九種）。儀器經適(shi)當定(ding)標后(hou)能直讀(du)放電脈沖的放電量。

本儀器是(shi)電(dian)力部(bu)門(men)、制造廠(chang)家和科研單位等廣泛使用的(de)局部(bu)放電(dian)測(ce)試(shi)儀器。

第四章(zhang)  主要技術指(zhi)標(biao)：

1．可(ke)測(ce)試品的電容范圍： 6PF—250uF。

2．檢測(ce)靈敏度（見表一）：

表一

（1）低(di)端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器(qi)增益(yi)調節(jie)：

粗調(diao)六檔(dang)(dang)(dang)，檔(dang)(dang)(dang)間增益(yi)20±1dB；細(xi)調(diao)范圍≥20dB。每檔(dang)(dang)(dang)之間數據(ju)(ju)為10倍關系：如第三檔(dang)(dang)(dang)檢(jian)測數據(ju)(ju)為98，則**檔(dang)(dang)(dang)顯(xian)示(shi)數據(ju)(ju)為9.8，如在第三檔(dang)(dang)(dang)檢(jian)測數據(ju)(ju)超過120，則應(ying)調(diao)至**檔(dang)(dang)(dang)來檢(jian)測數據(ju)(ju)，所得數據(ju)(ju)應(ying)乘以10才為實際(ji)測量值。

5、時間窗：

（1）窗寬：可調范圍(wei)15°-175°；

（2）窗(chuang)位置：每(mei)一窗(chuang)可旋轉0°- 180°；

（3）兩個時(shi)間窗可分別(bie)開或同(tong)時(shi)開。

6、放(fang)電量表：

0-100誤差<±3％（以滿度計）。

7、橢圓(yuan)時基：

（1）頻率(lv)：50HZ、或外部電源同(tong)步(bu)（任意頻率(lv)）

（2）橢圓(yuan)旋轉：以30°為一檔，可作360°旋轉。

（3）顯示方(fang)式：橢(tuo)圓—直(zhi)線。

8、試驗電壓表(biao)：

精度：優于±3％（以滿度計(ji)）。

9、體(ti)積： 320×480×190（寬×深×高）mm³。

10、重量：約15Kg。

三、系統工作原理：

本機的局部放電測試(shi)原理是高頻脈(mo)沖電流測量法(fa)（ERA法(fa)）。

試品Ca在試驗電(dian)(dian)(dian)壓下產(chan)生(sheng)局(ju)部放電(dian)(dian)(dian)時(shi)(shi)，放電(dian)(dian)(dian)脈沖(chong)信號經(jing)藕(ou)合電(dian)(dian)(dian)容Ca送入輸入單元，由輸入單元拾取到脈沖(chong)信號，經(jing)低噪聲前置放大(da)器放大(da)，濾(lv)波放大(da)器選擇所(suo)需頻帶(dai)及(ji)主放大(da)器放大(da)（達到所(suo)需幅(fu)值與產(chan)生(sheng)零標志脈沖(chong)）后，在示波屏的橢(tuo)圓(yuan)掃描基線上產(chan)生(sheng)可(ke)見的放電(dian)(dian)(dian)脈沖(chong)，同時(shi)(shi)也送至脈沖(chong)峰值表顯(xian)示其峰值。

時(shi)間窗單元(yuan)控制(zhi)試驗(yan)電壓每一周期內(nei)脈(mo)沖峰值的工作(zuo)時(shi)間，并(bing)在這(zhe)段時(shi)間內(nei)將示波屏的相(xiang)應顯示區加亮，用它可(ke)以(yi)排除固定相(xiang)位的干擾。

試(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)表(biao)經電(dian)(dian)容(rong)分壓(ya)器產生試(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)過零(ling)標志訊號，在示波(bo)屏上顯(xian)示零(ling)標脈(mo)沖，橢圓時(shi)(shi)基上兩個零(ling)標脈(mo)沖，通過時(shi)(shi)間(jian)窗的寬窄調節(jie)可(ke)確(que)定試(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)的相位，試(shi)驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)大小由數(shu)字電(dian)(dian)壓(ya)表(biao)指示。

整個系(xi)統(tong)的工(gong)作原(yuan)理可參看方框圖(tu)（圖(tu)一）。

四、結構(gou)說明

本儀器為(wei)標準機箱結構(gou)，儀器分(fen)前面板及(ji)(ji)后面板兩部(bu)分(fen)，各調節元件的位置及(ji)(ji)位置和功能見下圖說明(ming)。

