**章 WBTCD-9308出廠試(shi)驗局(ju)部放電分(fen)析儀局放理論概述

在開(kai)始我們(men)的實驗以(yi)前，我們(men)首先應(ying)該對局部(bu)(bu)放(fang)電有個(ge)初步的了解，為什么要測(ce)量(liang)局部(bu)(bu)放(fang)電？局部(bu)(bu)放(fang)電有什么危害？怎樣準(zhun)確測(ce)量(liang)局部(bu)(bu)放(fang)電？有了上述理(li)論(lun)基礎可以(yi)幫助我們(men)理(li)解測(ce)量(liang)過程中的正確操作。

一、局(ju)部(bu)放電的(de)定(ding)義(yi)及產生原因

在電(dian)(dian)場作用(yong)下(xia)，絕緣(yuan)系(xi)統中(zhong)只有部(bu)(bu)分(fen)區域發生放(fang)(fang)電(dian)(dian)，但尚未(wei)擊穿(chuan)，（即在施加(jia)電(dian)(dian)壓的(de)(de)導(dao)(dao)體(ti)之(zhi)間沒有擊穿(chuan)）。這種(zhong)現(xian)象稱(cheng)(cheng)之(zhi)為局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)。局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)可(ke)能發生在導(dao)(dao)體(ti)邊上(shang)，也可(ke)能發生在絕緣(yuan)體(ti)的(de)(de)表(biao)面(mian)上(shang)和(he)內部(bu)(bu)，發生在表(biao)面(mian)的(de)(de)稱(cheng)(cheng)為表(biao)面(mian)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)。發生在內部(bu)(bu)的(de)(de)稱(cheng)(cheng)為內部(bu)(bu)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)。而對于被氣體(ti)包(bao)圍(wei)的(de)(de)導(dao)(dao)體(ti)附近發生的(de)(de)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)，稱(cheng)(cheng)之(zhi)為電(dian)(dian)暈。由(you)此 總(zong)結一(yi)下(xia)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)的(de)(de)定義，指部(bu)(bu)分(fen)的(de)(de)橋接導(dao)(dao)體(ti)間絕緣(yuan)的(de)(de)一(yi)種(zhong)電(dian)(dian)氣放(fang)(fang)電(dian)(dian)，局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)產生原(yuan)因主要有以(yi)下(xia)幾種(zhong)：

電場不均勻。

電介(jie)質不均(jun)勻。

制造過(guo)程的氣泡(pao)或雜質。*經常發生放(fang)電的原因是絕緣體內部或表面(mian)存(cun)在氣泡(pao)；其次是有些設(she)備的運行過(guo)程中(zhong)會(hui)發生熱脹冷縮,不同材料(liao)特別是導(dao)體與介質的(de)膨脹(zhang)系數不同，也會逐漸出現(xian)裂縫(feng)；再有(you)一些是在(zai)運行過程中(zhong)有(you)機高(gao)分子的(de)老化(hua)，分解出各種揮發物，在(zai)高(gao)場強的(de)作(zuo)用(yong)下，電荷不斷(duan)地由導(dao)體進入介質中(zhong)， 在(zai)注(zhu)入點上就會使介質氣化(hua)。

二 、WBTCD-9308出廠試驗局部放電分析儀局部(bu)放(fang)電(dian)的模(mo)擬電(dian)路(lu)及放(fang)電(dian)過程簡介

介(jie)質內部含有(you)氣(qi)泡，在(zai)交(jiao)流電(dian)壓下(xia)產(chan)生的(de)內部放電(dian)特(te)性可由圖1—1的模(mo)擬電路(a b c等(deng)值(zhi)電路)予以表示(shi)；其中Cc是模擬介(jie)質(zhi)中產生放(fang)電(dian)間隙(如氣泡)的電容；Cb代表(biao)與Cc串聯(lian)部分(fen)介(jie)質的合(he)成電(dian)容；Ca表示其余部分介質(zhi)的電容。

I——介質(zhi)有缺陷(氣泡)的部份(fen)(虛線(xian)表示)

II——介質無(wu)缺陷部份

圖1—1  表示具有(you)內部放電(dian)的模(mo)擬(ni)電(dian)路

圖1—1中以(yi)并聯有—對火花間隙(xi)的電容Cc來(lai)模擬產生局部放電的內部氣泡。圖(tu)1—2表(biao)示了在交流電壓下(xia)局部放電的發生過程(cheng)。

U(t)一一外施交流電壓

Uc(t)一一氣泡不(bu)擊(ji)穿時在氣泡上(shang)的電壓

Uc’(t)一一有局部放(fang)電時氣(qi)泡上(shang)的實際(ji)電壓

Vc一一氣泡的擊穿電壓

Y r一一氣泡的(de)殘(can)余電壓   

Us—局部(bu)放電(dian)起始電(dian)壓(瞬時值)

Ur一一與氣泡殘(can)余電壓(ya)v r對應的外施電壓(ya)

Ir一一氣(qi)泡中的放電電流

電極間總(zong)電容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電(dian)極間施(shi)加(jia)交流(liu)電(dian)壓(ya) u(t)時，氣泡電容Cc上對(dui)應的電(dian)壓為Uc(t)。如圖(tu)2—1所示，此時的Uc(t)所代表的是(shi)氣(qi)(qi)泡理想狀態下的電壓（既氣(qi)(qi)泡不發生(sheng)擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施(shi)電壓U(t)上升時，氣泡(pao)上電壓Uc(t)也上(shang)升，當U(t)上升到Us時，氣泡上電壓Uc達到氣泡擊穿電壓(ya),氣(qi)泡(pao)(pao)擊穿，產生大量的正(zheng)、負離子，在(zai)電(dian)(dian)場(chang)作用下各自遷(qian)移到氣(qi)泡(pao)(pao)上下壁，形成空間(jian)電(dian)(dian)菏，建立反電(dian)(dian)場(chang)，削弱了氣(qi)泡(pao)(pao)內的總(zong)電(dian)(dian)場(chang)強(qiang)度(du)，使放電(dian)(dian)熄滅，氣(qi)泡(pao)(pao)又恢復絕緣性能。這樣的一次放電(dian)(dian)持(chi)續時間(jian)是極短暫的，對一般(ban)的空氣(qi)氣(qi)泡(pao)(pao)來說(shuo)，大約(yue)只有幾個毫微秒(10的(de)負8次方到10的負9次方秒)。所以電壓(ya)Uc(t)幾乎瞬間(jian)地從Vc降到(dao)Vr，Vr是(shi)殘(can)余(yu)電壓；而氣泡上(shang)電壓Uc‘(t)將(jiang)隨U(t)的(de)增(zeng)大而(er)繼續由Vr升高到Vc時，氣泡再—次擊穿，發生又—次局部放電，但此時相應的外施電壓比Us小(xiao)，為(Us-Ur)，這是因(yin)為氣泡(pao)上有殘余電(dian)壓Vr的(de)內電場作用的(de)結果。Vr是(shi)與(yu)氣泡殘余電壓(ya)Yr相應的外施(shi)電壓(ya)，如(ru)此(ci)反復上述過程(cheng)，即外施(shi)電壓(ya)每增加(Us-Ur)，就(jiu)產生一次局部放(fang)電．直到前(qian)—次放(fang)電熄滅后，Uc’(t)上(shang)升(sheng)到峰值時共(gong)增量(liang)不足以達Vc(相當(dang)于外施(shi)電壓(ya)的增量(liang)Δ比(Us-Ur)小)為止(zhi)。

此后，隨著(zhu)外施(shi)電壓U(t)經過峰值(zhi)Um后減小，外施電(dian)壓(ya)在(zai)氣(qi)泡中建立(li)反方向電(dian)場，由于(yu)氣(qi)泡中殘存的內電(dian)場電(dian)壓(ya)方向與外電(dian)場方向相反，故外施電(dian)壓(ya)須經(jing)(Us+Ur))的(de)(de)電(dian)壓(ya)變化(hua)，才(cai)能使氣泡上的(de)(de)電(dian)壓(ya)達(da)到擊(ji)穿(chuan)電(dian)壓(ya)Vc，(假(jia)定正、負方向(xiang)擊穿電壓Vc相等)，產生一次(ci)局部放電(dian)(dian)。放電(dian)(dian)很快(kuai)熄滅，氣泡中電(dian)(dian)壓瞬時降到殘(can)余電(dian)(dian)壓Vr(也(ye)假定正、負方向相同(tong))。外(wai)施電壓繼續下(xia)降(jiang)，當再下(xia)降(jiang)(Us-Ur)時，氣泡電壓(ya)就(jiu)又(you)達(da)到Vc從而又(you)產生一次(ci)局部(bu)放(fang)電。如此重復上述過程(cheng)，直到外施(shi)電壓升到反(fan)向蜂值一Um的增量Δ不足以達到(Us-Ur)為止(zhi)。外施電(dian)壓(ya)經過一Um峰值后，氣泡上的外電場方向又變為正方向，與氣泡殘余(yu)電壓方向相反，故外施電壓又須上升(Us+Ur)產生第—次(ci)放電，熄(xi)滅后，每(mei)經(jing)過Us—Ur的(de)電(dian)壓上(shang)升就產生(sheng)一(yi)次放電(dian)，重復前(qian)面(mian)所介紹的(de)過(guo)程(cheng)。如圖1—2所示(shi)。

由(you)以上局(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電過程分析，同(tong)時根據局(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電的(de)特點(dian)（同(tong)種(zhong)試(shi)品，同(tong)樣的(de)環境下，電壓越高局(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電量(liang)(liang)(liang)越大）可(ke)以知(zhi)道：一般情況下，同(tong)一試(shi)品在一、三象(xiang)限(xian)的(de)局(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電量(liang)(liang)(liang)大于二、四象(xiang)限(xian)的(de)局(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)電量(liang)(liang)(liang)。那(nei)是因為(wei)它們是電壓的(de)上升(sheng)沿。（第三象(xiang)限(xian)是電壓負的(de)上升(sheng)沿）。這(zhe)就是我(wo)們測量(liang)(liang)(liang)中(zhong)為(wei)什么把時間窗刻意擺在一、三象(xiang)限(xian)的(de)原因。

三、WBTCD-9308出廠試驗局部放電分(fen)析(xi)儀局部(bu)放電的測(ce)量原理(li)：

四、WBTCD-9308出廠試驗局部放電分(fen)析儀局部放(fang)電(dian)的表征參數(shu)

局(ju)部放電是(shi)比較復雜(za)的物理(li)現(xian)象(xiang)，必須(xu)通過多種表征參數才能**的描繪其(qi)狀態，同時局(ju)部放電對(dui)絕緣破壞的機理(li)也是(shi)很復雜(za)的，也需要通過不同的參數來評(ping)定它對(dui)絕緣的損害，目前我們只關心(xin)兩個基本參數。

視在放電電荷——在絕緣(yuan)(yuan)體中發生(sheng)局部放電(dian)(dian)(dian)(dian)時，絕緣(yuan)(yuan)體上(shang)施(shi)加(jia)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓的(de)兩端出現的(de)脈動電(dian)(dian)(dian)(dian)荷稱之為視在放電(dian)(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)(dian)荷，單(dan)位用皮庫（pc）表示，通常以穩定出現(xian)的*大視在放電(dian)電(dian)荷作為該試品的放電(dian)量。

放電重復率——在測(ce)量(liang)時間內每秒中出(chu)現的放(fang)電次數的平均值稱(cheng)為放(fang)電重復率，單位為次/秒(miao)，放電重復率越高，對(dui)絕緣的損害越大。

**章  局放測試(shi)的試(shi)驗系統接線。

在(zai)了解了局部放電(dian)(dian)的基本理(li)論(lun)之后(hou)，在(zai)本章(zhang)我們的重(zhong)點轉(zhuan)向實際操作，我們先介紹(shao)局部放電(dian)(dian)測試(shi)(shi)中常(chang)用的三種(zhong)接法，隨后(hou)我們再(zai)介紹(shao)整個系統的接線電(dian)(dian)路(lu)，*后(hou)我們再(zai)分別介紹(shao)幾種(zhong)典型的試(shi)(shi)品(pin)的試(shi)(shi)驗線路(lu)。