1、4：長按改變(bian)門窗(chuang)的位(wei)置

2、3：長按改變門窗的寬度

5：時鐘設置按鈕

6：按(an)9號(hao)鍵鎖(suo)定后再按(an)此鍵，即(ji)可打(da)印(yin)試驗報告

7：分壓比設置按鈕

8：門開關，重(zhong)復按可選擇左右門

9：波(bo)形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯示方式按(an)鈕

12：取消(xiao)按鈕

A、B、C通道(dao)(dao)選擇旋鈕(niu)與后面板A、B、C測(ce)量通道(dao)(dao)相對應

備注： 如需數據導出，步驟(zou)如下：

（1）在電(dian)腦上安裝好RS232通用串口線驅(qu)動(dong)(dong)。（驅(qu)動(dong)(dong)盤里有(you)安裝介紹）及局放試驗報告(gao)編輯器軟件。

（2）將串口(kou)線和局放儀后(hou)面的數(shu)據接口(kou)連(lian)接好。   

（3）將需(xu)要保存的波形(xing)鎖定然后(hou)點擊 局放(fang)試驗報告編輯(ji)器(qi)

（4）點(dian)擊Start鍵生成鎖定后的數(shu)據(ju)，然后點(dian)擊測試報告如下圖(tu)所示：

（5）點擊測試報告后則會(hui)出(chu)現局放試驗報告編(bian)輯器可以根(gen)據需要填寫(xie)上面(mian)的(de)內容。

（6）填寫(xie)好表(biao)格后點擊生成(cheng)報告數據會以Word文檔(dang)的(de)形式出現，再將數據保存至(zhi)電腦，如下圖所示：

第五章  操(cao)作說(shuo)明

1、試驗(yan)準(zhun)備(bei)：將機(ji)器后面(mian)板的三個開關(guan)都置(zhi)于“關(guan)”的狀(zhuang)態(tai)

（1）檢查試驗(yan)場地的(de)接地情況，將本(ben)儀(yi)器(qi)后部的(de)接地螺栓用粗銅線（*好用編制銅帶(dai)）與試驗(yan)場地的(de)接地妥善(shan)相(xiang)接，輸(shu)入(ru)單元的(de)接地短路片也要妥善(shan)接地。

（2）根椐(ju)試品電容(rong)Ca，藕合電容(rong)Ck的(de)(de)大小，選取(qu)合適序號的(de)(de)輸(shu)入單元(yuan)（表一），表一中調諧電容(rong)量是(shi)指從輸(shu)入單元(yuan)初(chu)級繞(rao)組兩端看到(dao)的(de)(de)電容(rong)（按Cx和Ck的(de)(de)串(chuan)聯值(zhi)粗略估算）。

輸入(ru)單元應盡量靠近被(bei)測(ce)試品，輸入(ru)單元插(cha)座經(jing)8米長電纜(lan)與后面板上輸入(ru)插(cha)座相接。

（3）試品接入輸入單元(yuan)的方法主要有以下幾種：

圖中：Ca——試(shi)品    Ck——藕(ou)合電容    Z——阻塞阻抗  R3、C3、R4、C4——橋式接法中平(ping)衡調節阻抗。

（4）在高(gao)壓端接上(shang)電壓表電阻或電容分壓器，其輸出(chu)經測量電纜接到(dao)后面板試(shi)驗電壓輸入插座(zuo)30。

（5）在未加試(shi)驗(yan)電壓的情況下，將JF-2006校(xiao)正脈沖發(fa)生器的輸(shu)出接試(shi)品兩端(duan)。

2、使用步驟

（1）開機準備(bei)：將時基顯示方(fang)式置于“橢圓”。

（2）放電量的校(xiao)正(zheng)：按圖(tu)接好(hao)線后，在(zai)未加試(shi)驗電壓之(zhi)前用LJF-2006校(xiao)正(zheng)脈沖發(fa)生器予以校(xiao)正(zheng)。

注意：方波測(ce)量盒(he)應盡量靠近試品的高壓端(duan)(duan)。紅端(duan)(duan)子引線(xian)接(jie)高壓端(duan)(duan)。

然后(hou)調(diao)(diao)(diao)節放大器(qi)增益(yi)調(diao)(diao)(diao)節，使該注入脈(mo)沖高(gao)(gao)度適(shi)當(dang)（示(shi)波屏上高(gao)(gao)度2cm以(yi)下），使數字表(biao)讀(du)數值(zhi)與注入的(de)已知(zhi)電量(liang)相符。調(diao)(diao)(diao)定后(hou)放大器(qi)細(xi)調(diao)(diao)(diao)旋鈕的(de)位(wei)置不能再(zai)改變，需(xu)保持與校正時相同。

校(xiao)正(zheng)完成后必(bi)須去掉校(xiao)正(zheng)方波(bo)發生器(qi)與試驗回路的連接。

（3）測試操作(zuo)：

第(di)六章  抗干擾措施和局部放電圖譜(pu)簡介

對于局部放電實驗(yan)我們*怕(pa)的(de)就是(shi)干(gan)(gan)擾(rao)，下(xia)面簡單介紹(shao)一下(xia)實驗(yan)中可(ke)能遇到的(de)干(gan)(gan)擾(rao)以及抗干(gan)(gan)擾(rao)的(de)方法(fa)：

測(ce)量的干擾分類(lei)

干擾(rao)有來自電(dian)網的(de)(de)(de)和(he)來自空(kong)間(jian)的(de)(de)(de)。按表現形式分又分為固定(ding)的(de)(de)(de)和(he)移動的(de)(de)(de)。主要的(de)(de)(de)干擾(rao)源有以(yi)下一些：

①懸浮電位物體放電，通過(guo)對地(di)雜(za)散電容耦合

②外部(bu)**電暈

③可(ke)控硅(gui)元件在鄰近運行

④繼電器，接觸器，輝光管等物(wu)品

⑤接觸**

⑥無線(xian)電干擾

⑦熒(ying)光燈干擾

⑧電動機(ji)干擾(rao)

⑨中高(gao)頻工業設備

（二）抗(kang)干擾方法(fa)

采用(yong)帶調壓器，隔離變壓器和濾(lv)波器的控制電源

設置屏蔽(bi)室，可只屏蔽(bi)試驗回路部分

可靠的(de)(de)單點接(jie)地(di)，將試驗回(hui)路(lu)系統設計成單點接(jie)地(di)結構，接(jie)地(di)電(dian)阻要小，接(jie)地(di)點要與一般試驗室的(de)(de)地(di)網及電(dian)力(li)網中線(xian)分開。

采用高(gao)壓(ya)濾波器

用平(ping)衡(heng)法或橋式試驗電路

利用時(shi)間窗(chuang)，使固定相位干(gan)擾(rao)處于(yu)亮窗(chuang)之外

采用較窄頻帶，或用頻帶躲開干擾大的頻率(lv)范圍

在(zai)高壓(ya)端加(jia)裝高壓(ya)屏蔽罩或半(ban)導體橡膠帽以防電暈干擾

試驗電路(lu)遠離(li)周(zhou)圍物體，尤(you)其是(shi)懸浮的金屬固(gu)體！

（三(san)）初做實驗者對波形辨認(ren)還是有(you)一定(ding)困(kun)難的(de)，下面(mian)就簡單介紹(shao)一     放電類型和干擾的(de)初步辯(bian)認：

1． 典型(xing)的內部氣泡放電的波(bo)形(xing)特點：(圖(tu) 5—01)

A．放電主要顯示在(zai)試驗電壓由零升(sheng)到峰值的兩個(ge)橢(tuo)圓象限(xian)內。

B．在起始電壓Ui時，放(fang)電通常發生在(zai)峰(feng)值附近，試驗電壓(ya)超(chao)過(guo)Ui時，放電向零相位延伸。

C．兩(liang)個相(xiang)(xiang)反(fan)半周上放電次數和幅值大致相(xiang)(xiang)同（*大相(xiang)(xiang)差至3：1）。

D．放電波形可辯。

E．q與試驗電(dian)(dian)壓關系不大，但放電(dian)(dian)重(zhong)復率n隨試驗電壓上升(sheng)而(er)加大。

F．局部放電(dian)(dian)起始(shi)電(dian)(dian)壓Ui和(he)熄滅電(dian)壓Ue基本(ben)相等。

G．放(fang)電量(liang)q與時間關系不大。

H．如果(guo)放電(dian)量隨試驗電(dian)壓(ya)上升(sheng)而增大(da)(da)，并且放電(dian)波形變得模糊不可(ke)分辨(bian)，則往(wang)往(wang)是介質內(nei)含有多(duo)種大(da)(da)小氣泡，或是介質表面(mian)放電(dian)。如果(guo)除了上述情況，而且放電(dian)幅(fu)值隨加(jia)壓(ya)時間而迅速增長（可(ke)達100倍(bei)或更多），則(ze)往往是(shi)絕緣液體(ti)中的(de)氣泡放(fang)電，典型例(li)子是(shi)油浸紙電容器(qi)的(de)放(fang)電。