一、局放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)電(dian)路的三種基本接法及優缺(que)點。

（1）   標(biao)準(zhun)試驗電路(lu)，又稱(cheng)并(bing)聯法。適合于必(bi)須(xu)接(jie)地(di)的(de)試品(pin)。其(qi)缺點(dian)是高壓引線對地雜(za)散電容并聯(lian)在 CX上，會降低測試(shi)靈敏度。

（2）接法的串(chuan)聯法，其要求試品(pin)低壓端對地浮置。其(qi)優(you)點(dian)是變壓器入口電(dian)容、高壓線(xian)對地雜散電(dian)容與耦合電(dian)容CK并聯(lian)，有(you)利于提高試(shi)驗靈敏度。缺點(dian)是試(shi)樣損壞時會(hui)損壞輸入單元。

（3）平(ping)衡法(fa)試(shi)(shi)驗電(dian)(dian)路(lu)：要(yao)求兩個試(shi)(shi)品(pin)相接近(jin)，至少(shao)電(dian)(dian)容量為同一數量級(ji)其優點(dian)是(shi)(shi)外(wai)干擾(rao)強烈的(de)情(qing)況下，可(ke)取得較好(hao)抑制干擾(rao)的(de)效果(guo)，并可(ke)消除變壓器雜散電(dian)(dian)容的(de)影響，而(er)且可(ke)做(zuo)大電(dian)(dian)容試(shi)(shi)驗。缺(que)點(dian)是(shi)(shi)須要(yao)兩個相似(si)的(de)試(shi)(shi)品(pin)，且當產生放(fang)電(dian)(dian)時，需設法(fa)判別是(shi)(shi)哪個試(shi)(shi)品(pin)放(fang)電(dian)(dian)。

值得(de)提出的是：由于現場(chang)試驗條件的限制（找到兩(liang)個(ge)相似(si)的試品(pin)且要(yao)保證一個(ge)試品(pin)無放電(dian)不太容易(yi)），所(suo)以在現場(chang)平衡法比較難實現，另外(wai)，由于采用串聯(lian)法(fa)時(shi)，如果試(shi)品擊穿(chuan)，將會對設備造成(cheng)比較大的損害，所以(yi)出于對設備保護的想法(fa)，在現場試(shi)驗時(shi)一(yi)般采用并聯(lian)法(fa)。

二、WBTCD-9308出廠(chang)試驗局部放電分(fen)析(xi)儀采用并聯法的整個(ge)系統的接線原(yuan)理(li)圖。

該系(xi)(xi)統采用(yong)脈沖電(dian)(dian)(dian)流法檢測(ce)(ce)(ce)高(gao)壓(ya)(ya)試(shi)(shi)品(pin)的(de)局(ju)(ju)部放電(dian)(dian)(dian)量，由控(kong)制(zhi)臺(tai)控(kong)制(zhi)調壓(ya)(ya)器和變壓(ya)(ya)器在(zai)試(shi)(shi)品(pin)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)端產生測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)局(ju)(ju)放所需的(de)預(yu)加電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)和測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)，通(tong)過無局(ju)(ju)放藕合(he)電(dian)(dian)(dian)容器和檢測(ce)(ce)(ce)阻(zu)抗(kang)將(jiang)局(ju)(ju)部放電(dian)(dian)(dian)信號取出并送至局(ju)(ju)部放電(dian)(dian)(dian)檢測(ce)(ce)(ce)儀顯(xian)示并判斷和測(ce)(ce)(ce)量。系(xi)(xi)統中(zhong)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)為了(le)防止(zhi)在(zai)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)過程中(zhong)試(shi)(shi)品(pin)擊穿而(er)損壞其他(ta)設(she)備，兩個(ge)電(dian)(dian)(dian)源濾波器是將(jiang)電(dian)(dian)(dian)源的(de)干擾和整個(ge)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)(xi)統分開，降低整個(ge)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)(xi)統的(de)背景干擾。

根據上述原(yuan)理圖(tu)可以(yi)看(kan)出，局(ju)(ju)部(bu)放(fang)電測(ce)(ce)試(shi)的靈敏(min)度和(he)(he)準確度和(he)(he)整(zheng)(zheng)個(ge)系(xi)統密切相關，要想(xiang)順利和(he)(he)準確的進行(xing)局(ju)(ju)部(bu)放(fang)電測(ce)(ce)試(shi)，就必須將整(zheng)(zheng)個(ge)系(xi)統考濾周(zhou)到，包括系(xi)統的參數選(xuan)取和(he)(he)連(lian)接方(fang)式。另外，在現(xian)場試(shi)驗時，由于是驗證性試(shi)驗，高(gao)壓限流電阻可以(yi)省掉。

三(san)、幾種典(dian)型(xing)試品的(de)接(jie)線原理圖。

（1）電流互感器(qi)的局放(fang)測(ce)試接線原理(li)圖(tu)

（2）電(dian)壓互(hu)感器的局放測(ce)試接(jie)線原理圖(tu)

A．工(gong)頻(pin)加(jia)壓方式接線原理圖

為(wei)了防(fang)止電(dian)壓(ya)(ya)(ya)互(hu)感(gan)器(qi)(qi)(qi)在工頻(pin)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)下產生大的勵(li)(li)磁電(dian)流而損(sun)壞(huai)，高(gao)壓(ya)(ya)(ya)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)互(hu)感(gan)器(qi)(qi)(qi)一般采取(qu)自激(ji)勵(li)(li)的加壓(ya)(ya)(ya)方式。在電(dian)壓(ya)(ya)(ya)互(hu)感(gan)器(qi)(qi)(qi)的低(di)壓(ya)(ya)(ya)側加一倍頻(pin)電(dian)源，在電(dian)壓(ya)(ya)(ya)互(hu)感(gan)器(qi)(qi)(qi)的高(gao)壓(ya)(ya)(ya)端感(gan)應出(chu)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)來進行局部放電(dian)實驗。這就是通常(chang)所說的三倍頻(pin)實驗。其(qi)接線原(yuan)理圖如下：