2． 金屬與介(jie)質間(jian)氣泡的放電波形特點：               

正半周有許多幅值小的放電(dian)，負半周有很(hen)少幅值大的放電(dian)。幅值相差可達(da)10﹕1，其他同上。

典(dian)型例子(zi)：絕緣與導(dao)體粘附**的聚乙(yi)烯(xi)電纜的放電。q與試驗電壓關系不大。（圖 5—02）

如果(guo)隨試驗電(dian)(dian)(dian)壓升高，放(fang)電(dian)(dian)(dian)幅(fu)值也增大，而且(qie)放(fang)電(dian)(dian)(dian)波形變得模糊，則往往是(shi)含有不(bu)同(tong)大小多個(ge)氣泡，或是(shi)外(wai)露(lu)的金屬與介質(zhi)表(biao)面(mian)之間(jian)出(chu)現的表(biao)面(mian)放(fang)電(dian)(dian)(dian)。（圖 5—03）

（四）下面介紹一些(xie)主(zhu)要視為(wei)干擾或非(fei)正常(chang)放電的情況：

（1）懸浮(fu)電位物(wu)體放電波形(xing)特點：

在電(dian)壓峰(feng)值前(qian)的正(zheng)負(fu)半(ban)周兩個(ge)象限里出現幅(fu)值。脈沖數(shu)和(he)位置均相同，成對出現。放電(dian)可移動，但(dan)它們間(jian)的相互間(jian)隔不變，電(dian)壓升(sheng)高時，根(gen)數(shu)增加，間(jian)隔縮小(xiao)，但(dan)幅(fu)值不變。有時電(dian)壓升(sheng)到一定值時會消失，但(dan)降(jiang)至此值又重新出現。

原因：金屬間(jian)的(de)間(jian)隙(xi)產生的(de)放電(dian)，間(jian)隙(xi)可(ke)能是地面上兩個獨立的(de)金屬體間(jian)（通過(guo)雜散(san)電(dian)容耦(ou)合）也(ye)可(ke)能在樣(yang)品內，例如屏蔽松散(san)。

（2）外(wai)部**電(dian)暈放電(dian)波形(xing)特點：

起始放電(dian)僅出現(xian)在試驗(yan)電(dian)壓的一個半周上(shang)，并對稱地分布在峰值(zhi)兩(liang)側。試驗(yan)電(dian)壓升高時(shi)，放電(dian)脈沖數急劇增(zeng)加(jia)，但幅值(zhi)不變，并向(xiang)兩(liang)側伸展。

原(yuan)因(yin)：空氣中(zhong)高壓**或邊緣放(fang)(fang)電(dian)(dian)。如(ru)果(guo)(guo)放(fang)(fang)電(dian)(dian)出現在(zai)負半周，表示**處于高壓，如(ru)果(guo)(guo)放(fang)(fang)電(dian)(dian)出現在(zai)正(zheng)半周則**處于地電(dian)(dian)位。

（3）液體(ti)介質中的**電暈放電波形特點：

放電(dian)(dian)出現(xian)在(zai)兩個半周上，對稱地分布在(zai)峰值(zhi)兩側(ce)。每(mei)一(yi)組放電(dian)(dian)均(jun)為等(deng)間隔，但一(yi)組幅(fu)值(zhi)較大(da)的放電(dian)(dian)先出現(xian)，隨(sui)試驗電(dian)(dian)壓升高而幅(fu)值(zhi)增(zeng)大(da)，不(bu)(bu)一(yi)定等(deng)幅(fu)值(zhi)；一(yi)組幅(fu)值(zhi)小的放電(dian)(dian)幅(fu)值(zhi)相等(deng)，并且不(bu)(bu)隨(sui)電(dian)(dian)壓變化。

原因：絕(jue)緣液體(ti)中(zhong)**或邊緣放電。如(ru)一組(zu)大的放電出現在(zai)正(zheng)半(ban)周(zhou)，則**處于高壓；如(ru)出現在(zai)負半(ban)周(zhou)，則**地電位。