(3)高(gao)壓電容器.絕緣子的局放測試(shi)接線原理圖(tu)

(4) 發電機的局放測試接線原理圖

（5）變壓器的(de)局部(bu)放電測試接(jie)線原理圖

我(wo)(wo)們(men)僅(jin)僅(jin)是在原理性(xing)的(de)(de)總結了幾種典型試品的(de)(de)接(jie)線原理圖，至于(yu)各種試品的(de)(de)加壓方式(shi)和(he)加壓值的(de)(de)多少，我(wo)(wo)們(men)在做試驗(yan)的(de)(de)時侯要嚴(yan)格遵守每種試品的(de)(de)出(chu)廠(chang)檢驗(yan)標(biao)準(zhun)或交接(jie)檢驗(yan)標(biao)準(zhun)。

第三章  概述

WBTCD-9308智能局部放(fang)電檢測儀(yi)是我公司(si)*新(xin)推向市場的(de)新(xin)一代數字(zi)智能儀(yi)器，該儀(yi)器在原有(you)產品WBJF-2010、JF-2020局放(fang)儀(yi)的(de)基礎上(shang)采(cai)用嵌入式ARM系統(tong)作為(wei)中(zhong)央(yang)處理單元(yuan)，控制12位分辨率(lv)的(de)高速模數轉換芯片進行數據采(cai)集，將采(cai)集到的(de)數據存(cun)放(fang)在雙端口RAM中(zhong)。實現從模擬到數字(zi)的(de)跨越。使(shi)用26萬色高分辨率(lv)TFT-LCD數字(zi)液晶顯(xian)(xian)示模組實時顯(xian)(xian)示放(fang)電脈沖波形，配備VGA接(jie)口，可外接(jie)顯(xian)(xian)示器。與傳統(tong)的(de)模擬式示波管顯(xian)(xian)示局部放(fang)電檢測儀(yi)相比(bi)有(you)以(yi)下特點：

1.彩色顯示器，雙色顯示波形，更清晰直觀；

2.可鎖定波(bo)形，更方(fang)便仔細查看放電波(bo)形細節；

3.自動測量并(bing)顯示試驗電源(yuan)時基頻率(lv)，無需(xu)手(shou)動切換；

4.配(pei)備VGA接(jie)口，可外接(jie)大(da)尺寸(cun)顯示器；

5.與示波管相比壽命更長。

6.具有波形鎖定(ding)、打印試驗(yan)報告功能

本儀器(qi)檢(jian)測靈敏(min)度高，試(shi)樣電容覆蓋范(fan)圍大，適用試(shi)品范(fan)圍廣，輸入單元（檢(jian)測阻(zu)抗）配備齊全(quan)，頻(pin)帶(dai)組合多（九種）。儀器(qi)經適當定標后能直讀放(fang)電脈沖的放(fang)電量(liang)。

本(ben)儀(yi)器(qi)是電力部門、制造廠家和(he)科(ke)研單位等廣泛使用的局(ju)部放電測試(shi)儀(yi)器(qi)。

第四章(zhang)  主(zhu)要(yao)技術(shu)指(zhi)標：

1．可測試品(pin)的(de)電容范圍(wei)： 6PF—250uF。

2．檢測靈(ling)敏度（見表一）：

表一

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器增(zeng)益調(diao)節：

粗調六檔，檔間增(zeng)益20±1dB；細調范圍≥20dB。每檔之間數據(ju)為(wei)(wei)10倍關(guan)系：如第三(san)檔檢測(ce)數據(ju)為(wei)(wei)98，則**檔顯示數據(ju)為(wei)(wei)9.8，如在第三(san)檔檢測(ce)數據(ju)超過120，則應調至**檔來(lai)檢測(ce)數據(ju)，所得數據(ju)應乘以10才為(wei)(wei)實際測(ce)量(liang)值。

5、時(shi)間窗：

（1）窗寬(kuan)：可調范(fan)圍(wei)15°-175°；

（2）窗(chuang)位置：每一窗(chuang)可(ke)旋轉(zhuan)0°- 180°；

（3）兩個時間窗可分別開(kai)或同時開(kai)。

6、放(fang)電(dian)量表：

0-100誤差<±3％（以滿度計(ji)）。

7、橢圓時基(ji)：

（1）頻率(lv)：50HZ、或外部電源同步（任(ren)意頻率(lv)）

（2）橢圓旋轉：以30°為(wei)一(yi)檔，可作(zuo)360°旋轉。

（3）顯(xian)示方式：橢圓—直線(xian)。

8、試驗電壓(ya)表：

精(jing)度(du)：優于(yu)±3％（以滿度(du)計）。

9、體積： 320×480×190（寬×深(shen)×高）mm³。

10、重(zhong)量：約15Kg。

三(san)、系(xi)統工作原理：

本(ben)機的局部放電測試原理是(shi)高頻脈沖電流(liu)測量法(fa)（ERA法(fa)）。

試品Ca在(zai)試驗(yan)電(dian)壓下產生(sheng)局部放(fang)(fang)電(dian)時(shi)，放(fang)(fang)電(dian)脈(mo)沖(chong)信號經藕(ou)合電(dian)容(rong)Ca送入輸入單(dan)元(yuan)(yuan)，由(you)輸入單(dan)元(yuan)(yuan)拾取(qu)到脈(mo)沖(chong)信號，經低(di)噪聲前置放(fang)(fang)大(da)器(qi)放(fang)(fang)大(da)，濾波放(fang)(fang)大(da)器(qi)選(xuan)擇(ze)所需頻帶(dai)及主放(fang)(fang)大(da)器(qi)放(fang)(fang)大(da)（達到所需幅值與產生(sheng)零標志脈(mo)沖(chong)）后，在(zai)示波屏的橢圓掃描基線上產生(sheng)可見(jian)的放(fang)(fang)電(dian)脈(mo)沖(chong)，同時(shi)也送至脈(mo)沖(chong)峰值表顯示其峰值。

時(shi)間(jian)窗(chuang)單元控制試驗電壓(ya)每一周期內脈(mo)沖(chong)峰值的(de)工作時(shi)間(jian)，并在這段時(shi)間(jian)內將示(shi)波屏的(de)相應顯示(shi)區加(jia)亮(liang)，用它可(ke)以(yi)排除固定相位(wei)的(de)干擾。

試(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)壓(ya)表(biao)經電(dian)容分壓(ya)器(qi)產生試(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)壓(ya)過零(ling)標(biao)(biao)志訊號，在示(shi)波屏上(shang)顯(xian)示(shi)零(ling)標(biao)(biao)脈沖，橢圓時(shi)基上(shang)兩個零(ling)標(biao)(biao)脈沖，通過時(shi)間窗(chuang)的(de)寬窄調(diao)節(jie)可(ke)確定試(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)壓(ya)的(de)相位(wei)，試(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)壓(ya)大(da)小由數字電(dian)壓(ya)表(biao)指示(shi)。

整個系(xi)統的(de)工作原理可(ke)參看(kan)方(fang)框(kuang)圖(tu)（圖(tu)一）。

四、結構說明(ming)

本儀器(qi)為標準機箱結構，儀器(qi)分前面板(ban)及后(hou)面板(ban)兩(liang)部分，各(ge)調節元件的位(wei)置(zhi)及位(wei)置(zhi)和功能見下圖說明。

1、4：長按(an)改變門窗的位置

2、3：長(chang)按(an)改(gai)變門窗(chuang)的寬度

5：時(shi)鐘設置按鈕

6：按9號鍵鎖(suo)定后再(zai)按此鍵，即可(ke)打(da)印試驗報告

7：分壓比設置按鈕

8：門開關(guan)，重復按可選擇左右門

9：波形(xing)鎖定按鍵

10：橢(tuo)圓旋轉(zhuan)按鈕

11：顯示方(fang)式按(an)鈕

12：取消按(an)鈕

A、B、C通道(dao)選擇旋鈕與后面板A、B、C測(ce)量通道(dao)相對應(ying)

備注： 如需數據導出，步驟如下：

（1）在電腦上(shang)安裝(zhuang)好RS232通用串口(kou)線(xian)驅(qu)動(dong)(dong)。（驅(qu)動(dong)(dong)盤里有安裝(zhuang)介紹）及局放試驗報告編(bian)輯器軟件。

（2）將(jiang)串口線和局放儀后面的數據接口連接好。   

（3）將需(xu)要(yao)保(bao)存的(de)波形鎖定然后(hou)點擊 局(ju)放(fang)試(shi)驗(yan)報告(gao)編輯器

（4）點擊Start鍵(jian)生成鎖定后(hou)的數據，然后(hou)點擊測試報告如下圖所示：

（5）點擊測試報告后則會出現局放試驗(yan)報告編輯器可以根據需要填寫上面(mian)的內(nei)容。

（6）填寫好表(biao)格(ge)后點(dian)擊生(sheng)成報告數(shu)據會以Word文檔的形式出現，再(zai)將數(shu)據保存至(zhi)電(dian)腦，如下圖所示：

第五章  操作說明

1、試驗準備：將機器后面板的三個開(kai)關(guan)都(dou)置于“關(guan)”的狀態

（1）檢查(cha)試(shi)驗場(chang)地的(de)接(jie)(jie)地情況，將本儀器后(hou)部的(de)接(jie)(jie)地螺栓用(yong)粗(cu)銅線（*好用(yong)編制銅帶）與試(shi)驗場(chang)地的(de)接(jie)(jie)地妥善相接(jie)(jie)，輸入單元的(de)接(jie)(jie)地短路片也要妥善接(jie)(jie)地。

（2）根椐試品電(dian)(dian)容(rong)Ca，藕合(he)電(dian)(dian)容(rong)Ck的(de)(de)大小，選取合(he)適序號的(de)(de)輸(shu)入(ru)單(dan)元（表一），表一中調諧電(dian)(dian)容(rong)量是指從輸(shu)入(ru)單(dan)元初級繞組兩(liang)端看到的(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)（按Cx和Ck的(de)(de)串聯值粗略估算）。

輸入單元應盡(jin)量靠近被測試品，輸入單元插座經8米長電纜(lan)與(yu)后(hou)面板上輸入插座相接。

（3）試品接入輸入單元(yuan)的方法主要有(you)以下幾種：

圖(tu)中：Ca——試品(pin)    Ck——藕合電容    Z——阻(zu)(zu)塞(sai)阻(zu)(zu)抗(kang)  R3、C3、R4、C4——橋式接法中平(ping)衡調節(jie)阻(zu)(zu)抗(kang)。

（4）在高壓(ya)端接上電(dian)壓(ya)表電(dian)阻或(huo)電(dian)容(rong)分壓(ya)器(qi)，其輸出(chu)經測量電(dian)纜接到后面板試驗電(dian)壓(ya)輸入插座30。

（5）在未加試(shi)驗電壓的情況(kuang)下，將(jiang)JF-2006校正脈(mo)沖發生器的輸出接試(shi)品兩(liang)端。

2、使(shi)用(yong)步驟(zou)

（1）開機準(zhun)備：將時基顯示方式置于(yu)“橢圓”。

（2）放電(dian)量的校(xiao)正(zheng)：按圖(tu)接好線(xian)后(hou)，在未加試驗電(dian)壓(ya)之前用(yong)LJF-2006校(xiao)正(zheng)脈沖發(fa)生(sheng)器(qi)予以校(xiao)正(zheng)。

注意：方波測量(liang)盒應盡(jin)量(liang)靠(kao)近試品的高壓(ya)端(duan)。紅端(duan)子引線接高壓(ya)端(duan)。

然后調(diao)節放(fang)大器增(zeng)益(yi)調(diao)節，使該注入脈沖高度適當(dang)（示波(bo)屏上(shang)高度2cm以下），使數字表(biao)讀數值與注入的(de)已知電量(liang)相(xiang)符。調(diao)定后放(fang)大器細(xi)調(diao)旋鈕的(de)位置(zhi)不能再(zai)改變，需保持與校正時相(xiang)同(tong)。