（4）接(jie)觸(chu)**的干(gan)擾圖形。

波形(xing)特點：對稱(cheng)地分(fen)布(bu)在實驗電壓(ya)零(ling)點兩(liang)側，幅值大致不(bu)變，但在實驗電壓(ya)峰值附近(jin)下(xia)降為零(ling)。波形(xing)粗糙不(bu)清晰，低電壓(ya)下(xia)即出現。電壓(ya)升高時，幅值緩慢增加，有時在電壓(ya)達到一定值后(hou)會完全消失。

原因：實驗(yan)回路(lu)中(zhong)金(jin)屬與(yu)金(jin)屬**接觸的(de)(de)連接點；塑料電纜屏蔽層半(ban)導體粒(li)子的(de)(de)**接觸；電容器鋁箔的(de)(de)插接片等（可將電容器充(chong)電然后短路來消除(chu)）。               ;

（5）可(ke)控硅元件的干擾(rao)圖形(xing)。

波形特(te)點：位(wei)置固定，每只(zhi)元件產生一個獨立訊號。電(dian)路接通(tong)，電(dian)磁耦合效(xiao)應增強時訊號幅值增加，試驗(yan)調(diao)壓時，該脈沖訊號會發生高頻波形展寬，從而(er)占位(wei)增加。

原因：鄰近有可控硅元件在(zai)運(yun)行。

（6）繼電器、接(jie)觸(chu)器、輝光管等動作的(de)干擾(rao)。

波形特點：分布不規(gui)則或間斷出現，同試(shi)驗(yan)電壓無關。

原因：熱繼(ji)電(dian)器(qi)(qi)、接觸器(qi)(qi)和各種火花(hua)試驗器(qi)(qi)及有火花(hua)放(fang)電(dian)的記錄器(qi)(qi)動作時(shi)產(chan)生。

（7）熒光(guang)燈的干擾圖形。

波形特點(dian)：欄柵狀，幅值大致相同(tong)的脈沖，伴有正負半(ban)波對稱出現的兩簇脈沖組。

原因(yin)：熒光燈照明                                            &nbsp;                                        

（8）無線電(dian)干擾的干擾圖形。

波(bo)形特點(dian)：幅值有調制的高頻正弦波(bo)，同試驗電壓無關。

原因：無(wu)線電話、廣播話筒、載波(bo)通訊(xun)等。

（9）電(dian)動機干(gan)擾(rao)的干(gan)擾(rao)圖形（圖5—12）

波形特點：放電波形沿橢圓基線均勻分(fen)布(bu)，每(mei)個單個訊號(hao)呈(cheng)“山(shan)”字形。

原(yuan)因(yin)：帶換向(xiang)器的電(dian)動機，如(ru)電(dian)扇、電(dian)吹風運(yun)轉時(shi)的干擾。

（10）中(zhong)高頻工業設備的干擾(rao)圖形。

波形特(te)點(dian)：連(lian)續發生，僅出現在電源波形的(de)半周內(nei)。

原因：感應(ying)加熱(re)裝置和(he)頻率接近檢測(ce)頻率的超聲波發生器(qi)等(deng)。

（11）鐵芯磁飽和諧(xie)波的干擾(rao)圖形（圖5—14）

波(bo)形特點：較(jiao)低頻(pin)率的諧波(bo)振蕩，出(chu)現(xian)在兩個半周上，幅值(zhi)隨試驗電壓(ya)升高而增(zeng)大，不加電壓(ya)時(shi)消失，有重現(xian)性。

原因：試(shi)驗(yan)系統各種鐵芯(xin)設備（試(shi)驗(yan)變壓器(qi)、濾波(bo)電抗器(qi)、隔(ge)離變壓器(qi)等）磁飽和產(chan)生的諧振。                                 

（12）電(dian)極在(zai)電(dian)場方向(xiang)機械移動的干擾圖形。

波形特(te)點(dian)：僅在(zai)試驗電(dian)壓(ya)的(de)半周（正或負）上出現的(de)與峰(feng)值對(dui)稱的(de)兩個放電(dian)響應，幅值相(xiang)等，而脈沖方向(xiang)相(xiang)反，起始(shi)電(dian)壓(ya)時兩個脈沖在(zai)峰(feng)值處靠得很近，電(dian)壓(ya)升(sheng)高時逐漸分(fen)開，并可能產生(sheng)新的(de)脈沖訊號對(dui)。

原因(yin)：電極的部分（尤其是(shi)金屬(shu)箔電極）在電場(chang)作用下(xia)運動。             &nbsp;            

（14）漏電痕跡和樹枝放電

波(bo)(bo)(bo)形特(te)點：放電訊(xun)號(hao)波(bo)(bo)(bo)形與一般典型圖象(xiang)均(jun)不符合，波(bo)(bo)(bo)形不規(gui)則不確定。

原因：玷污了的(de)絕緣上漏電(dian)或(huo)絕緣局部過熱而致的(de)碳化痕跡或(huo)樹枝通(tong)道。

在放(fang)電測(ce)試中(zhong)必須保證(zheng)測(ce)試回(hui)路中(zhong)其它元件(jian)（試驗變壓器、阻(zu)塞(sai)線圈、耦合電容(rong)器、電壓表電阻(zu)等）均不放(fang)電，常用(yong)的(de)辦法(fa)是(shi)用(yong)與試品(pin)電容(rong)數(shu)量(liang)級相(xiang)同的(de)無放(fang)電電容(rong)或(huo)絕緣結構取代試品(pin)試驗，看看有無放(fang)電。

了(le)解(jie)了(le)各(ge)種放電(dian)類型的(de)波形特征(zheng)，來源(yuan)以(yi)及識別(bie)干擾(rao)后就可按具體情況采取措施排除干擾(rao)和正確(que)地進行(xing)放電(dian)測(ce)量(liang)了(le)。

第七章     局部放電測試當中應該注意的問題

實驗前(qian)，試品的(de)絕緣表面（尤其是高壓端）應作清潔化(hua)處(chu)理

2、   各連接點應接觸良好，尤(you)其是高壓(ya)端(duan)不要(yao)留下尖銳的(de)接點，高壓(ya)導線應盡可能粗以防電(dian)暈，可用蛇皮管。

輸入單元要(yao)盡(jin)量靠近試品，而且接(jie)地要(yao)可靠，接(jie)地線*好用

編織銅帶。主(zhu)機也須接地，以保證**。

試驗回(hui)路盡可能緊(jin)湊。即高壓連線盡可能短，試驗回(hui)路所圍面 

積(ji)盡可能小(xiao)。

在(zai)進行110KV及以上等(deng)級的(de)局放試驗時，試品周圍的(de)懸浮金屬

物(wu)體應妥(tuo)善接(jie)地。

考慮到油浸式試(shi)品局部(bu)放電(dian)存在滯后效(xiao)應，因此在局放試(shi)驗前

幾小時，不要(yao)對(dui)試(shi)品施(shi)加超過局部放電(dian)試(shi)驗電(dian)壓(ya)的(de)高(gao)電(dian)壓(ya)。

第八章  附件

1、專(zhuan)用測(ce)量電纜線6米  &nbsp;      2根

2、電源線&nbsp;                    1根(gen)

3、1.0A保險絲        &nbsp;        4根

4、使用說明(ming)書      &nbsp;          1份(fen)

- WBJF-2020校正(zheng)脈沖發生器使用說明

用途與適用范圍：

WBJF-2020校(xiao)正脈沖發生器是一個小型的廉價的電池供(gong)電的局部放電校(xiao)正器，它適(shi)用(yong)于需要(yao)攜帶和(he)使(shi)用(yong)靈(ling)活的場合。

主(zhu)要規格(ge)及(ji)技術(shu)參數：

輸出電荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升時間：<100ns

衰(shuai)減時間(jian)：>100us

極(ji)性：正(zheng)、負極(ji)性

重復(fu)頻率：1KHz

頻率變化：>±100Hz

尺(chi)寸：160×120×50mm

重量：0.5Kg

電池：6F22  9V

操作與作用：

首先打開WBJF-2020校(xiao)正(zheng)脈沖發生器(qi)后蓋板(ban)，裝入電池，蓋好蓋板(ban)。將輸出紅黑兩個端(duan)子接(jie)上導(dao)線(xian)，紅端(duan)子上的(de)導(dao)線(xian)盡(jin)量且(qie)靠近試品的(de)高(gao)壓端(duan)，黑端(duan)導(dao)線(xian)接(jie)試品和(he)低壓端(duan)，將校(xiao)正(zheng)電量開(kai)關置于合(he)適(shi)的(de)位置，即可校(xiao)正(zheng)，頻率可在1KHz附近調節，面板上(shang)電壓表指示機內電源的情(qing)況(kuang)，一般指示8V以(yi)上才(cai)能保證工(gong)作(zuo)，低(di)于8V則需(xu)調換電池(chi)。

校正后切記(ji)將校正脈(mo)沖發生(sheng)器(qi)取下！

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