校正完(wan)成(cheng)后必須(xu)去掉(diao)校正方波發生器與試驗(yan)回路(lu)的連接。

（3）測試操作：

第六章  抗干擾(rao)措(cuo)施和局部放電(dian)圖譜簡介

對于局部放電(dian)實驗我(wo)們(men)*怕的就是干擾(rao)，下面簡單(dan)介紹一(yi)下實驗中(zhong)可(ke)能遇到的干擾(rao)以及抗干擾(rao)的方法：

測(ce)量的(de)干擾分(fen)類

干擾有來(lai)自(zi)電網的和(he)來(lai)自(zi)空間(jian)的。按表現形式分(fen)又分(fen)為固定的和(he)移(yi)動的。主要的干擾源有以下(xia)一些(xie)：

①懸浮(fu)電位(wei)物體放電，通過(guo)對地雜(za)散電容耦合

②外部(bu)**電暈

③可控硅元件在鄰近(jin)運行

④繼電器，接觸(chu)器，輝光管等物(wu)品(pin)

⑤接觸**

⑥無線電干(gan)擾

⑦熒(ying)光(guang)燈干擾

⑧電(dian)動機干(gan)擾

⑨中(zhong)高頻工業設(she)備(bei)

（二）抗干擾(rao)方法

采(cai)用(yong)帶調壓(ya)器(qi)，隔離變壓(ya)器(qi)和(he)濾波器(qi)的控制電(dian)源

設置屏蔽室，可(ke)只屏蔽試驗回(hui)路部分

可靠的單點(dian)接地(di)(di)，將試驗回(hui)路(lu)系統設計成單點(dian)接地(di)(di)結(jie)構，接地(di)(di)電阻要小，接地(di)(di)點(dian)要與一般試驗室的地(di)(di)網及電力(li)網中線分(fen)開。

采用高壓濾波(bo)器(qi)

用平衡法或(huo)橋式試驗電路

利用時間窗(chuang)，使(shi)固定相位干擾(rao)處于亮窗(chuang)之外

采用較(jiao)窄頻(pin)帶，或用頻(pin)帶躲開干擾大的(de)頻(pin)率范圍

在(zai)高(gao)壓端加裝高(gao)壓屏蔽罩或半(ban)導(dao)體橡膠帽以防電暈干擾

試驗電路遠離周圍物(wu)體(ti)(ti)，尤(you)其是懸浮的金屬固(gu)體(ti)(ti)！

（三）初做(zuo)實驗者(zhe)對(dui)波形辨認還是有一定困(kun)難的，下面就簡(jian)單(dan)介紹一     放電類型和干擾的初步辯(bian)認：

1． 典型的內部氣泡(pao)放電(dian)的波形特點：(圖 5—01)

A．放電主要顯(xian)示在試驗電壓由零升到峰值的兩(liang)個橢圓象限內(nei)。

B．在起始電壓Ui時，放(fang)電(dian)通常發(fa)生在峰值附近，試驗(yan)電(dian)壓(ya)超過Ui時(shi)，放電向零相位延伸。

C．兩個相反半周上放電次(ci)數和幅值(zhi)大致相同（*大相差(cha)至3：1）。

D．放(fang)電波形可辯(bian)。

E．q與試(shi)驗電(dian)壓關(guan)系(xi)不(bu)大，但放電(dian)重(zhong)復率n隨試驗電(dian)壓上升而加大(da)。

F．局(ju)部放電(dian)起始電(dian)壓Ui和(he)熄滅電壓Ue基(ji)本相等。

G．放電量q與時間關系不大。

H．如果放電量隨試驗電壓(ya)上(shang)升(sheng)而增大(da)，并且(qie)放電波形變得(de)模糊不可分辨，則往往是介質內含有(you)多種大(da)小氣泡，或是介質表(biao)面放電。如果除了上(shang)述情況，而且(qie)放電幅值隨加壓(ya)時間而迅速增長（可達100倍或更多），則(ze)往往是絕緣液體(ti)中(zhong)的氣(qi)泡放電(dian)，典型例子是油浸紙電(dian)容器的放電(dian)。

2． 金(jin)屬(shu)與介質間氣泡的放電(dian)波形特點：               

正半(ban)周有許多幅(fu)值(zhi)小的(de)放(fang)電，負(fu)半(ban)周有很少幅(fu)值(zhi)大(da)的(de)放(fang)電。幅(fu)值(zhi)相差可(ke)達10﹕1，其他同上。

典(dian)型例子：絕緣與導體粘附(fu)**的(de)聚乙烯電(dian)纜的(de)放電(dian)。q與試驗(yan)電(dian)壓(ya)關系(xi)不大。（圖 5—02）

如果隨試驗電(dian)壓升高，放電(dian)幅(fu)值(zhi)也增(zeng)大(da)，而且放電(dian)波形變得模(mo)糊，則往(wang)往(wang)是含有(you)不同大(da)小多個氣(qi)泡，或是外(wai)露(lu)的金屬與介質(zhi)表面之間出現(xian)的表面放電(dian)。（圖 5—03）

（四）下面介紹一些主要視為(wei)干擾或非正常放電的情況：

（1）懸浮電位物體(ti)放(fang)電波形(xing)特點：

在電壓(ya)峰(feng)值(zhi)前的正負半(ban)周兩(liang)個象限(xian)里(li)出(chu)現幅值(zhi)。脈沖(chong)數和位置均相同，成對出(chu)現。放(fang)電可移動，但它們間(jian)(jian)的相互間(jian)(jian)隔(ge)不變(bian)(bian)，電壓(ya)升高時(shi)，根數增加，間(jian)(jian)隔(ge)縮小，但幅值(zhi)不變(bian)(bian)。有(you)時(shi)電壓(ya)升到一定(ding)值(zhi)時(shi)會消失，但降(jiang)至(zhi)此(ci)值(zhi)又重(zhong)新出(chu)現。

原因：金屬間的間隙(xi)產生的放(fang)電(dian)，間隙(xi)可(ke)能是地面上(shang)兩個(ge)獨(du)立(li)的金屬體間（通(tong)過雜散(san)(san)電(dian)容耦合）也可(ke)能在樣(yang)品(pin)內(nei)，例如屏(ping)蔽松散(san)(san)。

（2）外部**電暈放電波(bo)形(xing)特點：

起始放(fang)電僅出現在試驗(yan)電壓的一個半周上，并對稱地分布在峰值(zhi)兩側。試驗(yan)電壓升高時，放(fang)電脈沖數急劇增加，但幅值(zhi)不變(bian)，并向(xiang)兩側伸展(zhan)。

原因：空氣中(zhong)高(gao)壓(ya)**或邊緣放電(dian)。如果放電(dian)出現(xian)在負半周(zhou)，表示(shi)**處于(yu)高(gao)壓(ya)，如果放電(dian)出現(xian)在正半周(zhou)則**處于(yu)地電(dian)位。

（3）液體(ti)介質中(zhong)的**電暈放電波形特點(dian)：

放(fang)(fang)電出(chu)現在兩個半周(zhou)上，對稱地分布在峰值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)兩側。每一組(zu)(zu)放(fang)(fang)電均為等間(jian)隔，但一組(zu)(zu)幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)較(jiao)大的(de)放(fang)(fang)電先出(chu)現，隨(sui)(sui)試驗電壓升高而幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)增大，不(bu)一定等幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)；一組(zu)(zu)幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)小的(de)放(fang)(fang)電幅(fu)(fu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)相(xiang)等，并且不(bu)隨(sui)(sui)電壓變化。

原(yuan)因(yin)：絕緣液體中**或邊緣放(fang)電(dian)。如一組大的放(fang)電(dian)出現(xian)在正(zheng)半周，則**處于高(gao)壓；如出現(xian)在負(fu)半周，則**地電(dian)位。

（4）接(jie)觸**的干擾圖形。

波形特點(dian)：對稱地分布在實驗(yan)電壓(ya)零點(dian)兩側，幅值(zhi)大致(zhi)不(bu)變，但(dan)在實驗(yan)電壓(ya)峰值(zhi)附(fu)近下(xia)降為零。波形粗(cu)糙不(bu)清晰(xi)，低(di)電壓(ya)下(xia)即(ji)出現。電壓(ya)升高(gao)時，幅值(zhi)緩慢(man)增加，有時在電壓(ya)達到一(yi)定值(zhi)后會(hui)完(wan)全消失。

原因：實(shi)驗(yan)回(hui)路中金(jin)(jin)屬(shu)與金(jin)(jin)屬(shu)**接(jie)觸(chu)的連接(jie)點；塑料電纜屏蔽層半導體(ti)粒子的**接(jie)觸(chu)；電容器鋁箔(bo)的插接(jie)片(pian)等（可將電容器充(chong)電然后短(duan)路來消除）。      &nbsp;     &nbsp;  

（5）可控硅(gui)元(yuan)件的干擾圖形。

波形特點(dian)：位(wei)(wei)置固定，每只元件產生一個獨(du)立(li)訊(xun)號。電(dian)路接(jie)通(tong)，電(dian)磁耦合效應增(zeng)強時訊(xun)號幅值增(zeng)加(jia)，試(shi)驗調壓時，該(gai)脈沖訊(xun)號會(hui)發生高頻波形展寬，從而占位(wei)(wei)增(zeng)加(jia)。

原因：鄰(lin)近有可(ke)控(kong)硅元(yuan)件在(zai)運行。

（6）繼電器(qi)、接觸器(qi)、輝光管等動作的干擾。

波(bo)形(xing)特點(dian)：分布不(bu)規則(ze)或(huo)間斷出現(xian)，同(tong)試驗電壓無關。

原(yuan)因：熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及(ji)有(you)火花放(fang)電的記錄器動作(zuo)時產生。

（7）熒光燈的干擾圖形。

波形特點：欄(lan)柵狀，幅(fu)值大致相同的(de)脈(mo)(mo)沖，伴(ban)有(you)正(zheng)負(fu)半波對稱出現的(de)兩簇脈(mo)(mo)沖組。

原因：熒光燈照明                                                                                     

（8）無線電干擾的干擾圖形。

波形(xing)特點：幅值(zhi)有(you)調制的高頻正(zheng)弦波，同試驗(yan)電壓無(wu)關(guan)。

原因：無(wu)線電話、廣(guang)播話筒、載波通訊等。

（9）電動機干(gan)擾(rao)的干(gan)擾(rao)圖形（圖5—12）

波(bo)形(xing)特點：放(fang)電波(bo)形(xing)沿橢(tuo)圓基線均勻分布(bu)，每個(ge)單個(ge)訊(xun)號呈“山”字形(xing)。

原因：帶換向器的(de)電(dian)動(dong)機，如電(dian)扇(shan)、電(dian)吹(chui)風運轉時的(de)干擾。

（10）中高頻(pin)工業設備的(de)干擾(rao)圖形。

波(bo)形特點(dian)：連續發生，僅出現在電源(yuan)波(bo)形的半周(zhou)內(nei)。

原因(yin)：感應(ying)加熱(re)裝置和頻率接近檢測(ce)頻率的超聲波發生器等。

（11）鐵芯磁飽和(he)諧波的(de)干擾圖形（圖5—14）

波(bo)形特點：較低頻(pin)率的諧(xie)波(bo)振蕩，出(chu)現在兩(liang)個半周上，幅值隨試(shi)驗電(dian)壓升(sheng)高而(er)增大，不加電(dian)壓時消失，有重現性(xing)。

原因：試驗(yan)系統(tong)各種鐵芯設(she)備（試驗(yan)變壓(ya)(ya)器、濾波電抗器、隔離(li)變壓(ya)(ya)器等）磁飽和產生(sheng)的諧(xie)振。&nbsp;        ;                        

（12）電極(ji)在電場方向機械移動的干擾圖(tu)形。

波形特點：僅在(zai)試驗電(dian)壓(ya)的半周（正或負）上(shang)出現(xian)的與峰(feng)值(zhi)(zhi)對稱的兩(liang)個放電(dian)響應，幅值(zhi)(zhi)相等，而脈(mo)(mo)沖(chong)方向相反，起始電(dian)壓(ya)時(shi)兩(liang)個脈(mo)(mo)沖(chong)在(zai)峰(feng)值(zhi)(zhi)處(chu)靠得很近(jin)，電(dian)壓(ya)升高(gao)時(shi)逐(zhu)漸分開，并可能產生新(xin)的脈(mo)(mo)沖(chong)訊號(hao)對。

原因：電(dian)極(ji)的部分（尤其是金(jin)屬箔電(dian)極(ji)）在電(dian)場作用下(xia)運動。                          

（14）漏電痕跡和樹枝放(fang)電

波形特(te)點：放電(dian)訊號波形與一般典(dian)型圖象均不符合，波形不規則不確定。

原因：玷(dian)污了的(de)絕緣上漏電或(huo)絕緣局部過熱而(er)致(zhi)的(de)碳化痕跡或(huo)樹(shu)枝(zhi)通(tong)道(dao)。

在(zai)放(fang)(fang)電測試(shi)(shi)(shi)中(zhong)必須保證測試(shi)(shi)(shi)回路(lu)中(zhong)其它元件（試(shi)(shi)(shi)驗變壓器、阻塞線圈、耦(ou)合電容(rong)(rong)器、電壓表電阻等）均(jun)不(bu)放(fang)(fang)電，常用的辦法是(shi)用與試(shi)(shi)(shi)品電容(rong)(rong)數量級相(xiang)同的無放(fang)(fang)電電容(rong)(rong)或絕緣(yuan)結構取代試(shi)(shi)(shi)品試(shi)(shi)(shi)驗，看(kan)看(kan)有無放(fang)(fang)電。

了解了各種放電(dian)類型的波形特征，來源(yuan)以(yi)及(ji)識(shi)別(bie)干(gan)擾后就可按具(ju)體情況采取措(cuo)施排除干(gan)擾和正確地進(jin)行放電(dian)測量了。

第七章(zhang)     局部放電測試當中應(ying)該注(zhu)意的(de)問(wen)題

實驗(yan)前，試品的(de)絕緣(yuan)表面（尤其(qi)是高(gao)壓(ya)端）應(ying)作清潔化處(chu)理

2、   各連接點應接觸良好，尤其是高(gao)壓端不要留下(xia)尖(jian)銳的接點，高(gao)壓導(dao)線應盡(jin)可能粗以防電暈，可用蛇皮管。

輸入單(dan)元要(yao)盡量靠(kao)近試(shi)品，而且接地要(yao)可(ke)靠(kao)，接地線*好用

編織銅帶。主(zhu)機也須接地，以保(bao)證**。

試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)盡(jin)可(ke)能(neng)緊湊。即高(gao)壓連線盡(jin)可(ke)能(neng)短，試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)所圍(wei)面 

積(ji)盡可(ke)能(neng)小(xiao)。

在進行110KV及以上等(deng)級(ji)的局放試驗時，試品(pin)周圍的懸浮金屬

物體應妥善接地。

考慮到(dao)油浸(jin)式(shi)試品局部(bu)放(fang)電存在(zai)滯后效應，因(yin)此(ci)在(zai)局放(fang)試驗前

幾小(xiao)時，不要對試品施(shi)加超過局部(bu)放電(dian)試驗電(dian)壓的高電(dian)壓。

第八章  附件

1、專用測量電纜線(xian)6米    &nbsp;    2根

2、電(dian)源線         &nbsp;           1根(gen)

3、1.0A保險(xian)絲   &nbsp;    &nbsp;        4根

4、使用說明書    &nbsp;         &nbsp;  1份

- WBJF-2020校正(zheng)脈沖發生器(qi)使用說明

用途(tu)與適(shi)用范圍：

WBJF-2020校(xiao)正(zheng)脈沖發生器是一(yi)個小(xiao)型的(de)廉價的(de)電(dian)池供電(dian)的(de)局部放電(dian)校(xiao)正(zheng)器，它(ta)適用(yong)于需要(yao)攜帶和使用(yong)靈活的(de)場(chang)合。

主要規格(ge)及(ji)技術(shu)參數：

輸出電荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升時間：<100ns

衰減時間：>100us

極性(xing)：正(zheng)、負極性(xing)

重復頻率：1KHz

頻率變化：>±100Hz

尺寸：160×120×50mm

重量：0.5Kg

電池：6F22  9V

操作(zuo)(zuo)與作(zuo)(zuo)用：

首先(xian)打(da)開WBJF-2020校正(zheng)(zheng)脈沖發(fa)生器后(hou)蓋(gai)板(ban)(ban)，裝(zhuang)入電池，蓋(gai)好蓋(gai)板(ban)(ban)。將輸出紅黑兩個端(duan)(duan)(duan)子接上導線(xian)(xian)，紅端(duan)(duan)(duan)子上的導線(xian)(xian)盡(jin)量(liang)且(qie)靠近試(shi)品(pin)的高(gao)壓端(duan)(duan)(duan)，黑端(duan)(duan)(duan)導線(xian)(xian)接試(shi)品(pin)和低(di)壓端(duan)(duan)(duan)，將校正(zheng)(zheng)電量(liang)開關置于(yu)合(he)適的位(wei)置，即可校正(zheng)(zheng)，頻(pin)率可在1KHz附近調節，面板上電(dian)壓表指示機內電(dian)源的情(qing)況，一般指示8V以上才能(neng)保證工作，低于8V則需調換(huan)電池(chi)。

校正(zheng)后(hou)切記將校正(zheng)脈沖發生器取下！

產品留言

標題(ti)

聯(lian)系人

聯系電話

內容(rong)

驗證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!